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      工件表面缺陷深度檢測裝置的制作方法

      文檔序號(hào):5901080閱讀:257來源:國知局
      專利名稱:工件表面缺陷深度檢測裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種工件表面缺陷深度檢測裝置,可快速檢測工件表面缺陷深度。
      二、背景技術(shù)在生產(chǎn)實(shí)踐中,工件表面缺陷深度檢測是一項(xiàng)比較繁復(fù)的技術(shù)工作,需要耗費(fèi)較 多的人力物力,檢測精度也不高。
      三、發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是要提供一種新型的工件表面缺陷深度檢測裝置,可快速檢測 工件表面缺陷深度。本實(shí)用新型由一臺(tái)工業(yè)顯微鏡及一個(gè)千分表組合而成。在工業(yè)顯微鏡的物鏡部設(shè) 置一聯(lián)動(dòng)檢測板,聯(lián)動(dòng)檢測板隨物鏡而動(dòng),千分表表座與工業(yè)顯微鏡本體通過連接桿相連, 表頭緊壓檢測板,物鏡在工件表面與缺陷底部的兩個(gè)聚焦點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的千分表讀數(shù)之差即為 工件表面缺陷深度。為方便讀數(shù),檢測工件時(shí),調(diào)整顯微鏡聚焦手環(huán),使顯微鏡物鏡在被測 工件表面聚焦,這時(shí)將千分表調(diào)零;下一步移動(dòng)顯微鏡物鏡到被測工件缺陷底部,調(diào)整顯微 鏡聚焦手環(huán),使顯微鏡物鏡在被測工件缺陷底部聚焦,這時(shí)聯(lián)動(dòng)檢測板也隨之而動(dòng),帶動(dòng)千 分表表頭微動(dòng),記錄千分表讀數(shù),多測幾個(gè)底點(diǎn),讀數(shù)最大的即為工件表面缺陷深度。

      附圖是工件表面缺陷深度檢測裝置的使用示意圖。圖中1.聚焦手環(huán),2.聯(lián)動(dòng)檢測板,3.顯微鏡物鏡,4.千分表表頭,5.連接桿,6.千 分表。
      具體實(shí)施方式
      將工業(yè)顯微鏡及千分表通過連接桿( 組合,在工業(yè)顯微鏡的物鏡( 部設(shè)置一 聯(lián)動(dòng)檢測板O),使千分表表頭(4)緊壓檢測板O),檢測時(shí),調(diào)整顯微鏡聚焦手環(huán)(1),使 顯微鏡物鏡( 在被測工件表面聚焦,這時(shí)將千分表(6)調(diào)零;下一步移動(dòng)顯微鏡物鏡(3) 到被測工件缺陷底部,調(diào)整顯微鏡聚焦手環(huán)(1),使顯微鏡物鏡C3)在被測工件缺陷底部聚 焦,這時(shí)聯(lián)動(dòng)檢測板( 也隨之而動(dòng),帶動(dòng)千分表表頭(4)微動(dòng),記錄千分表(6)讀數(shù),多測 幾個(gè)底點(diǎn),讀數(shù)最大的即為工件表面缺陷深度。
      權(quán)利要求1. 一種工件表面缺陷深度檢測裝置,其特征是在工業(yè)顯微鏡的物鏡部設(shè)置一聯(lián)動(dòng)檢 測板,聯(lián)動(dòng)檢測板隨物鏡而動(dòng),千分表表座與工業(yè)顯微鏡本體通過連接桿相連,表頭緊壓檢 測板,物鏡在工件表面與缺陷底部的兩個(gè)聚焦點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的千分表讀數(shù)之差即為工件表面缺 陷深度。
      專利摘要工件表面缺陷深度檢測裝置是一種較為簡單實(shí)用且精度較高的表面缺陷檢測裝置,由一臺(tái)工業(yè)顯微鏡及一個(gè)千分表組合而成,在工業(yè)顯微鏡的物鏡部設(shè)置一聯(lián)動(dòng)檢測板,聯(lián)動(dòng)檢測板隨物鏡而動(dòng),千分表表座與工業(yè)顯微鏡本體通過連接桿相連,表頭緊壓檢測板。檢測工件時(shí),調(diào)整顯微鏡聚焦手環(huán),使顯微鏡物鏡在被測工件表面聚焦,這時(shí)將千分表調(diào)零;下一步移動(dòng)顯微鏡物鏡到被測工件缺陷底部,調(diào)整顯微鏡聚焦手環(huán),使顯微鏡物鏡在被測工件缺陷底部聚焦,這時(shí)聯(lián)動(dòng)檢測板也隨之而動(dòng),帶動(dòng)千分表表頭微動(dòng),記錄千分表讀數(shù),多測幾個(gè)底點(diǎn),讀數(shù)最大的即為工件表面缺陷深度。
      文檔編號(hào)G01B11/22GK201892507SQ20102058891
      公開日2011年7月6日 申請(qǐng)日期2010年10月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月26日
      發(fā)明者惠征 申請(qǐng)人:惠征
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