專利名稱：用于測試微間距陣列的探針單元的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于測試微間距陣列的探針單元，尤其涉及用于測試微間距陣列的探 針單元，該探針單元在探針片具有兩行或更多行觸點時使各行觸點能與測試目標(biāo)穩(wěn)定地接 觸。
背景技術(shù)：
諸如液晶顯示器(IXD)面板、有機發(fā)光二極管(OLED)等的平板顯示器件通過復(fù)雜 的工藝來制造。在這些制造工藝之間執(zhí)行測試過程。下文中，將描述LCD面板的測試過程 作為示例。

圖1示出通用IXD面板1的單元結(jié)構(gòu)。如圖所示，該IXD面板1設(shè)置有薄膜晶體 管(TFT)襯底12和濾色片襯底14。TFT襯底12具有沿著其邊緣放置的驅(qū)動電路芯片，該 驅(qū)動電路芯片用于驅(qū)動LCD面板或者形成為具有墊片18，其中帶式自動接合集成電路(TAB IC)連接到該墊片18。在將TAB IC等連接到墊片18之前電測試IXD面板1時，使用探針單元。常規(guī)探 針單元通過與平頭電極接觸的針或者刀片向LCD面板施加驅(qū)動信號。但是因為難以按照特定間距制造和排列針或刀片，因此最近提出了膜型探針單兀。將參考圖2和3來描述常規(guī)膜型探針單元100。如圖所示，在體塊110的底部上設(shè) 置探針片和柔性印刷電路(FPC)。該探針片具有在絕緣膜上形成的引線的圖案、以及用于驅(qū) 動裝載在探針片上且連接到圖案化引線的LCD面板的驅(qū)動電路芯片。圖案化引線132的特定部分構(gòu)成將與在測試目標(biāo)1的墊片上形成的平頭電極18a、 18b接觸的觸點。在圖3中，圖案化引線132的尖端構(gòu)成觸點133a、133b，其將與平頭電極 18a、18b 接觸。此外，體塊110設(shè)置有用于將觸點133a、13 壓向IXD面板1的按壓構(gòu)件120。參考圖4至圖6，觸點133a、133還可交替地分兩行形成以用于測試微間距陣列。 具體而言，觸點133a、13;3b包括第一行觸點133a和第二行觸點133b，其將分別與第二行平 頭電極18b和第一行平頭電極18a接觸。因此，按壓構(gòu)件120在其下表面處形成有按壓區(qū) 域M0，其擠壓第一行觸點133a和第二行觸點13 兩者。但是在這種常規(guī)探針單元100中，所有觸點不需要同步與平頭電極接觸。舉例而 言，如圖6所示，第一行觸點133a與第二行平頭電極18b接觸，但是第二行觸點13 不與 第一行平頭電極18a接觸。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明被設(shè)計成解決以上問題，且本發(fā)明的一個方面提供一種用于測試微間距陣 列的探針單元，該探針單元在探針片有兩行或更多行觸點時使各行觸點能與測試目標(biāo)穩(wěn)定 地接觸。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，用于測試微間距陣列的探針單元包括包括絕緣膜和在 絕緣膜上形成的引線的圖案的探針片，其中圖案化引線的特定部分構(gòu)成與測試目標(biāo)接觸的 觸點和在兩行或更多行中形成的觸點；用于緊固探針片的體塊；以及設(shè)置至體塊的按壓構(gòu) 件，用于向測試目標(biāo)按壓觸點以使各行觸點可分別由按壓構(gòu)件來按壓。按壓構(gòu)件可形成有其下表面上的橫向凹槽，以使各行觸點可分別由按壓構(gòu)件來按 壓。該按壓構(gòu)件可彈性地按壓觸點。該按壓構(gòu)件可由非金屬材料形成。該觸點可從圖案化弓丨線凸出。觸點的各個行可交替形成。該探針片可進一步包括用于驅(qū)動測試目標(biāo)的驅(qū)動電路芯片。附圖簡述根據(jù)結(jié)合附圖給出的示例性實施例的以下描述，本發(fā)明的以上和其它方面、特征 以及優(yōu)點將變得顯而易見，在附圖中 圖1示出通用LCD面板；圖2和3示出常規(guī)膜型探針單元；圖4至6示出常規(guī)探針單元的使用；圖7示出探針單元；以及圖8和9示出圖7所示探針單元的使用。
具體實施例方式現(xiàn)在將參考附圖對發(fā)明的示例性實施例進行描述。參考圖7和圖8，用于測試微間距陣列的探針單元200包括體塊210、探針片230、 柔性印刷電路MO以及按壓構(gòu)件220。在該實施例中，探針片230具有要附連到測試目標(biāo)成品的帶式自動接合集成電路 (TAB IC)。具體而言，該探針單元230包括絕緣膜221和在絕緣膜221上形成的引線圖案， 其中圖案化引線的尖端構(gòu)成要與測試目標(biāo)的墊片接觸的觸點233a、233b。觸點233a、23!3b 可從圖案化引線向LCD面板凸出(參見圖7)。即，可在圖案化引線上形成凸點以便于與平 頭電極18a、18b接觸(參見圖6)。此外，對應(yīng)于微間距陣列，探針片230的觸點233a、23!3b交替分兩行形成(參加圖 8)。在該實施例中，按壓構(gòu)件220具有在其下表面上形成的橫向凹槽，以使各行觸點 可分別由按壓構(gòu)件220來按壓。該按壓構(gòu)件220包括在其下表面上形成的第一按壓部分 221和第二按壓部分222，且在它們之間置有凹槽223。第一按壓部分221按壓第一行觸點 233a且第二按壓部分222按壓第二行觸點23北。在圖8中，11，指示第一按壓部分221的 按壓區(qū)域且12’指示第二按壓部分222的按壓區(qū)域。參考圖9，在探針片230的第一行觸點233a與第二行平頭電極18a接觸且第二行 觸點23 與第一行平頭電極18b接觸的情況下，如果由按壓部分220來按壓第一行和第二 行觸點233a、233b，則該第一行觸點233a和第二行觸點23 分別由第一按壓部分221和第二按壓部分222來按壓。因此，壓力均勻地施加到第一行觸點233a和第二行觸點233b，由 此改善接觸性能。在該實施例中，作為探針片230的示例來示出TAB IC0替代地，通過將驅(qū)動電路 芯片裝載在絕緣膜上，可與TAB IC分離地形成探針片，其中在絕緣膜上形成有圖案化引線。 在任一情形中，觸點的間距等于平頭電極的間距。此外，在該實施例中將驅(qū)動電路芯片裝載在探針片上。替代地，可單獨地提供其上 裝載有驅(qū)動電路芯片的TAB IC。具體而言，探針片可僅形成有構(gòu)成觸點的圖案化引線，且其 上裝載有驅(qū)動電路芯片的TAB IC可連接到探針片的后端。因此，柔性印刷電路(FPC)連接 到TAB IC的后端。這樣，根據(jù)本發(fā)明的各個實施例，即使在探針片具有兩行或更多行觸點時，該探針 單元也使各行觸點能與測試目標(biāo)穩(wěn)定地接觸。雖然已在本公開中描述了一些實施例，但對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言這些實施 例是以說明方式給出的，且可作出各種修改和改變而不背離本發(fā)明的精神和范圍是將顯而 易見的。本發(fā)明的范圍應(yīng)當(dāng)僅由所附權(quán)利要求和其等效方案來限定。
權(quán)利要求
1.一種用于測試微間距陣列的探針單元，包括包括絕緣膜和在所述絕緣膜上形成的引線圖案的探針片，其中所述圖案化引線的特定 部分構(gòu)成與測試目標(biāo)接觸的觸點，所述觸點在兩行或多個行中形成； 緊固所述探針片的體塊；以及設(shè)置至所述體塊的按壓構(gòu)件，用于向所述測試目標(biāo)按壓所述觸點以使各行觸點可分別 由所述按壓構(gòu)件來按壓。
2.如權(quán)利要求1所述的探針單元，其特征在于，所述按壓構(gòu)件可形成有在其下表面上 的橫向凹槽，以使各行觸點可分別由所述按壓構(gòu)件來按壓。
3.如權(quán)利要求2所述的探針單元，其特征在于，所述按壓構(gòu)件彈性地按壓所述觸點。
4.如權(quán)利要求3所述的探針單元，其特征在于，所述按壓構(gòu)件由非金屬材料形成。
5.如權(quán)利要求1所述的探針單元，其特征在于，所述觸點從所述圖案化引線凸出。
6.如權(quán)利要求1所述的探針單元，其特征在于，所述各行觸點交替地形成。
7.如權(quán)利要求1所述的探針單元，其特征在于，所述探針片還包括用于驅(qū)動所述測試 目標(biāo)的驅(qū)動電路芯片。
全文摘要
本文公開了用于測試微間距陣列的探針單元，該探針單元在探針片有兩行或更多行觸點時使各行觸點能與測試目標(biāo)穩(wěn)定地接觸。探針單元包括探針片，該探針片包括絕緣膜和在絕緣膜上形成的引線圖案，其中圖案化引線的特定部分構(gòu)成與測試目標(biāo)接觸且在兩行或更多行中形成的觸點；緊固探針片的體塊；以及設(shè)置至體塊的按壓構(gòu)件，用于向測試目標(biāo)按壓觸點，以使各行觸點可分別由按壓構(gòu)件來按壓。
文檔編號G01R1/073GK102136234SQ20111003322
公開日2011年7月27日 申請日期2011年1月24日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月25日
發(fā)明者金憲敏 申請人:寇地斯股份有限公司