專利名稱：恒溫老化裝置的制作方法
恒溫老化裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種恒溫老化裝置，特別是涉及一種待測物品受熱均勻的恒溫老化裝置。
背景技術(shù)：
隨著科技的發(fā)展進步，電子產(chǎn)品越來越廣泛的應(yīng)用于家庭和辦公場合。而一些電子產(chǎn)品(如筆記本電腦)在出廠前需要經(jīng)過老化測試，老化測試的目的是使產(chǎn)品的缺陷在出廠前暴露出來，如焊點連接的可靠性，產(chǎn)品在設(shè)計、材料和工藝等方面的各種缺陷，以便提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性，在出廠前發(fā)現(xiàn)一些缺陷并進行彌補，減少產(chǎn)品的返修率。目前的恒溫老化裝置，包括恒老化架，待測物品放入老化架中，老化架內(nèi)設(shè)有燈泡，通過打開所述燈泡加熱使得所述老化架內(nèi)達到預(yù)設(shè)溫度(例如40°C)，所述老化架內(nèi)還·設(shè)有溫控探頭，當(dāng)所述老化架內(nèi)的溫度超過預(yù)設(shè)溫度后，控制所述燈泡關(guān)閉，使得所述老化架內(nèi)自然降溫，或者所述老化架一側(cè)還可以包括風(fēng)扇，于此同時啟動風(fēng)扇加速降溫。然而，采用以上恒溫老化裝置，由于采用燈泡對老化架內(nèi)直接加熱，一方面會造成靠近燈泡的待測物品被烤壞的情形；另一方面會導(dǎo)致老化架內(nèi)溫度不均，使得放置在老化架內(nèi)的各待測物品的環(huán)境會存在差異，溫控探頭只探測到某個點的溫度，進而判斷進行加熱或者降溫也不準(zhǔn)確，因此會造成測試結(jié)果不準(zhǔn)確。PTC (positive temperature coefficient)為正溫度系數(shù)熱敏材料，它具有電阻率隨溫度升高而增大的特性。PTC材料的理論日趨成熟，應(yīng)用范圍也不斷擴大。有鑒于此，實有必要開發(fā)一種恒溫老化裝置，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的在于提供一種恒溫老化裝置，可以提供較為準(zhǔn)確的測試環(huán)境，且待測物品受熱均勻，避免烤壞。為了達到上述目的，本發(fā)明提供的恒溫老化裝置，包括老化架，其一側(cè)設(shè)有開門，所述開門關(guān)閉狀態(tài)，所述老化架內(nèi)形成封閉空間，所述老化架的一面上設(shè)有開口，所述開口在所述老化架的外壁上的兩側(cè)凸設(shè)有滑槽，所述滑槽內(nèi)插設(shè)有插板，所述插板遮覆所述開口 ；溫控探頭，其設(shè)于所述老化架內(nèi)，檢測所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度；繼電器，其與所述溫控探頭連接，獲取所述溫控探頭檢測到的環(huán)境溫度，并與一預(yù)設(shè)溫度比較；電磁閥，其與所述繼電器連接，受控于所述繼電器；汽缸，其與所述電磁閥連接，所述汽缸具有一伸縮桿，所述伸縮桿的一端連接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述電磁閥；PTC加熱器，其設(shè)于所述老化架內(nèi)靠近底部位置，并與所述繼電器連接，當(dāng)所述繼電器判斷所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述PTC加熱器啟動加熱。
可選的，所述繼電器判斷所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度大于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿收縮，所述插板從所述滑槽內(nèi)滑出，所述繼電器判斷所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿伸長，所述插板插入所述滑槽?？蛇x的，所述老化架內(nèi)設(shè)有若干個隔板，所述隔板上用以承載待測物品。可選的，所述開口設(shè)于所述老化架頂部。可選的，所述恒溫老化裝置還包括風(fēng)扇，其設(shè)于所述老化架底部，并于所述PTC加熱器的下方?？蛇x的，所述老化架內(nèi)部后方還設(shè)有一散熱腔，所述PTC加熱器及所述風(fēng)扇設(shè)于所述散熱腔內(nèi)。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的恒溫老化裝置，由于采用PTC加熱器進行加熱，可以提供較為準(zhǔn)確的測試環(huán)境。同時，由于采用風(fēng)扇進行均溫以及設(shè)置散熱腔，可以達到增強上述均溫的效果。從而亦可以使得待測物品受熱均勻，避免烤壞。

圖I繪示為本發(fā)明的恒溫老化裝置一較佳實施例的第一狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。圖2繪示為圖I的局部放大結(jié)構(gòu)示意圖。圖3繪示為圖2的第二狀態(tài)示意圖。圖4繪示為圖I中開門隱藏后的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式請共同參閱圖I、圖2、圖3、圖4，圖I繪示為本發(fā)明的恒溫老化裝置一較佳實施例的第一狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖、圖2繪示為圖I的局部放大結(jié)構(gòu)示意圖、圖3繪示為圖2的第二狀態(tài)示意圖、圖4繪示為圖I中開門隱藏后的結(jié)構(gòu)示意圖。需要說明的是，各示意圖中并未顯示各元件間的線路連接。為了達到上述目的，本發(fā)明提供的恒溫老化裝置，于本實施例，包括老化架100，其一側(cè)設(shè)有開門101，所述開門101關(guān)閉狀態(tài)，所述老化架100內(nèi)形成封閉空間，所述老化架100的一面上設(shè)有開口 102，所述開口 102在所述老化架100的外壁上的兩側(cè)凸設(shè)有滑槽103,所述滑槽103內(nèi)插設(shè)有插板104,所述插板104遮覆所述開口102 ；溫控探頭200，其設(shè)于所述老化架100內(nèi)，檢測所述老化架100內(nèi)的環(huán)境溫度；繼電器300，其與所述溫控探頭200連接，獲取所述溫控探頭200檢測到的環(huán)境溫
度，并與一預(yù)設(shè)溫度比較；電磁閥400，其與所述繼電器300連接，受控于所述繼電器300 ；汽缸500，其與所述電磁閥400連接，所述汽缸500具有一伸縮桿501，所述伸縮桿501的一端連接于所述老化架100的插板104的一端，所述汽缸500受控于所述電磁閥400 ；PTC加熱器600，其設(shè)于所述老化架100內(nèi)靠近底部位置，并與所述繼電器300連接，當(dāng)所述繼電器300判斷所述老化架100內(nèi)溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述PTC加熱器600啟動加熱。其中，所述老化架100內(nèi)設(shè)有若干個隔板105，所述隔板105上用以承載待測物品(圖未示)。其中，所述開口 102設(shè)于所述老化架100頂部，以方便打開后向外散發(fā)熱量。其中，較佳的，所述恒溫老化裝置還包括風(fēng)扇700，其設(shè)于所述老化架100底部，并于所述PTC加熱器600的下方。如此可以達到更快更均勻地使所述老化架100內(nèi)部的環(huán)境
溫度升高。其中，較佳的，所述老化架100內(nèi)部后方還設(shè)有一散熱腔800，所述PTC加熱器600及所述風(fēng)扇700設(shè)于所述散熱腔內(nèi)，通過所述散熱腔800將所述PTC加熱器600所散發(fā)出來的熱量向前方傳導(dǎo)，如此可以達到更好的均溫效果。
請再結(jié)合參閱圖2、圖3。其中，所述繼電器300判斷所述老化架100內(nèi)溫度大于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述電磁閥400控制所述汽缸500的伸縮桿501收縮，所述插板104從所述滑槽103內(nèi)滑出，所述繼電器300判斷所述老化架100內(nèi)的環(huán)境溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述電磁閥400控制所述汽缸500的伸縮桿501伸長,所述插板104插入所述滑槽103。從而可以通過對開口 102的關(guān)閉與打開，實現(xiàn)保溫與散熱。綜上，利用本發(fā)明的恒溫老化裝置，由于采用PTC加熱器600進行加熱，可以提供較為準(zhǔn)確的測試環(huán)境。同時，由于采用風(fēng)扇700進行均溫以及設(shè)置散熱腔800，可以達到增強上述均溫的效果。從而亦可以使得待測物品受熱均勻，避免烤壞。
權(quán)利要求
1.一種恒溫老化裝置，其特征在于，包括 老化架，其一側(cè)設(shè)有開門，所述開門關(guān)閉狀態(tài)，所述老化架內(nèi)形成封閉空間，所述老化架的一面上設(shè)有開口，所述開口在所述老化架的外壁上的兩側(cè)凸設(shè)有滑槽，所述滑槽內(nèi)插設(shè)有插板，所述插板遮覆所述開口 ； 溫控探頭，其設(shè)于所述老化架內(nèi)，檢測所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度； 繼電器，其與所述溫控探頭連接，獲取所述溫控探頭檢測到的環(huán)境溫度，并與一預(yù)設(shè)溫度比較； 電磁閥，其與所述繼電器連接，受控于所述繼電器； 汽缸，其與所述電磁閥連接，所述汽缸具有一伸縮桿，所述伸縮桿的一端連接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述電磁閥； PTC加熱器，其設(shè)于所述老化架內(nèi)靠近底部位置，并與所述繼電器連接，當(dāng)所述繼電器判斷所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述PTC加熱器啟動加熱。
2.如權(quán)利要求I所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述繼電器判斷所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度大于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿收縮，所述插板從所述滑槽內(nèi)滑出，所述繼電器判斷所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿伸長，所述插板插入所述滑槽。
3.如權(quán)利要求I或2所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述老化架內(nèi)設(shè)有若干個隔板，所述隔板上用以承載待測物品。
4.如權(quán)利要求I或2所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述開口設(shè)于所述老化架頂部。
5.如權(quán)利要求I或2所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述恒溫老化裝置還包括風(fēng)扇，其設(shè)于所述老化架底部，并于所述PTC加熱器的下方。
6.如權(quán)利要求5所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述老化架內(nèi)部后方還設(shè)有一散熱腔，所述PTC加熱器及所述風(fēng)扇設(shè)于所述散熱腔內(nèi)。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種恒溫老化裝置，包括老化架，其一側(cè)設(shè)有開門，所述老化架的一面上設(shè)有開口，所述開口在所述老化架的外壁上的兩側(cè)凸設(shè)有滑槽，所述滑槽內(nèi)插設(shè)有插板；溫控探頭，其設(shè)于所述老化架內(nèi)，檢測所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度；繼電器，其與所述溫控探頭連接，獲取所述溫控探頭檢測到的環(huán)境溫度，并與一預(yù)設(shè)溫度比較；電磁閥，其與所述繼電器連接，受控于所述繼電器；汽缸，其與所述電磁閥連接，且受控于所述電磁閥；PTC加熱器，其設(shè)于所述老化架內(nèi)靠近底部位置，并與所述繼電器連接，當(dāng)所述所述老化架內(nèi)的環(huán)境溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時，所述PTC加熱器啟動加熱。從而可以提供較為準(zhǔn)確的測試環(huán)境，且待測物品受熱均勻，避免烤壞。
文檔編號G01R31/00GK102890204SQ20111019945
公開日2013年1月23日 申請日期2011年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月18日
發(fā)明者王忠斌 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司