專利名稱：一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子電路領(lǐng)域，尤其涉及一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路及裝置。
背景技術(shù)：
很多家電/消費(fèi)電子產(chǎn)品需要過(guò)零信號(hào)作為單片機(jī)的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的起點(diǎn)就是零電壓，可控硅導(dǎo)通角就是用這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。電機(jī)高，中，低，微檔速和其他負(fù)載的各種功率都對(duì)應(yīng)一個(gè)導(dǎo)通角，而每個(gè)導(dǎo)通角的導(dǎo)通時(shí)間是從零電壓開(kāi)始計(jì)算的，導(dǎo)通時(shí)間不一樣，因此電機(jī)的轉(zhuǎn)速和負(fù)載的功率不一樣。過(guò)零檢測(cè)還可以提供一個(gè)定時(shí)脈沖信號(hào)，作為系統(tǒng)的定時(shí)基準(zhǔn)。用于檢測(cè)是否有過(guò)零信號(hào)。請(qǐng)參閱圖1、2、3，為現(xiàn)有的3種過(guò)零檢測(cè)電路。其中，圖1示出了三極管過(guò)零檢測(cè)電路、圖2示出了電阻式過(guò)零檢測(cè)電路。由于這兩種電路為非隔離電路，其存在不安全，抗干擾能力較弱的缺陷。圖3示出了光耦隔離式過(guò)零檢測(cè)電路。該光耦隔離式過(guò)零檢測(cè)電路為隔離電路，增加板的安全性，提高了抗干擾性，但由于光耦最小電流導(dǎo)通的特性，其功耗較大，難以達(dá)到低功耗待機(jī)標(biāo)準(zhǔn)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，旨在解決現(xiàn)有的過(guò)零檢測(cè)電路功耗較大，難以達(dá)到低功耗標(biāo)準(zhǔn)的問(wèn)題。本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，所述電路包括光耦U1、分壓電阻R3、二極管D1、電阻R2以及電容Cl，
所述光耦Ul的引腳1、2分別連接到所述二極管Dl的輸出端以及輸入端，所述光耦Ul 的引腳1還與分壓電阻R3的一端相連，所述光耦Ul的引腳2還與電容Cl 一端相連，所述分壓電阻R3、電容Cl的另一端分別連至電源輸入的正負(fù)極；
所述光耦Ul的引腳4與電阻R2的一端相連，所述電阻R2的另一端與參考電壓VCC相連，所述光耦Ul的引腳3接地GND。進(jìn)一步地，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括對(duì)信號(hào)進(jìn)行緩沖的電阻R1，所述電阻Rl與光耦Ul的引腳4相連。進(jìn)一步地，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括電容C2，所述電容C2的一端與所述光耦Ul的引腳4相連，另一端接地GND。進(jìn)一步地，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括與電容Cl并聯(lián)的電阻R0，通過(guò)電阻RO給所述電容Cl進(jìn)行放電。進(jìn)一步地，所述電阻RO的電阻值為1 M Ω。進(jìn)一步地，所述參考電壓VCC為+5V。本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置，所述節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置包括節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，所述過(guò)零檢測(cè)電路包括光耦U1、分壓電阻R3、二極管D1、 電阻R2以及電容Cl，所述光耦Ul的引腳1、2分別連接到所述二極管Dl的輸出端以及輸入端，所述光耦Ul 的引腳1還與分壓電阻R3的一端相連，所述光耦Ul的引腳2還與電容Cl 一端相連，所述分壓電阻R3、電容Cl的另一端分別連至電源輸入的正負(fù)極；
所述光耦Ul的引腳4與電阻R2的一端相連，所述電阻R2的另一端與參考電壓VCC相連，所述光耦Ul的引腳3接地GND。進(jìn)一步地，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括對(duì)信號(hào)進(jìn)行緩沖的電阻R1，所述電阻Rl與光耦Ul的引腳4相連。進(jìn)一步地，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括電容C2，所述電容C2的一端與所述光耦Ul的引腳4相連，另一端接地GND。進(jìn)一步地，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括與電容Cl并聯(lián)的電阻R0，通過(guò)電阻RO給所述電容Cl進(jìn)行放電。在本發(fā)明的實(shí)施例中，通過(guò)在AC線上串連了一個(gè)電容Cl，由于電容Cl作為一個(gè)容性器件，流過(guò)電容Cl的電流為虛部電流，電容Cl所作的功為無(wú)功功率，從而降低了過(guò)零檢測(cè)電路的功耗。并且在滿足光耦最小導(dǎo)通電流的情況下，通過(guò)調(diào)節(jié)電阻R3和電容Cl的值還可以獲得更低的功耗。這樣，就解決了傳統(tǒng)過(guò)零檢測(cè)電路功耗高的問(wèn)題。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的三極管過(guò)零檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)圖； 圖2是現(xiàn)有技術(shù)提供的電阻式過(guò)零檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)圖3是現(xiàn)有技術(shù)提供的光耦隔離式過(guò)零檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)圖； 圖4是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的過(guò)零檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)圖； 圖5是本發(fā)明第二實(shí)施例提供的過(guò)零檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。圖4示出了本發(fā)明第一實(shí)施例提供的過(guò)零檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)。該過(guò)零檢測(cè)電路可以應(yīng)用于節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置中。該過(guò)零檢測(cè)電路包括光耦U1、分壓電阻R3、二極管D1、電阻R2以及電容Cl。所述光耦Ul的引腳1、2分別連接到所述二極管Dl的輸出端以及輸入端，所述光耦Ul的引腳1 還與分壓電阻R3的一端相連，所述光耦Ul的引腳2還與電容Cl 一端相連。所述分壓電阻 R3、電容Cl的另一端分別連至電源輸入的正負(fù)極。所述光耦Ul的引腳4與電阻R2的一端相連，所述電阻R2的另一端與參考電壓VCC相連，所述光耦Ul的引腳3接地GND。參閱圖5，該過(guò)零檢測(cè)電路的第二實(shí)施例是在第一實(shí)施例的基礎(chǔ)上增加了多個(gè)元件。作為本發(fā)明的實(shí)施例，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括對(duì)信號(hào)進(jìn)行緩沖的電阻R1，所述電阻Rl與光耦Ul的引腳4相連。作為本發(fā)明的實(shí)施例，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括電容C2，所述電容C2的一端與所述光耦Ul的引腳4相連，另一端接地GND。為了便于解決電容的放電問(wèn)題，該過(guò)零檢測(cè)電路還包括與電容Cl并聯(lián)的電阻R0， 通過(guò)電阻RO給所述電容Cl進(jìn)行放電。該電阻RO的電阻值可以為1 ΜΩ。當(dāng)然，在實(shí)際過(guò)程中，可以在第一實(shí)施例的基礎(chǔ)上，僅增加電阻R1、電容C2、電阻 RO中的一個(gè)或者兩個(gè)。本節(jié)能型的過(guò)零檢測(cè)電路在以往光耦隔離式過(guò)零檢測(cè)電路的基礎(chǔ)上，在AC線上串連了一個(gè)電容Cl，電容作為一個(gè)容性器件，流過(guò)電容的電流為虛部電流，電容所作的功為無(wú)功功率，從而降低了過(guò)零檢測(cè)電路的功耗。并且在滿足光耦最小導(dǎo)通電流的情況下，通過(guò)調(diào)節(jié)R3和Cl的值還可以獲得更低的功耗。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述電路包括光耦U1、分壓電阻R3、二極管D1、 電阻R2以及電容Cl，所述光耦Ul的引腳1、2分別連接到所述二極管Dl的輸出端以及輸入端，所述光耦Ul 的引腳1還與分壓電阻R3的一端相連，所述光耦Ul的引腳2還與電容Cl 一端相連，所述分壓電阻R3、電容Cl的另一端分別連至電源輸入的正負(fù)極；所述光耦Ul的引腳4與電阻R2的一端相連，所述電阻R2的另一端與參考電壓VCC相連，所述光耦Ul的引腳3接地GND。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括對(duì)信號(hào)進(jìn)行緩沖的電阻R1，所述電阻Rl與光耦Ul的引腳4相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括電容C2，所述電容C2的一端與所述光耦Ul的引腳4相連，另一端接地GND。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括與電容Cl并聯(lián)的電阻R0，通過(guò)電阻RO給所述電容Cl進(jìn)行放電。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述電阻RO的電阻值為 1 ΜΩ。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述參考電壓VCC為+5V。
7.一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置，所述節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置包括節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路包括光耦U1、分壓電阻R3、二極管D1、電阻R2以及電容Cl，所述光耦Ul的引腳1、2分別連接到所述二極管Dl的輸出端以及輸入端，所述光耦Ul 的引腳1還與分壓電阻R3的一端相連，所述光耦Ul的引腳2還與電容Cl 一端相連，所述分壓電阻R3、電容Cl的另一端分別連至電源輸入的正負(fù)極；所述光耦Ul的引腳4與電阻R2的一端相連，所述電阻R2的另一端與參考電壓VCC相連，所述光耦Ul的引腳3接地GND。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括對(duì)信號(hào)進(jìn)行緩沖的電阻R1，所述電阻Rl與光耦Ul的引腳4相連。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括電容C2，所述電容C2的一端與所述光耦Ul的引腳4相連，另一端接地GND。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)裝置，其特征在于，所述過(guò)零檢測(cè)電路還包括與電容Cl并聯(lián)的電阻R0，通過(guò)電阻RO給所述電容Cl進(jìn)行放電。
全文摘要
本發(fā)明適用于電子電路領(lǐng)域，提供了一種節(jié)能型過(guò)零檢測(cè)電路及裝置，所述電路包括光耦U1、分壓電阻R3、二極管D1、電阻R2以及電容C1，所述光耦U1的引腳1、2分別連接到所述二極管D1的輸出端以及輸入端，所述光耦U1的引腳1還與分壓電阻R3的一端相連，所述光耦U1的引腳2還與電容C1一端相連，所述分壓電阻R3、電容C1的另一端分別連至電源輸入的正負(fù)極；所述光耦U1的引腳4與電阻R2的一端相連，所述電阻R2的另一端與參考電壓VCC相連，所述光耦U1的引腳3接地GND。在本發(fā)明中，通過(guò)在AC線上串連了一個(gè)電容C1，電容所作的功為無(wú)功功率，從而降低了過(guò)零檢測(cè)電路的功耗。
文檔編號(hào)G01R19/175GK102411082SQ20111021575
公開(kāi)日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2011年7月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月29日
發(fā)明者廖黎利, 袁天龍 申請(qǐng)人:深圳和而泰智能控制股份有限公司