專利名稱：一種光學指標測量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及激光技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種應用在高集成度系統(tǒng)內(nèi)且用于傳送光學指標的裝置。
背景技術(shù)：
目前大型系統(tǒng)由于高度集成，其測量數(shù)據(jù)只能從最終集成后的系統(tǒng)中測量得到， 而作為與光學指標相關(guān)的光斑變形等因素，亦只能通過最終測量所獲得的指標去進行衡量，故其測量效率并不高、且測量過程中諸多的系統(tǒng)也對測量結(jié)果造成了極大的干擾。在對較為復雜的大型系統(tǒng)進行測量時，通常是將該大型系統(tǒng)分為若干個組/部件進行離線測量，測量指標后再進行組裝；為了滿足最終的系統(tǒng)指標在系統(tǒng)裝配過程中，還需要對關(guān)鍵指標進行測量。參照圖1所示，采用CCD (Charge-coupled Device,中文全稱電荷耦合元件)成像系統(tǒng)對圖像進行測量的技術(shù)方案。在該方案中，系統(tǒng)1和系統(tǒng)2輸出的光斑首先通過成像系統(tǒng)接收到近場(XD3和遠場(XD4上，其次分別經(jīng)過多個成像系統(tǒng)鏡片傳輸、反射和聚焦后輸出。其中，在該傳輸、反射和聚焦過程中分別采用示波器5、光譜儀6以及能量計7等進行相關(guān)光學指標的測量。雖然上述技術(shù)方案可實現(xiàn)相關(guān)光學指標的測量，但將系統(tǒng)輸出的光斑通過成像系統(tǒng)接收到近場CCD3和遠場CCD4上，為確保測量的準確性，需要保證測量系統(tǒng)中的成像系統(tǒng)鏡片的光學質(zhì)量以及保證近場(XD3、遠場(XD4處于視場的焦平面位置。進一步，由于上述技術(shù)方案中所述測量系統(tǒng)的復雜性，如果系統(tǒng)輸出光斑具有一定的變形，則如要保證測量系統(tǒng)中的成像系統(tǒng)鏡片的光學質(zhì)量以及保證近場CCD3、遠場 CCD4處于視場的焦平面位置，將因器件的姿態(tài)各異或者是需要對上百個器件調(diào)試而無從著手。由此可見，對于一個復雜的系統(tǒng)而言，如果因為一個指標的不合格就要追溯到系統(tǒng)最初的調(diào)試狀態(tài)，那么勢必會大大降低系統(tǒng)調(diào)試的效率；并且在復雜系統(tǒng)內(nèi)，由于元器件眾多并且高度集成，要想在該緊湊型結(jié)構(gòu)中且在線取出光束幾乎是不可能實現(xiàn)的。

發(fā)明內(nèi)容
基于現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種能夠在任意緊湊結(jié)構(gòu)中將光束取出，同時又能避免由于導光鏡片變形而對待測量激光所產(chǎn)生影響的光學指標測量系統(tǒng)。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了下述技術(shù)方案所述一種光學指標測量系統(tǒng)，應用于高集成度復雜系統(tǒng)中，包括電荷耦合元件以及用以自高集成度系統(tǒng)內(nèi)取出激光光束且提供給電荷耦合元件測量的光指標傳送裝置，該裝置包括底座、鏡框以及分別與底座、鏡框相連接的支撐體。進一步地，所述光指標傳送裝置包括一導光鏡片，該導光鏡片裝設(shè)于所述鏡框中。
3
進一步地，所述底座為一夾子，且包括面板、底板以及將面板和底板鉸接在一起且套有扭簧的中心軸。進一步地，所述支撐體為繞性管體。進一步地，所述鏡框為矩形、圓形或五角形的其中一種。此外，本發(fā)明還提供一種光學指標傳送裝置，其應用于高集成度復雜系統(tǒng)中，包括底座、鏡框以及分別與底座、鏡框相連接的支撐體。進一步地，所述底座為一夾子，且包括面板、底板以及將面板和底板鉸接在一起且套有扭簧的中心軸。進一步地，所述支撐體為繞性管體。進一步地，所述鏡框為矩形、圓形或五角形的其中一種。進一步地，所述繞性管體為彈簧金屬軟管。本發(fā)明具有以下優(yōu)點1)無需將系統(tǒng)分離成若干部分或部件進行離線測量，在線便可隨意在緊湊結(jié)構(gòu)中取出光束進行測量，大大提高了測量效率；幻通過在線測量，避免了若干離線測量結(jié)果對系統(tǒng)整體測量結(jié)果的干擾；3)適用于高集成度的系統(tǒng)，實用性強。


圖1為現(xiàn)有測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明中所述一種光學指標傳送裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖以及具體實施來對本發(fā)明所述一種光學指標測量系統(tǒng)以及光學指標傳送裝置作進一步的詳細說明。本發(fā)明中所述一種光學指標測量系統(tǒng)包括電荷耦合元件以及光指標傳送裝置，且應用于高集成度復雜系統(tǒng)內(nèi)，在該系統(tǒng)中，所述光指標傳送裝置用以自高集成度復雜系統(tǒng)內(nèi)取出激光光束且提供給電荷耦合元件直接測量。參照圖2中所示，本發(fā)明中所述光指標傳送裝置包括底座20、鏡框21以及分別與底座20、鏡框21相連接的支撐體22，其中，所述鏡框21中裝設(shè)有導光鏡片23，該導光鏡片 23用以將高集成度系統(tǒng)內(nèi)的激光光束導出，并傳送給電荷耦合元件(圖中未示)中。在具體實施時，本發(fā)明中所述底座20可為一夾子，其包括面板201、底板202以及將面板201和底板202鉸接在一起且套有扭簧(圖中未示)的中心軸(圖中未示)。應用時，通過該所述夾子使所述光指標傳送裝置可以方便的夾置于其它物件上。在具體實施時，本發(fā)明中所述支撐體22為一種繞性管體，故通過該可自由折繞的支撐體22，本發(fā)明所述光指標傳送裝置可以很方便的調(diào)整導出激光光束的導光鏡片23的位置。進一步地，具體應用時，上述支撐體22為可自由拉伸的彈簧金屬軟管。此外，本發(fā)明中所述鏡框21可以配合導光鏡片23的形狀或者按照實際測量需求設(shè)計成矩形、圓形或五角形。本發(fā)明光學指標測量系統(tǒng)以及光學指標傳送裝置，無需將系統(tǒng)分離成若干部分或部件進行離線測量，在線便可隨意在緊湊結(jié)構(gòu)中取出光束進行測量，大大提高了測量效率；通過在線測量，避免了若干離線測量結(jié)果對系統(tǒng)整體測量結(jié)果的干擾；適用于高集成度的系統(tǒng)，實用性強。 以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光學指標測量系統(tǒng)，應用于高集成度復雜系統(tǒng)中，包括電荷耦合元件，其特征在于，還包括用以自高集成度系統(tǒng)內(nèi)取出激光光束且提供給電荷耦合元件測量的光指標傳送裝置，該裝置包括底座、鏡框以及與底座、鏡框相連接的支撐體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述光學指標測量系統(tǒng)，其特征在于，所述光指標傳送裝置還包括一導光鏡片，該導光鏡片裝設(shè)于所述鏡框中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述光學指標測量系統(tǒng)，其特征在于，所述底座為一夾子，包括面板、底板以及將面板和底板鉸接在一起且套有扭簧的中心軸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述光學指標測量系統(tǒng)，其特征在于，所述支撐體為繞性管體。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述光學指標測量系統(tǒng)，其特征在于，所述鏡框為矩形、圓形或五角形的其中一種。
6.一種光學指標傳送裝置，應用于高集成度復雜系統(tǒng)中，其特征在于，所述裝置包括底座、鏡框以及與底座、鏡框相連接的支撐體。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述一種光學指標傳送裝置，其特征在于，所述底座為一夾子，包括面板、底板以及將面板和底板鉸接在一起且套有扭簧的中心軸。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述一種光學指標傳送裝置，其特征在于，所述支撐體為繞性管體。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述一種光學指標傳送裝置，其特征在于，所述鏡框為矩形、圓形或五角形的其中一種。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述一種光學指標傳送裝置，其特征在于，所述繞性管體為彈簧金屬軟管。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光學指標測量系統(tǒng)，包括電荷耦合元件以及用以自高集成度系統(tǒng)內(nèi)取出激光光束且提供給電荷耦合元件測量的光指標傳送裝置，該裝置包括底座、鏡框以及分別與底座、鏡框相連接的可自由伸縮的支撐體，在鏡框中設(shè)置有導光鏡片。本發(fā)明優(yōu)點在于，無需將系統(tǒng)分離成若干部分或部件進行離線測量，在線便可隨意在緊湊結(jié)構(gòu)中取出光束進行測量，大大提高了測量效率；通過在線測量，避免了若干離線測量結(jié)果對系統(tǒng)整體測量結(jié)果的干擾；適用于高集成度的系統(tǒng)，實用性強。
文檔編號G01M11/02GK102564735SQ20111008510
公開日2012年7月11日 申請日期2011年4月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月6日
發(fā)明者張國新, 張晶, 樊仲維 申請人:北京國科世紀激光技術(shù)有限公司