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      基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):5998969閱讀:200來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試系統(tǒng),具體是指一種基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng)。
      背景技術(shù)
      在現(xiàn)代電子、電器的制造、測(cè)試等行業(yè),以及在電器制造、科研等領(lǐng)域中,都需要測(cè) 試各種元件或模塊的工作性能。對(duì)于一個(gè)模塊的多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目,往往是在上一次測(cè)試完成 之后換裝再測(cè)試,換裝的時(shí)間較長(zhǎng),而且,對(duì)于多個(gè)被測(cè)試模塊而言,總是在上一個(gè)模塊測(cè) 試完成后才能測(cè)試,即在同一時(shí)間段內(nèi),只有一個(gè)測(cè)試儀器是處于工作狀態(tài),如何減少換裝 的次數(shù)以及提高測(cè)試儀器的使用率都是一項(xiàng)難題。

      實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),避免串行測(cè)試中 過(guò)程,始終有測(cè)試設(shè)備處于停工狀態(tài),以便提高設(shè)備利用率。本實(shí)用新型的目的通過(guò)下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),包括依次連接的被測(cè)件安放裝置、信 號(hào)處理器、矩陣開(kāi)關(guān)、以及測(cè)試模塊,在信號(hào)處理器上連接有輸出設(shè)備。將多個(gè)測(cè)試模塊連 接在矩陣開(kāi)關(guān)上,通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)被測(cè)件的測(cè)試項(xiàng)目的切換,而不需要重新連接測(cè)試線 路,通過(guò)信號(hào)處理器來(lái)實(shí)現(xiàn)矩陣開(kāi)關(guān)的各條通路的導(dǎo)通狀態(tài)的切換,從而實(shí)現(xiàn)其測(cè)試過(guò)程 以及測(cè)試項(xiàng)目切換的自動(dòng)化,通過(guò)連接在信號(hào)處理器上的輸出設(shè)備,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)件的檢 測(cè)狀態(tài)以及測(cè)試結(jié)果。所述矩陣開(kāi)關(guān)包括由η個(gè)輸入模塊和η個(gè)輸出模塊構(gòu)成η*η的矩陣,η為彡2的 自然數(shù)。根據(jù)需要,可以選擇矩陣開(kāi)關(guān)的大小,即通道數(shù)的多少,實(shí)現(xiàn)η*η的開(kāi)關(guān)矩陣。所述輸入模塊具有η個(gè)輸入接口和η個(gè)輸出接口,輸出模塊具有η個(gè)輸入接口和 一個(gè)輸出接口,一個(gè)輸入模塊的η個(gè)輸出接口分別于η個(gè)輸出模塊的輸入接口連接。由一個(gè) 輸入模塊和一個(gè)輸出模塊構(gòu)成一個(gè)單元組,該單元組具有η個(gè)輸入接口和一個(gè)輸出接口。一個(gè)輸入模塊包括η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)和2個(gè)單刀η擲開(kāi)關(guān),2個(gè)單刀η擲開(kāi)關(guān)的固 定端口對(duì)接,η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)與一個(gè)單刀η擲開(kāi)關(guān)的輸入選擇端口分別連接,未與單刀雙 擲開(kāi)關(guān)連接的單刀η擲開(kāi)關(guān)的輸入選擇端口作為輸入模塊的輸出口,η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)作 為輸入模塊的η個(gè)輸入口。一個(gè)輸出模塊包括與輸入模塊的輸出口連接的單刀η擲開(kāi)關(guān)、以及與該單刀η擲 開(kāi)關(guān)固定端口連接的開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器,以開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器的輸出口作為輸出模塊的輸出口,單刀η 擲開(kāi)關(guān)的η個(gè)選擇端口作為輸出模塊的輸入口。單刀雙擲開(kāi)關(guān)的兩種狀態(tài)=COM-NC連通、COM-NO連通兩種狀態(tài)之間互鎖,只有一 種連通狀態(tài)存在;每一個(gè)單元組中的η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)在同一時(shí)間段內(nèi)互鎖,即只有一個(gè) 單刀雙擲開(kāi)關(guān)處于COM-NO連通狀態(tài),其余的為COM-NC連通狀態(tài),輸入模塊和輸出模塊之間 采用單刀η擲開(kāi)關(guān)連接,對(duì)同一個(gè)輸入,只有一路是導(dǎo)通的,對(duì)于同一個(gè)輸出也只有一路是導(dǎo)通的。所述η是4或6。根據(jù)不同的測(cè)試環(huán)境和測(cè)試過(guò)程,選擇不同的矩陣大小,通過(guò)改 變?chǔ)侵祦?lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)不同的測(cè)試過(guò)程的一次換裝測(cè)試。所述的信號(hào)處理器上設(shè)置有用于切換測(cè)試線路的撥碼開(kāi)關(guān)。進(jìn)一步講,通過(guò)撥碼 開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)對(duì)矩陣開(kāi)關(guān)的切換,以實(shí)現(xiàn)被測(cè)件與測(cè)試模塊連接通道的切換,從而達(dá)到自動(dòng)化 測(cè)試的目的。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有如下的優(yōu)點(diǎn)和有益效果1本實(shí)用新型基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),將串行測(cè)試系統(tǒng)中的η次換裝改變 為一次換裝,減少了換裝次數(shù),減少了測(cè)試時(shí)間;2本實(shí)用新型基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)的線路切換能夠?qū)崿F(xiàn) 多對(duì)多的選擇開(kāi)關(guān)任意切換,減少了傳統(tǒng)的多對(duì)多選擇方式中的接線;3本實(shí)用新型基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),可以根據(jù)需求進(jìn)行擴(kuò)展,組成通道數(shù) 量更多的矩陣,滿足對(duì)更多通道的需求。

      圖1為本實(shí)用新型硬件連接示意圖;圖2為本實(shí)用新型矩陣開(kāi)關(guān)電路圖;圖3為本實(shí)用新型矩陣開(kāi)關(guān)控制電路圖;圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例與串行測(cè)試比較示意圖。
      具體實(shí)施方式
      下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明,但本實(shí)用新型的實(shí)施方式不 限于此。
      實(shí)施例如圖1至3所示,本實(shí)用新型基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),包括依次連接的被測(cè) 件安放裝置、信號(hào)處理器、矩陣開(kāi)關(guān)、以及測(cè)試模塊,在信號(hào)處理器上連接有輸出設(shè)備和用 于切換測(cè)試線路的撥碼開(kāi)關(guān)。所述矩陣開(kāi)關(guān)包括由η個(gè)輸入模塊和η個(gè)輸出模塊構(gòu)成η*η 的矩陣,η為>2的自然數(shù)。本實(shí)施例中n=4。.輸入模塊具有4個(gè)輸入接口和4個(gè)輸出接 口,輸出模塊具有4個(gè)輸入接口和一個(gè)輸出接口,一個(gè)輸入模塊的4個(gè)輸出接口分別于4個(gè) 輸出模塊的輸入接口連接。由一個(gè)輸入模塊和一個(gè)輸出模塊構(gòu)成一個(gè)單元組,該單元組具 有4個(gè)輸入接口和一個(gè)輸出接口 ;一個(gè)輸入模塊包括4個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)和2個(gè)單刀4擲開(kāi) 關(guān),2個(gè)單刀4擲開(kāi)關(guān)的固定端口對(duì)接,4個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)與一個(gè)單刀4擲開(kāi)關(guān)的輸入選擇 端口分別連接,未與單刀雙擲開(kāi)關(guān)連接的單刀4擲開(kāi)關(guān)的輸入選擇端口作為輸入模塊的輸 出口,4個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)作為輸入模塊的4個(gè)輸入口 ;一個(gè)輸出模塊包括與輸入模塊的輸出 口連接的單刀4擲開(kāi)關(guān)、以及與該單刀4擲開(kāi)關(guān)固定端口連接的開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器,以開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器 的輸出口作為輸出模塊的輸出口,單刀4擲開(kāi)關(guān)的4個(gè)選擇端口作為輸出模塊的輸入口。單刀雙擲開(kāi)關(guān)的兩種狀態(tài)C0M-NC連通、COM-NO連通兩種狀態(tài)之間互鎖,只有一 種連通狀態(tài)存在;每一個(gè)單元組中的η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)在同一時(shí)間段內(nèi)互鎖,即只有一個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)處于COM-NO連通狀態(tài),其余的為COM-NC連通狀態(tài),輸入模塊和輸出模塊之間 采用單刀4擲開(kāi)關(guān)連接,對(duì)同一個(gè)輸入,只有一路是導(dǎo)通的,對(duì)于同一個(gè)輸出也只有一路是 導(dǎo)通的。通過(guò)撥碼開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)對(duì)矩陣開(kāi)關(guān)的切換,以實(shí)現(xiàn)被測(cè)件與測(cè)試模塊連接通道的切換, 從而達(dá)到自動(dòng)化測(cè)試的目的。將多個(gè)測(cè)試模塊連接在矩陣開(kāi)關(guān)上,通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)被測(cè) 件的測(cè)試項(xiàng)目的切換,而不需要重新連接測(cè)試線路,通過(guò)信號(hào)處理器來(lái)實(shí)現(xiàn)矩陣開(kāi)關(guān)的各 條通路的導(dǎo)通狀態(tài)的切換,從而實(shí)現(xiàn)其測(cè)試過(guò)程以及測(cè)試項(xiàng)目切換的自動(dòng)化,通過(guò)連接在 信號(hào)處理器上的輸出設(shè)備,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)件的檢測(cè)狀態(tài)以及測(cè)試結(jié)果?,F(xiàn)在,以最基本的TD和NW測(cè)試為例,說(shuō)明本實(shí)用新型的優(yōu)越性TD測(cè)試時(shí)間5分 鐘,NW測(cè)試時(shí)間3分鐘,換裝時(shí)間0. 5分鐘。如圖4所示,對(duì)5個(gè)模塊的串行測(cè)試,測(cè)試耗時(shí)42. 5分鐘;采用并行測(cè)試,測(cè)試耗 時(shí)22. 5分鐘,節(jié)約時(shí)間為20分鐘。
      權(quán)利要求1.基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包括依次連接的被測(cè)件安放裝置、信 號(hào)處理器、矩陣開(kāi)關(guān)、以及測(cè)試模塊,在信號(hào)處理器上連接有輸出設(shè)備。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的矩陣開(kāi) 關(guān)由η個(gè)輸入模塊和η個(gè)輸出模塊構(gòu)成η*η的矩陣,η為> 2的自然數(shù)。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述輸入模塊 具有η個(gè)輸入接口和η個(gè)輸出接口,輸出模塊具有η個(gè)輸入接口和一個(gè)輸出接口,一個(gè)輸入 模塊的η個(gè)輸出接口分別于η個(gè)輸出模塊的輸入接口連接。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于一個(gè)輸入模塊 包括η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)和2個(gè)單刀η擲開(kāi)關(guān),2個(gè)單刀η擲開(kāi)關(guān)的固定端口對(duì)接,η個(gè)單刀 雙擲開(kāi)關(guān)與一個(gè)單刀η擲開(kāi)關(guān)的輸入選擇端口分別連接,未與單刀雙擲開(kāi)關(guān)連接的單刀η 擲開(kāi)關(guān)的輸入選擇端口作為輸入模塊的輸出口,η個(gè)單刀雙擲開(kāi)關(guān)作為輸入模塊的η個(gè)輸 入口。
      5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于一個(gè)輸出模塊 包括與輸入模塊的輸出口連接的單刀η擲開(kāi)關(guān)、以及與該單刀η擲開(kāi)關(guān)固定端口連接的開(kāi) 關(guān)轉(zhuǎn)換器,以開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換器的輸出口作為輸出模塊的輸出口,單刀η擲開(kāi)關(guān)的η個(gè)選擇端口作 為輸出模塊的輸入口。
      6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述η是4或6。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的信號(hào)處 理器上設(shè)置有用于切換測(cè)試線路的撥碼開(kāi)關(guān)。
      專利摘要本實(shí)用新型公布了基于矩陣開(kāi)關(guān)的并行測(cè)試系統(tǒng),包括依次連接的被測(cè)件安放裝置、信號(hào)處理器、矩陣開(kāi)關(guān)、以及測(cè)試模塊,在信號(hào)處理器上連接有輸出設(shè)備。本實(shí)用新型將串行測(cè)試系統(tǒng)中的n次換裝改變?yōu)橐淮螕Q裝,減少了換裝次數(shù),減少了測(cè)試時(shí)間;通過(guò)矩陣開(kāi)關(guān)的線路切換能夠?qū)崿F(xiàn)多對(duì)多的選擇開(kāi)關(guān)任意切換,減少了傳統(tǒng)的多對(duì)多選擇方式中的接線;可以根據(jù)需求進(jìn)行擴(kuò)展,組成通道數(shù)量更多的矩陣,滿足對(duì)更多通道的需求。
      文檔編號(hào)G01R31/00GK201935972SQ201020687810
      公開(kāi)日2011年8月17日 申請(qǐng)日期2010年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月30日
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