專利名稱：固體顆粒分析系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及固體顆粒處理領(lǐng)域，具體地，涉及一種固體顆粒分析系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)：
顆粒樣品是工業(yè)和醫(yī)藥等領(lǐng)域中常見物質(zhì)，根據(jù)種類和應(yīng)用范圍的不同，它們通常具有不同的形貌，在實(shí)際工作中，對(duì)不同顆粒樣品的各種形狀、性質(zhì)等進(jìn)行分析是必不可少的。在對(duì)顆粒樣品分析的研究中，使用計(jì)算機(jī)圖像技術(shù)進(jìn)行顆粒樣品分析有著廣泛的 應(yīng)用，如顯微鏡成像技術(shù)，透射電鏡技術(shù)等。其中的基本思路是先通過某種儀器將顆粒樣品成像，然后利用計(jì)算機(jī)軟件進(jìn)行圖像處理，以分析研究顆粒樣品的形貌特征。但是，在現(xiàn)有技術(shù)中，這種技術(shù)一般只是針對(duì)尺寸很小，例如O. Imm以下的肉眼難以分辨的物質(zhì)。然而，針對(duì)尺寸在毫米至厘米級(jí)的顆粒樣品，目前并沒有合適的成像裝置和系統(tǒng)使之圖像化，以供后期分析。這是由于，需要統(tǒng)計(jì)的顆粒樣品數(shù)目一般較多，由于顆粒樣品重疊在一起，而無法進(jìn)行成像和讀取，因此只能采用手工讀取的方式對(duì)這種固體顆粒進(jìn)行分析，費(fèi)力耗時(shí)，不能及時(shí)地得到固體顆粒的分析結(jié)果。例如，在石油化工領(lǐng)域內(nèi)不可或缺的催化劑的研究中，由于石油化工過程復(fù)雜，覆蓋面廣，其中所需要的催化劑種類繁多。不同的加工過程往往需要專門設(shè)計(jì)的催化劑。為了便于催化劑的批量生產(chǎn)和應(yīng)用，很多催化劑設(shè)計(jì)為長(zhǎng)條型。由于在生產(chǎn)過程中的磨損、擠壓和碰撞，催化劑條會(huì)發(fā)生不同程度的斷裂，導(dǎo)致其長(zhǎng)度大小不一。在實(shí)際應(yīng)用中，為了保持裝置和反應(yīng)的穩(wěn)定性，反應(yīng)器中裝填的催化劑的長(zhǎng)短以及集中程度往往有一定的要求。因此，可以在催化劑的生產(chǎn)過程中采取一定的方案來控制催化劑的斷裂，使其長(zhǎng)度能夠保持在較為理想的范圍內(nèi)。其中，催化劑的粒度分布是催化劑常用的質(zhì)量監(jiān)控指標(biāo)之一。因此，催化劑粒度分布的快速讀取在產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控方面顯得尤為重要。由于催化劑顆粒的粒度一般在O. Imm 20mm之間，現(xiàn)在催化劑顆粒分析方法僅是利用直尺對(duì)催化劑進(jìn)行手動(dòng)讀取，這種讀取方法耗時(shí)耗力且誤差大，不利于及時(shí)準(zhǔn)確監(jiān)控催化劑粒度分布指標(biāo)。因此，提供一種快速準(zhǔn)確的固體顆粒分析系統(tǒng)和方法是勢(shì)在必行的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種固體顆粒分析方法，采用該固體顆粒分析方法，能夠快速完成顆粒樣品的分析。本發(fā)明另一個(gè)目的是提供一種固體顆粒分析系統(tǒng)，該固體顆粒分析系統(tǒng)使用本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種固體顆粒分析方法，該固體顆粒分析方法包括第一步驟將所述固體顆粒的顆粒樣品分散為單層；第二步驟采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及第三步驟讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。優(yōu)選地，在所述第一步驟中，將所述顆粒樣品通過固體顆粒分散裝置分散為單層，其中，所述固體顆粒分散裝置設(shè)計(jì)包括在垂直方向上彼此間隔開的多個(gè)篩層，每個(gè)所述篩層上布置有允許所述顆粒樣品通過的多個(gè)篩孔，相鄰所述篩層的所述篩孔在垂直方向上相互錯(cuò)開。 優(yōu)選地，每個(gè)所述篩層均平行于水平方向。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩孔的形狀和尺寸相同。優(yōu)選地，所述篩孔的形狀設(shè)計(jì)成正方形。 優(yōu)選地，所述篩孔的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 15。優(yōu)選地，所述篩孔的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 10。優(yōu)選地，在水平經(jīng)線方向和/或水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層的所述篩孔之間的相錯(cuò)間隔與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 5 I. 5。優(yōu)選地，在水平經(jīng)線方向和水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層的所述篩孔之間的相錯(cuò)間隔與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 8 I. 2。優(yōu)選地，所述篩層的層數(shù)為所述篩孔邊長(zhǎng)與所述相錯(cuò)間隔的比值的整數(shù)倍。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩層的篩層間距與每個(gè)所述篩孔的邊長(zhǎng)的比值為O. 5 I. 5。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩層的篩層間距與每個(gè)所述篩孔的邊長(zhǎng)的比值為O. 8 I. 2。優(yōu)選地，所述固體顆粒分散裝置還設(shè)計(jì)包括固定所述篩層的邊框所述每個(gè)篩層通過所述邊框可拆卸地接合為一體，或者所述每個(gè)篩層的所述邊框?yàn)橐惑w式結(jié)構(gòu)。優(yōu)選地，所述固體顆粒分散裝置還設(shè)計(jì)包括固定在所述固定顆粒分散裝置下部的支腿，該支腿的長(zhǎng)度大于所述篩層間距。優(yōu)選地，所述顆粒樣品通過所述固體顆粒分散裝置分散后，收集在所述固體顆粒分散裝置下方設(shè)置的承載裝置上。優(yōu)選地，所述承載裝置設(shè)計(jì)包括基板和紙，所述紙可拆卸地固定鋪設(shè)在所述基板的中心。優(yōu)選地，所述紙的顏色與所述顆粒樣品的顏色設(shè)計(jì)成互為補(bǔ)色。優(yōu)選地，所述紙上設(shè)置有尺寸刻度。優(yōu)選地，所述承載裝置還包括從所述承載裝置向上延伸的支架。優(yōu)選地，在所述第二步驟中，使用成像裝置采集分散為單層后的所述顆粒樣品，并且所述成像裝置可拆卸地固定在所述支架的上端。優(yōu)選地，在所述第三步驟中，使用計(jì)算機(jī)讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。優(yōu)選地，在所述第三步驟中，所述固體顆粒分析方法包括所述顆粒樣品的粒度分布分析方法，該顆粒樣品的粒度分布分析方法包括分析所述顆粒樣品的粒度，以及計(jì)算該顆粒樣品粒度的分布。優(yōu)選地，所述顆粒樣品的粒度為O. Imm 20mm。優(yōu)選地，所述顆粒樣品為條形催化劑。優(yōu)選地，通過所述計(jì)算機(jī)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的長(zhǎng)徑，并將所述長(zhǎng)徑和所述顆粒樣品的粒徑相比較，當(dāng)所述長(zhǎng)徑大于所述粒徑時(shí)，所述長(zhǎng)徑為所述顆粒樣品的粒度；當(dāng)所述長(zhǎng)徑等于所述粒徑時(shí)，繼續(xù)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的短徑，當(dāng)所述長(zhǎng)徑等于所述短徑時(shí)，所述粒徑為所述顆粒樣品的粒度；
當(dāng)所述短徑小于所述粒徑時(shí)，所述短徑為所述顆粒樣品的粒度。優(yōu)選地，當(dāng)所述短徑小于所述粒徑的所述顆粒樣品占全部所述顆粒樣品的百分比小于3%時(shí)，所述長(zhǎng)徑為所述顆粒樣品的粒度。優(yōu)選地，通過所述計(jì)算機(jī)同時(shí)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的長(zhǎng)徑和短徑，并將每個(gè)所述長(zhǎng)徑和所述短徑的和與所述顆粒樣品的粒徑相減，以得到所述顆粒樣品的粒度。優(yōu)選地，通過所述計(jì)算機(jī)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的投影面積，并將每個(gè)所述投影面積與所述顆粒樣品的粒徑相除，以得到所述顆粒樣品的粒度。優(yōu)選地，通過所述計(jì)算機(jī)將每個(gè)所述顆粒樣品的所述粒度按照多個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間分組，并統(tǒng)計(jì)每個(gè)所述長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)所述顆粒樣品的所述粒度的和，所述顆粒樣品的粒度分布 定義為每個(gè)所述長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)所述顆粒樣品的所述粒度的和占全部所述顆粒樣品的所述粒度的和的百分比。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種固體顆粒分析系統(tǒng)，所述固體顆粒分析系統(tǒng)包括固體顆粒分散裝置，該固體顆粒分散裝置用于將所述顆粒樣品分散為單層；成像裝置，該成像裝置用于采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及計(jì)算機(jī)，該計(jì)算機(jī)用于讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。優(yōu)選地，所述固體顆粒分散裝置包括在垂直方向上彼此間隔開的多個(gè)篩層，每個(gè)所述篩層上布置有允許所述顆粒樣品通過的多個(gè)篩孔，相鄰所述篩層的所述篩孔在垂直方向上相互錯(cuò)開。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩層均平行于水平方向。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩孔的形狀和尺寸相同。優(yōu)選地，所述篩孔的形狀成正方形。優(yōu)選地，所述篩孔的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 15。優(yōu)選地，所述篩孔的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 10。優(yōu)選地，在水平經(jīng)線方向和/或水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層的所述篩孔之間的相錯(cuò)間隔與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 5 I. 5。優(yōu)選地，在水平經(jīng)線方向和水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層的所述篩孔之間的相錯(cuò)間隔與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 8 I. 2。優(yōu)選地，所述篩層的層數(shù)為所述篩孔邊長(zhǎng)與所述相錯(cuò)間隔的比值的整數(shù)倍。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩層的篩層間距與每個(gè)所述篩孔的邊長(zhǎng)的比值為O. 5 I. 5。優(yōu)選地，每個(gè)所述篩層的篩層間距與每個(gè)所述篩孔的邊長(zhǎng)的比值為O. 8 I. 2。優(yōu)選地，所述固體顆粒分散裝置還包括固定所述篩層的邊框，所述每個(gè)篩層通過所述邊框可拆卸地接合為一體，或者所述每個(gè)篩層的所述邊框?yàn)橐惑w式結(jié)構(gòu)。優(yōu)選地，所述固體顆粒分散裝置還包括固定在所述固定顆粒分散裝置下部的支腿，該支腿的長(zhǎng)度大于所述篩層間距。優(yōu)選地，所述固體顆粒分散裝置的下方設(shè)置有承載裝置，該承載裝置用于承載由所述固體顆粒分散裝置分散后的所述顆粒樣品。優(yōu)選地，所述承載裝置包括基板和紙，所述紙可拆卸地固定鋪設(shè)在所述基板的中心。優(yōu)選地，所述紙的顏色與所述顆粒樣品的顏色成互為補(bǔ)色。
優(yōu)選地，所述紙上設(shè)置有尺寸刻度。優(yōu)選地，所述承載裝置還包括從所述承載裝置向上延伸的支架，所述成像裝置可拆卸地固定在所述支架的上端。優(yōu)選地，所述成像裝置為數(shù)碼相機(jī)。優(yōu)選地，所述計(jì)算機(jī)為筆記本電腦。優(yōu)選地，所述計(jì)算機(jī)內(nèi)安裝有Image-Pro Plus軟件和Excel軟件。通過上述技術(shù)方案，由于在顆粒樣品成像和分析之前，對(duì)通過固體顆粒分散裝置進(jìn)行了快速單層分散操作，因此，能夠快速準(zhǔn)確地完成顆粒樣品的成像和分析。本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的具體實(shí)施方式
部分予以詳細(xì)說明。


附圖是用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的具體實(shí)施方式
一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中圖I是本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法和系統(tǒng)的流程圖；圖2是本發(fā)明提供的固體顆粒分散裝置和承載裝置的立體示意圖；圖3是相鄰篩層的篩孔的局部示意圖；附圖標(biāo)記說明I 固體顆粒分散裝置2成像裝置3 承載裝置4計(jì)算機(jī)11篩層12篩孔13邊框14支腿31 基板32紙33 支架111上層篩層112下層篩層a 篩層間距d相錯(cuò)間隔Ia上層篩孔2a、2b、2c、2d下層篩孔X 第一步驟y第二步驟z 第三步驟
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
進(jìn)行詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的具體實(shí)施方式
僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。在本發(fā)明中，在未作相反說明的情況下，使用的方位詞如“水平、垂直、上層、下層”等涉及方位的詞語，通常是在本發(fā)明提供的固體顆粒分散裝置放置在水平面上正常使用時(shí)所定義的。如圖I所示，根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種固體顆粒分析方法，該固體顆粒分析方法包括第一步驟X :將所述固體顆粒的顆粒樣品分散為單層；第二步驟I :采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及第三步驟Z :讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。在上述技術(shù)方案中，由于在顆粒樣品成像和分析之前，對(duì)固體顆粒的顆粒樣品進(jìn)行了快速單層分散操作，因此，能夠快速準(zhǔn)確地完成顆粒樣品的成像、圖像讀取和分析工作。為了更加準(zhǔn)確和快速的完成本發(fā)明的目的，如圖2所示，在第一步驟X中，將顆粒樣品通過固體顆粒分散裝置I分散為單層，其中，該固體顆粒分散裝置I設(shè)計(jì)成包括在垂直方向上彼此間隔開的多個(gè)篩層11，每個(gè)篩層11上布置有允許顆粒樣品通過的多個(gè)篩孔12，相鄰所述篩層11的所述篩孔12在垂直方向上相互錯(cuò)開。由于相鄰篩層11的篩孔12為在垂直方向上相互錯(cuò)開布置，使得顆粒樣品在通過最上層篩層后，會(huì)根據(jù)自身的形狀和尺寸隨機(jī)選擇多個(gè)不同的下落路徑，最后實(shí)現(xiàn)快速單層分散地落在固體顆粒分散裝置的下方的目的，并且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、實(shí)用性強(qiáng)。需要說明的是，實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的的實(shí)施方式有多種，在本發(fā)明的構(gòu)思下，例如，篩層11形狀、篩孔12形狀、篩層11的設(shè)置角度，各個(gè)篩層11之間的距離、以及角度關(guān)系等方面的變化都落入本發(fā)明的保護(hù)范圍，為了避免重復(fù)，本發(fā)明只重點(diǎn)闡述優(yōu)選實(shí)施方式，該優(yōu)選實(shí)施方式用于說明本發(fā)明，但并不用于限制本發(fā)明。 在優(yōu)選實(shí)施方式中，如圖2所示，優(yōu)選地，每個(gè)篩層11均平行于水平方向，以最簡(jiǎn)單有效地達(dá)到本發(fā)明的目的，當(dāng)然也可以設(shè)置每個(gè)篩層不平行，或者部分篩層不平行，以及不與水平方向相同等，即通過改變篩層之間的角度并且結(jié)合篩孔相錯(cuò)來實(shí)現(xiàn)相鄰篩層11的篩孔12相互錯(cuò)開的目的。由于該方案較為復(fù)雜，較難實(shí)現(xiàn)，因此對(duì)此類方案不做過多贅述。另外，如圖3所示，為了進(jìn)一步保證顆粒樣品的分散效果和容易實(shí)現(xiàn)，優(yōu)選地，每個(gè)篩孔12的形狀和尺寸相同，并且優(yōu)選地，篩孔12的形狀設(shè)計(jì)為正方形。篩孔12的邊長(zhǎng)與顆粒樣品的理想粒度的比值2 15，更優(yōu)選地，篩孔12的邊長(zhǎng)與顆粒樣品的理想粒度的比值2 10。即篩孔12的邊長(zhǎng)大于顆粒樣品的理想粒度。通過這樣的設(shè)置，顆粒樣品均可順利通過篩孔，從而通過相錯(cuò)的各層篩孔達(dá)到固體顆粒的分散目的。當(dāng)然，篩孔在其他實(shí)施方式中也可以設(shè)計(jì)為其他形狀，如長(zhǎng)方形、菱形以及圓形等形狀，只要能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明的目的，本發(fā)明對(duì)此不做限制。另外形成篩孔12的網(wǎng)格線的粗細(xì)這里不做說明，只要保證本發(fā)明提供的固體顆粒分散裝置合理耐用即可。需要說明的是，由于固體顆粒的形狀千差萬別，在沒有特別說明的情況下，本文所述提及的“粒度”是指該顆粒幾何尺寸中的最長(zhǎng)尺寸。為了方便說明本發(fā)明所提供的固體顆粒分散裝置，此處所說的“理想粒度”為待分散批次的顆粒樣品分布的期望粒度值的中值。具體計(jì)算方法例如，根據(jù)具體需求要制備粒度分布在2-6mm區(qū)間的固體顆粒(如催化劑顆粒)，按照本發(fā)明定義的“理想粒度”，其計(jì)算方法為(2+6)/2，其取值為4。其中，對(duì)于一類如工業(yè)中同樣設(shè)備同批生產(chǎn)出的條形顆粒，它們具有相同的粒徑(對(duì)于圓柱形顆粒，其粒徑等于該圓柱條的徑向截面的直徑，對(duì)于異形條，其粒徑等于該異形條的徑向截面外接圓的直徑)。對(duì)于同一批次的樣品，該值為恒定的已知值。對(duì)于這類顆粒樣品指定其“理想粒度”等同于所述顆粒的粒徑。為了達(dá)到最好的分散效果，如圖3所示，優(yōu)選地，在水平經(jīng)線方向和/或水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)篩層11的篩孔12之間的相錯(cuò)間隔d與顆粒樣品的理想粒度的比值為
O.5 I. 5。更優(yōu)選地，在水平經(jīng)線方向和水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)篩層11的篩孔12之間的相錯(cuò)間隔d與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 8 I. 2。此處所說的“相錯(cuò)間隔”為相鄰兩個(gè)篩層11的相應(yīng)篩孔12在垂直方向上相互錯(cuò)開的距離，其中優(yōu)選在相鄰層篩孔12在水平徑向方向和/或水平緯線方向上的相錯(cuò)間隔相等，即均為“相錯(cuò)間隔d”。通過如此設(shè)置，如圖3所示，在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，相鄰兩個(gè)篩層11的篩孔12在水平經(jīng)線方向和水平緯線方向上相互錯(cuò)開的相錯(cuò)間隔d相等，即在篩孔的對(duì)角線方向上相互錯(cuò)開，并且相錯(cuò)間隔d是篩孔的邊長(zhǎng)的一半。其中，顆粒樣品通過上層篩層111 (實(shí)線所示)的一個(gè)篩孔2a后，能夠根據(jù)自身的形狀和尺寸隨機(jī)選擇下層篩層112 (虛線所示)的四個(gè)篩孔2a、2b、2c和2d所提供的不同路徑下落，并且由于四個(gè)篩孔2a、2b、2c和2d的形狀相同，使顆粒樣品下落路徑選擇的隨機(jī)性最大化，因此，經(jīng)過多個(gè)篩層I后，顆粒樣品能夠被快速分散。在其他可選實(shí)施方式中，例如下層篩層的篩孔只朝向水平經(jīng)線或水平緯線一個(gè)方向相錯(cuò)，則顆粒樣品只有兩個(gè)篩孔的可選路徑，而影響顆粒樣 品的分散效果，在此不做過多贅述。需要說明的是，在圖3中為了方便說明，只顯示了相鄰兩層篩層的局部篩孔的布置情況，其他層篩層和其他位置的篩孔的布置情況和圖中顯示的布置情況相同。另外，由于相鄰兩個(gè)篩層11的篩孔12之間的相錯(cuò)間隔d與顆粒樣品的理想粒度的比值優(yōu)選為O. 5 I. 5，即相錯(cuò)間隔與顆粒樣品的理想粒度相當(dāng)，如果相錯(cuò)間隔d比顆粒樣品的理想粒度過大，則顆粒樣品通過原始篩孔直線下落的可能性大大增加，不利于顆粒樣品分散的效果。為了保證顆粒樣品的分散效果，優(yōu)選地，篩層11的層數(shù)為篩孔邊長(zhǎng)與相錯(cuò)間隔d的比值的整數(shù)倍，該比值的一個(gè)整數(shù)倍也稱為一個(gè)周期，即最上層篩孔被逐層相錯(cuò)的次數(shù)，該次數(shù)越多，則顆粒樣品選擇不同路徑的機(jī)會(huì)越多，從而使顆粒樣品的分散效果越好。在一個(gè)周期之后，可以根據(jù)顆粒樣品數(shù)量和單層分散的效果繼續(xù)增加新的周期，即取該比值的多個(gè)整數(shù)倍，從而增加篩層11的層數(shù)，保證顆粒樣品的分散效果。為了使顆粒樣品順利通過各個(gè)篩層，優(yōu)選地，每個(gè)篩層11的篩層間距a與篩孔12的邊長(zhǎng)的比值為O. 5 I. 5，更優(yōu)選地，每個(gè)篩孔12的篩層間距a與篩孔12的邊長(zhǎng)的比值為O. 8 I. 2，即篩層間距和篩孔邊長(zhǎng)相當(dāng)。如圖2所示，在實(shí)際使用中，為了方便組裝和應(yīng)用，固體顆粒分散裝置還設(shè)計(jì)包括固定篩層的邊框13，每個(gè)篩層11通過邊框13可拆卸地接合為一體，以方便拆卸和維護(hù)。該可拆卸的結(jié)合可以通過本領(lǐng)域中常見的凹凸結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)，該凹凸結(jié)構(gòu)可以局部設(shè)置在相鄰邊框的接合部，也可以整體形成接合部，并且凹凸結(jié)構(gòu)可以在固體顆粒分散裝置的一周上都設(shè)置，也可以只設(shè)置兩個(gè)相對(duì)側(cè)中的一個(gè)，如圖2所示，本發(fā)明優(yōu)選采用前后的相對(duì)側(cè)設(shè)置凹凸結(jié)構(gòu)，并且凹凸結(jié)構(gòu)整體地形成接合部。在實(shí)際使用中，這種可拆卸的連接方式有多種變形，除了本實(shí)施方式中的通過凹凸結(jié)構(gòu)進(jìn)行接合的方法，還可以將邊框13設(shè)計(jì)為卡接、緊固件連接等其他本領(lǐng)域技術(shù)人員所知的方法，對(duì)于這種變形，本發(fā)明不做限制。另外，在制造中，也可將每個(gè)篩層11的邊框13設(shè)計(jì)為一體式結(jié)構(gòu)，即各篩層可從邊框13中插入和拔出。此外，為了方便收集分散后的顆粒樣品，通常優(yōu)選最下一層篩層和分散后顆粒樣品的留存平面之間的間隔大于篩層之間的間隔，以方便收集落下的顆粒樣品。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，在本實(shí)施方式中，如圖2所示，優(yōu)選地固體顆粒分散裝置還包括固定在固定顆粒分散裝置下部的支腿14，該支腿14的長(zhǎng)度大于篩層間距a，支腿的個(gè)數(shù)可以根據(jù)實(shí)際情況變化，本發(fā)明的固體分散裝置安裝4個(gè)支腿。除此之外，還可以通過加長(zhǎng)邊框的縱向長(zhǎng)度等方法實(shí)現(xiàn)，在此不做過多贅述。如圖2所示，為了使顆粒樣品的成像方便，優(yōu)選地，顆粒樣品通過固體顆粒分散裝置I分散后，收集在固體顆粒分散裝置I下方設(shè)置的承載裝置3上。本發(fā)明提供的承載裝置3有多種實(shí)施方式，在此只說明其中一種，優(yōu)選地，承載裝置3設(shè)計(jì)包括基板31和 紙32，紙32可拆卸地固定鋪設(shè)在基板31的中心，并且紙32的顏色與顆粒樣品的顏色互為補(bǔ)色，以保證成像的清晰和有效。此處所說的“補(bǔ)色”又稱互補(bǔ)色，余色，亦稱強(qiáng)度比色，指兩種顏色(等量)混合后呈黑灰色，即這兩種顏色互為補(bǔ)色，例如白色和黑色、紅色和綠色等。其中，紙32可拆卸地固定在基板31上的方式有多種，例如，在基板31的四周設(shè)置相框，紙32可放入相框中以供隨時(shí)拆卸及更換。另外，由于固體顆粒成像的用途多是統(tǒng)計(jì)或讀取顆粒樣品的尺寸，固優(yōu)選地，紙32上設(shè)置有尺寸刻度，該尺寸刻度根據(jù)實(shí)際情況設(shè)置在紙32的合適位置，并且考慮顆粒的通常大小，優(yōu)選最小刻度為O. Imm 1mm。需要說明的是，本發(fā)明涉及的承載裝置具有多種變形，例如紙32可以為一張柔性紙張，也可以是剛性紙板。紙32和基板31也可以為一體結(jié)構(gòu)，只要滿足本發(fā)明的目的，本發(fā)明對(duì)此不做限制。為了方便使用后期的圖像采集，優(yōu)選地，承載裝置3還設(shè)計(jì)包括從承載裝置3向上延伸的支架33。并且，在第二步驟y中，使用成像裝置2采集分散為單層后的顆粒樣品，并且成像裝置2可拆卸地固定在所述支架33的上端。其中，支架本身可和承載裝置通過焊接等固定在一起，也可以通過緊固件、插接等方式可拆卸的連接在一起。本發(fā)明對(duì)此不做限制。另外，成像裝置2可通過設(shè)置在支架33上端的基座可拆卸的固定在支架33上，以方便后期進(jìn)行圖像采集。成像裝置2設(shè)置在支架33的具體位置，可根據(jù)實(shí)際需要改變。例如在需要時(shí)，在支架上端設(shè)置攝影領(lǐng)域常用的搖臂裝置，以使成像裝置2能夠位于承載裝置3的正上方的任意位置，以采集紙32上的固體顆粒的圖像。本發(fā)明所提供的成像設(shè)備為本領(lǐng)域常見的成像設(shè)備，該成像設(shè)備優(yōu)選具有較高的像素以及顏色還原能力，并且能將圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，優(yōu)選地，成像裝置2為數(shù)碼相機(jī)。為了方便數(shù)據(jù)傳輸和靈活使用，優(yōu)選地，在第三步驟z中，使用計(jì)算機(jī)4讀取和分析顆粒樣品的圖像。該計(jì)算機(jī)4的配置符合顆粒樣品圖像的讀取和分析的需要，為了增加本發(fā)明的靈活性，計(jì)算機(jī)4優(yōu)選為筆記本電腦，當(dāng)然也可以更換為臺(tái)式電腦，本發(fā)明對(duì)此類更換不做限制。在實(shí)際使用中，首先將固體顆粒分散裝置I固定到承載裝置3的基板31上，并使最下層篩層全部位于紙32上，以使從上方落下的顆粒樣品能夠落在紙32上。此時(shí)，成像設(shè)備2可以先不安裝在支架上。然后，將顆粒樣品撒在固體顆粒分散裝置I的最上層篩層上，通過相錯(cuò)的篩孔12，使顆粒樣品在下落過程中根據(jù)自身形狀和尺寸隨機(jī)選擇多個(gè)不同的路徑，以實(shí)現(xiàn)毫米、厘米級(jí)別的顆粒樣品分散，待顆粒樣品完全落在紙32上時(shí)，拆卸并移開固體顆粒分散裝置1，如有個(gè)別顆粒疊在一起，人工干預(yù)使其分開。在支架33上安裝成像裝置2，從而快速完成顆粒樣品的分散和成像，然后執(zhí)行第三步驟z，將顆粒樣品的圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)4中，以進(jìn)行分析。另外，本發(fā)明所設(shè)計(jì)的固體顆粒分散裝置和承載裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，并可采用各種材料制成，成本較低，因此，本發(fā)明能夠快速有效地完成固體顆粒的分析。在實(shí)際使用中，固體顆粒的分析方法的對(duì)象有多種，例如，粒度分布、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑比分布等。其中粒度分布的測(cè)定較為普遍，因此優(yōu)選地，在第三步驟z中，固體顆粒分析方法包括顆粒樣品的粒度分布分析方法，該顆粒樣品的粒度分布分析方法包括分析顆粒樣品的粒度，以及計(jì)算該顆粒樣品粒度的分布。在本領(lǐng)域內(nèi)，固體顆粒通常分為球形顆粒和條形顆粒，本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法能夠用于各種固體顆粒的顆粒樣品，為了方便說明本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法，優(yōu)選地，顆粒樣品的粒度為O. Imm 20mm,并且顆粒樣品為條形顆粒,更優(yōu)選地,顆粒樣品為條形催化劑。該條形催化劑為各工業(yè)領(lǐng)域中常見的固體顆粒，對(duì)其進(jìn)行分析是尤為重要，尤其催化劑顆粒的粒度分布是控制催化劑質(zhì)量的重要指標(biāo)。
需要注意的是，如前述的一般工業(yè)中同樣設(shè)備同批生產(chǎn)出的條形顆粒具有相同的粒徑(對(duì)于圓柱形顆粒，其粒徑等于該圓柱條的徑向截面的直徑，對(duì)于異形條，其粒徑等于該異形條的徑向截面外接圓的直徑)，對(duì)于同一批次的樣品，該值為恒定的已知值。對(duì)這類樣品，視需要本發(fā)明可以進(jìn)行更為精細(xì)的針對(duì)其長(zhǎng)短變化分布進(jìn)行分析。這里，在讀取顆粒樣品的圖像時(shí)，通常將顆粒樣品模擬為長(zhǎng)方形，本發(fā)明中涉及的“長(zhǎng)徑”是指該長(zhǎng)方形的較長(zhǎng)邊，“短徑”則是指該長(zhǎng)方形的較短邊。在具體操作中，分析固體顆粒粒度的方法有多種。為了方便說明，本發(fā)明針對(duì)條形顆粒提供如下三種粒度分析方法，該三種粒度分析方法只用來說明本發(fā)明，并不用來限制本發(fā)明。另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對(duì)該三種粒度分析方法進(jìn)行修改，但是這種修改也應(yīng)落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。其中，第一種粒度分析方法為通過計(jì)算機(jī)4讀取每個(gè)顆粒樣品的長(zhǎng)徑，并將長(zhǎng)徑和顆粒樣品的粒徑相比較，當(dāng)長(zhǎng)徑大于粒徑時(shí)，長(zhǎng)徑為顆粒樣品的粒度；當(dāng)長(zhǎng)徑等于粒徑時(shí)，繼續(xù)讀取每個(gè)顆粒樣品的短徑，當(dāng)長(zhǎng)徑等于短徑時(shí)，粒徑為顆粒樣品的粒度，而此時(shí)，當(dāng)短徑小于粒徑時(shí)，短徑為顆粒樣品的粒度。另外，在第一種粒度分析方法中，當(dāng)短徑小于粒徑的顆粒樣品占全部顆粒樣品的百分比小于3%時(shí)，長(zhǎng)徑為顆粒樣品的粒度。即不考慮短徑的因素。第二種粒度分析方法為通過計(jì)算機(jī)4同時(shí)讀取每個(gè)顆粒樣品的長(zhǎng)徑和短徑，并將每個(gè)長(zhǎng)徑和短徑的和與顆粒樣品的粒徑相減，即得到該顆粒樣品的粒度。第三種粒度分析方法為通過計(jì)算機(jī)4讀取每個(gè)顆粒樣品的投影面積，并將每個(gè)投影面積與顆粒樣品的粒徑相除，即得到該顆粒樣品的粒度。此處所說的“投影面積”為顆粒樣品在紙32上的垂直投影的面積。為了完成上述三種粒度分析方法，需要在所述計(jì)算機(jī)4中安裝具有圖像讀取及讀取顆粒長(zhǎng)徑和短徑或面積功能的軟件，例如Image_Pro Plus、MetaMorph或者Slidebook軟件等，因?yàn)槭褂糜?jì)算機(jī)軟件進(jìn)行圖像讀取，該讀取的讀取值和真實(shí)值之間存在誤差，因此在粒度或其他形貌特征分析之前需要利用紙32上設(shè)置的尺寸刻度將讀取值校正為真實(shí)值，以使本發(fā)明的固體顆粒分析方法更加準(zhǔn)確。該校正方法是通過相關(guān)軟件讀取紙32上尺寸刻度的讀取值，并得到相應(yīng)尺寸刻度的真實(shí)值與讀取值的比值，從而利用該比值將其他讀取值校對(duì)為相應(yīng)的真實(shí)值。除了上述三種粒度測(cè)定方法外，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以采用其他已知的方法進(jìn)行粒度分析，本發(fā)明對(duì)此不做限制。在得到每個(gè)顆粒樣品的粒度后，通過計(jì)算機(jī)4將每個(gè)顆粒樣品的粒度按照多個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間分組，并計(jì)算每個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)顆粒樣品的粒度的和，顆粒樣品的粒度分布定義為每個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)顆粒樣品的粒度的和占全部顆粒樣品的粒度的和的百分比。為了計(jì)算每個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)顆粒樣品的粒度的和，優(yōu)選地，在計(jì)算機(jī)4中安裝Excel軟件,并通過Excel軟件的SUMIF函數(shù)計(jì)算每個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)顆粒樣品的粒度的和，以快速有效地得到顆粒樣品的粒度分布。除此之外，還可以利用其他軟件進(jìn)行上述工作，本發(fā)明不做限制。以上描述了顆粒樣品采用本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法進(jìn)行的分析流程，該顆粒樣品一般通過可利用分樣設(shè)備或其他具有類似功能的儀器或方法從大量固體顆粒中取出，該顆粒樣品的應(yīng)盡量與原固體顆粒的形貌一致，即具有代表性。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，如圖I所示，本發(fā)明還提供一種固體顆粒分析系統(tǒng)，該固體顆粒分析系統(tǒng)包括固體顆粒分散裝置1，該固體顆粒分散裝置I用于將顆粒樣品分散為單層；成像裝置2，該成像裝置2用于采集分散為單層的顆粒樣品的圖像；以及計(jì)算機(jī)4，該計(jì)算機(jī)4用于讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。 其中，如圖I、圖2和圖3所示，固體顆粒分散裝置I、成像裝置2和計(jì)算機(jī)4分別為本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法中所提供的固體顆粒分散裝置I、成像裝置2和計(jì)算機(jī)4，為了避免重復(fù)，在此不做過多贅述。綜上，本發(fā)明所提供的固體顆粒分析系統(tǒng)和方法能夠快速準(zhǔn)確地完成固體顆粒的分析，具有較高實(shí)用性和推廣價(jià)值。以下結(jié)合實(shí)施例更加詳細(xì)地說明本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。實(shí)施列I(I)取10份黑色條形催化劑1，每份5g，理想粒度為I. 3mm，粒徑為I. 3mm。成像設(shè)備選用500萬像素?cái)?shù)碼相機(jī)、計(jì)算機(jī)選用筆記本電腦，該筆記本電腦中安裝Image-PiOPlus和Excel軟件。任選其中一份顆粒樣品進(jìn)行粒度分布分析。(2)在第一步驟X中，固體顆粒分散裝置的篩層均平行于水平面，篩孔為正方形，邊長(zhǎng)為10mm，層間隔為10mm，相鄰層篩孔朝向水平經(jīng)線和水平緯線方向以I. 5mm的間隔逐層相錯(cuò)，篩層的層數(shù)為3個(gè)周期，S卩18層。支腿的長(zhǎng)度為11mm。并將固體顆粒分散裝置固定在承載裝置上，其中，紙為白色，最小刻度為O. 1mm。(3)在第二步驟y中，將固體顆粒分散裝置移開，并將數(shù)碼相機(jī)安裝在支架的頂端，以采集紙上的顆粒圖像。(4)在第三步驟z中,將顆粒圖像用數(shù)據(jù)卡傳輸?shù)焦P記本電腦中，使用Image-ProPlus軟件通過本發(fā)明提供的粒度分析的第一種方法進(jìn)行顆粒樣品的粒度分析，并將結(jié)果輸入到Excel表格中，粒度分布區(qū)間取< 2mm、2-3mm、3-8mm和> 8mm四個(gè)區(qū)間。表I顯示了平行讀取7次的結(jié)果。從中可以看出，粒度分布結(jié)果的重復(fù)性良好，標(biāo)準(zhǔn)差較小。表I催化劑I的粒度分布讀取結(jié)果
權(quán)利要求
1.一種固體顆粒分析方法，其特征在于，該固體顆粒分析方法包括 第一步驟(X):將所述固體顆粒的顆粒樣品分散為單層； 第二步驟(y):采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及 第三步驟(Z):讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，在所述第一步驟(X)中，將所述顆粒樣品通過固體顆粒分散裝置(I)分散為單層，其中，所述固體顆粒分散裝置設(shè)計(jì)包括在垂直方向上彼此間隔開的多個(gè)篩層(11)，每個(gè)所述篩層(11)上布置有允許所述顆粒樣品通過的多個(gè)篩孔(12)，相鄰所述篩層(11)的所述篩孔(12)在垂直方向上相互錯(cuò)開。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，每個(gè)所述篩層(11)均平行于水平方向。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，每個(gè)所述篩孔(12)的形狀和尺寸相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述篩孔(12)的形狀設(shè)計(jì)成正方形。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 15。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 10。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，在水平經(jīng)線方向和/或水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層(11)的所述篩孔(12)之間的相錯(cuò)間隔(d)與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 5 I. 5。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，在水平經(jīng)線方向和水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層(11)的所述篩孔(12)之間的相錯(cuò)間隔(d)與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 8 1.2。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述篩層(11)的層數(shù)為所述篩孔邊長(zhǎng)與所述相錯(cuò)間隔(d)的比值的整數(shù)倍。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，每個(gè)所述篩層(11)的篩層間距(a)與每個(gè)所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)的比值為O. 5 I. 5。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，每個(gè)所述篩層(11)的篩層間距(a)與每個(gè)所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)的比值為O. 8 I. 2。
13.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述固體顆粒分散裝置還設(shè)計(jì)包括固定所述篩層的邊框(13)，所述每個(gè)篩層(11)通過所述邊框(13)可拆卸地接合為一體，或者所述每個(gè)篩層(11)的所述邊框(13)為一體式結(jié)構(gòu)。
14.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述固體顆粒分散裝置還設(shè)計(jì)包括固定在所述固定顆粒分散裝置下部的支腿(14)，該支腿(14)的長(zhǎng)度大于所述篩層間距(a)。
15.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述顆粒樣品通過所述固體顆粒分散裝置(I)分散后，收集在所述固體顆粒分散裝置(I)下方設(shè)置的承載裝置(3)上。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述承載裝置(3)設(shè)計(jì)包括基板(31)和紙(32)，所述紙(32)可拆卸地固定鋪設(shè)在所述基板(31)的中心。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述紙(32)的顏色與所述顆粒樣品的顏色設(shè)計(jì)成互為補(bǔ)色。
18.根據(jù)權(quán)利要求16所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述紙(32)上設(shè)置有尺寸刻度。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述承載裝置(3)還包括從所述承載裝置(3)向上延伸的支架(33)。
20.根據(jù)權(quán)利要求I或19所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，在所述第二步驟(y)中，使用成像裝置(2)采集分散為單層后的所述顆粒樣品，并且所述成像裝置(2)可拆卸地固定在所述支架(33)的上端。
21.根據(jù)權(quán)利要求I所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，在所述第三步驟(z)中，使用計(jì)算機(jī)(4)讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。
22.根據(jù)權(quán)利要求I所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，在所述第三步驟(z)中，所述固體顆粒分析方法包括所述顆粒樣品的粒度分布分析方法，該顆粒樣品的粒度分布分析方法包括分析所述顆粒樣品的粒度，以及計(jì)算該顆粒樣品粒度的分布。
23.根據(jù)權(quán)利要求I或22所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述顆粒樣品的粒度為 O. Imm 20mm。
24.根據(jù)權(quán)利要求I或22所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，所述顆粒樣品為條形顆粒。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，通過所述計(jì)算機(jī)(4)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的長(zhǎng)徑，并將所述長(zhǎng)徑和所述顆粒樣品的粒徑相比較， 當(dāng)所述長(zhǎng)徑大于所述粒徑時(shí)，所述長(zhǎng)徑為所述顆粒樣品的粒度； 當(dāng)所述長(zhǎng)徑等于所述粒徑時(shí)，繼續(xù)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的短徑，當(dāng)所述長(zhǎng)徑等于所述短徑時(shí)，所述粒徑為所述顆粒樣品的粒度； 當(dāng)所述短徑小于粒徑，所述短徑為所述顆粒樣品的粒度。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，當(dāng)所述短徑小于所述粒徑的所述顆粒樣品占全部所述顆粒樣品的百分比小于3%時(shí)，所述長(zhǎng)徑為所述顆粒樣品的粒度。
27.根據(jù)權(quán)利要求24所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，通過所述計(jì)算機(jī)(4)同時(shí)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的長(zhǎng)徑和短徑，并將每個(gè)所述長(zhǎng)徑和所述短徑的和與所述顆粒樣品的粒徑相減，以得到所述顆粒樣品的粒度。
28.根據(jù)權(quán)利要求24所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，通過所述計(jì)算機(jī)(4)讀取每個(gè)所述顆粒樣品的投影面積，并將每個(gè)所述投影面積與所述顆粒樣品的粒徑相除，以得到所述顆粒樣品的粒度。
29.根據(jù)權(quán)利要求24所述的固體顆粒分析方法，其特征在于，通過所述計(jì)算機(jī)(4)將每個(gè)所述顆粒樣品的所述粒度按照多個(gè)長(zhǎng)度區(qū)間分組，并統(tǒng)計(jì)每個(gè)所述長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)所述顆粒樣品的所述粒度的和，所述顆粒樣品的粒度分布定義為每個(gè)所述長(zhǎng)度區(qū)間內(nèi)所述顆粒樣品的所述粒度的和占全部所述顆粒樣品的所述粒度的和的百分比。
30.一種固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述固體顆粒分析系統(tǒng)包括 固體顆粒分散裝置(I)，該固體顆粒分散裝置(I)用于將所述顆粒樣品分散為單層； 成像裝置(2)，該成像裝置(2)用于采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及 計(jì)算機(jī)(4)，該計(jì)算機(jī)(4)用于讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述固體顆粒分散裝置包括在垂直方向上彼此間隔開的多個(gè)篩層(11)，每個(gè)所述篩層(11)上布置有允許所述顆粒樣品通過的多個(gè)篩孔(12)，相鄰所述篩層(11)的所述篩孔(12)在垂直方向上相互錯(cuò)開。
32.根據(jù)權(quán)利要求31所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述篩層(11)均平行于水平方向。
33.根據(jù)權(quán)利要求32所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述篩孔(12)的形狀和尺寸相同。
34.根據(jù)權(quán)利要求33所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述篩孔(12)的形狀成正方形。
35.根據(jù)權(quán)利要求34所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 15。
36.根據(jù)權(quán)利要求35所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)與所述顆粒樣品的理想粒度的比值為2 10。
37.根據(jù)權(quán)利要求36所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，在水平經(jīng)線方向和/或水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層(11)的所述篩孔(12)之間的相錯(cuò)間隔(d)與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 5 I. 5。
38.根據(jù)權(quán)利要求37所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，在水平經(jīng)線方向和水平緯線方向上，相鄰兩個(gè)所述篩層(11)的所述篩孔(12)之間的相錯(cuò)間隔(d)與顆粒樣品的理想粒度的比值為O. 8 I. 2。
39.根據(jù)權(quán)利要求37所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述篩層(11)的層數(shù)為所述篩孔邊長(zhǎng)與所述相錯(cuò)間隔(d)的比值的整數(shù)倍。
40.根據(jù)權(quán)利要求35所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述篩層(11)的篩層間距(a)與每個(gè)所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)的比值為O. 5 I. 5。
41.根據(jù)權(quán)利要求40所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，每個(gè)所述篩層(11)的篩層間距(a)與每個(gè)所述篩孔(12)的邊長(zhǎng)的比值為O. 8 I. 2。
42.根據(jù)權(quán)利要求31所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述固體顆粒分散裝置還包括固定所述篩層的邊框(13)，所述每個(gè)篩層(2)通過所述邊框(13)可拆卸地接合為一體，或者所述每個(gè)篩層(2)的所述邊框(13)為一體式結(jié)構(gòu)。
43.根據(jù)權(quán)利要求31所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述固體顆粒分散裝置還包括固定在所述固定顆粒分散裝置下部的支腿(14)，該支腿(14)的長(zhǎng)度大于所述篩層間距(a)。
44.根據(jù)權(quán)利要求31所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述固體顆粒分散裝置(I)的下方設(shè)置有承載裝置(3)，該承載裝置(3)用于承載由所述固體顆粒分散裝置(I)分散后的所述顆粒樣品。
45.根據(jù)權(quán)利要求44所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述承載裝置(3)包括基板(31)和紙(32)，所述紙(32)可拆卸地固定鋪設(shè)在所述基板(31)的中心。
46.根據(jù)權(quán)利要求45所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述紙(32)的顏色與所述顆粒樣品的顏色成互為補(bǔ)色。
47.根據(jù)權(quán)利要求45所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述紙(32)上設(shè)置有尺寸刻度。
48.根據(jù)權(quán)利要求31所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述承載裝置(3)還包括從所述承載裝置(3)向上延伸的支架(33)，所述成像裝置(2)可拆卸地固定在所述支架(33)的上端。
49.根據(jù)權(quán)利要求30所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述成像裝置(2)為數(shù)碼相機(jī)。
50.根據(jù)權(quán)利要求30所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)(4)為筆記本電腦。
51.根據(jù)權(quán)利要求50所述的固體顆粒分析系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)(4)內(nèi)安裝有Image-Pro Plus 軟件和 Excel 軟件。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種固體顆粒分析方法包括第一步驟(x)將所述固體顆粒的顆粒樣品分散為單層；第二步驟(y)采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及第三步驟(z)讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。本發(fā)明還公開了一種固體顆粒分析系統(tǒng)，該固體顆粒分析系統(tǒng)使用本發(fā)明提供的固體顆粒分析方法，包括固體顆粒分散裝置(1)，該固體顆粒分散裝置用于將所述顆粒樣品分散為單層；成像裝置(2)，該成像裝置用于采集分散為單層的所述顆粒樣品的圖像；以及計(jì)算機(jī)(4)，該計(jì)算機(jī)用于讀取和分析所述顆粒樣品的圖像。由于在顆粒樣品成像和分析之前，對(duì)顆粒樣品進(jìn)行了單層分散操作，因此，能夠快速準(zhǔn)確地完成顆粒樣品的成像和分析。
文檔編號(hào)G01N15/02GK102854096SQ20111018614
公開日2013年1月2日 申請(qǐng)日期2011年7月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月1日
發(fā)明者陳文斌, 龍湘云, 李明豐, 王奎, 劉學(xué)芬, 趙新強(qiáng), 劉清河, 張樂, 聶紅 申請(qǐng)人:中國石油化工股份有限公司, 中國石油化工股份有限公司石油化工科學(xué)研究院