專利名稱：一種高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電力設(shè)備的檢測技術(shù)，具體涉及一種高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法。
背景技術(shù)：
高壓隔離開關(guān)在電力系統(tǒng)中起著隔離電源、改變系統(tǒng)運(yùn)行方式、分合小負(fù)荷電流、 進(jìn)行倒閘操作等重要作用。它的使用量通常是斷路器的2 3倍。其結(jié)構(gòu)雖然相對簡單， 但也是電網(wǎng)運(yùn)行不可忽視的高壓設(shè)備之一.對電網(wǎng)的安全運(yùn)行有著重要的影響。高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層質(zhì)量，尤其是鍍層厚度，直接影響隔離開關(guān)的載流量與使用壽命。目前，運(yùn)行于全國35 500kV各電網(wǎng)中的高壓隔離開關(guān)普遍存在觸頭發(fā)熱問題，從而導(dǎo)致導(dǎo)電部分受損引起電氣性能下降。2007-2011年，湖南省多個(gè)變電站刀閘紅外測溫顯示溫度超標(biāo)，原因?yàn)槠溴冦y層厚度不夠。通常，高壓隔離開關(guān)廠家對觸頭鍍銀層采用陽極溶解庫侖法進(jìn)行厚度測試，由于該方法須將觸頭放在試驗(yàn)臺上進(jìn)行測試，試驗(yàn)中須對藥水進(jìn)行更換、清洗，操作繁瑣，試驗(yàn)時(shí)間長，而且對觸頭鍍銀層有破壞性，特別是組裝好的隔離開關(guān)，還需卸下觸頭檢測完后再安裝，影響工程進(jìn)度，該方法在現(xiàn)場很難應(yīng)用。因此，針對高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層開發(fā)一種簡易的現(xiàn)場無損檢測技術(shù)十分必要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法，以實(shí)現(xiàn)對高壓隔離開關(guān)鍍銀層厚度現(xiàn)場快捷的無損檢測。實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的采用的技術(shù)方案是高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法，按以下步驟進(jìn)行
步驟一、使用X熒光合金分析儀，用其探頭對高壓隔離開關(guān)觸頭的鍍銀層的不同部位進(jìn)行測量以獲得一組測量數(shù)據(jù)，該組測量數(shù)據(jù)至少包括3個(gè)數(shù)據(jù)值，優(yōu)選為5個(gè)數(shù)據(jù)值；
步驟二、依據(jù)測量的鍍銀層成分含量和厚度關(guān)系曲線y=-ln(l-X)/0. 1466 (10 ^y 彡25)為依據(jù)，式中y為鍍銀層厚度，χ為Ag含量百分?jǐn)?shù)，以Ag含量的最小值A(chǔ)g min和每組測量數(shù)據(jù)中Ag含量之間的最大差值δ max的數(shù)值判斷鍍銀層厚度是否合格，當(dāng)每組測量數(shù)據(jù)中Ag min彡94.7%且δ max彡4%時(shí)，判定鍍銀層為合格。本發(fā)明方法是一種基于X熒光合金分析儀對高壓隔離開關(guān)觸指鍍銀層的厚度進(jìn)行現(xiàn)場快捷無損檢測的一套方法，它解決了原有檢測方法的有關(guān)制約，可實(shí)現(xiàn)對高壓隔離開關(guān)觸指鍍銀層厚度現(xiàn)場快速抽檢。下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。


圖1是鍍銀層厚度與成分的擬合圖。
圖2是銅基鍍銀層厚度判據(jù)圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法，其檢測過程為
(1)檢測儀器要求便攜式X熒光合金分析儀(XRF)激發(fā)電壓為45-50eKv，激發(fā)功率為2W，激發(fā)源恒定；
(2)預(yù)熱X熒光合金分析儀開機(jī)進(jìn)入系統(tǒng)后須預(yù)熱5分鐘；
(3)取樣一般以高壓隔離開關(guān)觸頭的鍍銀層的主表面為工作面，保證探頭正對取樣部位，分析時(shí)探頭不能移動(dòng)，盡量貼近表面；用探頭對高壓隔離開關(guān)觸頭的鍍銀層的不同部位進(jìn)行測量以獲得一組測量數(shù)據(jù)，該組測量數(shù)據(jù)至少包括3個(gè)數(shù)據(jù)值，優(yōu)選為5個(gè)數(shù)據(jù)值；
(4)合金分析開啟X熒光合金分析儀測試，探測時(shí)間不應(yīng)超過儀器設(shè)置時(shí)間，讀數(shù)時(shí)需等Ag、Cu元素含量趨于穩(wěn)定時(shí)進(jìn)行，若士2 σ >10%，該讀數(shù)視為無效；
(5)探頭冷卻正常情況下，X熒光合金分析儀每工作十分鐘，應(yīng)停機(jī)休息十分鐘；
(6)依據(jù)鍍銀層成分含量和厚度關(guān)系曲線y=-ln(1-χ)/0.1466 (10彡y彡25)為依據(jù)， 式中y為鍍銀層厚度，χ為Ag含量百分?jǐn)?shù)，以Ag含量的最小值A(chǔ)g min和每組測量數(shù)據(jù)中 Ag含量之間的最大差值δ max的數(shù)值判斷鍍銀層厚度是否合格，當(dāng)每組測量數(shù)據(jù)中Ag min 彡94.7%且Smax彡4%時(shí)，判定鍍銀層為合格。檢測原理
便攜式X熒光合金分析儀(XRF)對鍍層成分進(jìn)行分析，其分析信號(即為其測量的鍍銀層成分)取決于4個(gè)因素鍍層的化學(xué)成分，鍍層基體的化學(xué)成分，鍍層厚度和分析儀的激化源。當(dāng)鍍層Ag和基體Cu的成分確定，便攜式X熒光合金分析儀(XRF)的激化源也確定時(shí)，分析信號就只取決于Ag鍍層厚度。因此，用同一型號的便攜式X熒光合金分析儀(XRF) 對高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層進(jìn)行測量時(shí)，其分析信號的變化只有銀鍍層厚度一個(gè)參量。通過制備不同銀鍍層厚度的試樣(銀鍍層分別為12. 2 μ m，15. 9 μ m， 19. 0 μ m，19. 5 μ m)，并通過金相測量方法準(zhǔn)確測量其鍍層厚度，最后利用便攜式X熒光合金分析儀(XRF)獲得不同厚度鍍銀層的成分響應(yīng)，見下表1。其中X便攜式X熒光合金分析儀(XRF)激發(fā)電壓為45-50eKv，激發(fā)功率為2W，激發(fā)源恒定。表1鍍銀層的Ag成分含量與厚度關(guān)系圖譜
權(quán)利要求
1.一種高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法，其特征是按以下步驟進(jìn)行 步驟一、使用X熒光合金分析儀，用其探頭對高壓隔離開關(guān)觸頭的鍍銀層的不同部位進(jìn)行測量以獲得一組測量數(shù)據(jù)，該組測量數(shù)據(jù)至少包括3個(gè)數(shù)據(jù)值；步驟二、依據(jù)測量的鍍銀層成分含量和厚度關(guān)系曲線y=_ln(1-x)/0. 1466 (10 ^y 彡25)為依據(jù)，式中y為鍍銀層厚度，χ為Ag含量百分?jǐn)?shù)，以Ag含量的最小值A(chǔ)g min和每組測量數(shù)據(jù)中Ag含量之間的最大差值δ max的數(shù)值判斷鍍銀層厚度是否合格，當(dāng)每組測量數(shù)據(jù)中Ag min彡94.7%且δ max彡4%時(shí)，判定鍍銀層為合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法，其特征是所述步驟一中該組測量數(shù)據(jù)為5個(gè)數(shù)據(jù)值。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度簡易檢測方法，該方法按以下步驟進(jìn)行步驟一、使用X熒光合金分析儀，用其探頭對高壓隔離開關(guān)觸頭的鍍銀層的不同部位進(jìn)行測量以獲得一組測量數(shù)據(jù)，該組測量數(shù)據(jù)至少包括3個(gè)數(shù)據(jù)值；步驟二、依據(jù)測量的鍍銀層成分含量和厚度關(guān)系曲線y=-ln(1-x)/0.1466(10≤ｙ≤25)為依據(jù)，式中y為鍍銀層厚度，x為Ag含量百分?jǐn)?shù)，以Ag含量的最小值A(chǔ)gmin和每組測量數(shù)據(jù)中Ag含量之間的最大差值δmax的數(shù)值判斷鍍銀層厚度是否合格，當(dāng)每組測量數(shù)據(jù)中Agmin≥94.7%且δmax≤4%時(shí)，判定鍍銀層為合格。本發(fā)明方法可以實(shí)現(xiàn)對高壓隔離開關(guān)鍍銀層厚度現(xiàn)場快捷的無損檢測。
文檔編號G01B15/02GK102494644SQ20111035821
公開日2012年6月13日 申請日期2011年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月14日
發(fā)明者劉純 申請人:湖南省湘電鍋爐壓力容器檢驗(yàn)中心有限公司, 湖南省電力公司科學(xué)研究院