專利名稱：一種場(chǎng)分布測(cè)量方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電場(chǎng)或磁場(chǎng)領(lǐng)域，具體地涉及一種場(chǎng)分布測(cè)量方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著經(jīng)濟(jì)和社會(huì)的發(fā)展，電磁場(chǎng)與電磁波在現(xiàn)代社會(huì)的各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，其中一個(gè)典型應(yīng)用在于醫(yī)療器械領(lǐng)域，用激發(fā)的磁場(chǎng)偵測(cè)人體的各種病癥，基于磁場(chǎng)的檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)取得廣泛應(yīng)用并取得了很好的效果。且，當(dāng)對(duì)環(huán)境的磁場(chǎng)有一定的要求時(shí)，一般是 采用磁場(chǎng)線圈人工制造一個(gè)三維磁場(chǎng)，但是，對(duì)三維磁場(chǎng)本身，尤其是近場(chǎng)磁場(chǎng)三維矢量的認(rèn)識(shí)和磁場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)與方向的分布仍然有需要進(jìn)一步的加深認(rèn)識(shí)，對(duì)三維空間磁場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)、方向、特性的測(cè)量仍有大量的工作需要提高和深化。在電子產(chǎn)品領(lǐng)域，隨著主頻的不斷提高，布線密度的不斷增加和大量高速器件的應(yīng)用，電磁環(huán)境變得非常復(fù)雜。目前為了驗(yàn)證產(chǎn)品的電磁兼容特性，需要把產(chǎn)品拿到標(biāo)準(zhǔn)電磁兼容實(shí)驗(yàn)室去測(cè)量。在無(wú)線通信領(lǐng)域，各種不同天線的輻射特性是我們所關(guān)心的。目前通常在微波暗室中進(jìn)行天線的遠(yuǎn)場(chǎng)或者近場(chǎng)測(cè)量。在上述應(yīng)用領(lǐng)域，這些方法只能獲得某些空間范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)的一部分特性，有很大的局限性。目前的方法是把待測(cè)量的空間細(xì)分，然后測(cè)量每個(gè)點(diǎn)的值。這樣的方法數(shù)據(jù)量大，而且速度慢。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，提供高效、精確、可視化的場(chǎng)分布測(cè)量方法和系統(tǒng)。本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的第一個(gè)技術(shù)方案是提供一種場(chǎng)分布測(cè)量方法，包括SI.設(shè)置空間分辨率的初始值；S2.使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)；S3.計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率；S4.判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率，如果大于，則返回步驟SI ;如果小于，則進(jìn)入步驟S5 ；S5.將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中；S6.從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法中，所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)包括電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法中，所述的探頭在二維空間進(jìn)行掃描。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法中，所述的探頭在三維空間進(jìn)行掃描。
在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法中，所述的采樣頻率為場(chǎng)空間頻率的2倍以上。本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的第二個(gè)技術(shù)方案是提供一種場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，包括設(shè)置模塊，用于設(shè)置空間分辨率的初始值；測(cè)量模塊，與所述的設(shè)置模塊相連，用于使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)；計(jì)算模塊，與所述的測(cè)量模塊相連，用于計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率； 判斷模塊，與所述的計(jì)算模塊相連，用于判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率；存貯模塊，與所述的判斷模塊相連，用于將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中；顯示模塊與所述的存貯模塊相連，用于從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)包括電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的探頭在二維空間進(jìn)行掃描。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的探頭在三維空間進(jìn)行掃描。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)為電場(chǎng)強(qiáng)度以及電場(chǎng)方向，所述磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)為磁場(chǎng)強(qiáng)度及磁場(chǎng)方向。根據(jù)本發(fā)明的場(chǎng)分布測(cè)量方法和系統(tǒng)中，提供一種能夠高效、精確、可視化的場(chǎng)分布，可有效測(cè)量具體的場(chǎng)分布特性。


圖I為本發(fā)明場(chǎng)分布測(cè)量方法流程圖；圖2為場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式為詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式并配合附圖詳予說(shuō)明。請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明實(shí)施例一，一種場(chǎng)分布測(cè)量方法，包括以下步驟SI.設(shè)置空間分辨率的初始值；該初始值為經(jīng)驗(yàn)取值，沒(méi)有一定的規(guī)律，如可取值每50厘米一個(gè)采樣點(diǎn)，或取值為100厘米一個(gè)采樣點(diǎn)，視實(shí)際需要，憑經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行的。S2.使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)；其中，采樣頻率為場(chǎng)空間頻率的2倍以上。由公知常識(shí)可知任何信號(hào)都可以看作是不同頻率的正弦/余弦信號(hào)的疊加，因此如果知道所有組成這一信號(hào)的正/余弦信號(hào)的幅值、頻率即相角，就可以重構(gòu)原信號(hào)。由于信號(hào)測(cè)量、分解及變換的過(guò)程中存在誤差，因此不能100%地重構(gòu)原信號(hào)，重構(gòu)的信號(hào)只能保證原信號(hào)誤差在容許范圍內(nèi)，為了不失真地恢復(fù)模擬信號(hào)，采樣頻率應(yīng)該不小于模擬信號(hào)頻譜中最高頻率的2倍。
S3.計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率；本發(fā)明所述的場(chǎng)分布掃描既可以是在二維空間進(jìn)行掃描，也可以是在三維空間進(jìn)行掃描。S4.判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率，如果大于，則返回步驟SI ;如果小于，則進(jìn)入步驟S5 ；由于初始值為經(jīng)驗(yàn)值，當(dāng)場(chǎng)空間頻率過(guò)大的，我們應(yīng)加以調(diào)整初始值，以獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，即因?yàn)轭l率過(guò)大，場(chǎng)變化過(guò)快，我們應(yīng)縮短采樣點(diǎn)的距離才能更準(zhǔn)確地反映真實(shí)的場(chǎng)分布。S5.將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中；在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法中，所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)包括電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng) 分布數(shù)據(jù)，存貯介質(zhì)可為硬盤，可以軟盤、光盤、U盤等等。優(yōu)選地，使用硬盤，因?yàn)橛脖P容量大，而且其結(jié)構(gòu)保存數(shù)據(jù)更為安全可靠，數(shù)據(jù)庫(kù)可以服務(wù)器，也可為內(nèi)存，視實(shí)際情況而定。S6.從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。生成的場(chǎng)分布圖像可顯示場(chǎng)分布的特點(diǎn)，如某一方向上場(chǎng)分布特別強(qiáng)，某一寬度上場(chǎng)分布特別窄，從而讓我們一目了然，圖像可為矩陣，也可為曲線顯示在終端的屏幕上。請(qǐng)參閱圖2，本發(fā)明實(shí)施例二，一種場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，包括設(shè)置模塊10、測(cè)量模塊20、計(jì)算模塊30、判斷模塊40、存貯模塊50、顯示模塊60。設(shè)置模塊10，用于設(shè)置空間分辨率的初始值；測(cè)量模塊20，與設(shè)置模塊10相連，用于使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)；計(jì)算模塊30，與測(cè)量模塊20相連，用于計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率；判斷模塊40，與計(jì)算模塊30相連，用于判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率；存貯模塊50，與判斷模塊40相連，用于將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中；顯示模塊60 :與存貯模塊50相連，用于從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)包括電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的探頭在二維空間進(jìn)行掃描。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的探頭在三維空間進(jìn)行掃描。在本發(fā)明所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)中，所述的電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)為電場(chǎng)/磁場(chǎng)強(qiáng)度以及電場(chǎng)/磁場(chǎng)方向。在實(shí)際情況中，場(chǎng)分布在一定范圍內(nèi)很強(qiáng)，在一定范圍里又很弱，如靠近磁場(chǎng)發(fā)生器的地方，磁場(chǎng)輻射較強(qiáng)，而遠(yuǎn)離磁場(chǎng)發(fā)生器的地方，磁場(chǎng)輻射較弱，實(shí)際掃描時(shí)，探頭對(duì)同一采樣點(diǎn)一般要遍歷多次，測(cè)多次的磁場(chǎng)數(shù)據(jù)，取其平均值存入所在的數(shù)據(jù)庫(kù)中，因?yàn)橥饨绺蓴_以及噪聲的影響，某一時(shí)刻所采集的磁場(chǎng)數(shù)據(jù)有可能相當(dāng)大，如大到了 3倍以上，我們認(rèn)為，這樣的數(shù)據(jù)是不真實(shí)的，應(yīng)加以舍棄，故還應(yīng)先設(shè)定一定的磁場(chǎng)數(shù)據(jù)的取值范圍。根據(jù)本發(fā)明的場(chǎng)分布測(cè)量方法和系統(tǒng)中，提供一種能夠高效、精確、可視化的場(chǎng)分布，可有效測(cè)量具體的場(chǎng)分布特性。上面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行了描述，但是本發(fā)明并不局限于上述的具體實(shí)施方式
，上述的具體實(shí)施方式
僅僅是示意性的，而不是限制性的，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的啟示下，在不脫離本發(fā)明宗旨和權(quán)利要求所保護(hù)的范圍情況下，還可做出很多形式，這些均屬于本發(fā)明的 保護(hù)之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種場(chǎng)分布測(cè)量方法,其特征在于,包括 51.設(shè)置空間分辨率的初始值； 52.使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)； 53.計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率；54.判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率，如果大于，則返回步驟SI;如果小于，則進(jìn)入步驟S5 ； 55.將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中； 56.從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法，其特征在于，所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)包括電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法，其特征在于，所述的探頭在二維空間進(jìn)行掃描。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法，其特征在于，所述的探頭在三維空間進(jìn)行掃描。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的場(chǎng)分布測(cè)量方法，其特征在于，所述的采樣之頻率為場(chǎng)空間頻率的2倍以上。
6.一種場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，包括 設(shè)置模塊，用于設(shè)置空間分辨率的初始值； 測(cè)量模塊，與所述的設(shè)置模塊相連，用于使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)； 計(jì)算模塊，與所述的測(cè)量模塊相連，用于計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率； 判斷模塊，與所述的計(jì)算模塊相連，用于判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率； 存貯模塊，與所述的判斷模塊相連，用于將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中；顯示模塊與所述的存貯模塊相連，用于從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)包括電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)或磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述的探頭在二維空間進(jìn)行掃描。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述的探頭在三維空間進(jìn)行掃描。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的場(chǎng)分布測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述的電場(chǎng)分布數(shù)據(jù)為電場(chǎng)強(qiáng)度及電場(chǎng)方向，所述的磁場(chǎng)分布數(shù)據(jù)為磁場(chǎng)強(qiáng)度及磁場(chǎng)方向。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種場(chǎng)分布測(cè)量方法，包括S1.設(shè)置空間分辨率的初始值；S2.使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)，在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行采樣測(cè)量，獲得場(chǎng)分布數(shù)據(jù)；S3.計(jì)算所獲得的場(chǎng)空間頻率；S4.判斷是否大于預(yù)設(shè)的空間頻率，如果大于，則返回步驟S1；如果小于，則進(jìn)入步驟S5；S5.將獲得所述的場(chǎng)分布數(shù)據(jù)存貯于數(shù)據(jù)庫(kù)中；S6.從所述數(shù)據(jù)庫(kù)中提取所述場(chǎng)分布數(shù)據(jù)，生成場(chǎng)分布圖像并加以顯示。本發(fā)明還公開(kāi)了一種場(chǎng)分布測(cè)量的系統(tǒng)。根據(jù)本發(fā)明的場(chǎng)分布測(cè)量方法和系統(tǒng)中，提供一種能夠高效、精確、可視化的場(chǎng)分布方法和系統(tǒng)，可有效測(cè)量具體的場(chǎng)分布特性。
文檔編號(hào)G01R33/10GK102759667SQ201110111460
公開(kāi)日2012年10月31日 申請(qǐng)日期2011年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月29日
發(fā)明者劉若鵬, 季春霖, 岳玉濤, 徐冠雄 申請(qǐng)人:深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司, 深圳光啟高等理工研究院