專利名稱：光脈沖試驗裝置及光傳輸通道試驗方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種將光脈沖入射至試驗對象的由光纖構(gòu)成的光傳輸通道并接收其回光來進行光傳輸通道試驗的光脈沖試驗裝置，尤其涉及一種試驗對象的光傳輸通道的光纖種類無論是單模光纖(SMF)還是多模光纖(MMF)都不用變更包括光學(xué)系統(tǒng)在內(nèi)的硬件設(shè)備就能夠進行試驗的技術(shù)。
背景技術(shù)：
形成光傳輸通道的光纖有傳輸損失小且適合于長距離傳輸?shù)腟MF及傳輸損失比較大但價格低廉且適合于短距離傳輸?shù)腗MF。光纖具有用折射率較小的包層部包圍芯部周圍的同軸結(jié)構(gòu)，在與包層部的邊界部分反射(或折射)入射至芯部的光并使之向其長度方向傳播，SMF具有細(一般為9.2 μ m) 芯，以便通過芯部時的傳播模式(通道)成為1個，MMF具有粗(一般為50 μ m、62. 5 μ m) 芯，以便傳播模式成為多個。另一方面，如圖5所示，用于進行基于光纖的傳輸通道試驗的光脈沖試驗裝置通過光耦合器12將從光源11出射的光脈沖Pin供給至連接器13并入射至連接于連接器13 的試驗對象的光傳輸通道1，并且通過連接器13及光耦合器12將來自其光傳輸通道1的回光(反向散射光或菲涅爾反射光) 入射至光接收器14，從光脈沖Pin的入射時刻開始連續(xù)取得一定時間由光接收器14接收的回光ft·的強度數(shù)據(jù)，從其取得數(shù)據(jù)調(diào)查有無發(fā)生光傳輸通道1的障礙等。但是，如上述，形成光傳輸通道1的光纖在遠距離傳播用時使用SMF，在短距離傳播用時使用MMF，但是在以往的光脈沖試驗裝置中，由于其芯徑不同而無法用單一的試驗裝置進行由SMF構(gòu)成的光傳輸通道和由MMF構(gòu)成的光傳輸通道的試驗。例如，當(dāng)為SMF測定用的光脈沖試驗裝置時，連接器13的光纖芯的連接部設(shè)計成適合于SMF的芯徑，在其連接器13上連接芯徑格外粗的MMF時，在光脈沖入射時變成從小芯徑向大芯徑的入射而不發(fā)生較大損失，但來自MMF的回光中，由于變成從大芯徑向小芯徑的入射，因此發(fā)生不可忽視的損失。相反地，當(dāng)為MMF測定用的光脈沖試驗裝置時，連接器13的光纖芯的連接部設(shè)計成適合于MMF的芯徑，所以在其連接器13上連接芯徑格外細的SMF時，在將光脈沖入射至 SMF時發(fā)生不可忽視的損失。作為解決此類問題的技術(shù)，已知有如下技術(shù)在MMF測定用的光脈沖試驗裝置中， 通過低次模式勵磁出射光來減少光從MMF向SMF入射時的損失，進一步通過改變出射光的偏振來防止因光路轉(zhuǎn)換元件(相當(dāng)于上述光耦合器1 的偏振依賴性引起的光接收強度的起伏(例如專利文獻1)。專利文獻1 日本專利公開昭63-142230號公報然而，上述技術(shù)基本上是對MMF用的光脈沖試驗裝置附加SMF的試驗功能的技術(shù)， 在因故障引起的損失較大的長距離傳輸用的SMF故障試驗的精確度這一點上并不充分。
并且，其為對試驗裝置內(nèi)的光纖連續(xù)賦予機械性力的結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)復(fù)雜并且在耐久性上存在問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述情況而完成的，其目的在于提供一種作為用于長距離傳輸?shù)?SMF用裝置的同時，能夠以簡單的結(jié)構(gòu)進行采用MMF的光傳輸通道的試驗的光脈沖試驗裝置及光傳輸通道試驗方法。為了實現(xiàn)所述目的，本發(fā)明的權(quán)利要求1的光脈沖試驗裝置，其具有光源01)，出射光脈沖；連接器(23)，用于連接光纖的試驗對象的光傳輸通道；光接收器05)；光耦合器(22)，接收從所述光源出射的光脈沖并向所述連接器出射，通過所述連接器接收來自該光纖的回光，并入射至所述光接收器；操作部00)；顯示部(50)；及信號處理部(30)，接收所述光接收器的輸出，并連續(xù)取得入射至所述光接收器的回光的強度數(shù)據(jù)，根據(jù)該數(shù)據(jù)和通過所述操作部指定的試驗用參數(shù)，求出試驗對象的光纖相對于距離的傳輸特性并顯示于所述顯示部，其特征在于，從所述光源到所述光耦合器之間、從該光耦合器到所述連接器之間及從所述光耦合器到所述光接收器之間分別通過由單模光纖構(gòu)成的光路0 Fe)連接，所述信號處理部包括光纖種類指定構(gòu)件(31a)，根據(jù)試驗用參數(shù)，將試驗對象的光纖種類指定為單模光纖、多模光纖中的任一種；SMF參數(shù)指定構(gòu)件(31b)，當(dāng)通過所述光纖種類指定構(gòu)件指定單模光纖時，指定采用該單模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)，所述參數(shù)為包含該單模光纖的折射率的參數(shù)；及MMF參數(shù)指定構(gòu)件(31c)，當(dāng)通過所述光纖種類指定構(gòu)件指定多模光纖時，指定采用該多模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)，所述參數(shù)為包含該多模光纖的折射率的參數(shù)，當(dāng)指定所述單模光纖時，根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和通過所述SMF參數(shù)指定構(gòu)件指定的所述參數(shù)，求出所述光纖相對于距離的傳輸特性，當(dāng)指定所述多模光纖時，根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和通過所述MMF參數(shù)指定構(gòu)件指定的所述參數(shù)，求出所述光纖相對于距離的傳輸特性。另外，本發(fā)明的權(quán)利要求2的光脈沖試驗裝置為權(quán)利要求1所述的光脈沖試驗裝置，其中，所述信號處理部上設(shè)有所述信號處理部上設(shè)置有連接確認構(gòu)件(37)，求出試驗對象的光纖相對于所述連接器的連接損失，并判定該連接損失是否在預(yù)先設(shè)定的容許范圍內(nèi)；及容許范圍移動構(gòu)件(38)，根據(jù)通過所述光纖種類指定構(gòu)件指定的光纖的不同來移動所述連接確認構(gòu)件用來判定的容許范圍。另外，本發(fā)明的權(quán)利要求3的光傳輸通道試驗方法，其具有連接階段，連接光纖的試驗對象的光傳輸通道；指定階段，指定與該光纖對應(yīng)的試驗用參數(shù)；出射階段，將光脈沖出射至所述光纖；光接收階段，接收來自所述光纖的回光；取得階段，連續(xù)取得所述回光的強度數(shù)據(jù)；及顯示階段，根據(jù)該強度數(shù)據(jù)和所述試驗用參數(shù)，求出并顯示所述光纖相對于距離的傳輸特性，其特征在于，所述出射階段通過由單模光纖構(gòu)成的光路將所述光脈沖出射至所述光纖，所述光接收階段通過由單模光纖構(gòu)成的光路接收所述回光，所述指定階段包括根據(jù)試驗用參數(shù)，將所述光傳輸通道的光纖種類指定為單模光纖、多模光纖中的任一種的階段；當(dāng)所述光纖種類指定為單模光纖時，指定采用該單模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)的階段，所述參數(shù)為包含該單模光纖的折射率的參數(shù)；及當(dāng)所述光纖種類指定為多模光纖時，指定采用該多模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)的階段，所述參數(shù)為包含該多模光纖的折射率的參數(shù)；當(dāng)指定所述單模光纖時，所述顯示階段根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和所述單模光纖的試驗所需的所述參數(shù)，求出并顯示所述光纖相對于距離的傳輸特性，當(dāng)指定所述多模光纖時，所述顯示階段根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和所述多模光纖的試驗所需的所述參數(shù)，求出并顯示所述光纖相對于距離的傳輸特性。另外，本發(fā)明的權(quán)利要求4的光傳輸通道試驗方法為權(quán)利要求3所述的光傳輸通道試驗方法，其特征在于，所述顯示階段包括判定階段，求出所述光纖在連接部上的連接損失，并判定該連接損失是否在預(yù)先設(shè)定的容許范圍內(nèi)；及移動階段，根據(jù)所述被指定的光纖的不同，移動用于所述判定的容許范圍。如此，本發(fā)明的光脈沖試驗裝置及光傳輸通道試驗方法，由于在指定單模光纖作為構(gòu)成試驗對象的光傳輸通道的光纖時，用單一模式使光遍及從光源至光傳輸通道的整個光路而傳播，因此能夠正確地進行長距離的傳輸通道的障礙檢測，而且，即使在指定多模光纖作為構(gòu)成試驗對象的光傳輸通道的光纖時，也能夠?qū)涠嗄９饫w的折射率的試驗所需的參數(shù)設(shè)定為專用參數(shù)，因此不用切換任何硬件設(shè)備也能夠進行由多模光纖構(gòu)成的光傳輸通道的試驗。另外，即使調(diào)查光傳輸通道在連接部上的連接異常時，也根據(jù)所指定的光纖種類移動成為連接確認的判定基準的容許范圍，因此即使存在因芯徑的不同引起的損失，也能夠正確地判定光傳輸通道的連接異常。


圖1是本發(fā)明的實施方式的整體結(jié)構(gòu)圖。圖2(a)_(c)是用于說明實施方式的數(shù)據(jù)取得方法的圖。圖3是表示實施方式的測定結(jié)果的顯示波形的一例的圖。圖4是表示連接器部分的損失的圖。圖5是光脈沖試驗裝置的基本結(jié)構(gòu)圖。圖中1-試驗對象的光傳輸通道，20-光脈沖試驗裝置，21-光源，22-光耦合器， 23-連接器，25-光接收器，26-放大器，27-A/D轉(zhuǎn)換器，30-信號處理部，31-試驗條件設(shè)定構(gòu)件，31a-光纖種類指定構(gòu)件，3Ib-SMF參數(shù)指定構(gòu)件，31c-MMF參數(shù)指定構(gòu)件，32-數(shù)據(jù)取得構(gòu)件，33-波形合成構(gòu)件，34-時間或距離換算構(gòu)件，35-特性顯示構(gòu)件，36-故障檢測構(gòu)件，37-連接確認構(gòu)件，38-容許范圍移動構(gòu)件，40-操作部，50-顯示部，!^a Fc-SMF光路。
具體實施例方式以下，根據(jù)

本發(fā)明的實施方式。圖1是應(yīng)用本發(fā)明的光脈沖試驗裝置20的整體結(jié)構(gòu)圖。如圖1所示，光脈沖試驗裝置20從例如由半導(dǎo)體激光構(gòu)成的光源21以預(yù)定周期出射試驗用的預(yù)定波長(例如1550 μ m)、預(yù)定脈沖寬度的光脈沖Pin。另外，光源21出射光脈沖Pin的時刻、周期、脈沖寬度根據(jù)后述的信號處理部30設(shè)定。該光脈沖Pin通過由單模光纖(SMF)構(gòu)成的SMF光路1 入射至光耦合器22。光耦合器22接收從光源21出射的光脈沖Pin并通過SMF光路1 出射至連接器 23，將光脈沖Pin入射至連接于其連接器23的試驗對象的光傳輸通道1，通過連接器23及 SMF光路1 接收相對于其光脈沖Pin的來自光傳輸通道1的回光ft·(菲涅爾反射光及反向散射光)并向與入射光脈沖Pin的方向不同的方向出射，并且通過SMF光路Fc入射至光接收器25。光接收器25的輸出信號通過放大器沈擴大而輸入至A/D轉(zhuǎn)換器27，以預(yù)定的采樣周期進行采樣，轉(zhuǎn)換為數(shù)字的數(shù)據(jù)值D，并輸入至信號處理部30。信號處理部30從由光源21出射光脈沖Pin的時刻開始，連續(xù)取得一定時間入射至光接收器25的回光ft·的強度數(shù)據(jù)D并存儲于未圖示的存儲器中，根據(jù)其存儲的一連串?dāng)?shù)據(jù)D和通過操作部40預(yù)先指定的試驗用參數(shù)，求出試驗對象的光傳輸通道1相對于距離的傳輸特性，并將其特性顯示于顯示部50。其中，信號處理部30具有試驗條件設(shè)定構(gòu)件31、數(shù)據(jù)取得構(gòu)件32、波形合成構(gòu)件 33、時間或距離換算構(gòu)件34、特性顯示構(gòu)件35、故障檢測構(gòu)件36、連接確認構(gòu)件37及容許范圍移動構(gòu)件38。試驗條件設(shè)定構(gòu)件31是用于讓用戶通過操作部40的操作設(shè)定試驗所需的信息 (測定對象的光纖種類或試驗所需的參數(shù))的構(gòu)件，其具有光纖種類指定構(gòu)件31a、SMF參數(shù)指定構(gòu)件31b及MMF參數(shù)指定構(gòu)件31c。光纖種類指定構(gòu)件31a將試驗對象的光傳輸通道1的光纖種類指定為單模光纖 (SMF)、多模光纖(MMF)中的任一種。當(dāng)通過光纖種類指定構(gòu)件31a指定SMF時，SMF參數(shù)指定構(gòu)件31b指定包含其SMF 的折射率且采用SMF的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)。MMF參數(shù)指定構(gòu)件31c也相同，當(dāng)通過光纖種類指定構(gòu)件31a指定MMF時，指定包括其MMF的折射率且采用MMF的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)。作為這些參數(shù)，有光纖的折射率、每單位距離的光纖損失的標準值、用于辨別有無傳輸通道的障礙等的損失閾值(故障損耗)、用于辨別有無連接器23部分的連接異常的損失容許范圍及由于SMF和MMF的芯徑的不同而發(fā)生的損失量Δ L等。數(shù)據(jù)取得構(gòu)件32在從出射光脈沖Pin的時刻開始經(jīng)過一定時間為止期間，將用A/ D轉(zhuǎn)換器27采樣的數(shù)據(jù)D存儲于未圖示的存儲器中，但該數(shù)據(jù)取得可階段性改變放大器沈的增益的同時多次輸出光脈沖來進行。S卩，與來自測定對象的光傳輸通道1的近端的較強的回光與來自遠端的較弱的回光的強度之比較大(例如10000倍以上)的情況相比，例如10比特的A/D轉(zhuǎn)換器27的輸出動態(tài)范圍為1000倍左右，無法用單一范圍對應(yīng)。因此，例如當(dāng)正確獲得來自附近區(qū)域的較強的回光數(shù)據(jù)時，以降低A/D轉(zhuǎn)換器27 的輸入側(cè)的增益的狀態(tài)(例如3dB)，從入射光脈沖時開始經(jīng)過一定時間為止，連續(xù)取得A/D 轉(zhuǎn)換器27的輸出。圖2 (a)表示該附近區(qū)域的數(shù)據(jù)Da在A/D轉(zhuǎn)換器27的輸入范圍內(nèi)、且未埋沒于噪音的狀態(tài)。另外，在正確獲得中間區(qū)域的回光的數(shù)據(jù)時，以稍微提高A/D轉(zhuǎn)換器27的輸入側(cè)的增益的狀態(tài)(例如13dB)，從入射光脈沖時開始經(jīng)過一定時間為止，取得A/D轉(zhuǎn)換器27的輸出。圖2(b)表示其中間區(qū)域的數(shù)據(jù)Db在A/D轉(zhuǎn)換器27的輸入范圍內(nèi)、且未埋沒于噪音的狀態(tài)。另外，在正確獲得來自遠端區(qū)域的較弱的回光數(shù)據(jù)時，以進一步提高A/D轉(zhuǎn)換器 27的輸入側(cè)的增益的狀態(tài)(例如23dB)，從入射光脈沖時開始經(jīng)過一定時間為止，取得A/D 轉(zhuǎn)換器27的輸出。圖2 (c)表示其遠端區(qū)域的數(shù)據(jù)Dc在A/D轉(zhuǎn)換器27的輸入范圍內(nèi)、且未埋沒于噪音的狀態(tài)。此外，在該例子中為了容易理解而設(shè)為3個階段，但也可以使增益以更多階段改變。并且，實際上為了實現(xiàn)數(shù)據(jù)平均化，每個增益都進行多次數(shù)據(jù)取得。如此獲得每個增益的各波形數(shù)據(jù)之后，波形合成構(gòu)件33從這些波形數(shù)據(jù)中抽出除去飽和或被噪音埋沒而變得不正確的數(shù)據(jù)的正確數(shù)據(jù)，校正各個增益量(還進行電平軸的記錄轉(zhuǎn)換)并組合于時間軸上，從而合成從近端到遠端為止的波形。該合成波形是在時間軸上定義的波形，作為傳輸特性，為了特定障礙發(fā)生位置而需從時間軸轉(zhuǎn)換至距離軸。即，若將光速設(shè)為c (m/秒)、將從出射光脈沖時開始的時間設(shè)為t (秒)、將光傳輸通道1(光纖)的折射率設(shè)為I0R，則用cXtA2XI0R)表示特性顯示所需的距離。時間或距離換算構(gòu)件34通過對該換算式附加通過前述的SMF參數(shù)指定構(gòu)件31b 或MMF參數(shù)指定構(gòu)件31c指定的折射率，對采用任一光纖的光傳輸通道都求出其特性波形的正確的距離軸。特性顯示構(gòu)件35根據(jù)上述合成波形和所換算的距離信息，將試驗對象的光傳輸通道1的特性例如如圖3那樣顯示于顯示部50的畫面上。另外，故障檢測構(gòu)件36從如上述般獲得的特性波形的數(shù)據(jù)中檢測出發(fā)生超過預(yù)先指定的故障損耗的損失的位置(前后數(shù)據(jù)的差值超過閾值的位置)，將這些位置例如識
8別顯示在特性波形上，并將其損失與故障位置做對應(yīng)關(guān)聯(lián)來一覽顯示(另外，除損失以外， 還有將因菲涅爾反射引起回光強度增加的位置也作為故障來檢測的情況)。另外，連接確認構(gòu)件37調(diào)查試驗對象的光傳輸通道1是否正確地連接于連接器 23，如圖4，調(diào)查特性波形的輸入端中的損失Lin并判定其損失Lin是否在預(yù)先指定的容許范圍內(nèi)，當(dāng)不在容許范圍內(nèi)時，例如將警報信息顯示于顯示部50來通知用戶。其中，連接確認構(gòu)件37用來判定的容許范圍包含于在所述的試驗條件設(shè)定構(gòu)件 31中被指定的參數(shù)中，由于由SMF形成從光源21至連接器23的光路，因此作為試驗對象指定由SMF構(gòu)成的傳輸通道時，在連接部分發(fā)生的損失就會小，而且上述容許范圍也能夠以比較少的值為中心來設(shè)定。相反地，作為試驗對象指定由MMF構(gòu)成的傳輸通道時，會因芯徑的不同而在連接部分發(fā)生無法忽視的損失。容許范圍移動構(gòu)件38使在指定MMF時連接確認構(gòu)件37所采用的容許范圍向較低的一方移動與由SMF和MMF的芯徑的不同而發(fā)生的損失值A(chǔ)L對應(yīng)的量，以便能夠?qū)?yīng)因該光纖的不同而引起的損失。另外，關(guān)于該損失值A(chǔ)L，因SMF和MMF的芯徑的不同而發(fā)生的平均損失值被初始設(shè)定，可以由用戶變更設(shè)定。由于如此構(gòu)成，因此當(dāng)試驗對象的光傳輸通道1由SMF構(gòu)成時，實施方式的光脈沖試驗裝置20能夠通過傳播基于單一模式的光來正確地進行長距離傳輸通道的障礙檢測， 而且，即使是試驗對象的光傳輸通道1由MMF構(gòu)成的情況，由于能夠?qū)銶MF的折射率的試驗用參數(shù)設(shè)定為專用參數(shù)，因此不用變更包括光學(xué)系統(tǒng)在內(nèi)的任何硬件設(shè)備也能夠進行由其MMF構(gòu)成的光傳輸通道的試驗。另外，通過連接確認構(gòu)件37調(diào)查對連接器23的連接異常時，也根據(jù)被指定的光纖的種類移動成為連接確認的判定基準的容許范圍，因此即使有因芯徑的不同引起的損失， 也能夠正確地判定對連接器的連接異常。另外，如從上述說明可知，通過上述光脈沖試驗裝置20進行的光傳輸通道試驗方法具有將試驗對象的光傳輸通道1連接于連接器23的階段；通過試驗條件設(shè)定構(gòu)件31指定與其光傳輸通道1對應(yīng)的試驗用參數(shù)的階段；將光脈沖Pin出射至光傳輸通道1的階段； 接收來自光傳輸通道1的回光ft"的階段；從出射光脈沖Pin的時刻開始連續(xù)取得回光ft· 的強度數(shù)據(jù)D的階段；及根據(jù)所取得的強度數(shù)據(jù)和試驗用參數(shù)，求出并顯示光傳輸通道1相對于距離的傳輸特性的階段，通過由單模光纖構(gòu)成的光路(Fa、Fb)將光脈沖Pin出射至光傳輸通道1，并通過由單模光纖構(gòu)成的光路On^Fc)接收回光ft·，基本上適合于由單模光纖構(gòu)成的光傳輸通道的試驗。但是，作為指定參數(shù)的階段，當(dāng)通過光纖種類指定構(gòu)件31a將光傳輸通道1的光纖種類指定為單模光纖、多模光纖中的任一種，并且當(dāng)光纖種類指定為單模光纖時，通過SMF 參數(shù)指定構(gòu)件31b指定包含其單模光纖的折射率且采用其單模光纖的光傳輸通道1的試驗所需的參數(shù)，并且當(dāng)光纖種類指定為多模光纖時，通過MMF參數(shù)指定構(gòu)件31c指定包含其多模光纖的折射率且采用其多模光纖的光傳輸通道1的試驗所需的參數(shù)。而且，在求出并顯示光傳輸通道的特性的階段中，當(dāng)指定單模光纖時，根據(jù)回光的強度數(shù)據(jù)和包括指定的折射率、采用單模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)，求出并顯示光傳輸通道1相對于距離的傳輸特性，當(dāng)指定多模光纖時，根據(jù)回光的強度數(shù)據(jù)和包含指定的折射率、采用多模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)，求出并顯示光傳輸通道1相對于距離的傳輸特性。因此，如前述，當(dāng)試驗對象的光傳輸通道1由SMF構(gòu)成時，能夠通過傳播基于單一模式的光來正確地進行長距離傳輸通道的障礙檢測，而且，即使是試驗對象的光傳輸通道1 由MMF構(gòu)成的情況，由于能夠?qū)銶MF的折射率的試驗用參數(shù)設(shè)定為專用參數(shù)，因此不用變更包括光學(xué)系統(tǒng)在內(nèi)的任何硬件設(shè)備也能夠進行由其MMF構(gòu)成的光傳輸通道的試驗。另外，在顯示傳輸特性時，在包括通過連接確認構(gòu)件37求出光傳輸通道1在連接部上的連接損失、且判定連接損失是否在預(yù)先設(shè)定的容許范圍內(nèi)的階段在內(nèi)的方法中，由于通過容許范圍移動構(gòu)件38根據(jù)被指定的光纖的不同移動用于其判定的容許范圍，因此即使有因芯徑的不同而引起的損失，也能夠正確地判定光傳輸通道在連接部上的連接異
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巾ο
權(quán)利要求
1.一種光脈沖試驗裝置，其具有 光源01)，出射光脈沖；連接器(23)，用于連接光纖的試驗對象的光傳輸通道； 光接收器05)；光耦合器(22)，接收從所述光源出射的光脈沖并向所述連接器出射，通過所述連接器接收來自光纖的回光，并入射至所述光接收器； 操作部(40)； 顯示部(50)；及信號處理部(30)，接收所述光接收器的輸出，并連續(xù)取得入射至所述光接收器的回光的強度數(shù)據(jù)，根據(jù)該數(shù)據(jù)和通過所述操作部指定的試驗用參數(shù)，求出試驗對象的光纖相對于距離的傳輸特性并顯示于所述顯示部，其特征在于，從所述光源到所述光耦合器之間、從該光耦合器到所述連接器之間及從所述光耦合器到所述光接收器之間分別通過由單模光纖構(gòu)成的光路0 Fe)連接， 所述信號處理部包括光纖種類指定構(gòu)件(31a)，根據(jù)試驗用參數(shù)，將試驗對象的光纖種類指定為單模光纖、 多模光纖中的任一種；SMF參數(shù)指定構(gòu)件(31b)，當(dāng)通過所述光纖種類指定構(gòu)件指定單模光纖時，指定采用該單模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)，所述參數(shù)為包含該單模光纖的折射率的參數(shù); 及MMF參數(shù)指定構(gòu)件(31c)，當(dāng)通過所述光纖種類指定構(gòu)件指定多模光纖時，指定采用該多模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)，所述參數(shù)為包含該多模光纖的折射率的參數(shù)，當(dāng)指定所述單模光纖時，根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和通過所述SMF參數(shù)指定構(gòu)件指定的所述參數(shù)，求出所述光纖相對于距離的傳輸特性，當(dāng)指定所述多模光纖時，根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和通過所述MMF參數(shù)指定構(gòu)件指定的所述參數(shù)，求出所述光纖相對于距離的傳輸特性。
2.如權(quán)利要求1所述的光脈沖試驗裝置，其特征在于， 所述信號處理部上設(shè)置有連接確認構(gòu)件(37)，求出試驗對象的光纖相對于所述連接器的連接損失，并判定該連接損失是否在預(yù)先設(shè)定的容許范圍內(nèi)；及容許范圍移動構(gòu)件(38)，根據(jù)通過所述光纖種類指定構(gòu)件指定的光纖的不同來移動所述連接確認構(gòu)件用來判定的容許范圍。
3.一種光傳輸通道試驗方法，其具有連接階段，連接光纖的試驗對象的光傳輸通道； 指定階段，指定與該光纖對應(yīng)的試驗用參數(shù)； 出射階段，將光脈沖出射至所述光纖； 光接收階段，接收來自所述光纖的回光； 取得階段，連續(xù)取得所述回光的強度數(shù)據(jù)；及顯示階段，根據(jù)該強度數(shù)據(jù)和所述試驗用參數(shù)，求出并顯示所述光纖相對于距離的傳輸特性，其特征在于，所述出射階段通過由單模光纖構(gòu)成的光路將所述光脈沖出射至所述光纖， 所述光接收階段通過由單模光纖構(gòu)成的光路接收所述回光， 所述指定階段包括根據(jù)試驗用參數(shù)，將所述光傳輸通道的光纖種類指定為單模光纖、多模光纖中的任一種的階段；當(dāng)所述光纖種類指定為單模光纖時，指定采用該單模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)的階段，所述參數(shù)為包含該單模光纖的折射率的參數(shù)；及當(dāng)所述光纖種類指定為多模光纖時，指定采用該多模光纖的光傳輸通道的試驗所需的參數(shù)的階段，所述參數(shù)為包含該多模光纖的折射率的參數(shù)；當(dāng)指定所述單模光纖時，所述顯示階段根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和所述單模光纖的試驗所需的所述參數(shù)，求出并顯示所述光纖相對于距離的傳輸特性，當(dāng)指定所述多模光纖時， 所述顯示階段根據(jù)所述回光的強度數(shù)據(jù)和所述多模光纖的試驗所需的所述參數(shù)，求出并顯示所述光纖相對于距離的傳輸特性。
4.如權(quán)利要求3所述的光傳輸通道試驗方法，其特征在于， 所述顯示階段包括判定階段，求出所述光纖在連接部上的連接損失，并判定該連接損失是否在預(yù)先設(shè)定的容許范圍內(nèi)；及移動階段，根據(jù)所述被指定的光纖的不同，移動所述用于判定的容許范圍。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光脈沖試驗裝置及光傳輸通道試驗方法，其裝置為用于長距離傳輸?shù)腟MF用裝置，并且能夠以簡單的結(jié)構(gòu)進行采用MMF的光傳輸通道的試驗。從光耦合器(22)到光源(21)、連接器(23)及光接收器(25)之間由SMF光路(Fa～Fc)連接，信號處理部(30)上設(shè)有將試驗對象的光傳輸通道(1)的光纖種類指定為SMF、MMF中的任一種的光纖種類指定構(gòu)件(31a)、當(dāng)指定SMF時指定包含其折射率的試驗用參數(shù)的SMF參數(shù)指定構(gòu)件(31b)及當(dāng)指定MMF時指定包含其折射率的試驗用參數(shù)的MMF參數(shù)指定構(gòu)件(31c)，根據(jù)包含被指定的光纖的折射率的參數(shù)和回光(Pr)的強度數(shù)據(jù)，求出由被指定的光纖構(gòu)成的光傳輸通道(1)相對于距離的傳輸特性并顯示于顯示部(50)。
文檔編號G01M11/00GK102374930SQ20111022828
公開日2012年3月14日 申請日期2011年8月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月13日
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