專利名稱：具有接點回路快速檢測的高壓測試方法及其設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種具有接點回路快速檢測的高壓測試方法及其設(shè)備，具體地說，涉及一種在進行高壓測試前，可以提供檢測所有接觸接點的接觸狀況的測試設(shè)備以及測試方法。
背景技術(shù)：
一般電氣零件或電氣零件的成品(如電熱器、吹風(fēng)機、光耦合器、電容器等)在出廠前，必須使用耐壓機進行高電壓量測，也就是進行零件的質(zhì)量檢驗，以確認是否符合安全規(guī)格的耐電壓條件。
然而，在實際進行高電壓測試時，如果待測元件與測試設(shè)備接觸不佳時，接觸接點間將會發(fā)生電弧光。因此，長期測試使用下來，將破壞測試設(shè)備的接觸點而影響測試設(shè)備的壽命。再者，又因為不良的接觸狀態(tài)，可能導(dǎo)致高電壓沒有確實傳送到待測元件，而發(fā)生將耐電壓不良制品錯誤判定為優(yōu)良制品。此外，對高壓產(chǎn)生設(shè)備而言，因為接觸不良所產(chǎn)生的弧光會對設(shè)備本身或其它附屬的測試設(shè)備都將造成干擾，進而影響設(shè)備的可靠度以及穩(wěn)定性，進而影響測試結(jié)果的可靠性。雖然，目前已有類似具備開路偵測技術(shù)的高壓測量設(shè)備問世。然而現(xiàn)有技術(shù)中，如果以直流方式進行高壓量測，多是利用待測元件瞬間充電電流特性，而對于低容量待測元件則無法確認高壓是否連接正常。另外，現(xiàn)有技術(shù)中，另一種以交流方式進行測試時，同樣也有低容量待測元件無法偵測的問題。舉例說明，請參閱圖1，圖I為常用的以阻抗測試方式的多點高壓掃描裝置。如圖I所示，常用設(shè)備是利用電壓表V和電流表I來進行接觸點連接測試，在測試進行中需要在對每一接觸點測量其電壓和/或電流后，再由控制單元(圖中未示出)判斷測量的值是否正常。如果經(jīng)過判斷后，不在正常值的范圍內(nèi)，則通報為接觸不良。因此，上述常用測試設(shè)備因為通過電壓表V或電流表I進行測量，其測量和判斷速度過慢，每一接點往往需要IOOms (微秒)的反應(yīng)時間，實際測量以10個線圈為例，其往往約需要I秒到I. 2秒才可以得知結(jié)果。因此，常用設(shè)備在多接點測試下來，所耗費的時間驚人，影響生產(chǎn)效率，白白地增加成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，以便能夠在進行高壓測試以前，以低能量的微電流對待測元件兩端進行開路檢查，并在確認正常以后再執(zhí)行高壓測試，以確保高壓測試的有效性，進而達到提高測試可靠度的要求。并且，本發(fā)明利用導(dǎo)通反應(yīng)元件，可以有效提高測試速度，并可以提供多點快速切換，大幅減少接點回路檢測所需耗費的時間，來提高生產(chǎn)效率。為了達到上述的目的，本發(fā)明提供了一種具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，所述具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備包括一高壓測試模組；一接點回路檢測模組，所述接點回路檢測模組包括一導(dǎo)通反應(yīng)元件；一切換模組，所述高壓測試模組和所述接點回路檢測模組電性連接到所述切換模組，所述切換模組用于電性耦接到一待測元件；以及一控制器，所述控制器電性連接所述高壓測試模組、所述接點回路檢測模組和所述切換模組，所述控制器控制所述高壓測試模組和所述接點回路檢測模組啟動或關(guān)閉，并控制所述切換模組切換，使所述高壓測試模組或所述接點回路檢測模組電性連接到所述待測元件；其中，進行接點回路快速檢測時，所述控制器控制所述切換模組切換，使所述接點回路檢測模組電性連接所述待測元件，并控制所述接點回路檢測模組啟動檢測，當(dāng)檢測結(jié)果呈導(dǎo)通時，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號到所述控制器。優(yōu)選地，所述接點回路檢測模組包括一直流電源，所述切換模組包括多個輸出端， 所述切換模組用于電性連接到所述待測元件，每一個所述輸出端電性連接到一正極接點開關(guān)和一負極接點開關(guān)的一端，所述正極接點開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的正電極，所述負極接點開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的負電極，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件電性連接到所述負極接點開關(guān)和所述直流電源的負電極之間。優(yōu)選地，所述正極接點開關(guān)和所述負極接點開關(guān)由至少一繼電器構(gòu)成。優(yōu)選地，所述接點回路檢測模組包括一限流電路，所述限流電路電性連接到所述直流電源和所述多個輸出端之間。優(yōu)選地，所述限流電路包括一電阻元件，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件包括一光耦合器。優(yōu)選地，所述切換模組包括一第一切換開關(guān)和一第二切換開關(guān)；所述第一切換開關(guān)電性連接到所述直流電源的正電極和所述多個正極接點開關(guān)之間；所述第二切換開關(guān)電性連接到所述多個負極接點開關(guān)和所述直流電源的負電極之間，所述第二切換開關(guān)并聯(lián)到所述導(dǎo)通反應(yīng)元件。優(yōu)選地，所述高壓測試模組包括一高壓變壓器，所述高壓變壓器的兩個輸出端分別電性連接所述多個正極接點開關(guān)和所述多個第二切換開關(guān)。本發(fā)明的另一目的在于提供一種具有接點回路快速檢測的高壓測試方法，所述具有接點回路快速檢測的高壓測試方法包括下列步驟(A)啟動接點回路快速檢測；(B)供給微電流到一待測元件的各個接點，并按照順序切換所述各個接點電性連接到一導(dǎo)通反應(yīng)元件；(C)當(dāng)所述接點導(dǎo)通時，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號到一控制器；(D)當(dāng)所述待測元件的所有接點已經(jīng)確認導(dǎo)通時，結(jié)束所述接點回路快速檢測；以及(E)啟動高壓測試。優(yōu)選地，步驟(B)是按照順序切換連接所述待測元件的各個接點進行供給微電流。優(yōu)選地，步驟(E)后包括下列步驟(F)按照順序切換連接所述待測元件的各個接點并供給高電壓；(G)結(jié)束高壓測試。本發(fā)明通過提供一種具有接點回路快速檢測的高壓測試方法及其設(shè)備，確保高壓測試的有效性，進而達到提高測試可靠度的要求，可以減少高壓測試時的弧光發(fā)生，并可以提供多點快速切換，大幅減少接點回路檢測所需要耗費的時間，來提高生產(chǎn)效率。本發(fā)明僅僅需要對現(xiàn)有高壓測試設(shè)備進行部分改裝即可，不需要重新購置全新整套設(shè)備，大幅降低設(shè)備成本。


圖I為常用的以阻抗測試方式的多點高壓掃描裝置；圖2為根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的一優(yōu)選的實施例的設(shè)備的系統(tǒng)架構(gòu)圖；圖3為根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的一優(yōu)選的實施例的設(shè)備的電路示意圖；圖4為根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的一優(yōu)選的實施例的方法的流程圖。附圖標記說明如下高壓測試模組2、高壓變壓器21、接點回路檢測模組3、導(dǎo)通反應(yīng)元件31、光耦合器311、光發(fā)射單元312、光偵測單元313、直流電源32、限流電路33、電阻元件331、切換模組
4、待測元件5、控制器6、繼電器7、輸出端CHI、CH2、CH3、CH4、導(dǎo)通訊號Ci、電流表I、第一切換開關(guān)SW1、第二切換開關(guān)SW2、切換開關(guān)SW3、正極接點開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+、負極接 點開關(guān)S1-、S2-、S3-、S4-、電壓表V、啟動接點回路快速檢測S I、按照順序切換連接該待測元件的各個接點進行供給微電流，并按照順序切換各個接點電性連接到一光耦合器S2、接點導(dǎo)通時，該光耦合器輸出一導(dǎo)通訊號到一控制器S3、所有接點是否導(dǎo)通S4、檢查并調(diào)整未導(dǎo)通的接點S5、啟動高壓測試S6、按照順序切換連接該待測元件的各個接點并供給高電壓S7。
具體實施例方式為使審查員能進一步了解本發(fā)明的結(jié)構(gòu)、特征及其它目的，現(xiàn)結(jié)合所附較佳實施例附以附圖詳細說明如下，本附圖所說明的實施例僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案，并非限定本發(fā)明。其中相同組件將以相同的附圖標記加以說明。請同時參閱圖2和圖3，圖2為根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的一優(yōu)選的實施例的設(shè)備的系統(tǒng)架構(gòu)圖，圖3為根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的一優(yōu)選的實施例的設(shè)備的電路示意圖。其中，圖2中主要顯示有高壓測試模組2、接點回路檢測模組3、切換模組4、待測元件5和控制器6。在本實施例中，高壓測試模組2包括高壓變壓器21，高壓變壓器21用于提供高壓測試所需要的高電壓，并可以是交流電壓或經(jīng)過整流濾波的直流電壓。另外，待測元件5是執(zhí)行測試時的被測試裝置，可以是待測變壓器或其它形式的待測零件或裝置。另外，接點回路檢測模組3包括導(dǎo)通反應(yīng)元件31、直流電源32和限流電路33。本實施例所采用的導(dǎo)通反應(yīng)元件31為光耦合器311，當(dāng)然本發(fā)明不以光耦合器311為限制，導(dǎo)通反應(yīng)元件31也可以是磁耦合器、繼電器、或其他等效元件。另外，直流電源32主要在進行接點回路快速檢測時，供給微電流。當(dāng)然本發(fā)明不以直流電源32為限制，可以是任意形式的電源如交流電源。本實施例所采用的限流電路33為電阻元件331，限流電路33主要用于限制或調(diào)整直流電源32供給的測試電流。然而，本實施例的光耦合器311主要由光發(fā)射單元312和光偵測單元313組成，并且整合到同一個封裝內(nèi)，它們之間除了光束之外不會有任何電氣或?qū)嶓w連接。其中，光發(fā)射單元312為發(fā)光二極體(LED)，光偵測單元313為光電二極體或光電晶體。然而，光耦合器311主要原理是以光作為媒體來進行電信號的傳輸，其平時可以維持電信號輸入與輸出間有良好的隔離作用，運作時則可以使電信號通過隔離層進行電信號的傳輸。因此，本實施例所采用的光耦合器311主要具備以下眾多優(yōu)點完全電性隔離，在信號轉(zhuǎn)換的過程中，可以避免雜訊干擾；并由于光耦合器311的輸入端屬于電流型工作的低阻元件，因此具有很強的共模抑制能力，所以在長線傳輸資訊中作為終端隔離元件可以大大提高信噪比；此外，反應(yīng)速率快，響應(yīng)速度快，光耦合器311的時間常數(shù)通常在微秒甚至毫微秒；并且，無觸點不會產(chǎn)生火花、壽命長、體積小、并且耐沖擊；另外，不受暫態(tài)的影響，不會產(chǎn)生磁場和交換尖波；再者，由于“光”傳輸?shù)膯蜗蛐?，所以信號從光發(fā)射單兀312單向傳輸?shù)焦鈧蓽y單元313時，不會出現(xiàn)反饋現(xiàn)象，其輸出信號也不會影響輸入端。此外，圖中另外顯示有一切換模組4，并且高壓測試模組2和接點回路檢測模組3電性連接到切換模組4，切換模組4電性耦接到待測元件5。本實施例的切換模組4包括有多個輸出端CHI、CH2、CH3和CH4，都電性連接到待測元件5，每一輸出端CHI、CH2、CH3和CH4都電性連接有正極接點開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+和負極接點開關(guān)SI-、S2-、S3-、S4-的一端。在本實施例中，所述多個正極接點開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+和所述多個負極接點開關(guān)SI-、S2-、S3-、S4-由繼電器7構(gòu)成，因此具有穩(wěn)定特性和提供快速切換各個接點導(dǎo)通的功效。另外，所述多個正極接點開關(guān)S I+、S2+、S3+、S4+的另一端電性耦接到直流電源32的正電極，其中穿插限流電路33和第一切換開關(guān)SW1。所述多個負極接點開關(guān)SI-、S2-、 S3-、S4-的另一端電性耦接到直流電源32的負電極，并且光耦合器311的光發(fā)射單元312電性連接到所述多個負極接點開關(guān)SI-、S2-、S3-、S4-和直流電源32的負電極之間。再者，切換模組4也包括第一切換開關(guān)SWl和第二切換開關(guān)SW2，切換模組4主要用于切換測試種類，也就是切換接點回路快速檢測或高壓測試。其中，第一切換開關(guān)SWl電性連接到直流電源32的正電極和所述多個正極接點開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+之間；第二切換開關(guān)SW2電性連接到所述多個負極接點開關(guān)S1-、S2-、S3-、S4-和直流電源32的負電極之間，并且第二切換開關(guān)SW2并聯(lián)到光耦合器311。此外，高壓變壓器21的兩個輸出端分別電性連接所述多個正極接點開關(guān)SI+、S2+、S3+、S4+和第二切換開關(guān)SW2。因此，在進行接點回路快速檢測時，第一切換開關(guān)SWl呈短路狀態(tài)，而第二切換開關(guān)SW2呈開路狀態(tài)。反之，在進行高壓測試時，第一切換開關(guān)SWl呈開路狀態(tài)，而第二切換開關(guān)SW2呈短路狀態(tài)?？刂破?電性連接高壓測試模組2、接點回路檢測模組3和切換模組4?？刂破?主要控制高壓測試模組2和接點回路檢測模組3啟動或關(guān)閉，并控制切換模組4切換，使高壓測試模組2或接點回路檢測模組3電性連接到待測元件5。其中，當(dāng)進行接點回路快速檢測時，控制器6控制切換模組4切換，使接點回路檢測模組3電性連接待測元件5，并控制接點回路檢測模組3啟動檢測。當(dāng)檢測結(jié)果呈導(dǎo)通時，光耦合器311的光偵測單元313輸出導(dǎo)通訊號Ci到控制器6。在本實施例中，光耦合器311提供了快速的接點回路的接觸檢查判斷結(jié)果，因此當(dāng)執(zhí)行切換動作的SI S4完成切換的同時，接點回路的接觸檢查結(jié)果也已經(jīng)完整呈現(xiàn)。因此，在確認所有接點都導(dǎo)通時，便結(jié)束接點回路快速檢測，隨后進行高壓測試，可以大幅提高接點檢測速率。然而，進行高壓測試時，控制器6控制切換模組4切換，使高壓測試模組2電性連接到待測元件5，并控制高壓測試模組2啟動，以進行測試。請參閱圖4，圖4為根據(jù)本發(fā)明實現(xiàn)的一優(yōu)選的實施例的方法的流程圖。本發(fā)明提供的一種具有接點回路快速檢測的高壓測試方法，包括下列步驟首先，啟動一接點回路快速檢測，如圖中所示的步驟SI。接著，供給微電流到待測元件5的各個接點，即按照順序切換連接待測元件5的各個接點進行供給微電流，并按照順序切換各個接點電性連接到導(dǎo)通反應(yīng)元件31，本實施例采用的是光耦合器311，如圖中所示的步驟S2。其中，當(dāng)一接點導(dǎo)通時，光耦合器311便輸出導(dǎo)通訊號Ci到控制器6，如圖中所示的步驟S3。隨后，依序檢測所有接點，并確認所有接點是否都已經(jīng)導(dǎo)通，如圖中所示的步驟S4。假如，控制器6通報有接點接觸不良并沒有導(dǎo)通時，操作者便進行檢查并調(diào)整所述未導(dǎo)通的接點，如圖中所示的步驟S5。接著，在檢查并調(diào)整接點后，又按照順序重復(fù)步驟S2、S3和S4，當(dāng)待測元件5的所有接點都已經(jīng)確認導(dǎo)通時，便結(jié)束接點回路快速檢測并啟動高壓測試，如圖中所示的步驟S6。其中，在進行高壓測試時，按照順序切換連接待測元件5的各個接點并供給高電壓。最后，結(jié)束高壓測試。簡單地說，本發(fā)明的方法是利用測試前，先針對所有需要測試的接點以高速掃描方式做接觸確認，在確認連接正常后再進行高壓測試。其中，當(dāng)以接點回路快速檢測時，如果發(fā)現(xiàn)待測元件5的接點有連接不正常的情況時，則通知控制器6連接失敗。此時，操作員可介入檢查或調(diào)整，并做第二次接點回路快速檢測。當(dāng)確認無法正常連接時，則進行下一個待測元件5的測試。 因此，本實施例利用光耦合器311導(dǎo)通原理進行接觸確認，并以繼電器7切換不同腳位，當(dāng)確認所有需要測試的腳位接觸有效后，再執(zhí)行高壓測試，以提高交/直流電壓測試設(shè)備的使用可靠度。因此，本發(fā)明具備以下優(yōu)點I、提供高壓測試前的開路偵測；2、利用繼電器7，可以快速多接點切換；3、超高速接點回路快速掃瞄檢測，其中光耦合器311平均反應(yīng)時間僅僅需要50 y s (毫秒)，完成10個線圈回路只需要0. 2秒，相同測試條件的傳統(tǒng)電阻法測試則約需要I I. 2秒；4、可以減少高壓測試時的弧光發(fā)生，以提高測試接點的使用壽命，并提高測試設(shè)備本身和其他設(shè)備的可靠度；5、以簡易的接觸測試電路，來確保執(zhí)行高壓測試的有效性,成本相對低廉、穩(wěn)定并且檢修容易；6、可以有效減少誤判所造成的測試失誤；7、可以適用于低容量的待測元件，如電感類產(chǎn)品；8、對現(xiàn)有高壓測試設(shè)備進行部分改裝即可，無需重新購置全新整套設(shè)備，大幅降低設(shè)備成本。需要聲明的是，上述發(fā)明內(nèi)容及具體實施例意在證明本發(fā)明所提供的技術(shù)方案的實際應(yīng)用，不應(yīng)解釋為對本發(fā)明保護范圍的限定。本領(lǐng)域技術(shù)人員在本發(fā)明的精神和原理內(nèi)，當(dāng)可作各種修改、等同替換或改進。本發(fā)明的保護范圍以所附權(quán)利要求書為準。
權(quán)利要求
1.一種具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備包括 一高壓測試模組； 一接點回路檢測模組，所述接點回路檢測模組包括一導(dǎo)通反應(yīng)元件； 一切換模組，所述高壓測試模組和所述接點回路檢測模組電性連接到所述切換模組，所述切換模組用于電性耦接到一待測元件；以及 一控制器，所述控制器電性連接所述高壓測試模組、所述接點回路檢測模組和所述切換模組，所述控制器控制所述高壓測試模組和所述接點回路檢測模組啟動或關(guān)閉，并控制所述切換模組切換，使所述高壓測試模組或所述接點回路檢測模組電性連接到所述待測元件； 其中，進行接點回路快速檢測時，所述控制器控制所述切換模組切換，使所述接點回路檢測模組電性連接所述待測元件，并控制所述接點回路檢測模組啟動檢測，當(dāng)檢測結(jié)果呈導(dǎo)通時，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號到所述控制器。
2.如權(quán)利要求I所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述接點回路檢測模組包括一直流電源，所述切換模組包括多個輸出端，所述切換模組用于電性連接到所述待測元件，所述每個輸出端電性連接到一正極接點開關(guān)和一負極接點開關(guān)的一端，所述正極接點開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的正電極，所述負極接點開關(guān)的另一端電性耦接到所述直流電源的負電極，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件電性連接到所述負極接點開關(guān)和所述直流電源的負電極之間。
3.如權(quán)利要求2所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述正極接點開關(guān)和所述負極接點開關(guān)由至少一繼電器構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求2所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述接點回路檢測模組包括一限流電路，所述限流電路電性連接到所述直流電源和所述多個輸出端之間。
5.如權(quán)利要求4所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述限流電路包括一電阻元件，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件包括一光耦合器。
6.如權(quán)利要求2所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述切換模組包括一第一切換開關(guān)和一第二切換開關(guān)；所述第一切換開關(guān)電性連接到所述直流電源的正電極和所述多個正極接點開關(guān)之間；所述第二切換開關(guān)電性連接到所述多個負極接點開關(guān)和所述直流電源的負電極之間，所述第二切換開關(guān)并聯(lián)到所述導(dǎo)通反應(yīng)元件。
7.如權(quán)利要求5所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試設(shè)備，其特征在于，所述高壓測試模組包括一高壓變壓器，所述高壓變壓器的兩個輸出端分別電性連接所述多個正極接點開關(guān)和所述多個第二切換開關(guān)。
8.一種具有接點回路快速檢測的高壓測試方法，其特征在于，所述高壓測試方法包括下列步驟 (A)啟動接點回路快速檢測； (B)供給微電流到一待測元件的各個接點，并按照順序切換所述各個接點電性連接到一導(dǎo)通反應(yīng)元件； (C)當(dāng)所述接點導(dǎo)通時，所述導(dǎo)通反應(yīng)元件輸出一導(dǎo)通訊號到一控制器；(D)當(dāng)所述待測元件的所有接點已經(jīng)確認導(dǎo)通時，結(jié)束所述接點回路快速檢測；以及 (E)啟動高壓測試。
9.如權(quán)利要求8所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試方法，其特征在于，步驟(B)是按照順序切換連接所述待測元件的各個接點進行供給微電流。
10.如權(quán)利要求8所述的具有接點回路快速檢測的高壓測試方法，其特征在于，步驟(E)后包括下列步驟 (F)按照順序切換連接所述待測元件的各個接點并供給高電壓； (G)結(jié)束高壓測試。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種具有接點回路快速檢測的高壓測試方法及其設(shè)備，所述高壓測試設(shè)備包括一高壓測試模組、一接點回路檢測模組、一切換模組以及一控制器。所述高壓測試方法主要在進行高壓測試以前，先以低能量電壓對待測元件兩端進行開路檢查，來確認所有接點正常連接后，再執(zhí)行高壓測試，以確保高壓測試的有效性，進而達到提高測試可靠度的要求。其中，本發(fā)明利用導(dǎo)通反應(yīng)元件如光耦合器，可以有效提高測試速度和穩(wěn)定度，并可以提供多點快速切換，大幅減少接點回路檢測所耗費的時間，提高生產(chǎn)效率。此外，本發(fā)明僅僅需要對現(xiàn)有高壓測試設(shè)備進行部分改裝即可，無需重新購置全新整套設(shè)備，大幅降低設(shè)備成本。
文檔編號G01R31/02GK102967789SQ201110256208
公開日2013年3月13日 申請日期2011年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月1日
發(fā)明者王耀南, 翁健昆, 董學(xué)祖, 吳南世 申請人:致茂電子股份有限公司