專利名稱：一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及試驗(yàn)測試方法，具體地講，涉及引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法。
背景技術(shù)：
絕緣性能是反映35kV以上耐壓等級引線可靠性的一項(xiàng)重要參數(shù)，通過對35kV以上耐壓等級引線的絕緣性能測試，可以了解該引線的耐壓、絕緣以及抗干擾性能，提高引線工作的可靠性，確保中壓等級引線在惡劣條件下能正常工作。現(xiàn)在已有的電流引線并未達(dá)到35kV以上的耐壓等級，因此沒有相應(yīng)的絕緣性能試驗(yàn)測試方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，針對現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷，提供一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，該方法步驟清楚，方法簡單，有效實(shí)現(xiàn)了 35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試功能。本發(fā)明提供的一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其改進(jìn)之處在于包括以下步驟將電流引線置于密閉容器內(nèi)，干燥、接著于容器中加入液氮使液氮的液面超過電流引線的底端；將電流引線上端的金屬連接桿和容器外壁的引出端作為電極，從電極處引出連接線/測量線接入高壓測試設(shè)備進(jìn)行絕緣性能試驗(yàn)測試。本發(fā)明提供的第一優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述干燥的方式為采用抽真空的方式。本發(fā)明提供的第二優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述高壓測試設(shè)備包括用于局部放電性能測試的局放測試儀、用于介質(zhì)損耗角正切及電容量測試的西林電橋、用于耐受沖擊電壓測試的沖擊電壓發(fā)生器。本發(fā)明提供的第三優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述密閉容器為杜瓦。本發(fā)明提供的第四優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述電流引線的外圍設(shè)有電流引線絕緣。本發(fā)明提供的第五優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述電流引線絕緣包括處于室溫環(huán)境的常溫絕緣和處于密閉容器內(nèi)的低溫絕緣。本發(fā)明提供的第六優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述杜瓦包括上法蘭盤、容器、底輪、盆式絕緣子和引出端，所述上法蘭盤和盆式絕緣子位于容器的上端開口，所述引出端位于容器的低端一側(cè)，所述盆式絕緣子和上法蘭盤之間設(shè)有真空密封圈。本發(fā)明提供的第七優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述上法蘭盤設(shè)有通孔，電流引線垂直穿過密閉杜瓦的上法蘭盤。本發(fā)明提供的第八優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，所述液氮的體積為容器的1/2。本發(fā)明提供的第九優(yōu)選的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，測試的參數(shù)為35kV以上耐壓等級引線絕緣的雷電沖擊電壓性能、工頻耐壓性能、直流耐壓性能、局部放電和介質(zhì)損耗角正切。將真空密閉容器內(nèi)進(jìn)行干燥處理，加入液氮使容器內(nèi)形成低溫環(huán)境；液氮的體積為密閉杜瓦的一半左右，液面超過電流引線的底端，密閉容器的上半空間為揮發(fā)的氮?dú)?；將處于常溫部分的電流引線的上端部焊接金屬連接桿作為測試電極，將密閉容器外壁下側(cè)的金屬引出端作為另一個測試電極，用于進(jìn)行高壓電氣測量。本發(fā)明的原理圖，如附圖1所示，電流引線的外表面進(jìn)行絕緣處理，絕緣包含常溫絕緣和低溫絕緣兩部分，電流引線垂直穿過密閉杜瓦的上面開口，通過盆式絕緣子與密閉容器的上法蘭盤固定，盆式絕緣子和上法蘭盤之間有真空密封圈進(jìn)行密封，盆式絕緣子上部的電流引線以常溫絕緣處理，處于密閉杜瓦中的引線部分用低溫絕緣技術(shù)進(jìn)行處理。高壓測試設(shè)備除用于局部放電性能測試的局放測試儀、用于介質(zhì)損耗角正切及電容量測試的西林電橋、用于耐受沖擊電壓測試的沖擊電壓發(fā)生器外，還可以為低溫與超導(dǎo)應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域其他高壓測試設(shè)備。其中，電流引線的低溫絕緣見申請?zhí)?01110067987. 5，發(fā)明名稱“一種氣冷引線的低溫絕緣結(jié)構(gòu)”的發(fā)明專利申請“一種氣冷引線的低溫絕緣結(jié)構(gòu)，其包括真空法蘭盤和設(shè)在氣冷引線外表面的三層絕緣結(jié)構(gòu)，其特征在于所述三層絕緣結(jié)構(gòu)為由內(nèi)向外依次設(shè)置的引線內(nèi)護(hù)層、低溫絕緣層和外護(hù)層，所述真空法蘭盤通過螺栓與位于三層絕緣結(jié)構(gòu)內(nèi)芯處的氣冷引線相連接。其中，所述引線內(nèi)護(hù)層采用玻璃絲布和聚四氟乙烯層制成，所述玻璃絲布位于內(nèi)層，所述聚四氟乙烯層位于外層。其中，所述引線內(nèi)護(hù)層的制備方法為自氣冷引線的底端起，將玻璃絲布按照固定繞向角和拉力均勻纏繞，在玻璃絲布外側(cè)自其底端起，將聚四氟乙烯層按照固定繞向角和拉力均勻纏繞，最后利用聚四氟乙烯的自粘結(jié)性進(jìn)行固定，得到引線內(nèi)護(hù)層。其中，所述低溫絕緣層采用玻璃絲布制成，為了更好的對玻璃絲布進(jìn)行固定，最好在玻璃絲布的外面涂抹有低溫絕緣膠。其中，所述低溫絕緣層的制備方法為在引線內(nèi)護(hù)層的外側(cè)自其底端起，將玻璃絲布按照固定繞向角和拉力均勻纏繞，纏繞玻璃絲布的同時將低溫絕緣膠均勻的刷在玻璃絲布上，全部繞制好后，經(jīng)過高溫或常溫固化，得到低溫絕緣層。其中，所述外護(hù)層采用低溫環(huán)氧樹脂制成的低溫環(huán)氧樹脂桶。其中，所述外護(hù)層的制備方法為將低溫環(huán)氧樹脂桶置于低溫絕緣層的外側(cè)，在低溫絕緣層與低溫環(huán)氧樹脂桶之間澆注低溫絕緣膠，待低溫絕緣膠固化后，得到外護(hù)層。其中，所述真空法蘭盤采用不銹鋼材料加工而成。其中，所述真空法蘭盤的下端中心處設(shè)有一連接件，該連接件上設(shè)有用于連接氣冷引線的螺孔I，所述真空法蘭盤的上端中心處設(shè)有用于連接常溫導(dǎo)電桿的螺孔II，所述真空法拉盤的下端盤面上設(shè)有用于連接杜瓦的真空密封圈和螺孔III。其中，所述低溫絕緣層與外護(hù)層之間通過低溫絕緣膠固定，所述引線內(nèi)護(hù)層、低溫絕緣層和外護(hù)層與氣冷引線進(jìn)行同軸設(shè)置?！?br> 而常溫絕緣采用的是裝配式GIS終端，采用預(yù)制式應(yīng)力錐加環(huán)氧套管的組合型結(jié)構(gòu)，由帶彈簧的錐形托盤緊頂預(yù)制應(yīng)力錐于環(huán)氧套管錐形壁上，不需要加任何絕緣澆注劑， 為干式終端。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法具有以下優(yōu)點(diǎn)1、測試線路布置結(jié)構(gòu)緊湊、性能優(yōu)良、安裝方便；2、考慮到中壓電氣產(chǎn)品的國家標(biāo)準(zhǔn)的多項(xiàng)要求，滿足多項(xiàng)電氣參數(shù)測量的要求；3、進(jìn)行了低溫環(huán)境向常溫環(huán)境的溫度過渡處理，避免環(huán)境問題影響測試設(shè)備的正常運(yùn)轉(zhuǎn)；4、氮?dú)猸h(huán)境的密閉處理，不會造成測試環(huán)境中因氮?dú)夂窟^高引起的缺氧環(huán)境的缺陷；5、預(yù)留的接線端子，方便測試員的實(shí)際操作；6、效率高，結(jié)構(gòu)簡單，運(yùn)行可靠；7、應(yīng)用于35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試時，可以滿足低溫環(huán)境絕緣測試的特殊要求，同時極大的提高了測試方法的靈活性，穩(wěn)定性，安全性和可靠性。


圖1是本發(fā)明提供的一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法的原理圖；圖2是本發(fā)明提供的一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法的實(shí)際操作圖；圖中1-電流引線；2-電流引線絕緣；3-容器(密閉杜瓦)；4-液氮；5-底輪； 6-盆式絕緣子；7-電極；8-連接線/測量線；9-測量設(shè)備。
具體實(shí)施例方式以下通過附圖及實(shí)施例對本發(fā)明提供的一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法做進(jìn)一步更詳細(xì)的說明。實(shí)施例1如圖2所示，本實(shí)施例的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，具體采用的設(shè)備由電流引線1、電流引線絕緣部分2、容器(密閉杜瓦)3、液氮4、杜瓦底輪5、盆式絕緣子6、測量電極7、測量線8、高壓測試設(shè)備9組成。電流引線1垂直穿過密閉杜瓦3的上法蘭盤，通過盆式絕緣子6與杜瓦上法蘭盤固定，電流引線絕緣部分2分為處于室溫環(huán)境的常溫絕緣和處于密閉容器內(nèi)的低溫絕緣兩部分，密閉容器經(jīng)過干燥及低溫處理，液氮4注入真空密閉容器，約占容積一半左右，液面超過部分電流引線，容器內(nèi)部其余空間為揮發(fā)的氮?dú)?。電流引線上端部的連接桿和密閉杜瓦底端下部的引出端作為測量電極7，通過測量線8與高壓測試設(shè)備9相連，進(jìn)行絕緣性能測試。高壓測量設(shè)備9以沖擊電壓發(fā)生器成套裝置為例，沖擊電壓發(fā)生器由高壓本體發(fā)生器、弱阻尼電容分壓器、控制系統(tǒng)等組成、該沖擊電壓發(fā)生器可以產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)雷電全波、雷電截波、標(biāo)準(zhǔn)操作波、特種操作波等，通過改變本體發(fā)生器的接線方式，可用于測量35kV以上耐壓等級引線絕緣的雷電沖擊電壓性能、工頻耐壓性能、直流耐壓性能。將電流引線上端部的電極通過測量線7接高壓設(shè)備9產(chǎn)生的35kV電壓，杜瓦的電極接地，該電壓將直接作用于電流引線的絕緣中，對35kV以上耐壓等級引線絕緣進(jìn)行性能測試。實(shí)施例2本實(shí)施例與實(shí)施例1基本相同，唯有不同之處在于高壓測試設(shè)備為局部放電性能測試的局放測試儀。實(shí)施例3本實(shí)施例與實(shí)施例1，2基本相同，唯有不同之處在于高壓測試設(shè)備為用于介質(zhì)損耗角正切及電容量測試的西林電橋。以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對其限制，盡管本領(lǐng)域的技術(shù)人員閱讀本申請后，參照上述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行種種修改或變更，但這些修改或變更，均在申請待批本發(fā)明的權(quán)利申請要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于包括以下步驟將電流引線(1)置于密閉容器內(nèi)，干燥、接著于容器中加入液氮使液氮的液面超過電流引線⑴的底端；將電流引線⑴上端的金屬連接桿和容器外壁的引出端作為電極(7)， 從電極處引出連接線/測量線(8)接入高壓測試設(shè)備進(jìn)行絕緣性能試驗(yàn)測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述干燥的方式為采用抽真空的方式。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述高壓測試設(shè)備包括用于局部放電性能測試的局放測試儀、用于介質(zhì)損耗角正切及電容量測試的西林電橋、用于耐受沖擊電壓測試的沖擊電壓發(fā)生器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述密閉容器為杜瓦。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述電流引線(1)的外圍設(shè)有電流引線絕緣(2)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述電流引線絕緣(2)包括處于室溫環(huán)境的常溫絕緣和處于密閉容器內(nèi)的低溫絕緣。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述杜瓦包括上法蘭盤、容器、底輪(5)、盆式絕緣子(6)和引出端，所述上法蘭盤和盆式絕緣子(6)位于容器的上端開口，所述引出端位于容器的低端一側(cè)，所述盆式絕緣子(6)和上法蘭盤之間設(shè)有真空密封圈。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述上法蘭盤設(shè)有通孔，電流引線(1)垂直穿過密閉杜瓦的上法蘭盤。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于所述液氮的體積為容器的1/2。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于測試的參數(shù)為35kV以上耐壓等級引線絕緣的雷電沖擊電壓性能、工頻耐壓性能、直流耐壓性能、局部放電和介質(zhì)損耗角正切。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種35kV以上耐壓等級引線絕緣性能試驗(yàn)測試方法，其特征在于包括以下步驟將電流引線(1)置于密閉容器內(nèi)，干燥、接著于容器中加入液氮使液氮的液面超過電流引線(1)的底端；將電流引線(1)上端的金屬連接桿和容器外壁的引出端作為電極(7)，從電極處引出連接線/測量線(8)接入高壓測試設(shè)備進(jìn)行絕緣性能試驗(yàn)測試；該方法效率高，結(jié)構(gòu)簡單、可靠，可以進(jìn)行各種等級耐壓水平的測試。
文檔編號G01R31/12GK102323525SQ201110161959
公開日2012年1月18日 申請日期2011年6月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月16日
發(fā)明者丘明, 張宏杰, 魏斌, 黃曉華 申請人:中國電力科學(xué)研究院