專利名稱：一種兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測量儀的校準(zhǔn)裝置，尤其是一種利用兩相流顆粒相的后向光 散射測量顆粒相濃度的測量儀的校準(zhǔn)裝置。
背景技術(shù)：
隨著工業(yè)生產(chǎn)及環(huán)境保護要求的提高，顆粒污染物的監(jiān)測越來越受到人們的重 視，各類利用兩相流顆粒相的光散射測量顆粒相濃度的測量儀得到了廣泛的應(yīng)用。兩相流顆粒相濃度測量測儀的工作是原理是半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光束投射到 顆粒物兩相流中，顆粒物所產(chǎn)生的散射光通過接收鏡頭匯聚于光電傳感器，電信號的大小 與顆粒物濃度呈正比，從而實現(xiàn)對顆粒物的監(jiān)測。目前國內(nèi)外利用光散射原理的兩相流顆粒相濃度測量儀的校準(zhǔn)裝置都是采用前 置放入，測量儀在測量過程中須把校準(zhǔn)裝置取下存放，同時，校準(zhǔn)裝直校準(zhǔn)點的調(diào)整以及校 準(zhǔn)過程較為復(fù)雜，又限制了光散射原理用于監(jiān)測兩相流顆粒相濃度的應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是研制一種解決上述問題，結(jié)構(gòu)緊湊，測量儀在測量過程中不 需要把校準(zhǔn)裝置取出單獨存放，校準(zhǔn)調(diào)整方便，和測量儀一體式存放，側(cè)面導(dǎo)入的利用兩相 流顆粒相的后向光散射測量顆粒相濃度的測量儀的校準(zhǔn)裝置。本實用新型通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)本實用新型主要由壓緊保護罩、反螺紋壓蓋、校準(zhǔn)殼體、不銹鋼漫反射體、粗調(diào)螺 釘和微調(diào)螺釘組成，其特征在于壓緊保護罩通過螺紋和測量儀的導(dǎo)氣法蘭連接，跨度校準(zhǔn) 時，反螺紋壓蓋設(shè)置在校準(zhǔn)殼體和壓緊保護罩之間，通過螺紋和校準(zhǔn)殼體連接，校準(zhǔn)殼體穿 過測量儀的導(dǎo)氣法蘭壁孔插在其內(nèi)腔內(nèi)，不銹鋼漫反射體固定在校準(zhǔn)殼體的內(nèi)腔內(nèi)，粗調(diào) 螺釘穿過校準(zhǔn)殼體壁頂在不銹鋼漫反射體的下部，微調(diào)螺釘穿過校準(zhǔn)殼體壁頂在不銹鋼漫 反射體的上部，其中，壓緊保護罩有內(nèi)腔結(jié)構(gòu)，反螺紋壓蓋和壓緊保護罩的螺紋方向是相反 的，保證壓緊保護罩在旋轉(zhuǎn)時，反螺紋壓蓋不會聯(lián)動，校準(zhǔn)殼體有入射窗口和反射窗口，入 射窗口和反射窗口位于校準(zhǔn)殼體的同一側(cè)?？缍刃?zhǔn)狀態(tài)時，本實用新型的壓緊保護罩通過螺紋和測量儀的導(dǎo)氣法蘭連接， 由端面銷定位后由壓緊保護罩壓緊，反螺紋壓蓋設(shè)置在校準(zhǔn)殼體和壓緊保護罩之間，入射 窗口對著測量儀的李氏孔，反射窗口對著測量儀的匯聚鏡頭組和傳感器，不銹鋼漫反射體 通過粗調(diào)螺釘和微調(diào)螺釘調(diào)節(jié)不銹鋼漫反射體的二次反射角度，實現(xiàn)對由通過李氏孔再進 入入射窗口的激光束的反射光能由反射窗口導(dǎo)出的光能的份額控制，進而實現(xiàn)當(dāng)每次校準(zhǔn) 裝置被置入測量儀時，會有一致能量的光能由反射窗口導(dǎo)出，實現(xiàn)校準(zhǔn)功能。零點校準(zhǔn)狀態(tài)時，校準(zhǔn)殼體插入測量儀時與跨度校準(zhǔn)狀態(tài)比較旋轉(zhuǎn)180度，這種 定位狀態(tài)入射激光束不能進入?yún)R聚鏡頭組和傳感器，作為沒有散射光的零點信號。存放狀態(tài)時，將校準(zhǔn)殼體倒轉(zhuǎn)插入到壓緊保護罩的內(nèi)腔結(jié)構(gòu)內(nèi)，由壓緊保護罩壓入固定在測量儀上呈一體式狀態(tài)保存，測量儀正常工作，達到設(shè)計目的。本實用新型具有下列優(yōu)點1、經(jīng)由本實用新型的實施，校準(zhǔn)裝置從測量儀的側(cè)面導(dǎo)入，測量裝置不必拆卸即 可進行校準(zhǔn)。2、經(jīng)由本實用新型的實施，生產(chǎn)時通過粗調(diào)螺釘大范圍改變校準(zhǔn)裝置反射光份額 的比例，在現(xiàn)場的調(diào)整可以通過微調(diào)螺釘進行精細(xì)的調(diào)整，使得在現(xiàn)場復(fù)雜的環(huán)境下可以 容易簡單的進行校準(zhǔn)裝置及測量儀維護。3、經(jīng)由本實用新型的實施，校準(zhǔn)裝置和測量儀一體保存，避免多臺測量儀時校準(zhǔn) 裝置的出現(xiàn)混淆現(xiàn)象。
以下結(jié)合附圖對本實用新型進一步說明。

圖1是本實用新型的剖視圖的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實用新型在零點校準(zhǔn)狀態(tài)時的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本實用新型在存放狀態(tài)時的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中，1壓緊保護罩、11內(nèi)腔結(jié)構(gòu)、2反螺紋壓蓋、3校準(zhǔn)殼體、31入射窗口、32反射 窗口、4不銹鋼漫反射體、5粗調(diào)螺釘、6微調(diào)螺釘、7測量儀、71氣法蘭、72李氏孔、73匯聚鏡 頭組、74傳感器
具體實施方式
圖1至圖3中所示本實用新型主要由壓緊保護罩(1)、反螺紋壓蓋(2)、校準(zhǔn)殼體 (3)、不銹鋼漫反射體(4)、粗調(diào)螺釘(5)和微調(diào)螺釘(6)組成，其特征在于壓緊保護罩(1) 通過螺紋和測量儀(7)的導(dǎo)氣法蘭(71)連接，跨度校準(zhǔn)時，反螺紋壓蓋(2)設(shè)置在校準(zhǔn)殼 體(3)和壓緊保護罩(1)之間，通過螺紋和校準(zhǔn)殼體(3)連接，校準(zhǔn)殼體(3)穿過測量儀 (7)的導(dǎo)氣法蘭(71)壁孔插在其內(nèi)腔內(nèi)，不銹鋼漫反射體⑷固定在校準(zhǔn)殼體(3)的內(nèi)腔 內(nèi)，粗調(diào)螺釘(5)穿過校準(zhǔn)殼體(3)壁頂在不銹鋼漫反射體(4)的下部，微調(diào)螺釘(6)穿過 校準(zhǔn)殼體(3)壁頂在不銹鋼漫反射體(4)的上部，其中，壓緊保護罩(1)有內(nèi)腔結(jié)構(gòu)(11)， 反螺紋壓蓋(2)和壓緊保護罩(1)的螺紋方向是相反的，保證壓緊保護罩(1)在旋轉(zhuǎn)時，反 螺紋壓蓋(2)不會聯(lián)動，校準(zhǔn)殼體(3)有入射窗口(31)和反射窗口(32)，入射窗口(31)和 反射窗口(32)位于校準(zhǔn)殼體(3)的同一側(cè)。圖1也是本實用新型在跨度校準(zhǔn)狀態(tài)時的結(jié)構(gòu)示意圖，入射窗口(31)對著測量儀 (7)的李氏孔(72)，反射窗口 (32)對著測量儀(7)的匯聚鏡頭組(73)和傳感器(74)，不銹 鋼漫反射體(4)通過粗調(diào)螺釘(5)和微調(diào)螺釘(6)調(diào)節(jié)不銹鋼漫反射體(4)的二次反射角 度，實現(xiàn)對由通過李氏孔(72)再進入入射窗口(31)的激光束的反射光能由反射窗口(32) 導(dǎo)出的光能的份額控制，進而實現(xiàn)當(dāng)每次校準(zhǔn)裝置被置入測量儀(7)時，會有一致能量的 光能由反射窗口(32)導(dǎo)出，實現(xiàn)校準(zhǔn)功能。在圖2中，零點校準(zhǔn)狀態(tài)時，校準(zhǔn)殼體(3)插入測量儀(7)時與跨度校準(zhǔn)狀態(tài)比較 旋轉(zhuǎn)180度，這種定位狀態(tài)入射激光束不能進入?yún)R聚鏡頭組(73)和傳感器(74)，作為沒有 散射光的零點信號。[0023]在圖3中，存放狀態(tài)時，將校準(zhǔn)殼體(3)倒轉(zhuǎn)插入到壓緊保護罩(1)的內(nèi)腔結(jié)構(gòu) (11)內(nèi)，由壓緊保護罩(1)壓入固定在測量儀(7)上呈一體式狀態(tài)保存，測量儀(7)正常工 作，達到設(shè)計目的。本實用新型，結(jié)構(gòu)緊湊，測量儀在測量過程中不需要把校準(zhǔn)裝置取出單獨存放，校 準(zhǔn)調(diào)整方便，廣泛應(yīng)用于兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置領(lǐng)域。
權(quán)利要求一種兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置，主要由壓緊保護罩(1)、反螺紋壓蓋(2)、校準(zhǔn)殼體(3)、不銹鋼漫反射體(4)、粗調(diào)螺釘(5)和微調(diào)螺釘(6)組成，其特征在于壓緊保護罩(1)通過螺紋和測量儀(7)的導(dǎo)氣法蘭(71)連接，反螺紋壓蓋(2)設(shè)置在校準(zhǔn)殼體(3)和壓緊保護罩(1)之間，通過螺紋和校準(zhǔn)殼體(3)連接，校準(zhǔn)殼體(3)穿過測量儀(7)的導(dǎo)氣法蘭(71)壁孔插在其內(nèi)腔內(nèi)，不銹鋼漫反射體(4)固定在校準(zhǔn)殼體(3)的內(nèi)腔內(nèi)，粗調(diào)螺釘(5)穿過校準(zhǔn)殼體(3)壁頂在不銹鋼漫反射體(4)的下部，微調(diào)螺釘(6)穿過校準(zhǔn)殼體(3)壁頂在不銹鋼漫反射體(4)的上部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置，其 特征是所述壓緊保護罩(1)有內(nèi)腔結(jié)構(gòu)(11)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置，其 特征是所述反螺紋壓蓋(2)和壓緊保護罩(1)的螺紋方向是相反的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置， 其特征是所述校準(zhǔn)殼體(3)有入射窗口(31)和反射窗口(32)，入射窗口(31)和反射窗口 (32)位于校準(zhǔn)殼體(3)的同一側(cè)。
專利摘要一種兩相流顆粒相濃度后向光散射法測量儀的校準(zhǔn)裝置，主要由壓緊保護罩(1)、反螺紋壓蓋(2)、校準(zhǔn)殼體(3)、不銹鋼漫反射體(4)、粗調(diào)螺釘(5)和微調(diào)螺釘(6)組成，其特征在于壓緊保護罩(1)通過螺紋和測量儀(7)的導(dǎo)氣法蘭(71)連接，跨度校準(zhǔn)和零點校準(zhǔn)時，反螺紋壓蓋(2)設(shè)置在校準(zhǔn)殼體(3)和壓緊保護罩(1)之間，存放狀態(tài)時，將校準(zhǔn)殼體(3)倒轉(zhuǎn)插入到壓緊保護罩(1)的內(nèi)腔結(jié)構(gòu)(11)內(nèi)，由壓緊保護罩(1)壓入固定在測量儀(7)上呈一體式狀態(tài)保存，測量儀(7)正常工作，達到設(shè)計目的。
文檔編號G01N15/06GK201673105SQ20102017865
公開日2010年12月15日 申請日期2010年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月27日
發(fā)明者尉士民 申請人:深圳市彩虹谷科技有限公司