專利名稱：自動(dòng)測(cè)試裝置、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及其自動(dòng)測(cè)試控制的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種自動(dòng)測(cè)試裝置、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及其自動(dòng)測(cè)試控制的方法，特別是一種可以自動(dòng)化測(cè)試待測(cè)裝置，以及自動(dòng)化記錄測(cè)試歷程的自動(dòng)測(cè)試裝置、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及其自動(dòng)測(cè)試控制的方法。
背景技術(shù)：
隨著時(shí)代的進(jìn)步，現(xiàn)今的生活里已經(jīng)出現(xiàn)各式各樣的電子產(chǎn)品，其可具有多樣性且不同用途的連接端口，例如分別適用于USB、網(wǎng)絡(luò)連接器端子、音頻端子(Audio Jack)、影像端子、HDMI或是IEEE 1394等眾多規(guī)格的連接端口。使用者在使用這些電子產(chǎn)品時(shí)，都會(huì)對(duì)連接端口進(jìn)行多次的插拔動(dòng)作。因此測(cè)試連接端口在多次插拔下的耐久度是各電子產(chǎn)品制造商的重要課題。在先前技術(shù)中，通常是藉由測(cè)試人員手動(dòng)插拔的方式，來(lái)對(duì)連接端口進(jìn)行耐久度的測(cè)試。但此種方式過(guò)于耗費(fèi)人力，且并不符合經(jīng)濟(jì)效益。先前技術(shù)的測(cè)試裝置可利用氣動(dòng)方式自動(dòng)對(duì)待測(cè)物體執(zhí)行插拔測(cè)試。但先前技術(shù)的測(cè)試裝置雖可對(duì)待測(cè)物體達(dá)到自動(dòng)測(cè)試的效果，但仍需要對(duì)測(cè)試單元進(jìn)行拆解再安裝的步驟，才能調(diào)整測(cè)試單元的位置與高度，因此測(cè)試單元的調(diào)整方式過(guò)于復(fù)雜。同時(shí)先前技術(shù)的測(cè)試裝置無(wú)法由一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)自動(dòng)發(fā)送命令與自動(dòng)記錄下控制過(guò)程，仍然需要由測(cè)試人員分別執(zhí)行命令。如此一來(lái)，仍會(huì)消耗部分無(wú)謂的人力。因此，有必要發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試裝置、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及其自動(dòng)測(cè)試控制的方法，以藉由更方便且更自動(dòng)化的方式來(lái)進(jìn)行測(cè)試，以解決先前技術(shù)的缺失。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種自動(dòng)測(cè)試裝置，其具有可以自動(dòng)化測(cè)試待測(cè)裝置的效果。本發(fā)明的另一主要目的在于提供一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其具有自動(dòng)化記錄測(cè)試歷程的效果。本發(fā)明的又一主要目的在于提供一種用于上述自動(dòng)測(cè)試裝置及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)測(cè)試控制的方法。為達(dá)到上述的目的，本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試裝置接收一控制信號(hào)以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該自動(dòng)測(cè)試裝置包括一測(cè)試平臺(tái)、一測(cè)試單元以及一動(dòng)力控制單元；該測(cè)試平臺(tái)用以設(shè)置該待測(cè)裝置；該測(cè)試單元包括一主體、一組裝單元以及一高度調(diào)節(jié)單元；該組裝單元接觸于該主體，用以安裝一測(cè)試接頭，該測(cè)試接頭配合該連接端口的規(guī)格；該高度調(diào)節(jié)單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調(diào)整該組裝單元的一高度；該動(dòng)力控制單元連接于該測(cè)試單元，該動(dòng)力控制單元在接收該控制信號(hào)后，驅(qū)動(dòng)該測(cè)試單元以藉由該測(cè)試接頭對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)用以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包括一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、一控制器以及一自動(dòng)測(cè)試裝置；該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)生一控制參數(shù)；該控制器與該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)電性連接以接收該控制參數(shù)，該控制器包括一緩沖模塊以及一控制模塊；該緩沖模塊儲(chǔ)存該控制參數(shù)；該控制模塊與該緩沖模塊電性連接，以根據(jù)該控制參數(shù)產(chǎn)生一控制信號(hào)；該自動(dòng)測(cè)試裝置與該控制器電性連接，用以接收該控制信號(hào)，該自動(dòng)測(cè)試裝置包括一測(cè)試平臺(tái)、一測(cè)試單元以及一動(dòng)力控制單元；該測(cè)試平臺(tái)用以設(shè)置該待測(cè)裝置；該測(cè)試單元包括一主體、一組裝單元以及一高度調(diào)節(jié)單元；該組裝單元連接于該主體，用 以安裝一測(cè)試接頭，該測(cè)試接頭配合該連接端口的規(guī)格；該高度調(diào)節(jié)單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調(diào)整該組裝單元的一高度；該動(dòng)力控制單元連接于該測(cè)試單元，該動(dòng)力控制單元在接收該控制信號(hào)后，驅(qū)動(dòng)該測(cè)試單元以藉由該測(cè)試接頭對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試，并經(jīng)由該控制器以將一測(cè)試歷程儲(chǔ)存于該緩沖模塊內(nèi)，該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)再讀取該測(cè)試歷程。本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法用于一自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)具有一自動(dòng)測(cè)試裝置，用以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該自動(dòng)測(cè)試控制的方法包括以下步驟藉由一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)生一控制參數(shù)；根據(jù)該控制參數(shù)以藉由一控制器產(chǎn)生一控制信號(hào)；根據(jù)該控制信號(hào)以藉由一動(dòng)力控制單元驅(qū)動(dòng)一測(cè)試單元，以自動(dòng)對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試；以及儲(chǔ)存一測(cè)試過(guò)程。本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法包括以下步驟提供自動(dòng)測(cè)試裝置以設(shè)置待測(cè)裝置；藉由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)生控制參數(shù)；根據(jù)控制參數(shù)以藉由控制器產(chǎn)生控制信號(hào)；根據(jù)控制信號(hào)以藉由動(dòng)力控制單元驅(qū)動(dòng)測(cè)試單元，以自動(dòng)對(duì)連接端口進(jìn)行測(cè)試；以及儲(chǔ)存測(cè)試歷程。本發(fā)明能夠完全自動(dòng)化地對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行測(cè)試，并且也較容易根據(jù)不同待測(cè)裝置的規(guī)格來(lái)進(jìn)行調(diào)整，明顯優(yōu)于先前技術(shù)的測(cè)試裝置。


圖I是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)圖。圖IA是本發(fā)明的控制器內(nèi)的電路架構(gòu)圖。圖2A是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試裝置的外觀示意圖。圖2B是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試裝置結(jié)合待測(cè)裝置的示意圖。圖3是本發(fā)明的測(cè)試單元的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法的步驟流程圖。主要組件符號(hào)說(shuō)明自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)I 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10使用者界面 11 記錄模塊12控制器 20 緩沖模塊21控制模塊 22 切換電路23自動(dòng)測(cè)試裝置30 測(cè)試平臺(tái)31定位裝置 311 定位槽孔312測(cè)試單元 32 主體321組裝單元 322 第一組裝件322a第二組裝件 322b 凹槽322c容置槽 322d 高度調(diào)節(jié)單元323
旋轉(zhuǎn)件323a彈性件323b外罩324鎖固件325位置調(diào)節(jié)單元33第一軌道331第一固定件332第二軌道333第二固定件334動(dòng)力控制單元34電磁閥341汽缸342通氣管343待測(cè)裝置40測(cè)試接頭50串行數(shù)據(jù)通信接口 60電阻R1、R2電感L二極管D第一晶體管Ql第二晶體管Q2源極S1、S2漏極D1、D2柵極G1、G2接地端G電源輸入端V
具體實(shí)施例方式為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉出本發(fā)明的·具體實(shí)施例，并配合所附附圖，作詳細(xì)說(shuō)明如下。請(qǐng)先參考圖I，圖I是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)圖。本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)I可用以自動(dòng)地對(duì)待測(cè)裝置40 (如圖2B所示)的連接端口進(jìn)行耐久度的測(cè)試。待測(cè)裝置40可為筆記本型計(jì)算機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話等具有連接端口的電子產(chǎn)品，但本發(fā)明并不限定僅能用于測(cè)試電子產(chǎn)品的連接端口。在本發(fā)明的一實(shí)施方式中，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)I包括計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10、控制器(Single Chip Microcontroller (單芯片微控制器))20及自動(dòng)測(cè)試裝置30。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10可為桌上型計(jì)算機(jī)或是筆記本型計(jì)算機(jī)等系統(tǒng)，但本發(fā)明并不限于此。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10包括使用者界面11及記錄模塊12。使用者界面11藉由一軟件所架構(gòu)而成，用以供使用者設(shè)定控制參數(shù)。其中控制參數(shù)可包括選擇自動(dòng)測(cè)試裝置30中要進(jìn)行測(cè)試流程的測(cè)試單元32以及設(shè)定插拔次數(shù)等，但本發(fā)明并不以上述列舉的參數(shù)為限。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10再根據(jù)控制參數(shù)以對(duì)自動(dòng)測(cè)試裝置30進(jìn)行控制。記錄模塊12用以自動(dòng)記錄下控制參數(shù)及自動(dòng)測(cè)試裝置30的測(cè)試歷程，以供使用者進(jìn)行后續(xù)的判讀。此外，記錄模塊12亦可記錄下待測(cè)裝置40的序號(hào)、連接端口的名稱或測(cè)試時(shí)間等，本發(fā)明并不以此為限?？刂破?0可為一單芯片微計(jì)算機(jī)(Single Chip Microcomputer),由硬件架構(gòu)而成，可藉由一串行數(shù)據(jù)通信接口 60與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10電性連接，以接收來(lái)自計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10的控制參數(shù)。串行數(shù)據(jù)通信接口 60可為RS232?？刂破?0包括緩沖模塊21、控制模塊22及切換電路23。緩沖模塊21藉由一硬件架構(gòu)而成，具有儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的功用，用以儲(chǔ)存自計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10傳輸來(lái)的控制參數(shù)。控制模塊22可由硬件或固件結(jié)合硬件等方式架構(gòu)而成?？刂颇K22與緩沖模塊21電性連接，用以根據(jù)緩沖模塊21所儲(chǔ)存的控制參數(shù)以產(chǎn)生控制信號(hào)。需注意的是，為了避免計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10與控制器20之間信號(hào)傳遞錯(cuò)誤，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10與控制器20之間還可執(zhí)行信號(hào)比對(duì)流程。尤其若計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10為筆記本型計(jì)算機(jī)時(shí)，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10可能利用USB連接端口與串行數(shù)據(jù)通信接口 60 (如RS232)電性連接來(lái)傳遞信號(hào)。在此情況下，可能因?yàn)閁SB連接端口與RS232之間信號(hào)轉(zhuǎn)換的問(wèn)題而導(dǎo)致傳輸錯(cuò)誤。因此當(dāng)控制器20接到自計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10傳來(lái)的控制參數(shù)時(shí)，先利用半雙工通信等方式傳送一聯(lián)絡(luò)信號(hào)回計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10。待計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10確認(rèn)聯(lián)絡(luò)信號(hào)內(nèi)容與控制參數(shù)相同時(shí)，控制器20才產(chǎn)生控制信號(hào)。由于此比對(duì)流程已經(jīng)被本發(fā)明相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域者所熟知，故在此不再贅述其詳細(xì)流程。切換電路23由硬件架構(gòu)而成，并且與控制模塊22電性連接，用以根據(jù)控制信號(hào)以控制自動(dòng)測(cè)試裝置30的動(dòng)力控制單元34，使得自動(dòng)測(cè)試裝置30可進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。而關(guān)于切換電路23控制動(dòng)力控制單元34的方式請(qǐng)參考圖1A，圖IA是本發(fā)明的控制器內(nèi)的電路架構(gòu)圖。在本實(shí)施方式中，動(dòng)力控制單元34可利用氣動(dòng)方式以驅(qū)動(dòng)測(cè)試單元32。動(dòng)力控制單元34包括電磁閥341、汽缸342及通氣管343，汽缸342與電磁閥341及測(cè)試單元32互 相連接，并與通氣管343相通。切換電路23可以包括第一晶體管Q1、第二晶體管Q2以及其他的電路組件，例如電阻R1、R2、電感L與二極管D，上述電路組件互相電性連接。電阻R1、R2、電感L與二極管D可作為穩(wěn)壓、整流等作用，由于上述電路組件的作用并非本發(fā)明的重點(diǎn)所在且已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域上，故在此不再贅述其原理。第一晶體管Ql與第二晶體管Q2可視為開(kāi)關(guān)模塊。在本實(shí)施方式中，第一晶體管Ql與第二晶體管Q2皆為金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管，但本發(fā)明并不限于此。第一晶體管Ql具有源極SI、漏極Dl與柵極G1。同樣地，第二晶體管Q2也具有源極S2、漏極D2與柵極G2。源極SI及源極S2與接地端G電性連接，漏極Dl及漏極D2與電源輸入端V電性連接，柵極Gl與控制模塊22電性連接，漏極Dl與柵極G2電性連接，最后漏極D2再電性連接至動(dòng)力控制單元34的電磁閥341。當(dāng)控制模塊22輸出的控制信號(hào)為高電位時(shí)，第一晶體管Ql會(huì)導(dǎo)通，使得漏極Dl成為低電位，因此第二晶體管Q2的柵極G2亦為低電位而讓第二晶體管Q2截止。如此一來(lái)漏極D2保持高電位而讓電磁閥341斷路。另一方面，當(dāng)控制模塊22輸出的控制信號(hào)為低電位時(shí)，第一晶體管Ql會(huì)截止，使得漏極Dl成為高電位，因此第二晶體管Q2的柵極G2亦為高電位而讓第二晶體管Q2導(dǎo)通。如此一來(lái)漏極D2變成低電位而讓電磁閥341導(dǎo)通。由于上述由第一晶體管Ql及第二晶體管Q2構(gòu)成開(kāi)關(guān)模塊的方式已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域上，故在此不再贅述其原理。并需注意的是，切換電路23并不以圖IA中所示的電路架構(gòu)為限，只要能控制電磁閥341導(dǎo)通或截止的電路皆在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。由上述的說(shuō)明可知，控制模塊22可藉由輸出高低電位的控制信號(hào)來(lái)控制電磁閥341導(dǎo)通或截止，以藉由通氣管343提供的壓縮空氣驅(qū)動(dòng)汽缸342來(lái)控制測(cè)試單元32的動(dòng)作。控制模塊22亦可以根據(jù)測(cè)試單元32的數(shù)量，經(jīng)由多個(gè)切換電路23分別控制測(cè)試單元32的動(dòng)作。自動(dòng)測(cè)試裝置30與控制器20電性連接，用以根據(jù)控制信號(hào)對(duì)待測(cè)裝置40進(jìn)行測(cè)試。自動(dòng)測(cè)試裝置30包括測(cè)試平臺(tái)31、測(cè)試單元32、位置調(diào)節(jié)單元33及動(dòng)力控制單元34。而關(guān)于自動(dòng)測(cè)試裝置30的詳細(xì)結(jié)構(gòu)請(qǐng)參考圖2A到2B的關(guān)于自動(dòng)測(cè)試裝置30的相關(guān)示意圖，其中圖2A是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試裝置的外觀示意圖；圖28是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試裝置結(jié)合待測(cè)裝置的示意圖。
在本發(fā)明的一實(shí)施方式中，自動(dòng)測(cè)試裝置30的測(cè)試平臺(tái)31用以放置待測(cè)裝置40，并可利用定位裝置311將待測(cè)裝置40固定于測(cè)試平臺(tái)31上。測(cè)試平臺(tái)31上可以設(shè)置多個(gè)定位槽孔312，定位裝置311可依照待測(cè)裝置40不同的規(guī)格或大小來(lái)安裝于不同的定位槽孔312，以固定待測(cè)裝置40。但本發(fā)明并不限定僅能利用此方式固定待測(cè)裝置40。 自動(dòng)測(cè)試裝置30可具有單一或多個(gè)測(cè)試單元32，亦可依照需求作增減。測(cè)試單元32用以安裝測(cè)試接頭50，測(cè)試接頭50用以配合待測(cè)裝置40的連接端口的規(guī)格。測(cè)試單元32連接于動(dòng)力控制單元34的汽缸342，以藉由汽缸342的動(dòng)作對(duì)連接端口進(jìn)行插拔測(cè)試。關(guān)于測(cè)試單元32的結(jié)構(gòu)在之后會(huì)有詳細(xì)的說(shuō)明，在此先不贅述。位置調(diào)節(jié)單元33連接于動(dòng)力控制單元34的汽缸342，用來(lái)同時(shí)調(diào)整汽缸342及與汽缸342相連的測(cè)試單元32的位置，使得測(cè)試單元32可以配合待測(cè)裝置40的連接端口位置。位置調(diào)節(jié)單元33包括第一軌道331、第一固定件332、第二軌道333及第二固定件334。動(dòng)力控制單元34的汽缸342設(shè)置于第一軌道331上，使得測(cè)試單元32可以沿著第一方向滑動(dòng)。第一固定件332與第一軌道331互相配合。當(dāng)汽缸342藉由第一軌道331滑動(dòng)到一定點(diǎn)時(shí)，可利用第一固定件332將第一軌道331固定住，使得測(cè)試單元32可以固定于該定點(diǎn)。同時(shí)第一軌道331設(shè)置于第二軌道333上，并且第一軌道331與第二軌道333實(shí)質(zhì)上互相垂直，且有一部分互相重疊。汽缸342可連同第一軌道331 —并在第二軌道333上沿著第二方向滑動(dòng)。由于第一軌道331與第二軌道333實(shí)質(zhì)上互相垂直，因此第一方向與第二方向亦實(shí)質(zhì)上互相垂直。第二固定件334連接于第一軌道331并與第二軌道333互相配合，以固定第一軌道331的位置，進(jìn)一步將測(cè)試單元32固定于該定點(diǎn)。因此位置調(diào)節(jié)單元33可以藉由滑動(dòng)的方式，方便地調(diào)整測(cè)試單元32的位置。接著請(qǐng)參考圖3，圖3是本發(fā)明的測(cè)試單元的結(jié)構(gòu)示意圖。在本實(shí)施方式中，測(cè)試單元32可包括主體321、組裝單元322、高度調(diào)節(jié)單元323及外罩324。組裝單元322配合主體321并與主體321互相接觸，用來(lái)組裝測(cè)試接頭50。組裝單元322包括第一組裝件322a及第二組裝件322b，第一組裝件322a連接于主體321，第二組裝件322b則可為一 U字形的形狀。第一組裝件322a及第二組裝件322b組合時(shí)，利用中間的空隙以?shī)A持測(cè)試接頭50，接著再藉由至少一鎖固件325以互相固定。當(dāng)測(cè)試接頭50為扁平狀，例如USB、網(wǎng)絡(luò)連接器端子、HDMI或影像端子等接頭時(shí)，第一組裝件322a及第二組裝件322b可直接夾持測(cè)試接頭50。若測(cè)試接頭50的形狀為圓形，例如音頻端子時(shí)，可以利用具有凹槽322c的第二組裝件322b來(lái)夾持測(cè)試接頭50。凹槽322c的形狀配合測(cè)試接頭50的形狀，使得第一組裝件322a及第二組裝件322b可以?shī)A持的更穩(wěn)固。高度調(diào)節(jié)單元323連接于主體321，并與組裝單元322互相配合。高度調(diào)節(jié)單元323包括旋轉(zhuǎn)件323a及彈性件323b。旋轉(zhuǎn)件323a可為一長(zhǎng)條螺絲，穿過(guò)主體321及第一組裝件322a，第一組裝件322a還具有相對(duì)應(yīng)的螺紋(圖未示)以配合旋轉(zhuǎn)件323a。彈性件323b連接于主體321，并放置于第一組裝件322a的內(nèi)部容置槽322d中。當(dāng)旋轉(zhuǎn)件323a轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，即可藉由彈性件323b調(diào)整組裝單元322的高度。舉例而言，當(dāng)旋轉(zhuǎn)件323a沿著第一組裝件322a的螺紋向下旋轉(zhuǎn)時(shí)，可連帶使得第一組裝件322a向上移動(dòng)。而當(dāng)旋轉(zhuǎn)件323a沿著第一組裝件322a的螺紋向上旋轉(zhuǎn)時(shí)，可藉由彈性件323b的彈性以方便地讓第一組裝件322a向下移動(dòng)。最后測(cè)試單元32可以藉由外罩324將主體321、組裝單元322與高度調(diào)節(jié)單元323的部分區(qū)域覆蓋住，并利用鎖固件325將外罩324固定于主體321上。如此一來(lái)，即可保持測(cè)試單元32的美觀及外觀的整體性。由上述的說(shuō)明可知，在本實(shí)施方式中，測(cè)試單元32可以藉由高度調(diào)節(jié)單元323方便地調(diào)整測(cè)試接頭50的高度，再搭配位置調(diào)節(jié)單元33即可調(diào)整測(cè)試單元32的位置，可以配合不同大小或規(guī)格的待測(cè)裝置40。最后當(dāng)控制模塊22輸出控制信號(hào)時(shí)，控制動(dòng)力控制單元34的電磁閥341導(dǎo)通或截止，以利用通氣管343提供的壓縮空氣驅(qū)動(dòng)汽缸342，使得測(cè)試單元32在汽缸342的推動(dòng)下對(duì)待測(cè)裝置40的連接端口重復(fù)進(jìn)行插拔測(cè)試，直到達(dá)到設(shè)定次數(shù)為止?？刂破?0的控制模塊22還可將此測(cè)試歷程儲(chǔ)存于緩沖模塊21中。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10再自緩沖模塊21中讀 取測(cè)試歷程，以記錄于記錄模塊12中以供使用者分析。接下來(lái)請(qǐng)參考圖4，圖4是本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法的步驟流程圖。此處需注意的是，以下雖以具有計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10、控制器20及自動(dòng)測(cè)試裝置30的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)I為例說(shuō)明本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法，但本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法并不以使用在上述的裝置為限。首先進(jìn)行步驟400 :提供自動(dòng)測(cè)試裝置以設(shè)置待測(cè)裝置。首先自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)I提供自動(dòng)測(cè)試裝置30以設(shè)置待測(cè)裝置40，并調(diào)整測(cè)試單元32的位置及高度以配合待測(cè)裝置40的連接端口的規(guī)格。由于調(diào)整測(cè)試單元32的方式已經(jīng)被詳細(xì)描述，故在此不再贅述其調(diào)整方式。其次進(jìn)行步驟401 :藉由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)生控制參數(shù)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10提供使用者界面11，以供使用者設(shè)定控制參數(shù)。此控制參數(shù)可包括選擇自動(dòng)測(cè)試裝置30中要進(jìn)行測(cè)試流程的測(cè)試單元32以及設(shè)定插拔次數(shù)等。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10將控制參數(shù)經(jīng)由串行數(shù)據(jù)通信接口 60傳輸至控制器20，并同時(shí)記錄于記錄模塊12中。接著進(jìn)行步驟402 :執(zhí)行信號(hào)比對(duì)流程。當(dāng)控制器20啟動(dòng)時(shí)，先執(zhí)行初始化流程以清空緩沖模塊21的數(shù)據(jù)。接著控制器20接收到自計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10傳來(lái)的控制參數(shù)時(shí)，直接儲(chǔ)存于緩沖模塊21內(nèi)，并利用半雙工通信等方式傳送一聯(lián)絡(luò)信號(hào)回計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10。待計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10確認(rèn)傳送的聯(lián)絡(luò)信號(hào)內(nèi)容與控制參數(shù)相同時(shí)，控制器20才進(jìn)行下一步驟。因此當(dāng)執(zhí)行完信號(hào)比對(duì)流程后，執(zhí)行步驟403 :根據(jù)控制參數(shù)以藉由控制器產(chǎn)生控制信號(hào)?？刂破?0的控制模塊22藉由緩沖模塊21所儲(chǔ)存的控制參數(shù)，針對(duì)不同的電磁閥341產(chǎn)生不同的控制信號(hào)，再傳輸至自動(dòng)測(cè)試裝置30的動(dòng)力控制單元34。接著進(jìn)行步驟404 :根據(jù)控制信號(hào)以藉由動(dòng)力控制單元驅(qū)動(dòng)測(cè)試單元，以自動(dòng)對(duì)連接端口進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)動(dòng)力控制單元34接收到控制信號(hào)后，控制電磁閥341的導(dǎo)通與截止，以藉由通氣管343提供的壓縮空氣使得汽缸342得以動(dòng)作，以推動(dòng)測(cè)試單元32對(duì)連接端口執(zhí)行插拔測(cè)試。最后執(zhí)彳了步驟405 :儲(chǔ)存測(cè)試歷程。自動(dòng)測(cè)試裝置30將已經(jīng)插拔的次數(shù)傳輸?shù)娇刂破?0的緩沖模塊21，儲(chǔ)存成一測(cè)試歷程。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10再自緩沖模塊21中讀取測(cè)試歷程，一并記錄于記錄模塊12內(nèi)。
最后在自動(dòng)測(cè)試流程結(jié)束后，使用者可利用外觀觀察或是實(shí)際測(cè)試連接端口的功能，再根據(jù)記錄模塊12的記錄以分析出連接端口的耐久度。此處需注意的是，本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試控制的方法并不以上述的步驟次序?yàn)橄?，只要能達(dá)到本發(fā)明的目的，上述的步驟次序亦可加以改變。由上述的說(shuō)明可知，本發(fā)明的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)I能夠完全自動(dòng)化地對(duì)待測(cè)裝置40進(jìn)行測(cè)試，并且自動(dòng)測(cè)試裝置30也較容易根據(jù)不同待測(cè)裝置40的規(guī)格來(lái)進(jìn)行調(diào)整，明顯優(yōu)于先前技術(shù)的測(cè)試裝置。
綜上所陳，本發(fā)明無(wú)論就目的、手段及功效，處處均顯示其迥異于公知技術(shù)的特征，懇請(qǐng)審查員明察，早日賜準(zhǔn)專利，使嘉惠社會(huì)，實(shí)感德便。惟應(yīng)注意的是，上述諸多實(shí)施例僅是為了便于說(shuō)明而舉例而已，本發(fā)明所要求保護(hù)的權(quán)利范圍自然應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求書(shū)的范圍所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。
權(quán)利要求
1.一種自動(dòng)測(cè)試裝置，該自動(dòng)測(cè)試裝置接收一控制信號(hào)以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該自動(dòng)測(cè)試裝置包括 一測(cè)試平臺(tái)，該測(cè)試平臺(tái)用以設(shè)置該待測(cè)裝置； 一測(cè)試單元，該測(cè)試單元包括 一主體； 一組裝單元，該組裝單元接觸于該主體，用以安裝一測(cè)試接頭，該測(cè)試接頭配合該連接端口的規(guī)格；以及 一高度調(diào)節(jié)單元，該高度調(diào)節(jié)單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調(diào)整該組裝單元的一高度；以及 一動(dòng)力控制單元，該動(dòng)力控制單元連接于該測(cè)試單元，該動(dòng)力控制單元在接收該控制信號(hào)后，驅(qū)動(dòng)該測(cè)試單元以藉由該測(cè)試接頭對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試。
2.如權(quán)利要求I所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其中該高度調(diào)節(jié)單元包括一旋轉(zhuǎn)件及一彈性件，該旋轉(zhuǎn)件藉由轉(zhuǎn)動(dòng)以控制該彈性件調(diào)整該組裝單元的該高度。
3.如權(quán)利要求2所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其中該組裝單元包括一第一組裝件及一第二組裝件，該第一組裝件及該第二組裝件用以?shī)A持該測(cè)試接頭，并藉由至少一鎖固件以互相固定。
4.如權(quán)利要求3所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其中該第一組裝件還包括一容置槽，該容置槽用以容納該彈性件。
5.如權(quán)利要求3所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其中該第二組裝件還包括至少一凹槽。
6.如權(quán)利要求I所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，還包括一位置調(diào)節(jié)單元，該位置調(diào)節(jié)單元與該動(dòng)力控制單元相連接以調(diào)整該測(cè)試單元的一位置，該位置調(diào)節(jié)單元包括 一第一軌道，該動(dòng)力控制單元設(shè)置于該第一軌道上，使得該測(cè)試單元得以沿著一第一方向滑動(dòng)； 一第一固定件，該第一固定件與該第一軌道互相配合，用以將該測(cè)試單元固定于一定占. 一第二軌道，該第二軌道與該第一軌道互相連接，使得該測(cè)試單元得以沿著一第二方向滑動(dòng)；以及 一第二固定件，該第二固定件與該第二軌道互相配合，用以將該測(cè)試單元固定于該定點(diǎn)。
7.如權(quán)利要求I所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其中該動(dòng)力控制單元包括 一電磁閥；以及 一汽缸，該汽缸連接于該電磁閥及該測(cè)試單元，該控制信號(hào)控制該電磁閥的導(dǎo)通或截止，以進(jìn)一步驅(qū)動(dòng)該汽缸，使得該測(cè)試單元得以動(dòng)作。
8.如權(quán)利要求I所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，還包括一定位裝置，該定位裝置設(shè)置于該測(cè)試平臺(tái)的一定位槽孔，以固定該待測(cè)裝置。
9.如權(quán)利要求I所述的自動(dòng)測(cè)試裝置，其中 該高度調(diào)節(jié)單元包括一旋轉(zhuǎn)件及一彈性件，該旋轉(zhuǎn)件藉由轉(zhuǎn)動(dòng)以控制該彈性件調(diào)整該組裝單元的該高度； 該組裝單元包括一第一組裝件及一第二組裝件，該第一組裝件及該第二組裝件用以?shī)A持該測(cè)試接頭，并藉由至少一鎖固件以互相固定；以及 該自動(dòng)測(cè)試裝置還包括 一位置調(diào)節(jié)單元，該位置調(diào)節(jié)單元與該動(dòng)力控制單元相連接以調(diào)整該測(cè)試單元的一位置；以及 一定位裝置，該定位裝置設(shè)置于該測(cè)試平臺(tái)的一定位槽孔，以固定該待測(cè)裝置。
10.一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)用以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包括 一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)生一控制參數(shù)； 一控制器，該控制器與該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)電性連接以接收該控制參數(shù)，該控制器包括 一緩沖模塊，該緩沖模塊儲(chǔ)存該控制參數(shù)；以及 一控制模塊，該控制模塊與該緩沖模塊電性連接，以根據(jù)該控制參數(shù)產(chǎn)生一控制信號(hào)；以及 一自動(dòng)測(cè)試裝置，該自動(dòng)測(cè)試裝置與該控制器電性連接，用以接收該控制信號(hào)，該自動(dòng)測(cè)試裝置包括 一測(cè)試平臺(tái)，該測(cè)試平臺(tái)用以設(shè)置該待測(cè)裝置； 一測(cè)試單元，該測(cè)試單元包括 一主體； 一組裝單元，該組裝單元連接于該主體，用以安裝一測(cè)試接頭，該測(cè)試接頭配合該連接端口的規(guī)格；以及 一高度調(diào)節(jié)單元，該高度調(diào)節(jié)單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調(diào)整該組裝單元的一高度；以及 一動(dòng)力控制單元，該動(dòng)力控制單元連接于該測(cè)試單元，該動(dòng)力控制單元在接收該控制信號(hào)后，驅(qū)動(dòng)該測(cè)試單元以藉由該測(cè)試接頭對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試，并經(jīng)由該控制器以將一測(cè)試歷程儲(chǔ)存于該緩沖模塊內(nèi)，該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)再讀取該測(cè)試歷程。
11.如權(quán)利要求10所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中該高度調(diào)節(jié)單元包括一旋轉(zhuǎn)件及一彈性件，該旋轉(zhuǎn)件藉由轉(zhuǎn)動(dòng)以控制該彈性件調(diào)整該組裝單元的該高度。
12.如權(quán)利要求10所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中該自動(dòng)測(cè)試裝置還包括一位置調(diào)節(jié)單元，該位置調(diào)節(jié)單元與該動(dòng)力控制單元相連接以調(diào)整該測(cè)試單元的一位置，該位置調(diào)節(jié)單元包括 一第一軌道，該動(dòng)力控制單元設(shè)置于該第一軌道上，使得該測(cè)試單元得以沿著一第一方向滑動(dòng)； 一第一固定件，該第一固定件與該第一軌道互相配合，用以將該測(cè)試單元固定于一定占. 一第二軌道，該第二軌道與該第一軌道互相連接，使得該測(cè)試單元得以沿著一第二方向滑動(dòng)；以及 一第二固定件，該第二固定件與該第二軌道互相配合，用以將該測(cè)試單元固定于該定點(diǎn)。
13.如權(quán)利要求10所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中該控制器還包括一切換電路，該切換電路與該控制模塊電性連接；該動(dòng)力控制單元包括一電磁閥，該電磁閥與該切換電路電性連接；以及 一汽缸，該汽缸連接于該電磁閥及該測(cè)試單元，該控制信號(hào)控制該電磁閥的導(dǎo)通或截止，以進(jìn)一步驅(qū)動(dòng)該汽缸，使得該測(cè)試單元得以動(dòng)作。
14.如權(quán)利要求10所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)還包括 一使用者界面，該使用者界面用以供一使用者設(shè)定該控制參數(shù)；以及 一記錄模塊，該記錄模塊用以記錄該控制參數(shù)及該測(cè)試歷程。
15.如權(quán)利要求10所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其中該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)藉由一串行數(shù)據(jù)通信接口以電性連接該控制器。
16.一種自動(dòng)測(cè)試控制的方法，該自動(dòng)測(cè)試控制的方法用于一自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)具有一自動(dòng)測(cè)試裝置，用以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該方法包括以下步驟 藉由一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)產(chǎn)生一控制參數(shù)； 根據(jù)該控制參數(shù)以藉由一控制器產(chǎn)生一控制信號(hào)； 根據(jù)該控制信號(hào)以藉由一動(dòng)力控制單元驅(qū)動(dòng)一測(cè)試單元，以自動(dòng)對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試；以及 儲(chǔ)存一測(cè)試歷程。
17.如權(quán)利要求16所述的自動(dòng)測(cè)試控制的方法，其中產(chǎn)生該控制信號(hào)的步驟還包括 提供一使用者界面以設(shè)定該控制參數(shù)。
18.如權(quán)利要求16所述的自動(dòng)測(cè)試控制的方法，還包括以下步驟 在該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)及該控制器之間執(zhí)行一信號(hào)比對(duì)流程。
19.如權(quán)利要求18所述的自動(dòng)測(cè)試控制的方法，其中執(zhí)行該信號(hào)比對(duì)流程的步驟包括 自該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接收該控制參數(shù)后，藉由該控制器傳送一聯(lián)絡(luò)信號(hào)回該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)；以及 藉由該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)確認(rèn)該聯(lián)絡(luò)信號(hào)的內(nèi)容與該控制參數(shù)是否相同。
20.如權(quán)利要求16所述的自動(dòng)測(cè)試控制的方法，其中該動(dòng)力控制單元包括一電磁閥及一汽缸，藉由該動(dòng)力控制單元驅(qū)動(dòng)該測(cè)試單元的步驟還包括 根據(jù)該控制信號(hào)控制該電磁閥的導(dǎo)通或截止；以及 驅(qū)動(dòng)該汽缸，使得該測(cè)試單元得以動(dòng)作。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種自動(dòng)測(cè)試裝置、自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及其自動(dòng)測(cè)試控制的方法。該自動(dòng)測(cè)試裝置接收一控制信號(hào)以測(cè)試一待測(cè)裝置的一連接端口的耐久度，該自動(dòng)測(cè)試裝置包括一測(cè)試平臺(tái)、一測(cè)試單元以及一動(dòng)力控制單元；該測(cè)試平臺(tái)用以設(shè)置該待測(cè)裝置；該測(cè)試單元包括一主體、一組裝單元以及一高度調(diào)節(jié)單元；該組裝單元接觸于該主體，用以安裝一測(cè)試接頭，該測(cè)試接頭配合該連接端口的規(guī)格；該高度調(diào)節(jié)單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調(diào)整該組裝單元的一高度；該動(dòng)力控制單元連接于該測(cè)試單元，該動(dòng)力控制單元在接收該控制信號(hào)后，驅(qū)動(dòng)該測(cè)試單元以藉由該測(cè)試接頭對(duì)該連接端口進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明可完全自動(dòng)化地測(cè)試待測(cè)裝置，且易于調(diào)整。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102914704SQ201110220728
公開(kāi)日2013年2月6日 申請(qǐng)日期2011年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月3日
發(fā)明者吳仕平, 王昌浩 申請(qǐng)人:緯創(chuàng)資通股份有限公司, 緯創(chuàng)資通(昆山)有限公司