專利名稱：雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于成品電池測(cè)試領(lǐng)域，尤其是一種雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電池設(shè)計(jì)及生產(chǎn)廠家經(jīng)常需要對(duì)設(shè)計(jì)及生產(chǎn)出來的電池進(jìn)行各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試，如 測(cè)試電池的電流、電壓、容量、內(nèi)阻、溫度及循環(huán)壽命等，同時(shí)給出曲線圖。根據(jù)電池的形態(tài) 及電池組裝后的成品分類，對(duì)電池進(jìn)行測(cè)試所使用的電池測(cè)試設(shè)備可分為如下類型電芯 測(cè)試儀、成品電池測(cè)試儀、手機(jī)電池測(cè)試儀、筆記本電池測(cè)試儀、移動(dòng)DVD電池測(cè)試儀、蓄電 池測(cè)試儀等，上述測(cè)試設(shè)備均可以做綜合性能測(cè)試。現(xiàn)有的電池測(cè)試設(shè)備普遍存在系統(tǒng)結(jié) 構(gòu)復(fù)雜、測(cè)試成本高、使用及維護(hù)不便等問題。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目地在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提出一種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、測(cè)試成本 低、使用及維護(hù)方便的雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題是采取以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)，包括主控電腦、數(shù)字萬用表模塊、數(shù)字I/O模塊、 內(nèi)阻儀、電子負(fù)載、電源、轉(zhuǎn)接板和待測(cè)電池接口，第一數(shù)字萬用表模塊、第二數(shù)字萬用表模 塊、數(shù)字I/O模塊安裝在PXI機(jī)箱內(nèi)，該P(yáng)XI機(jī)箱一端通過Express Card連接線和主控電 腦PCI擴(kuò)展槽相連接，另一端與轉(zhuǎn)接板相連接，內(nèi)阻儀、第一電子負(fù)載、第二電子負(fù)載、第一 電源、第二電源、轉(zhuǎn)接板、第一待測(cè)電池接口、第二待測(cè)電池接口的一端通過串行接口與主 控電腦相連接，另一端與轉(zhuǎn)接板相連接，該轉(zhuǎn)接板的另一端分別與第一待測(cè)電池接口、第二 待測(cè)電池接口相連接。而且，所述的第一數(shù)字萬用表模塊為NI PXI-4070板卡，所述的第二數(shù)字萬用表模 塊為NI PXI-4071板卡，所述的數(shù)字I/O模塊為NI PXI-6515板卡。而且，所述內(nèi)阻儀為BTS-2004設(shè)備，所述的第一電源和第二電源均為IT6322三路 全隔離電源，所述的第一電子負(fù)載和第二電子負(fù)載均為IT8511可編程直流負(fù)載設(shè)備。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是1、本測(cè)試系統(tǒng)采用PXI機(jī)箱和高性能測(cè)試儀器相結(jié)合的方式，降低了系統(tǒng)的復(fù)雜 性，方便了系統(tǒng)的擴(kuò)展，從而大大降低了測(cè)試成本，滿了研發(fā)、設(shè)計(jì)和生產(chǎn)測(cè)試的需求。2、本測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)雙工位并行測(cè)試功能，有效地利用了設(shè)備資源，大大提高 了測(cè)試效率，縮短測(cè)試時(shí)間。3、本實(shí)用新型設(shè)計(jì)合理，解決了系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜的問題，同時(shí)節(jié)約了設(shè)備成本且便 于系統(tǒng)維護(hù)，具有高速、低功耗、低成本、高性價(jià)比、穩(wěn)定性好并且使用方便等特點(diǎn)，可廣泛 應(yīng)用于成品鋰離子電池保護(hù)板電路及電池性能測(cè)試。
圖1是本實(shí)用新型的連接示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例做進(jìn)一步詳述。一種雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)，如圖1所示，由主控電腦、第一數(shù)字萬用表模塊、 第二數(shù)字萬用表模塊、數(shù)字I/O模塊、內(nèi)阻儀、第一電子負(fù)載、第二電子負(fù)載、第一電源、第 二電源、轉(zhuǎn)接板、第一待測(cè)電池接口、第二待測(cè)電池接口連接構(gòu)成。主控電腦為一臺(tái)安裝測(cè) 試控制軟件的計(jì)算機(jī)，該主控電腦主要用來控制各個(gè)設(shè)備以實(shí)現(xiàn)對(duì)成品電池的測(cè)試功能； 在本實(shí)施例中，第一數(shù)字萬用表模塊采用的是美國(guó)NI公司的m PXI-4070板卡，第二數(shù)字 萬用表模塊采用的是美國(guó)NI公司的NI PXI-4071板卡，上述NI PXI-4070和NI PXI-4071 板卡分別為6位半FlexDMM模塊和7位半FlexDMM模塊，具有高分辨率的數(shù)字萬用表測(cè)量功 能，數(shù)字I/O模塊采用的是美國(guó)NI公司的NI PXI-6515板卡，該P(yáng)XI板卡具有32通道隔離 數(shù)字量輸入及32通道吸電流數(shù)字量輸出功能，上述三塊PXI板卡均安裝在PXI機(jī)箱內(nèi)，該 PXI機(jī)箱一端通過Express Card連接線和主控電腦PCI擴(kuò)展槽相連接進(jìn)行通訊，另一端與 轉(zhuǎn)接板相連接；內(nèi)阻儀、第一電子負(fù)載、第二電子負(fù)載、第一電源、第二電源一端分別通過串 行接口與主控電腦相連接，另一端與轉(zhuǎn)接板相連接進(jìn)行通訊，在本實(shí)施例中，內(nèi)阻儀采用的 是深圳泰斯電子有限公司的BTS-2004設(shè)備，第一電源和第二電源均采用艾德克斯電子有 限公司的IT6322三路全隔離電源，第一電子負(fù)載和第二電子負(fù)載均采用艾德克斯電子有 限公司的IT8511可編程直流負(fù)載設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)端測(cè)量、短路測(cè)試、電池測(cè)試以及動(dòng)態(tài)測(cè) 試等功能，滿足了多元化的測(cè)試需求；轉(zhuǎn)接板主要由繼電器和接口電路構(gòu)成，用于連接PXI 設(shè)備及內(nèi)阻儀、第一電子負(fù)載、第二電子負(fù)載、第一電源、第二電源實(shí)現(xiàn)切換功能，同時(shí)與第 一待測(cè)電池接口、第二待測(cè)電池接口相連接，實(shí)現(xiàn)控制轉(zhuǎn)接功能。使用時(shí)，只需將待測(cè)電池 與待測(cè)電池接口相連接，測(cè)試的結(jié)果通過主控電腦實(shí)時(shí)顯示出來，通過兩個(gè)待測(cè)電池接口 可實(shí)現(xiàn)雙工位并行測(cè)試，有效地利用了設(shè)備資源，提高了測(cè)試效率。需要強(qiáng)調(diào)的是，本實(shí)用新型所述的實(shí)施例是說明性的，而不是限定性的，因此本實(shí) 用新型并不限于具體實(shí)施方式
中所述的實(shí)施例，凡是由本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型的 技術(shù)方案得出的其他實(shí)施方式，同樣屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
權(quán)利要求1.一種雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括主控電腦、數(shù)字萬用表模塊、數(shù)字 I/O模塊、內(nèi)阻儀、電子負(fù)載、電源、轉(zhuǎn)接板和待測(cè)電池接口，第一數(shù)字萬用表模塊、第二數(shù)字 萬用表模塊、數(shù)字I/O模塊安裝在PXI機(jī)箱內(nèi)，該P(yáng)XI機(jī)箱一端通過Express Card連接線 和主控電腦PCI擴(kuò)展槽相連接，另一端與轉(zhuǎn)接板相連接，內(nèi)阻儀、第一電子負(fù)載、第二電子 負(fù)載、第一電源、第二電源、轉(zhuǎn)接板、第一待測(cè)電池接口、第二待測(cè)電池接口的一端通過串行 接口與主控電腦相連接，另一端與轉(zhuǎn)接板相連接，該轉(zhuǎn)接板的另一端分別與第一待測(cè)電池 接口、第二待測(cè)電池接口相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的第一數(shù)字萬 用表模塊為NI PXI-4070板卡，所述的第二數(shù)字萬用表模塊為NIPXI-4071板卡，所述的數(shù) 字I/O模塊為NI PXI-6515板卡。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述內(nèi)阻儀為 BTS-2004設(shè)備，所述的第一電源和第二電源均為IT6322三路全隔離電源，所述的第一電子 負(fù)載和第二電子負(fù)載均為IT8511可編程直流負(fù)載設(shè)備。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種雙工位成品電池測(cè)試系統(tǒng)，其主要技術(shù)特點(diǎn)是包括主控電腦、數(shù)字萬用表模塊、數(shù)字I/O模塊、內(nèi)阻儀、電子負(fù)載、電源、轉(zhuǎn)接板和待測(cè)電池接口，第一數(shù)字萬用表模塊、第二數(shù)字萬用表模塊、數(shù)字I/O模塊安裝在PXI機(jī)箱內(nèi)，該P(yáng)XI機(jī)箱分別與主控電腦和轉(zhuǎn)接板相連接，內(nèi)阻儀、第一電子負(fù)載、第二電子負(fù)載、第一電源、第二電源、轉(zhuǎn)接板、第一待測(cè)電池接口、第二待測(cè)電池接口分別與主控電腦和轉(zhuǎn)接板相連接，轉(zhuǎn)接板的另一端分別與第一待測(cè)電池接口、第二待測(cè)電池接口相連接。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)合理，解決了系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、測(cè)試成本高、使用及維護(hù)不便等問題，可廣泛應(yīng)用于成品鋰離子電池保護(hù)板電路及電池性能測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R31/36GK201788271SQ20102053939
公開日2011年4月6日 申請(qǐng)日期2010年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月21日
發(fā)明者劉華, 朱里, 趙春蓮 申請(qǐng)人:天津渤海易安泰電子半導(dǎo)體測(cè)試有限公司