專利名稱：電路保護裝置的制作方法
電路保護裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種電路保護裝置，特別是涉及ー種測試設(shè)備的電路保護裝置。
背景技木隨著科技的發(fā)展進歩，電子產(chǎn)品越來越廣泛的應(yīng)用于家庭和辦公場合，尤其是個人臺式電腦和筆記本電腦，更是成為人們 生活中必不可少的工具。因此，需要大量生產(chǎn)該類電子產(chǎn)品。在エ廠需要出貨前，都需要對其性能進行測試，以確保其品質(zhì)。請參閱圖1，其繪示為現(xiàn)有技術(shù)電子產(chǎn)品的測試結(jié)構(gòu)圖。目前的測試通常都是將測試設(shè)備100與待測設(shè)備200直接電性連接。待測設(shè)備200以筆記本電腦的顯示器為例，而測試設(shè)備100以筆記本電腦的主機為例。利用所述主機對所述顯示器進行19V以下的電源測試的時候，將二者直接相連。然而，采用上述方式進行測試的時候，由于測試設(shè)備100與待測設(shè)備200直接電性連接。如果待測設(shè)備200本身的電路短路，則在測試設(shè)備100供電后，會使得測試設(shè)備100短路而不能正常工作甚至燒毀。有鑒于此，實有必要開發(fā)ー種電路保護裝置，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的是提供ー種電路保護裝置，可以保證在測試設(shè)備和待測設(shè)備電性連接的安全性。為了達到上述目的，本發(fā)明提供的電路保護裝置，與測試設(shè)備和待測設(shè)備相連，所述電路保護裝置包括第一接ロ，與所述待測設(shè)備電性連接，取得第一電平狀態(tài)； 保護電路，其一端與所述第一接ロ電性連接，獲取所述第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路的通斷；第二接ロ，其一端與所述保護電路另一端電性連接，另一端與所述測試設(shè)備電性連接?？蛇x的，所述第一電平狀態(tài)為低電平，所述保護電路通路；第一電平狀態(tài)為高電平，所述保護電路斷路?？蛇x的，所述第二接ロ與所述測試設(shè)備電性連接，獲取第二電平狀態(tài)，所述第一、第二電平狀態(tài)皆為低電平，所述保護電路通路；第一、第二電平狀態(tài)其中之一為高電平，所述保護電路斷路。可選的，所述保護電路包括MOS管，所述MOS管導(dǎo)通，則所述保護電路通路?？蛇x的，所述電路保護裝置還包括監(jiān)測電路，與所述第一接ロ電性連接，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號。可選的，所述電路保護裝置還包括監(jiān)測電路，與所述第二接ロ電性連接，依據(jù)所述第二電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號?？蛇x的，所述電路保護裝置還包括警示單元，與所述監(jiān)測電路連接，所述監(jiān)測信號正常吋，所述警示単元顯示為第一狀態(tài)；所述監(jiān)測信號異常吋，所述警示単元顯示為第一狀態(tài)?？蛇x的，所述警示単元為發(fā)光二極管，所述第一狀態(tài)為不發(fā)光，所述第二狀態(tài)為發(fā)光?？蛇x的，所述警示単元為揚聲器，所述第一狀態(tài)為不發(fā)聲，所述第二狀態(tài)為發(fā)聲。相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的電路保護裝置，由于通過第一接ロ獲取所述待測設(shè)備的第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路的通斷，從而可以達到對測試設(shè)備的保護。同時，在本發(fā)明的一個實施例中，通過第二接ロ獲取所述測試設(shè)備的第二電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一、第二電平狀態(tài)共同控制所述保護電路的通斷，從而可以達到對測試設(shè)備和待測設(shè)備的共同保護。在本發(fā)明的一個實施例中，還包括監(jiān)測電路，可以與所述第 一接ロ電性連接，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號，達到對待測設(shè)備的監(jiān)測；也可以與所述第二接ロ電性連接，依據(jù)所述第二電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號，達到對測試設(shè)備的監(jiān)測。

圖I繪示為現(xiàn)有技術(shù)電子產(chǎn)品的測試結(jié)構(gòu)圖。圖2為本發(fā)明的電路保護裝置第一實施例應(yīng)用狀態(tài)的方框結(jié)構(gòu)圖。圖3為本發(fā)明的電路保護裝置第二實施例應(yīng)用狀態(tài)的方框結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式請參閱圖2，圖2為本發(fā)明的電路保護裝置第一實施例應(yīng)用狀態(tài)的方框結(jié)構(gòu)圖。本發(fā)明提供的電路保護裝置300，與測試設(shè)備100和待測設(shè)備200相連，于該第一實施例，所述電路保護裝置300包括第一接ロ 301，與所述待測設(shè)備200電性連接，取得第一電平狀態(tài)；保護電路302，其一端與所述第一接ロ 301電性連接，獲取所述第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路302的通斷；第二接ロ 303，其一端與所述保護電路302另一端電性連接，另一端與所述測試設(shè)備100電性連接。此處，所述保護電路302可以為包括MOS管，所述MOS管導(dǎo)通，則所述保護電路通路。采用MOS管可以方便控制。此處，所述第一電平狀態(tài)為低電平，所述待測設(shè)備200正常，所述保護電路302通路；第一電平狀態(tài)為高電平，所述待測設(shè)備200短路，所述保護電路302斷路?？梢姡帽景l(fā)明的電路保護裝置300，由于通過第一接ロ 301獲取所述待測設(shè)備200的第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路302的通斷，從而可以達到對測試設(shè)備100的保護。當然，所述第二接ロ 303與所述測試設(shè)備100電性連接，也可以為獲取第二電平狀態(tài)，所述第一、第二電平狀態(tài)皆為低電平，所述測試設(shè)備100和待測設(shè)備200皆正常，所述保護電路302通路；第一、第二電平狀態(tài)其中之一為高電平，所述測試設(shè)備100和待測設(shè)備200其中之一短路，所述保護電路302斷路。由于通過第二接ロ 303獲取所述測試設(shè)備100的第二電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一、第ニ電平狀態(tài)共同控制所述保護電路302的通斷，從而可以達到對測試設(shè)備100喝待測設(shè)備200的共同保護。請參閱圖3，圖3為本發(fā)明的電路保護裝置第二實施例應(yīng)用狀態(tài)的方框結(jié)構(gòu)圖。于該第二實施例，所述電路保護裝置300除包括第一實施例中的各功能模塊外，還包括監(jiān)測電路304。當然，監(jiān)測電路304可以與所述第一接ロ 301電性連接，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號。所述監(jiān)測電路304也可以為與所述第二接ロ 302電性連接，依據(jù)所述第二電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號。 此處，所述電路保護裝置300還包括警示單元305，與所述監(jiān)測電路304連接，所述監(jiān)測信號正常時，所述警示単元305顯示為第一狀態(tài)；所述監(jiān)測信號異常時，所述警示單元305顯示為第一狀態(tài)。當然，所述警示単元305可以為發(fā)光二極管，所述第一狀態(tài)為不發(fā)光，所述第二狀態(tài)為發(fā)光。當然，所述警示単元305也可以為揚聲器，所述第一狀態(tài)為不發(fā)聲，所述第二狀態(tài)為發(fā)聲。于該第二實施例，由于該電路保護裝置300還包括監(jiān)測電路304，可以與所述第一接ロ 301電性連接，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號，從而達到對待測設(shè)備200的監(jiān)測；也可以與所述第二接ロ 302電性連接，依據(jù)所述第二電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號，從而達到對測試設(shè)備100的監(jiān)測。
權(quán)利要求
1.ー種電路保護裝置，與測試設(shè)備和待測設(shè)備相連，其特征在于，所述電路保護裝置包括: 第一接ロ，與所述待測設(shè)備電性連接，取得第一電平狀態(tài)； 保護電路，其一端與所述第一接ロ電性連接，獲取所述第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路的通斷； 第二接ロ，其一端與所述保護電路另一端電性連接，另一端與所述測試設(shè)備電性連接。
2.如權(quán)利要求I所述的電路保護裝置，其特征在于，所述第一電平狀態(tài)為低電平，所述保護電路通路 ，第一電平狀態(tài)為高電平，所述保護電路斷路。
3.如權(quán)利要求I所述的電路保護裝置，其特征在于，所述第二接ロ與所述測試設(shè)備電性連接，獲取第二電平狀態(tài)，所述第一、第二電平狀態(tài)皆為低電平，所述保護電路通路；第一、第二電平狀態(tài)其中之一為高電平，所述保護電路斷路。
4.如權(quán)利要求I所述的電路保護裝置，其特征在于，所述保護電路包括MOS管，所述MOS管導(dǎo)通，則所述保護電路通路。
5 .如權(quán)利要求I所述的電路保護裝置，其特征在于，所述電路保護裝置還包括監(jiān)測電路，與所述第一接ロ電性連接，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號。
6.如權(quán)利要求I所述的電路保護裝置，其特征在于，所述電路保護裝置還包括監(jiān)測電路，與所述第二接ロ電性連接，依據(jù)所述第二電平狀態(tài)產(chǎn)生監(jiān)測信號。
7.如權(quán)利要求5或6所述的電路保護裝置，其特征在于，所述電路保護裝置還包括警示単元，與所述監(jiān)測電路連接，所述監(jiān)測信號正常吋，所述警示単元顯示為第一狀態(tài)；所述監(jiān)測信號異常時，所述警示単元顯示為第一狀態(tài)。
8.如權(quán)利要求7所述的電路保護裝置，其特征在于，所述警示単元為發(fā)光二極管，所述第一狀態(tài)為不發(fā)光，所述第二狀態(tài)為發(fā)光。
9.如權(quán)利要求7所述的電路保護裝置，其特征在于，所述警示単元為揚聲器，所述第一狀態(tài)為不發(fā)聲，所述第二狀態(tài)為發(fā)聲。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種電路保護裝置，與測試設(shè)備和待測設(shè)備相連，所述電路保護裝置包括第一接口，與所述待測設(shè)備電性連接，取得第一電平狀態(tài)；保護電路，其一端與所述第一接口電性連接，獲取所述第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路的通斷；第二接口，其一端與所述保護電路另一端電性連接，另一端與所述測試設(shè)備電性連接。利用本發(fā)明的電路保護裝置，由于通過第一接口獲取所述待測設(shè)備的第一電平狀態(tài)，依據(jù)所述第一電平狀態(tài)控制所述保護電路的通斷，從而可以達到對測試設(shè)備的保護。
文檔編號G01R1/36GK102738769SQ201110087668
公開日2012年10月17日 申請日期2011年4月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月8日
發(fā)明者任光明 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司