專利名稱：電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于電性能的測試裝置，涉及一種電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝 置。特別適用于電容薄膜電弱點的測試。
背景技術(shù)：
用于電容器中作介質(zhì)材料的電容薄膜，在制造過程及分切過程中，因機械、工藝或 環(huán)境等因素，導(dǎo)致薄膜定點位置或不定點位置產(chǎn)生耐壓能力相對薄弱的點，俗稱電弱點。在 電容器制造中，電容薄膜電弱點性能的好壞關(guān)系到電容器產(chǎn)品本身的質(zhì)量可靠性和使用壽 命。因此，電容器生產(chǎn)商和電容薄膜生產(chǎn)商對薄膜的電弱點性能的測試作為重要的質(zhì)量監(jiān) 控環(huán)節(jié)?，F(xiàn)有技術(shù)中，電容薄膜電弱點測試裝置一般主要包括機架，安裝在機架上的放卷 機構(gòu)、導(dǎo)向機構(gòu)、放電機構(gòu)、收卷機構(gòu)，以及控制部分；放電機構(gòu)由下電極、上電極等組成。由 于上電極寬度一定、不可調(diào)節(jié)，測試常規(guī)薄膜產(chǎn)品電弱點性能時，測試寬度窄，最大測量寬 度不到100mm，且測試寬度固定、不能調(diào)整。相對現(xiàn)代拉膜機已能生產(chǎn)幅寬4 5米或更寬 的薄膜產(chǎn)品來說，需要全面了解薄膜產(chǎn)品的電弱點性能，不僅測試工作量太大，還因?qū)挿?膜產(chǎn)品被分切成IOOmm寬度而對薄膜電弱點性能造成一定的損害。因此，不能較準確地測 定寬幅薄膜產(chǎn)品的電弱點性能。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的旨在克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足，通過采用寬度可調(diào)的上電極 等，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、實用性強的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置。從而能更真實、 更客觀地測定寬幅電容薄膜產(chǎn)品的電弱點性能。本實用新型的內(nèi)容是一種電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，包括機架，安 裝在機架上的放卷機構(gòu)、導(dǎo)向機構(gòu)、放電機構(gòu)、收卷機構(gòu)，以及控制部分，其特征是所述放 電機構(gòu)主要由支架(2)、下電極(6)、滑軌(3)、絕緣子、第一上電極(7)、第二上電極(8)、第 一滑塊(9)、第二滑塊(10)、第三滑塊(11)、第四滑塊(12)、以及連接線組成；支架⑵固 定安裝在所述機架(1)上，下電極(6)的兩端通過軸承座安裝在所述機架(1)上，滑軌(3) 設(shè)置于下電極(6)上方，絕緣子的上端與支架(2)固定連接、下端與滑軌(3)固定連接，第 一滑塊(9)和第二滑塊(10)均與滑軌(3)活動套接、并分別通過一根連接線與第一上電極 (7)連接，第三滑塊(11)和第四滑塊(12)均與滑軌(3)活動套接、并分別通過一根連接線 與第二上電極(8)連接，第一上電極(7)與第二上電極(8)的一段錯位且相互接觸。本實用新型的內(nèi)容中所述絕緣子為間隔設(shè)置的第一絕緣子(4)和第二絕緣子 (5)，第一絕緣子(4)和第二絕緣子(5)的上端(可以通過螺栓)分別與支架(2)固定連接、 下端(可以通過螺栓)分別與滑軌(3)固定連接。本實用新型的內(nèi)容中還包括一個防護罩(13)，該防護罩(13)的上端一邊通過鉸 鏈(15)與支架(2)活動連接，用于保證放電機構(gòu)在使用中的安全。[0008]本實用新型的內(nèi)容中所述第一滑塊(9)、第二滑塊(10)、第三滑塊(11)和第四滑 塊(12)分別還安裝有一個鎖緊螺母(16)，用于將各滑塊鎖緊在滑軌(3)上、防止其移動。本實用新型的內(nèi)容中所述第一上電極(7)和第二上電極(8)的寬度分別為 50-320mm。本實用新型的內(nèi)容中所述鉸鏈(15)的數(shù)量可以為間隔設(shè)置的2-4個。本實用新型的內(nèi)容中所述第一上電極(7)和第二上電極(8)較好的是采用銅管。本實用新型的內(nèi)容中所述第一上電極(7)和第二上電極⑶較好的是采用寬度 相同的銅管(例如寬度均為320mm、160mm、85mm或50mm等)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型具有下列特點和有益效果(1)采用本實用新型，可以根據(jù)薄膜產(chǎn)品的寬度相應(yīng)自由調(diào)整上電極的寬度，來適 應(yīng)被測試樣的要求，準確測試薄膜產(chǎn)品的電弱點性能；從而有效地解決了測試大于或遠大 于IOOmm寬度的電容薄膜電弱點性能的要求；對于現(xiàn)代拉膜機所產(chǎn)5米左右寬幅的薄膜產(chǎn) 品，只需測試8個工位，即可全面了解整幅薄膜產(chǎn)品的電弱點性能，大大節(jié)約了時間，提高 了工作效率；(2)結(jié)構(gòu)簡單，容易制造，生產(chǎn)安裝使用方便，實用性強。
圖1是本實用新型實施例結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖1的左視結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是圖1中放電機構(gòu)部分放大結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是圖3的左視結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1-機架、2-支架、3-滑軌、4-第一絕緣子、5-第二絕緣子、6-下電極、7-第 一上電極、8-第二上電極、9-第一滑塊、10-第二滑塊、11-第三滑塊、12-第四滑塊、13-防 護罩、14-連接線、15-鉸鏈、16-鎖緊螺母、17-螺母、18-放卷機構(gòu)、19-導(dǎo)向輥、20-導(dǎo)向輥、 21-導(dǎo)向輥、22-驅(qū)動電機、23-收卷輥。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖通過實施例對本實用新型作進一步說明。實施例1:參見各附圖。一種電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，包括機架1，安裝在機架上的放卷機 構(gòu)、導(dǎo)向機構(gòu)、放電機構(gòu)、收卷機構(gòu)，以及控制部分，其特征是所述放電機構(gòu)主要由支架2、 下電極6、滑軌3、絕緣子、第一上電極7、第二上電極8、第一滑塊9、第二滑塊10、第三滑塊 11、第四滑塊12、防護罩13、以及連接線組成；支架2固定安裝在所述機架1上，下電極6的 兩端通過軸承座安裝在所述機架1上，滑軌3設(shè)置于下電極6上方，絕緣子的上端與支架2 固定連接、下端與滑軌3固定連接，第一滑塊9和第二滑塊10均與滑軌3活動套接、并分別 通過一根連接線與第一上電極7連接，第三滑塊11和第四滑塊12均與滑軌3活動套接、并 分別通過一根連接線與第二上電極8連接，第一上電極7與第二上電極8的一段錯位且相 互接觸；所述絕緣子為間隔設(shè)置的第一絕緣子4和第二絕緣子5，第一絕緣子4和第二絕緣子5的上端(可以通過螺栓)分別與支架2固定連接、下端(可以通過螺栓)分別與滑軌 3固定連接；所述防護罩13的上端一邊通過鉸鏈15(可以為間隔設(shè)置的2 4個)與支架2 活動連接，用于保證放電機構(gòu)在使用中的安全；所述第一滑塊9、第二滑塊10、第三滑塊11和第四滑塊12分別還安裝有一個鎖緊 螺母16，用于將各滑塊鎖緊在滑軌3上、防止其移動；所述第一上電極7和第二上電極8均采用銅管、寬度均為320mm (寬度也可以均為 160mm、85mm、或50mm等)、其總寬度可以根據(jù)所測試產(chǎn)品的寬度進行自由調(diào)整；所述下電極6較好的為所測產(chǎn)品最大寬度而設(shè)定的恒定寬度的黃銅鏡面輥筒；所述機架1的上端可以為相對設(shè)置的2個墻板，用于安裝放卷機構(gòu)、導(dǎo)向機構(gòu)、放 電機構(gòu)中的下電極6和支架2、收卷輥23等；所述放卷機構(gòu)包括放卷卡頭、張力控制機構(gòu)，用于安裝被測試薄膜、在測試過程 中控制薄膜張力；所述導(dǎo)向機構(gòu)包括3根導(dǎo)向輥及兩端的軸承座，用于控制薄膜、使薄膜按需要路 徑運動；所述收卷機構(gòu)包括驅(qū)動電機22及其傳動部分，收卷輥23及其兩端的軸承座；用 于對被測試薄膜進行收卷；所述控制部分系本電弱點測試裝置的電路結(jié)構(gòu)部分，包括啟動按鈕、停止按鈕、 針孔計數(shù)器、計米器、電壓設(shè)定按鈕、漏電流靈敏度設(shè)定按鈕等、人機界面等；用于測試薄膜 的速度、長度、對擊穿點計數(shù)、對測試電壓進行調(diào)整及控制，以及對擊穿漏電流靈敏度進行
調(diào)整等。該實施例裝置用于電容薄膜產(chǎn)品的電弱點測試時，測試過程為(1)安裝好被測試薄膜，并按規(guī)定路線使薄膜通過各導(dǎo)向輥、從下電極6和第一上 電極7及第二上電極8之間穿過、最后繞在收卷輥23上；(2)接通電源，在未加測試電壓的情況下按下裝置的啟動按鈕，使位于放卷機構(gòu)與 收卷機構(gòu)之間的薄膜充分展平；再按下停止按鈕，打開防護罩13，調(diào)整好上電極的整體寬 度(通過移動與第一上電極7連接的第一滑塊9和第二滑塊10，以及移動與第二上電極8 連接的第三滑塊11和第四滑塊12)，使第一上電極7與第二上電極8疊加后的整體寬度兩 端邊緣分別距離薄膜邊緣的距離為15 20mm，關(guān)閉防護罩13 ；(3)設(shè)定測試長度，對控制部分中的針孔計數(shù)器和計米器清零；(4)按下啟動按鈕，先使傳動部分帶動電容薄膜按設(shè)置的3 4米/分鐘速度運 行、運行平穩(wěn)后，設(shè)定測試電壓，電壓達到設(shè)定數(shù)值(該設(shè)定電壓根據(jù)電容薄膜的厚度確 定，比如200 350V/y m)，進行測試電弱點工作當(dāng)出現(xiàn)電弱點時(斷路，即薄膜被擊穿 時)，電壓會歸零并自動記錄電弱點個數(shù)，然后電壓自動升至設(shè)定數(shù)值，完成一個工作循環(huán)； 繼續(xù)如此重復(fù)下一個循環(huán)的測試電弱點工作，直至完成被測薄膜產(chǎn)品所設(shè)定的長度，記錄 針孔計數(shù)器數(shù)據(jù)(電弱點總個數(shù))，性能測試工作結(jié)束；(5)關(guān)閉電源。上述未具體陳述的結(jié)構(gòu)、連接關(guān)系、使用方式等，同現(xiàn)有技術(shù)，略。本實用新型不限于上述實施例，本實用新型內(nèi)容所述均可實施并具有所述良好效果。
權(quán)利要求一種電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，包括機架，安裝在機架上的放卷機構(gòu)、導(dǎo)向機構(gòu)、放電機構(gòu)、收卷機構(gòu)，以及控制部分，其特征是所述放電機構(gòu)主要由支架(2)、下電極(6)、滑軌(3)、絕緣子、第一上電極(7)、第二上電極(8)、第一滑塊(9)、第二滑塊(10)、第三滑塊(11)、第四滑塊(12)、以及連接線組成；支架(2)固定安裝在所述機架(1)上，下電極(6)的兩端通過軸承座安裝在所述機架(1)上，滑軌(3)設(shè)置于下電極(6)上方，絕緣子的上端與支架(2)固定連接、下端與滑軌(3)固定連接，第一滑塊(9)和第二滑塊(10)均與滑軌(3)活動套接、并分別通過一根連接線與第一上電極(7)連接，第三滑塊(11)和第四滑塊(12)均與滑軌(3)活動套接、并分別通過一根連接線與第二上電極(8)連接，第一上電極(7)與第二上電極(8)的一段錯位且相互接觸。
2.按權(quán)利要求1所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述絕緣子 為間隔設(shè)置的第一絕緣子(4)和第二絕緣子(5)，第一絕緣子(4)和第二絕緣子(5)的上端 分別與支架(2)固定連接、下端分別與滑軌(3)固定連接。
3.按權(quán)利要求1或2所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是還包括 一個防護罩(13)，該防護罩(13)的上端一邊通過鉸鏈(15)與支架(2)活動連接。
4.按權(quán)利要求1或2所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述第 一滑塊(9)、第二滑塊(10)、第三滑塊(11)和第四滑塊(12)分別還連接有一個鎖緊螺母 (16)。
5.按權(quán)利要求3所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述第一滑 塊(9)、第二滑塊(10)、第三滑塊(11)和第四滑塊(12)分別還安裝有一個鎖緊螺母(16)。
6.按權(quán)利要求1或2所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述第 一上電極(7)和第二上電極⑶的寬度分別為50 320mm。
7.按權(quán)利要求3所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述第一上 電極(7)和第二上電極(8)的寬度分別為50 320mm。
8.按權(quán)利要求4所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述第一上 電極(7)和第二上電極(8)的寬度分別為50 320mm。
9.按權(quán)利要求3所述的電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，其特征是所述鉸鏈 (15)的數(shù)量可以為間隔設(shè)置的2 4個。
專利摘要一種電容薄膜寬度可調(diào)式電弱點測試裝置，包括機架，安裝在機架上的放卷機構(gòu)、導(dǎo)向機構(gòu)、放電機構(gòu)、收卷機構(gòu)，以及控制部分，其特征是所述放電機構(gòu)主要由安裝在機架上的支架，兩端通過軸承座安裝在機架上的下電極，設(shè)置于下電極上方、通過絕緣子與支架連接的滑軌，第一上電極，第二上電極，與滑軌活動套接、并分別通過一根連接線與第一上電極連接的第一滑塊和第二滑塊，以及與滑軌活動套接、并分別通過一根連接線與第二上電極連接的第三滑塊和第四滑塊組成；第一上電極與第二上電極的一段錯位與相互接觸。采用本實用新型，可以根據(jù)被測試薄膜產(chǎn)品的寬度相應(yīng)自由調(diào)整上電極的寬度，從而準確、全面了解整幅薄膜產(chǎn)品的電弱點性能。
文檔編號G01R31/12GK201707420SQ201020219900
公開日2011年1月12日 申請日期2010年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月9日
發(fā)明者蘇里勇, 蔣作斌, 謝晉 申請人:四川東材科技集團股份有限公司