專利名稱：長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種通孔檢測(cè)儀，尤其涉及一種長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀。
背景技術(shù)：
汽車尾氣的大量排放，其中夾雜著多種有害氣體，這些有害氣體直接排放到空氣 中會(huì)直接污染大氣，給人們的生活帶來傷害。因此，對(duì)汽車尾氣的處理與轉(zhuǎn)化是近年來環(huán)保 領(lǐng)域的一項(xiàng)重要內(nèi)容。汽車尾氣轉(zhuǎn)化處理裝置是汽車尾氣轉(zhuǎn)化的重要設(shè)備之一，一般采用的是在陶瓷載 體內(nèi)設(shè)置多個(gè)通孔陣列，并在這些通孔陣列的每個(gè)通孔內(nèi)壁上涂覆一層催化劑，以催化通 過該通孔的汽車尾氣進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)，使得有害物質(zhì)被處理掉，或者轉(zhuǎn)換成無害物質(zhì)直接排 放到大氣中。由于陶瓷載體內(nèi)的通孔陣列具有密集排布的特點(diǎn)，因此，在制造具有高密度通孔 陣列的陶瓷載體時(shí)，在涂覆完化學(xué)物質(zhì)后，對(duì)這些通孔是否貫通的檢測(cè)就顯得十分必要。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，能夠檢 測(cè)陶瓷載體內(nèi)密集排布的通孔陣列是否貫通。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種長(zhǎng)跨度微孔 陣列通孔檢測(cè)儀，包括基座、第一殼體、第二殼體、用于產(chǎn)生定向光源的射光儀、凸鏡、用于 固定待測(cè)物的定位座、和用于與計(jì)算機(jī)連接并采集通孔狀態(tài)的攝像儀，所述第一殼體、定位 座和第二殼體固定在基座上，所述射光儀固定在第一殼體內(nèi)，所述攝像儀固定在第二殼體 內(nèi)，所述凸鏡、定位座依次位于射光儀和攝像儀之間。本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀能夠快速測(cè) 定通孔是否貫通，采用與攝像機(jī)連接的計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，能夠自動(dòng)化對(duì)待測(cè)物內(nèi)密集排布 的通孔陣列進(jìn)行檢測(cè)，由于通孔具有光通性，檢測(cè)的可靠性高，且本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)單，自 動(dòng)化程度高，能夠顯著節(jié)省人力成本。另外，本實(shí)用新型設(shè)置可調(diào)節(jié)前后、左右和上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，能夠針對(duì)各種形 狀的待測(cè)物進(jìn)行快速調(diào)節(jié)固定，使得待測(cè)物內(nèi)部的通孔與第一殼體內(nèi)射光儀經(jīng)凸鏡變成的 平行光平行，提高抗誤檢能力。第三，本實(shí)用新型設(shè)置磨砂成像鏡，能夠使得位于第二殼體內(nèi)的攝像機(jī)能夠準(zhǔn)確 接收到檢測(cè)光，抗反射以保證檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

圖1是本實(shí)用新型第一實(shí)施例的機(jī)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例的機(jī)構(gòu)示意圖。其中，1 基座，2 第一殼體，3 第二殼體，4 射光儀，5 凸鏡，6 定位座，7 磨砂成像鏡，8 攝像儀，9 待測(cè)物，61 左右調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，62 上下調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，63 前后調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)。
具體實(shí)施方式
為詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施 方式并配合附圖詳予說明。請(qǐng)參閱圖1，本實(shí)用新型第一實(shí)施例的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，包括基座1、 第一殼體2、第二殼體3、用于產(chǎn)生定向光源的射光儀4、凸鏡5、用于固定待測(cè)物的定位座6 和用于與計(jì)算機(jī)連接并采集通孔狀態(tài)的攝像儀8，第一殼體2、定位座6和第二殼體3固定 在基座1上，射光儀4固定在第一殼體2內(nèi)，攝像儀8固定在第二殼體3內(nèi)，用于將射光儀 4射出的光線轉(zhuǎn)換為平行光的凸鏡5、定位座6依次位于射光儀4和攝像儀8之間。長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀能夠快速測(cè)定通孔是否貫通，采用與攝像儀8連接的 計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，能夠智能化對(duì)待測(cè)物9內(nèi)密集排布的通孔陣列進(jìn)行檢測(cè)，由于通孔具有 光通性，檢測(cè)的可靠性高，且本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)單，自動(dòng)化程度高，能夠顯著節(jié)省人力成本。上述的檢測(cè)儀還包括磨砂成像鏡7，磨砂成像鏡7位于定位座6和攝像儀8之間。 磨砂成像鏡7的透光率為20% 60%。設(shè)置磨砂成像鏡7，能夠使得位于第二殼體內(nèi)3的 攝像機(jī)8能夠準(zhǔn)確接收到檢測(cè)光，抗反射以保證檢測(cè)的準(zhǔn)確性。定位座6包括用于調(diào)節(jié)待測(cè)物上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)62、用于調(diào)節(jié)待測(cè)物左右方向 的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)61和用于調(diào)節(jié)待測(cè)物前后方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)63。設(shè)置可調(diào)節(jié)前后、左右和上下方 向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，能夠針對(duì)各種形狀的陶瓷載體進(jìn)行快速調(diào)節(jié)固定，使得陶瓷載體內(nèi)部的通 孔與第一殼體內(nèi)射光儀經(jīng)凸鏡變成的平行光平行，提高抗誤檢能力。上述的凸鏡5為高倍凸鏡，高倍凸鏡的設(shè)置可以提高微孔陣列通孔檢測(cè)儀的跨度 值。請(qǐng)參閱圖2，在第二實(shí)施例中，本實(shí)用新型的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，包括基 座1、第一殼體2、第二殼體3、射光儀4、定位座6、磨砂成像鏡7和攝像儀8，第一殼體2、定 位座6和第二殼體3固定在基座1上，射光儀4固定在第一殼體2內(nèi)，攝像儀8固定在第二 殼體3內(nèi)，用于固定待測(cè)物的定位座6位于用于產(chǎn)生定向平行光源的射光儀4和用于與計(jì) 算機(jī)連接并采集通孔狀態(tài)的攝像儀8之間。上述的檢測(cè)儀還包括磨砂成像鏡7，磨砂成像鏡7位于定位座6和攝像儀8之間。 如果成像鏡為透明玻璃或者其它透明材料制作，會(huì)因?yàn)榉瓷渥饔媒档捅緳z測(cè)儀的性能，因 而可以通過設(shè)置磨砂成像鏡的透光率提高本儀器的抗干擾能力。磨砂成像鏡7的透光率一 般設(shè)置為20% 60%。上述的定位座6包括用于調(diào)節(jié)待測(cè)物上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)62、用于調(diào)節(jié)待測(cè)物左 右方向61的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和用于調(diào)節(jié)待測(cè)物前后方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)63。設(shè)置可調(diào)節(jié)前后、左右和 上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，能夠針對(duì)各種形狀的待測(cè)物9進(jìn)行快速調(diào)節(jié)固定，使得待測(cè)物9內(nèi)部 的通孔與第一殼體2內(nèi)射光儀4經(jīng)凸鏡5變成的平行光平行，提高抗誤檢能力。本實(shí)用新型的工作原理是這樣實(shí)現(xiàn)的在實(shí)際監(jiān)測(cè)中，待測(cè)物為陶瓷載體。根據(jù)生 產(chǎn)流水線針對(duì)各種品種的陶瓷載體的高低、左右和前后位置，開始工作時(shí)，生產(chǎn)流水線上的 夾手把陶瓷載體置放在定位座上，通孔檢測(cè)儀感應(yīng)到陶瓷載體后自動(dòng)進(jìn)入工作狀態(tài)。如果 設(shè)置有透鏡時(shí)，僅需射光儀射出定向光源，通過凸鏡變?yōu)槠叫泄庠春?，如果沒有設(shè)置透鏡，那么射光儀必需自己射出平行光源。這樣，如果穿過陶瓷載體上的微孔陣列后經(jīng)過磨砂成 像鏡成像后，堵孔狀態(tài)圖像由精密攝像儀攝像后傳輸給計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，判定堵孔數(shù)量及 其產(chǎn)品合格與否。在實(shí)際的生產(chǎn)線工作時(shí)，還可以在生產(chǎn)線附近設(shè)置機(jī)械手，在上述堵孔數(shù)量判定 完成后，機(jī)械手自動(dòng)將陶瓷載體自行夾離到下一工序或不合格區(qū)，完成陶瓷載體的通孔監(jiān) 測(cè)。以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是 利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在 其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于包括基座、第一殼體、第二殼體、用 于產(chǎn)生定向光源的射光儀、凸鏡、用于固定待測(cè)物的定位座、和用于與計(jì)算機(jī)連接并采集通 孔狀態(tài)的攝像儀，所述第一殼體、定位座和第二殼體固定在基座上，所述射光儀固定在第一 殼體內(nèi)，所述攝像儀固定在第二殼體內(nèi)，所述凸鏡、定位座依次位于射光儀和攝像儀之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述檢測(cè)儀還包 括磨砂成像鏡，所述磨砂成像鏡位于定位座和攝像儀之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述磨砂成像鏡 的透光率為20% 60%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述定位座 包括上下調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)、左右調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和前后調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述凸鏡為高倍 凸鏡。
6.一種長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述包括基座、第一殼體、第二殼 體、射光儀、定位座和攝像儀，所述第一殼體、定位座和第二殼體固定在基座上，所述射光儀 固定在第一殼體內(nèi)，所述攝像儀固定在第二殼體內(nèi)，所述定位座位于射光儀和攝像儀之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述檢測(cè)儀還包 括磨砂成像鏡，所述磨砂成像鏡位于定位座和攝像儀之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述磨砂成像鏡 的透光率為20% 60%。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，其特征在于所述定位座 包括用于調(diào)節(jié)待測(cè)物上下方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)、用于調(diào)節(jié)待測(cè)物左右方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和用于調(diào) 節(jié)待測(cè)物前后方向的調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀，包括基座、第一殼體、第二殼體、用于產(chǎn)生定向光源的射光儀、凸鏡、用于固定待測(cè)物的定位座、和用于與計(jì)算機(jī)連接并采集通孔狀態(tài)的攝像儀，所述第一殼體、定位座和第二殼體固定在基座上，所述射光儀固定在第一殼體內(nèi)，所述攝像儀固定在第二殼體內(nèi)，所述用于將射光儀射出的光線轉(zhuǎn)換為平行光的凸鏡、定位座依次位于射光儀和攝像儀之間。有益效果是本實(shí)用新型的長(zhǎng)跨度微孔陣列通孔檢測(cè)儀能夠快速測(cè)定通孔是否貫通，采用與攝像機(jī)連接的計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，能夠智能化對(duì)待測(cè)物內(nèi)密集排布的通孔陣列進(jìn)行檢測(cè)，由于通孔具有光通性，檢測(cè)的可靠性高，且本實(shí)用新型操作簡(jiǎn)單，自動(dòng)化程度高，能夠顯著節(jié)省人力成本。
文檔編號(hào)G01N21/95GK201780276SQ20102028443
公開日2011年3月30日 申請(qǐng)日期2010年8月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月6日
發(fā)明者何承安, 紀(jì)成綢, 翁夏翔, 翁希明 申請(qǐng)人:翁希明