專利名稱：一種電容器元件檢測系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電容器元件的檢測，特別涉及一種電容器元件檢測系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
目前，電容器元件的耐壓檢測和電容檢測互相獨立，電容器元件電容檢測為人工測量，元件數(shù)量多，無法做到全檢，檢測數(shù)據(jù)記錄麻煩，元件參數(shù)的設(shè)置和測量在不同工段完成，需要專人統(tǒng)計匯總兩部分?jǐn)?shù)據(jù)，因為元件是不編號的，設(shè)置參數(shù)發(fā)生變化時，后面工段無法區(qū)分這些元件，測量數(shù)據(jù)就不可能有針對性，元件實際卷制參數(shù)無法保留，造成分析時的數(shù)據(jù)缺失。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一是公開一種電容器元件檢測系統(tǒng)，以解決目前行業(yè)內(nèi)電容器元件檢測各工序相互獨立，元件電容檢測工作量大，無法完成全檢，檢測數(shù)據(jù)不能反應(yīng)處設(shè)置參數(shù)的具體情況，不能系統(tǒng)的對參數(shù)設(shè)置、卷制情況、檢測數(shù)據(jù)進行匯總的問題。本發(fā)明的目的之二是公開一種電容器元件檢測方法，以解決目前行業(yè)內(nèi)電容器元件檢測各工序相互獨立，元件電容檢測工作量大，無法完成全檢，檢測數(shù)據(jù)不能反應(yīng)處設(shè)置參數(shù)的具體情況，不能系統(tǒng)的對參數(shù)設(shè)置、卷制情況、檢測數(shù)據(jù)進行匯總的問題。本發(fā)明的技術(shù)方案如下
一種電容器元件檢測系統(tǒng)，應(yīng)用于電容器元件的檢測和數(shù)據(jù)收集，包括四個模塊參數(shù)設(shè)置及檢測模塊、元件檢測及挑剔模塊、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊、通信模塊；所述參數(shù)設(shè)置及檢測模塊、元件檢測及挑剔模塊、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊均與所述通信模塊無線連接。較佳地，所述元件檢測及挑剔模塊，進一步包括
元件傳輸子模塊、元件定位子模塊、元件壓制子模塊、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊、不合格元件收集箱、合格元件收集臺；
所述元件傳輸子模塊、元件定位子模塊、元件壓制子模塊、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊均與所述通信模塊無線連接；
所述元件檢測及挑剔模塊設(shè)置有一架體，所述元件傳輸子模塊設(shè)置在架體內(nèi)；所述元件設(shè)置于所述元件傳輸子模塊的前端；
所述元件定位子模塊設(shè)置于所述元件傳輸子模塊附近，并靠近元件壓制子模塊； 所述元件壓制子模塊伸縮連接于所述架體上端； 所述耐壓及電容測試子模塊設(shè)置于所述元件的兩側(cè)；
所述元件挑剔子模塊與架體下端轉(zhuǎn)動連接，且靠近所述元件傳輸子模塊的后端； 所述不合格元件收集箱位于所述元件傳輸子模塊后端的下方； 所述合格元件收集臺位于所述元件挑剔子模塊非靠近元件傳輸子模塊的一側(cè)。
較佳地，所述元件傳輸子模塊包括履帶和第一步進電機，所述履帶與所述第一步進電機連接，所述第一步進電機帶動履帶轉(zhuǎn)動。較佳地，所述元件定位子模塊為一紅外線探測儀。較佳地，元件壓制子模塊包括壓板和第二步進電機，所述第二步進電機與所述壓板連接，并帶動壓板上下伸縮運動。較佳地，所述耐壓及電容測試子模塊包括正負(fù)兩個電極、直流電流源和數(shù)字測試儀；所述正負(fù)兩個電極分別與所述直流電流源和數(shù)字測試儀連接；
所述正負(fù)兩個電極分別位于所述元件的兩側(cè)，對應(yīng)元件自身的兩個電極； 所述耐壓及電容測試子模塊，通過直流電流源做元件耐壓檢測；通過數(shù)字測試儀做元件電容檢測；
所述元件挑剔子模塊為一可轉(zhuǎn)動的平臺。較佳地，所述參數(shù)設(shè)置及檢測模塊，進一步包括
數(shù)據(jù)顯示面板，參數(shù)輸入鍵盤，元件卷繞參數(shù)檢測子模塊，參數(shù)存儲子模塊； 所述參數(shù)輸入鍵盤與所述數(shù)據(jù)顯示面板連接；所述參數(shù)輸入鍵盤和所述元件卷繞參數(shù)檢測子模塊均與所述參數(shù)存儲子模塊連接；
所述參數(shù)存儲子模塊，用于存儲設(shè)置好的元件繞制參數(shù)和檢驗參數(shù)及檢測到元件的實際卷繞參數(shù)；
所述參數(shù)存儲子模塊與所述通信模塊無線連接。較佳地，所述數(shù)據(jù)顯示面板為LCD顯示屏，所述參數(shù)輸入鍵盤為電容式鍵盤。一種上述系統(tǒng)的電容器元件檢測方法，其包括下列步驟
Sl 參數(shù)設(shè)置及檢測模塊設(shè)置元件繞制參數(shù)和檢驗參數(shù)，并檢測元件的實際卷繞參
數(shù)；
S2:參數(shù)設(shè)置及檢測模塊把設(shè)置好的元件卷繞參數(shù)和實際卷繞參數(shù)通過通信模塊傳送給數(shù)據(jù)處理及存儲模塊；參數(shù)設(shè)置及檢測模塊把設(shè)置好的元件的檢驗參數(shù)傳輸給元件檢驗及挑剔模塊；
53元件傳輸子模塊把卷制好的元件輸送到元件壓制子模塊附近，元件定位子模塊對元件進行位置檢測和定位；元件壓制子模塊把元件壓制到設(shè)定的高度，進行電容測試，進行耐壓檢測，不合格元件通過元件挑剔子模塊進入不合格元件收集箱，合格元件輸送合格元件收集臺；
54元件的檢測數(shù)據(jù)通過通信模塊傳輸給數(shù)據(jù)處理及存儲模塊；
S5:數(shù)據(jù)處理及存儲模塊把卷制參數(shù)和檢測參數(shù)進行分析整理，建立每臺產(chǎn)品的所有元件的檔案，并存儲。較佳地，步驟S4進一步包括
卷制好的元件進入元件檢測及挑剔模塊，元件傳輸子模塊帶動元件前進；元件定位子模塊檢測到元件后，把檢測信息發(fā)送給通信模塊，通信模塊給元件傳輸子模塊下發(fā)停止前進命令，元件被定位到指定位置；
通信模塊發(fā)送指令給元件壓制子模塊，元件壓制子模塊下降，把元件壓制到設(shè)定的高度，耐壓及電容測試子模塊根據(jù)通信模塊的要求進行耐壓檢測和電容測試；如果元件合格， 耐壓及電容測試子模塊把合格元件的檢測數(shù)據(jù)發(fā)送給通信模塊，通信模塊把上述檢測數(shù)據(jù)傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊；
同時，通信模塊給元件傳輸子模塊發(fā)送指令向前移動，元件傳輸子模塊把元件傳送到元件挑剔子模塊，通信模塊給元件挑剔子模塊發(fā)送轉(zhuǎn)動信號，元件挑剔子模塊把元件輸送到合格元件收集臺；
如果元件不合格，耐壓及電容測試子模塊把元件不合格信息傳送給通信模塊，通信模塊先給元件挑剔子模塊發(fā)送轉(zhuǎn)動信號，元件挑剔子模塊轉(zhuǎn)動；然后通信模塊給元件傳輸子模塊發(fā)送前進信號，元件傳輸子模塊向前運動，不合格元件掉入不合格元件收集箱。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果如下
1、元件的設(shè)置參數(shù)通過通信模塊傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊，保存了元件的原始參數(shù)。2、元件檢測及挑剔模塊實現(xiàn)了電容的自動測量，并自動剔除耐壓或電容不合格元件。3、所有元件的檢測數(shù)據(jù)都通過通信模塊傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊，實現(xiàn)了元件參數(shù)設(shè)置和元件檢測的一一對應(yīng)。解決了目前行業(yè)內(nèi)電容器產(chǎn)品無法追溯到元件的問題。


圖1為本發(fā)明具體實施例一種電容器元件檢測系統(tǒng)的立體結(jié)構(gòu)圖； 圖2為本發(fā)明具體實施例一種電容器元件檢測系統(tǒng)的正視圖3為本發(fā)明具體實施例一種電容器元件檢測系統(tǒng)的正面剖視圖； 圖4為本發(fā)明具體實施例一種電容器元件檢測系統(tǒng)的左視圖； 圖5為本發(fā)明具體實施例一種電容器元件檢測方法的流程圖。
具體實施例方式下方結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明做進一步的闡述。 實施例如圖1至圖4，一種電容器元件檢測系統(tǒng)100，應(yīng)用于電容器元件的檢測和數(shù)據(jù)收集，其包括四個模塊參數(shù)設(shè)置及檢測模塊1、元件檢測及挑剔模塊2、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊 3、通信模塊4 ；參數(shù)設(shè)置及檢測模塊1、元件檢測及挑剔模塊2、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊3均與通信模塊4無線連接。其中，參數(shù)設(shè)置及檢測模塊1，進一步包括
數(shù)據(jù)顯示面板11，參數(shù)輸入鍵盤12，元件卷繞參數(shù)檢測子模塊，參數(shù)存儲子模塊；參數(shù)輸入鍵盤12與數(shù)據(jù)顯示面板11連接；參數(shù)輸入鍵盤12和所述元件卷繞參數(shù)檢測子模塊均與所述參數(shù)存儲子模塊連接。所述參數(shù)存儲子模塊，用于存儲設(shè)置好的元件繞制參數(shù)和檢驗參數(shù)及檢測到元件的實際卷繞參數(shù)；所述參數(shù)存儲子模塊與通信模塊4無線連接。在本實施例中，數(shù)據(jù)顯示面板11為IXD顯示屏，參數(shù)輸入鍵盤12為電容式鍵盤。其中，元件檢測及挑剔模塊2進一步包括
元件傳輸子模塊21、元件定位子模塊22、元件壓制子模塊23、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊沈、不合格元件收集箱27、合格元件收集臺觀。元件傳輸子模塊21、元件定位子模塊22、元件壓制子模塊23、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊沈均與通信模塊4無線連接。元件檢測及挑剔模塊2設(shè)置有一架體201，元件傳輸子模塊21設(shè)置在架體201內(nèi)； 元件5設(shè)置于元件傳輸子模塊21的前端；
元件定位子模塊22設(shè)置于元件傳輸子模塊21附近，并靠近元件壓制子模塊23。元件壓制子模塊23伸縮連接于架體201上端。所述耐壓及電容測試子模塊設(shè)置于元件5的兩側(cè)。元件挑剔子模塊沈與架體201下端轉(zhuǎn)動連接，且靠近元件傳輸子模塊21的后端； 不合格元件收集箱27位于元件傳輸子模塊21后端的下方；合格元件收集臺觀位于元
件挑剔子模塊沈非靠近元件傳輸子模塊21的一側(cè)。在本實施例中，元件傳輸子模塊21包括履帶和第一步進電機，所述履帶與所述第一步進電機連接，所述第一步進電機帶動履帶轉(zhuǎn)動。在本實施例中，元件定位子模塊22為一紅外線探測儀。在本實施例中，元件壓制子模塊23包括壓板和第二步進電機，所述第二步進電機與所述壓板連接，并帶動壓板上下伸縮運動。在本實施例中，耐壓及電容測試子模塊包括正負(fù)兩個電極M和25、直流電流源和數(shù)字測試儀；所述正負(fù)兩個電極分別與所述直流電流源和數(shù)字測試儀連接；所述正負(fù)兩個電極M、25分別位于元件5的兩側(cè)，對應(yīng)元件5自身的兩個電極。所述耐壓及電容測試子模塊，通過直流電流源做元件耐壓檢測；通過數(shù)字測試儀做元件電容檢測。在本實施例中，元件挑剔子模塊沈為一可轉(zhuǎn)動的平臺，其平臺表面在正常狀態(tài)下，與元件傳輸子模塊21運載元件的表面基本平齊。其中，數(shù)據(jù)處理及存儲模塊3包括一與局域網(wǎng)連接的PC機，PC機上裝載有數(shù)據(jù)庫和數(shù)據(jù)處理軟件，對電容器元件的相關(guān)數(shù)據(jù)進行處理。其中，通信模塊4由一個處理器和相關(guān)外圍電路組成。圖3中，元件5位于元件壓制子模塊23正下方。如圖5，一種基于上述電容器元件檢測系統(tǒng)的電容器元件檢測方法，其包括下列步驟
Sl 參數(shù)設(shè)置及檢測模塊1設(shè)置元件繞制參數(shù)和檢驗參數(shù)，并檢測元件的實際卷繞參數(shù)。S2 參數(shù)設(shè)置及檢測模塊1把設(shè)置好的元件卷繞參數(shù)和實際卷繞參數(shù)通過通信模塊4傳送給數(shù)據(jù)處理及存儲模塊3 ；參數(shù)設(shè)置及檢測模塊1把設(shè)置好的元件的檢驗參數(shù)傳輸給元件檢驗及挑剔模塊2 ；
S3 元件傳輸子模塊21把卷制好的元件輸送到元件壓制子模塊23附近，元件定位子模塊22對元件進行位置檢測和定位；元件壓制子模塊23把元件壓制到設(shè)定的高度，進行電容測試，進行耐壓檢測，不合格元件通過元件挑剔子模塊進入不合格元件收集箱，合格元件輸送合格元件收集臺。S4 元件的檢測數(shù)據(jù)通過通信模塊4傳輸給數(shù)據(jù)處理及存儲模塊3。S5 數(shù)據(jù)處理及存儲模塊3把卷制參數(shù)和檢測參數(shù)進行分析整理，建立每臺產(chǎn)品
7的所有元件的檔案，并存儲。其中，步驟S3進一步包括
元件傳輸子模塊21的履帶把卷制好的元件5向前傳送，用于元件定位的紅外探測器檢測到元件經(jīng)過，把信息傳達給控制履帶前進的通信模塊4，通信模塊4發(fā)出履帶停止運動和元件壓制子模塊23向下移動信號，把元件壓制到指定的元件高度，元件電容和元件耐壓的檢測的兩個電極對和25向中間靠攏，接觸元件的兩個電極，對元件進行電容測試和耐壓測試，把測試結(jié)果傳送給通信模塊，如元件電容或耐壓測試超出了設(shè)定值范圍，通信模塊4向元件挑剔子模塊26發(fā)送指令，元件挑剔子模塊沈向左移動，通信模塊4再向履帶傳送指令向前移動，元件到達元件傳輸子模塊21后端后落入不合格元件收集箱27。如果檢測的元件在設(shè)定范圍內(nèi)，通信模塊4向履帶發(fā)送指令，把元件送到元件挑剔子模塊沈的上表面上，然后在發(fā)送元件挑剔子模塊沈動作，元件挑剔子模塊沈把元件輸送到合格元件收集臺觀。其中，步驟S4進一步包括
卷制好的元件進入元件檢測及挑剔模塊2，元件傳輸子模塊帶動元件前進；元件定位子模塊檢測到元件后，把檢測信息發(fā)送給通信模塊，通信模塊給元件傳輸子模塊下發(fā)停止前進命令，元件被定位到指定位置；
通信模塊發(fā)送指令給元件壓制子模塊，元件壓制子模塊下降，把元件壓制到設(shè)定的高度，耐壓及電容測試子模塊根據(jù)通信模塊的要求進行耐壓檢測和電容測試；如果元件合格， 耐壓及電容測試子模塊把合格元件的檢測數(shù)據(jù)發(fā)送給通信模塊，通信模塊把上述檢測數(shù)據(jù)傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊；
同時，通信模塊給元件傳輸子模塊發(fā)送指令向前移動，元件傳輸子模塊把元件傳送到元件挑剔子模塊，通信模塊給元件挑剔子模塊發(fā)送轉(zhuǎn)動信號，元件挑剔子模塊把元件輸送到合格元件收集臺；
如果元件不合格，耐壓及電容測試子模塊把元件不合格信息傳送給通信模塊，通信模塊先給元件挑剔子模塊發(fā)送轉(zhuǎn)動信號，元件挑剔子模塊轉(zhuǎn)動；然后通信模塊給元件傳輸子模塊發(fā)送前進信號，元件傳輸子模塊向前運動，不合格元件掉入不合格元件收集箱。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果如下
1、元件的設(shè)置參數(shù)通過通信模塊傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊，保存了元件的原始參數(shù)。2、元件檢測及挑剔模塊實現(xiàn)了電容的自動測量，并自動剔除耐壓或電容不合格元件。3、所有元件的檢測數(shù)據(jù)都通過通信模塊傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊，實現(xiàn)了元件參數(shù)設(shè)置和元件檢測的一一對應(yīng)。解決了目前行業(yè)內(nèi)電容器產(chǎn)品無法追溯到元件的問題。本發(fā)明優(yōu)選實施例只是用于幫助闡述本發(fā)明。優(yōu)選實施例并沒有詳盡敘述所有的細(xì)節(jié)，也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實施方式
。顯然，根據(jù)本說明書的內(nèi)容，可作很多的修改和變化。本說明書選取并具體描述這些實施例，是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實際應(yīng)用，從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地利用本發(fā)明。本發(fā)明僅受權(quán)利要求書及其全部范圍和等效物的限制。
權(quán)利要求
1.一種電容器元件檢測系統(tǒng)，應(yīng)用于電容器元件的檢測和數(shù)據(jù)收集，其特征在于，包括四個模塊參數(shù)設(shè)置及檢測模塊、元件檢測及挑剔模塊、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊、通信模塊； 所述參數(shù)設(shè)置及檢測模塊、元件檢測及挑剔模塊、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊均與所述通信模塊無線連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述元件檢測及挑剔模塊，進一步包括元件傳輸子模塊、元件定位子模塊、元件壓制子模塊、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊、不合格元件收集箱、合格元件收集臺；所述元件傳輸子模塊、元件定位子模塊、元件壓制子模塊、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊均與所述通信模塊無線連接；所述元件檢測及挑剔模塊設(shè)置有一架體，所述元件傳輸子模塊設(shè)置在架體內(nèi)；所述元件設(shè)置于所述元件傳輸子模塊的前端；所述元件定位子模塊設(shè)置于所述元件傳輸子模塊附近，并靠近元件壓制子模塊； 所述元件壓制子模塊伸縮連接于所述架體上端； 所述耐壓及電容測試子模塊設(shè)置于所述元件的兩側(cè)；所述元件挑剔子模塊與架體下端轉(zhuǎn)動連接，且靠近所述元件傳輸子模塊的后端； 所述不合格元件收集箱位于所述元件傳輸子模塊后端的下方； 所述合格元件收集臺位于所述元件挑剔子模塊非靠近元件傳輸子模塊的一側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述元件傳輸子模塊包括履帶和第一步進電機，所述履帶與所述第一步進電機連接，所述第一步進電機帶動履帶轉(zhuǎn)動。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述元件定位子模塊為一紅外線探測儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，元件壓制子模塊包括壓板和第二步進電機，所述第二步進電機與所述壓板連接，并帶動壓板上下伸縮運動。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述耐壓及電容測試子模塊包括正負(fù)兩個電極、直流電流源和數(shù)字測試儀；所述正負(fù)兩個電極分別與所述直流電流源和數(shù)字測試儀連接；所述正負(fù)兩個電極分別位于所述元件的兩側(cè)，對應(yīng)元件自身的兩個電極； 所述耐壓及電容測試子模塊，通過直流電流源做元件耐壓檢測；通過數(shù)字測試儀做元件電容檢測；所述元件挑剔子模塊為一可轉(zhuǎn)動的平臺。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述參數(shù)設(shè)置及檢測模塊，進一步包括數(shù)據(jù)顯示面板，參數(shù)輸入鍵盤，元件卷繞參數(shù)檢測子模塊，參數(shù)存儲子模塊； 所述參數(shù)輸入鍵盤與所述數(shù)據(jù)顯示面板連接；所述參數(shù)輸入鍵盤和所述元件卷繞參數(shù)檢測子模塊均與所述參數(shù)存儲子模塊連接；所述參數(shù)存儲子模塊，用于存儲設(shè)置好的元件繞制參數(shù)和檢驗參數(shù)及檢測到元件的實際卷繞參數(shù)；所述參數(shù)存儲子模塊與所述通信模塊無線連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種電容器元件檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)顯示面板為LCD顯示屏，所述參數(shù)輸入鍵盤為電容式鍵盤。
9.一種基于權(quán)利要求1所述系統(tǒng)的電容器元件檢測方法，其特征在于，其包括下列步驟Sl 參數(shù)設(shè)置及檢測模塊設(shè)置元件繞制參數(shù)和檢驗參數(shù)，并檢測元件的實際卷繞參數(shù)；S2:參數(shù)設(shè)置及檢測模塊把設(shè)置好的元件卷繞參數(shù)和實際卷繞參數(shù)通過通信模塊傳送給數(shù)據(jù)處理及存儲模塊；參數(shù)設(shè)置及檢測模塊把設(shè)置好的元件的檢驗參數(shù)傳輸給元件檢驗及挑剔模塊；53元件傳輸子模塊把卷制好的元件輸送到元件壓制子模塊附近，元件定位子模塊對元件進行位置檢測和定位；元件壓制子模塊把元件壓制到設(shè)定的高度，進行電容測試，進行耐壓檢測，不合格元件通過元件挑剔子模塊進入不合格元件收集箱，合格元件輸送合格元件收集臺；54元件的檢測數(shù)據(jù)通過通信模塊傳輸給數(shù)據(jù)處理及存儲模塊；55數(shù)據(jù)處理及存儲模塊把卷制參數(shù)和檢測參數(shù)進行分析整理，建立每臺產(chǎn)品的所有元件的檔案，并存儲。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述方法，其特征在于，步驟S4進一步包括卷制好的元件進入元件檢測及挑剔模塊，元件傳輸子模塊帶動元件前進；元件定位子模塊檢測到元件后，把檢測信息發(fā)送給通信模塊，通信模塊給元件傳輸子模塊下發(fā)停止前進命令，元件被定位到指定位置；通信模塊發(fā)送指令給元件壓制子模塊，元件壓制子模塊下降，把元件壓制到設(shè)定的高度，耐壓及電容測試子模塊根據(jù)通信模塊的要求進行耐壓檢測和電容測試；如果元件合格， 耐壓及電容測試子模塊把合格元件的檢測數(shù)據(jù)發(fā)送給通信模塊，通信模塊把上述檢測數(shù)據(jù)傳送給數(shù)據(jù)處理及儲存模塊；同時，通信模塊給元件傳輸子模塊發(fā)送指令向前移動，元件傳輸子模塊把元件傳送到元件挑剔子模塊，通信模塊給元件挑剔子模塊發(fā)送轉(zhuǎn)動信號，元件挑剔子模塊把元件輸送到合格元件收集臺；如果元件不合格，耐壓及電容測試子模塊把元件不合格信息傳送給通信模塊，通信模塊先給元件挑剔子模塊發(fā)送轉(zhuǎn)動信號，元件挑剔子模塊轉(zhuǎn)動；然后通信模塊給元件傳輸子模塊發(fā)送前進信號，元件傳輸子模塊向前運動，不合格元件掉入不合格元件收集箱。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電容器元件檢測系統(tǒng)及方法。其中，所述系統(tǒng)包括參數(shù)設(shè)置及檢測模塊、元件檢測及挑剔模塊、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊、通信模塊；參數(shù)設(shè)置及檢測模塊、元件檢測及挑剔模塊、數(shù)據(jù)處理及存儲模塊均與通信模塊無線連接。元件檢測及挑剔模塊包括元件傳輸子模塊、元件定位子模塊、元件壓制子模塊、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊；所述元件傳輸子模塊、元件定位子模塊、元件壓制子模塊、耐壓及電容測試子模塊、元件挑剔子模塊均與通信模塊無線連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明收集元件卷制數(shù)據(jù)，自動完成元件耐壓、元件電容檢測，并剔除不合格元件，從而使元件的檢測和數(shù)據(jù)的收集簡單化，并且使得每個產(chǎn)品的所有元件都有檔案可查。
文檔編號G01R31/12GK102435861SQ20111033711
公開日2012年5月2日 申請日期2011年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月31日
發(fā)明者劉強, 孔志峰, 李健, 熊黃海, 陸居志, 陸杰頻 申請人:上海思源電力電容器有限公司