專(zhuān)利名稱(chēng)：一種對(duì)包含adc和dac的電路的快速檢測(cè)方法
—種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于穩(wěn)定平臺(tái)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)控制電路檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種電路快速檢 測(cè)技術(shù)。
背景技術(shù)：
穩(wěn)定平臺(tái)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)在軍事上獲得了廣泛的應(yīng)用，要獲得良好的穩(wěn)定跟蹤性 能，采集穩(wěn)定平臺(tái)上傳感器信息的ADC和控制穩(wěn)定平臺(tái)運(yùn)動(dòng)的DAC都需要較高精度。為了 提高精度和使控制電路具備通用性。需要對(duì)每塊電路板上ADC和DAC進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試，并 對(duì)電路的初始零位進(jìn)行測(cè)試并進(jìn)行補(bǔ)償。
人工對(duì)每塊電路進(jìn)行測(cè)試需要專(zhuān)用的儀器(高精度信號(hào)發(fā)生器和高精度數(shù)字示 波器)和一定的專(zhuān)業(yè)技能，并需要較長(zhǎng)時(shí)間。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是在于提供一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的不依賴(lài)外部?jī)x器，減少 人工操作的快速檢測(cè)方法。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法，其中，包含 如下步驟
步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號(hào)，將讀取的數(shù)據(jù)求平均作為ADC的 零位數(shù)據(jù)AO，用于校準(zhǔn)ADC讀數(shù)；
步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號(hào)取平 均減去上一步獲得的ADC零位數(shù)據(jù)A0，即得到DAC的零位數(shù)據(jù)D0，用于校準(zhǔn)DAC的輸出；
步驟3、DAC輸出變化信號(hào)，信號(hào)幅度為DAC的上下極限輸出值，每一次的變化幅度 為最低數(shù)據(jù)位，使用ADC進(jìn)行讀取，通過(guò)讀取的數(shù)據(jù)與輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，此時(shí)的數(shù)據(jù)均 通過(guò)步驟I和步驟2中得到的零位數(shù)據(jù)進(jìn)行修正；
如果步驟I和步驟2的零位數(shù)據(jù)滿(mǎn)足預(yù)定的要求，并且步驟3中DAC輸出信號(hào)和 ADC讀取信號(hào)一致，則被檢測(cè)件通過(guò)檢測(cè)；
否則，被檢測(cè)件沒(méi)有通過(guò)檢測(cè)。
如上所述的一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法，其中，在步驟3中通過(guò) 檢測(cè)之后，將測(cè)的零位數(shù)據(jù)AO和DO記錄到板上的存儲(chǔ)器件中。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是使用工裝將電路本身的DAC和ADC閉環(huán)聯(lián)結(jié)，通過(guò)測(cè)試程序使DAC 輸出測(cè)試用模擬信號(hào)，對(duì)電路上ADC進(jìn)行檢測(cè)。ADC通過(guò)讀取的模擬信號(hào)對(duì)電路上DAC進(jìn)行 檢測(cè)。完成閉環(huán)測(cè)試。
電路再將測(cè)得的零位信號(hào)記錄到板上的存儲(chǔ)器件中，從而在使用過(guò)程中使用此參 數(shù)對(duì)DAC和ADC進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)。
測(cè)試過(guò)程不依賴(lài)于外部?jī)x器，人工操作少，能快速準(zhǔn)確的進(jìn)行測(cè)試過(guò)程。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說(shuō)明
一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法，包括如下步驟
步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號(hào)，讀取的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)可以是一個(gè)也可 以是多個(gè)，一般讀取多個(gè)，將讀取的數(shù)據(jù)求平均作為ADC的零位數(shù)據(jù)A0，用于校準(zhǔn)ADC讀數(shù)。
步驟2、然后將DAC的輸出與ADC的輸入相連，通過(guò)程序使DAC輸出零值，ADC將讀 到的信號(hào)取平均減去上一步獲得的ADC零位數(shù)據(jù)，即得到DAC的零位數(shù)據(jù)D0，用于校準(zhǔn)DAC 的輸出。
上述兩個(gè)步驟可以判斷出ADC和DAC零位是否正常，如果ADC和DAC零位數(shù)據(jù)與 設(shè)定值差別過(guò)大，則進(jìn)行記錄，用于本發(fā)明之后，使用高精度的儀器進(jìn)行進(jìn)一步的檢測(cè)。如 果ADC和DAC零位正常，繼續(xù)進(jìn)行步驟3。
步驟3、DAC輸出慢變的三角波信號(hào)，信號(hào)幅度為DAC的上下極限輸出值，變化幅度 為最低數(shù)據(jù)位，信號(hào)長(zhǎng)度可以是一條斜線(xiàn)(從最小值到最大值或者從最大值到最小值)，也 可以是一個(gè)或者多個(gè)周期，ADC進(jìn)行讀取，通過(guò)讀取的數(shù)據(jù)與輸出的數(shù)據(jù)(此時(shí)的數(shù)據(jù)均通 過(guò)步驟I和步驟2中得到的零位數(shù)據(jù)進(jìn)行修正)進(jìn)行比對(duì)，一致的話(huà)說(shuō)明DAC和ADC的功 能和性能正常。
本實(shí)施例中，DAC輸出數(shù)據(jù)的和ADC讀取數(shù)據(jù)的頻率保持一致，每個(gè)更新周期均輸 出不同的值，如此，能夠得到三角波的圖形。
也可以DAC輸出數(shù)據(jù)時(shí)，每個(gè)值均保持多個(gè)周期，這樣得到的是帶有臺(tái)階的三角 波信號(hào)，可以進(jìn)一步的了解在每個(gè)不同的值處，DAC和ADC的性能。
進(jìn)一步的，本實(shí)施例中，使用專(zhuān)用工裝實(shí)現(xiàn)上述電路的連接，能夠進(jìn)一步加快測(cè)試 速度。
測(cè)試過(guò)程使用編寫(xiě)的軟件程序自動(dòng)完成。
如有異常還可根據(jù)讀取的數(shù)據(jù)對(duì)故障進(jìn)行初步定位。用于本發(fā)明之后，使用高精 度的儀器進(jìn)行進(jìn)一步的檢測(cè)。
雖然本發(fā)明所述的方法，對(duì)故障情況定位后，之后的檢測(cè)還需要使用高精度的外 部?jī)x器進(jìn)行，但是，在電路質(zhì)量合格率很高的情況下，合格電路能夠通過(guò)所述方法，快速的 通過(guò)檢測(cè)，進(jìn)而直接使用。
如此，極大的減小了人工的工作量，減小了對(duì)外部高精度儀器的依賴(lài)。
本發(fā)明以穩(wěn)定平臺(tái)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)為例進(jìn)行了說(shuō)明，但是實(shí)施范圍不限于此，所有 設(shè)置有DAC輸出電路和ADC輸入電路的電路系統(tǒng)均可以適用。
權(quán)利要求
1.一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法，其特征在于包含如下步驟 步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號(hào)，將讀取的數(shù)據(jù)求平均作為ADC的零位數(shù)據(jù)AO，用于校準(zhǔn)ADC讀數(shù)； 步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號(hào)取平均減去上一步獲得的ADC零位數(shù)據(jù)A0，即得到DAC的零位數(shù)據(jù)D0，用于校準(zhǔn)DAC的輸出； 步驟3、DAC輸出變化信號(hào)，信號(hào)幅度為DAC的上下極限輸出值，每一次的變化幅度為最低數(shù)據(jù)位，使用ADC進(jìn)行讀取，通過(guò)讀取的數(shù)據(jù)與輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，此時(shí)的數(shù)據(jù)均通過(guò)步驟I和步驟2中得到的零位數(shù)據(jù)進(jìn)行修正； 如果步驟I和步驟2的零位數(shù)據(jù)滿(mǎn)足預(yù)定的要求，并且步驟3中DAC輸出信號(hào)和ADC讀取信號(hào)一致，則被檢測(cè)件通過(guò)檢測(cè)； 否則，被檢測(cè)件沒(méi)有通過(guò)檢測(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法，其特征在于 在步驟3中通過(guò)檢測(cè)之后，將測(cè)的零位數(shù)據(jù)AO和DO記錄到板上的存儲(chǔ)器件中。
全文摘要
本發(fā)明屬于穩(wěn)定平臺(tái)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)控制電路檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種對(duì)包含ADC和DAC的電路的快速檢測(cè)方法。目的是提供一種不依賴(lài)外部?jī)x器，減少人工操作的快速檢測(cè)方法。包含如下步驟步驟1、先將ADC的輸入端接地并讀取輸入信號(hào)，將讀取的數(shù)據(jù)求平均作為ADC的零位數(shù)據(jù)A0；步驟2、將DAC的輸出與ADC的輸入相連，使DAC輸出零值，ADC將讀到的信號(hào)取平均減去上一步獲得的ADC零位數(shù)據(jù)A0，即得到DAC的零位數(shù)據(jù)D0；步驟3、DAC輸出變化信號(hào)，使用ADC進(jìn)行讀取，通過(guò)讀取的數(shù)據(jù)與輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)。優(yōu)點(diǎn)是使用工裝將電路本身的DAC和ADC閉環(huán)聯(lián)結(jié)，通過(guò)測(cè)試程序使DAC輸出測(cè)試用模擬信號(hào)，對(duì)電路上ADC進(jìn)行檢測(cè)。ADC通過(guò)讀取的模擬信號(hào)對(duì)電路上DAC進(jìn)行檢測(cè)。完成閉環(huán)測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R31/28GK102998611SQ20111026600
公開(kāi)日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2011年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月9日
發(fā)明者張瑞 申請(qǐng)人:中國(guó)航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五八研究所