專利名稱：一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)及方法主要應(yīng)用于壓電元器件生產(chǎn)過程中的性能自動(dòng)檢測(cè)。
背景技術(shù)：
壓電材料是一種受到壓力作用時(shí)會(huì)在該材料兩端面間出現(xiàn)電壓的晶體材料，包括壓電晶體材料、壓電陶瓷材料、壓電聚合物等。目前，壓電材料以其優(yōu)越的壓電性能被廣泛地應(yīng)用于航空、軍事、石油工業(yè)、醫(yī)療等領(lǐng)域，但是不同的應(yīng)用對(duì)壓電材料的性能指標(biāo)參數(shù)要求也有所不同。因此在壓電元器件的生產(chǎn)制造過程中，對(duì)壓電元器件的性能測(cè)試是非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)，需要通過性能測(cè)試來(lái)判斷壓電元器件的性能是否滿足指標(biāo)要求，并要將其記錄下來(lái)，作為下一步應(yīng)用的參考。
在傳統(tǒng)的壓電元器件的生產(chǎn)制造過程中，通常是采用一人操作讀數(shù)、一人在提前設(shè)計(jì)好的表格上邊編號(hào)邊記錄的方法來(lái)進(jìn)行對(duì)壓電元器件的性能測(cè)試，其中各壓電元器件的直接指標(biāo)可以實(shí)時(shí)讀取后人工記錄在表格上，但是間接指標(biāo)還要等全部壓電元器件測(cè)試好之后再進(jìn)行人工計(jì)算后才能進(jìn)一步判斷其是否符合指標(biāo)要求，進(jìn)而再做篩選，而且，若想對(duì)某一批次的壓電元器件的性能進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析的話，又是一項(xiàng)工作量很大的工作。這樣，一方面，操作讀數(shù)的人員和記錄數(shù)據(jù)的人員長(zhǎng)時(shí)間工作下來(lái)很容易疲勞，難免會(huì)出錯(cuò)，且記錄錯(cuò)誤又不易修改，另一方面，壓電元器件的間接指標(biāo)需要在進(jìn)行人工計(jì)算之后才能判斷其是否滿足要求，這不僅增加了人工計(jì)算的工作量，而且若在人工計(jì)算后判斷出該壓電元器件的間接指標(biāo)不符合指標(biāo)要求，則還需重新補(bǔ)充樣品，重新進(jìn)行測(cè)試，并且再重新根據(jù)測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行人工計(jì)算，因此導(dǎo)致整個(gè)測(cè)試過程效率很低。
例如，中國(guó)專利20080017250. 0公開了一種壓電元件。在該專利中，采用測(cè)試儀器手動(dòng)測(cè)試該壓電元件的各項(xiàng)性能，例如分別使用Agilent 4294A阻抗分析儀測(cè)定該壓電元件的壓電基板的共振頻率Fr、反共振頻率1 、使用Agilent 53181A頻率計(jì)數(shù)器測(cè)定該壓電元件的壓電基板的振蕩頻率FO等參數(shù)，對(duì)各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行人工記錄，此外還根據(jù)測(cè)得的參數(shù)、利用特定等效電路及公式人工計(jì)算出相關(guān)的間接參數(shù)，如機(jī)電耦合系數(shù)kl5，振蕩頻率變化率等等。此種測(cè)試方法，不但需要對(duì)測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行人工記錄，還需要對(duì)測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行大量的人工計(jì)算，從而判斷出經(jīng)過人工計(jì)算后的間接數(shù)據(jù)是否滿足要求。采用此方法，耗時(shí)耗力，而且在人工記錄及人工計(jì)算過程中均不可避免會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和方法，可以對(duì)壓電元器件的各項(xiàng)性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，將測(cè)試人員從繁重的手動(dòng)測(cè)試及記錄中解放出來(lái)，大大提高測(cè)試效率。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括控制單元、與待測(cè)壓電材料相連的多個(gè)可程控測(cè)試單元、以及連接在所述控制單元與所述多個(gè)可程控測(cè)試單元之間的傳輸單元，所述各可程控測(cè)試單元通過所述傳輸單元接收來(lái)自所述控制單元的指令以對(duì)所述待測(cè)壓電材料的壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試得到的直接壓電性能數(shù)據(jù)通過所述傳輸單元反饋至所述控制單元，所述控制單元將接收到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元并進(jìn)行記錄，所述直接壓電性能數(shù)據(jù)為包括諧振頻率、諧振阻抗、反諧振頻率、反諧振阻抗、電導(dǎo)、電抗、容抗、靜態(tài)電容和介電損耗在內(nèi)的直接壓電性能數(shù)據(jù)。
該壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單、方便，可以對(duì)壓電元器件的各項(xiàng)直接壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、快捷、方便、易于保存，自動(dòng)化程度高，可以大大降低勞動(dòng)力成本、提高測(cè)試效率，還可避免人工測(cè)試的誤操作或數(shù)據(jù)記錄的筆誤。
在本發(fā)明中，所述控制單元配置為根據(jù)預(yù)先設(shè)定的壓電性能參數(shù)公式從測(cè)試得到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)計(jì)算出所述待測(cè)壓電材料的間接壓電性能數(shù)據(jù)并發(fā)送至所述顯示單元，所述間接壓電性能數(shù)據(jù)為包括帶寬、介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因子和機(jī)電耦合系數(shù)在內(nèi)的間接壓電性能數(shù)據(jù)。
采用本發(fā)明，可對(duì)待測(cè)壓電材料的間接參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，減少了人工計(jì)算間接參數(shù)指標(biāo)的環(huán)節(jié)，不但簡(jiǎn)化了測(cè)試工序，還減少了人工計(jì)算容易發(fā)生錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，提高了測(cè)試效率。
在本發(fā)明中，所述控制單元配置為對(duì)各所述直接或間接壓電性能數(shù)據(jù)預(yù)先設(shè)定參考數(shù)據(jù)范圍，判斷測(cè)試得到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)或計(jì)算出的所述間接壓電性能數(shù)據(jù)是否在預(yù)先設(shè)定的所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)，將屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述直接或間接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至所述顯示單元進(jìn)行記錄，對(duì)不屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述直接或間接壓電性能數(shù)據(jù)，所述控制單元向所述顯示單元發(fā)送更換待測(cè)壓電材料的提示指令。
采用本發(fā)明，還可在測(cè)試過程中根據(jù)預(yù)先設(shè)定的參數(shù)范圍，對(duì)待測(cè)壓電材料自動(dòng)進(jìn)行合格判斷，將不合格品剔除，對(duì)合格品的各指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行記錄。與傳統(tǒng)方法相比，節(jié)省了在人工計(jì)算間接參數(shù)指標(biāo)后再進(jìn)行人工判斷合格的過程，簡(jiǎn)化了測(cè)試過程，并節(jié)省了測(cè)試時(shí)間。
在本發(fā)明中，所述可程控測(cè)試單元為內(nèi)置GPIB接口的測(cè)試裝置，且所述傳輸單元包括USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置、連接在所述USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的一端與所述控制單元之間的USB電纜、以及連接在所述USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的另一端與所述各可程控測(cè)試單元之間的GPIB電纜。
采用本發(fā)明，利用USB/GPIB接口的數(shù)據(jù)傳輸功能，有利于實(shí)現(xiàn)測(cè)試單元與控制單元之間的快速、準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)傳輸。
在本發(fā)明中，所述控制單元配置為通過采用Visual Basic語(yǔ)言編程進(jìn)行控制，并使所述顯示單元通過excel表格的形式對(duì)壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，且所述控制單元還配置為通過調(diào)用所述可程控測(cè)試單元的專用控制儀器編程語(yǔ)言經(jīng)由所述傳輸單元對(duì)所述可程控測(cè)試單元進(jìn)行控制。
采用本發(fā)明，有利于實(shí)現(xiàn)控制單元對(duì)可程控測(cè)試單元的控制，且基于excel強(qiáng)大的表格處理功能，用Visual Basic編程來(lái)實(shí)現(xiàn)軟件的可視性和可操作性。
在本發(fā)明中，所述控制單元還配置為通過excel的統(tǒng)計(jì)功能對(duì)記錄于所述顯示單元的所述壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)編號(hào)、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)分析。
采用本發(fā)明，有利于測(cè)試人員對(duì)所記錄的測(cè)試結(jié)果的讀取、使用，并可對(duì)測(cè)試結(jié)果中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)自動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，避免了大量的人工統(tǒng)計(jì)工作，提高了工作效率。
在本發(fā)明中，所述待測(cè)壓電材料通過測(cè)試夾具與所述各可程控測(cè)試單元相連。
采用本發(fā)明，有利于待測(cè)壓電材料與測(cè)試單元之間建立可靠的連接，也便于更換待測(cè)壓電材料，使整個(gè)測(cè)試過程更簡(jiǎn)單。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，包括提供控制單元以及與待測(cè)壓電材料相連的多個(gè)可程控測(cè)試單元；將所述控制單元與所述多個(gè)可程控測(cè)試單元通過傳輸單元相連；控制所述控制單元以通過所述傳輸單元向所述各可程控測(cè)試單元發(fā)送指令，對(duì)所述待測(cè)壓電材料的壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試；所述各可程控測(cè)試單元將測(cè)試得到的直接壓電性能數(shù)據(jù)通過所述傳輸單元反饋至所述控制單元；所述控制單元將接收到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元并進(jìn)行記錄；所述直接壓電性能數(shù)據(jù)為包括諧振頻率、諧振阻抗、反諧振頻率、反諧振阻抗、電導(dǎo)、電抗、容抗、靜態(tài)電容和介電損耗在內(nèi)的直接壓電性能數(shù)據(jù)。
采用本方法，可以對(duì)壓電元器件的各項(xiàng)直接壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該方法操作簡(jiǎn)單、快捷、方便、易于保存，自動(dòng)化程度高，可以大大降低勞動(dòng)力成本、提高測(cè)試效率，還可避免人工測(cè)試的誤操作或數(shù)據(jù)記錄的筆誤。
該方法還包括控制所述控制單元以根據(jù)預(yù)先設(shè)定的壓電性能參數(shù)公式從測(cè)試得到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)計(jì)算出所述待測(cè)壓電材料的間接壓電性能數(shù)據(jù)并發(fā)送至所述顯示單元，所述間接壓電性能數(shù)據(jù)為包括帶寬、介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因子和機(jī)電耦合系數(shù)在內(nèi)的間接壓電性能數(shù)據(jù)。
采用本方法，可對(duì)待測(cè)壓電材料的間接參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，減少了人工計(jì)算間接參數(shù)指標(biāo)的環(huán)節(jié)，不但簡(jiǎn)化了測(cè)試工序，還減少了人工計(jì)算容易發(fā)生錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，提高了測(cè)試效率。
該方法還包括控制所述控制單元以對(duì)各所述直接或間接壓電性能數(shù)據(jù)預(yù)先設(shè)定參考數(shù)據(jù)范圍，判斷測(cè)試得到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)或計(jì)算出的所述間接壓電性能數(shù)據(jù)是否在預(yù)先設(shè)定的所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)，將屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述直接或間接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至所述顯示單元進(jìn)行記錄，對(duì)不屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述直接或間接壓電性能數(shù)據(jù)，所述控制單元向所述顯示單元發(fā)送更換待測(cè)壓電材料的提示指令。
采用本方法，還可在測(cè)試過程中根據(jù)預(yù)先設(shè)定的參數(shù)范圍，對(duì)待測(cè)壓電材料自動(dòng)進(jìn)行合格判斷，將不合格品剔除，對(duì)合格品的各指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行記錄。與傳統(tǒng)方法相比，節(jié)省了在人工計(jì)算間接參數(shù)指標(biāo)后再進(jìn)行人工判斷合格的過程，簡(jiǎn)化了測(cè)試過程，并節(jié)省了測(cè)試時(shí)間。
該方法還包括使所述可程控測(cè)試單元為內(nèi)置GPIB接口的測(cè)試裝置，且所述傳輸單元包括USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置、連接在所述USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的一端與所述控制單元之間的USB電纜、以及連接在所述USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的另一端與所述各可程控測(cè)試單元之間的GPIB電纜。
采用本方法，利用USB/GPIB接口的數(shù)據(jù)傳輸功能，有利于實(shí)現(xiàn)測(cè)試單元與控制單元之間的快速、準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)傳輸。
該方法還包括所述控制單元通過采用Visual Basic語(yǔ)言編程進(jìn)行控制，并使所述顯示單元通過excel表格的形式對(duì)壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，且所述控制單元通過調(diào)用所述可程控測(cè)試單元的專用控制儀器編程語(yǔ)言經(jīng)由所述傳輸單元對(duì)所述可程控測(cè)試單元進(jìn)行控制。
采用本方法，有利于實(shí)現(xiàn)控制單元對(duì)可程控測(cè)試單元的控制，且基于excel強(qiáng)大的表格處理功能，用Visual Basic編程來(lái)實(shí)現(xiàn)軟件的可視性和可操作性。
該方法還包括控制所述控制單元以通過excel的統(tǒng)計(jì)功能對(duì)記錄于所述顯示單元的所述壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)編號(hào)、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)分析。
采用本方法，有利于測(cè)試人員對(duì)所記錄的測(cè)試結(jié)果的讀取、使用，并可對(duì)測(cè)試結(jié)果中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)自動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，避免了大量的人工統(tǒng)計(jì)工作，提高了工作效率。
該方法還包括將所述待測(cè)壓電材料通過測(cè)試夾具與所述各可程控測(cè)試單元相連。
采用本方法，有利于待測(cè)壓電材料與測(cè)試單元之間建立可靠的連接，也便于更換待測(cè)壓電材料，使整個(gè)測(cè)試過程更簡(jiǎn)單。
在本方法中，所述待測(cè)壓電材料可以是圓片型壓電材料。
其中，所述待測(cè)壓電材料的帶寬Δ f通過以下公式計(jì)算Δ f = fa — fr，其中fa 為反諧振頻率，fr為諧振頻率。
所述圓片型壓電材料的介電常數(shù)ε通過以下公式計(jì)算
權(quán)利要求
1.一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括控制單元、與待測(cè)壓電材料相連的多個(gè)可程控測(cè)試單元、以及連接在所述控制單元與所述多個(gè)可程控測(cè)試單元之間的傳輸單元，所述各可程控測(cè)試單元通過所述傳輸單元接收來(lái)自所述控制單元的指令以對(duì)所述待測(cè)壓電材料的壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試得到的直接壓電性能數(shù)據(jù)通過所述傳輸單元反饋至所述控制單元，所述控制單元將接收到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元并進(jìn)行記錄，所述直接壓電性能數(shù)據(jù)為包括諧振頻率、諧振阻抗、反諧振頻率、反諧振阻抗、 電導(dǎo)、電抗、容抗、靜態(tài)電容和介電損耗在內(nèi)的直接壓電性能數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制單元配置為根據(jù)預(yù)先設(shè)定的壓電性能參數(shù)公式從測(cè)試得到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)計(jì)算出所述待測(cè)壓電材料的間接壓電性能數(shù)據(jù)并發(fā)送至所述顯示單元，所述間接壓電性能數(shù)據(jù)為包括帶寬、介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因子和機(jī)電耦合系數(shù)在內(nèi)的間接壓電性能數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制單元配置為對(duì)各所述壓電性能數(shù)據(jù)預(yù)先設(shè)定參考數(shù)據(jù)范圍，判斷獲得的各壓電性能數(shù)據(jù)是否在預(yù)先設(shè)定的所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)，將屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至所述顯示單元進(jìn)行記錄，對(duì)不屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述壓電性能數(shù)據(jù)，所述控制單元向所述顯示單元發(fā)送更換待測(cè)壓電材料的提示指令。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述可程控測(cè)試單元為內(nèi)置GPIB接口的測(cè)試裝置，且所述傳輸單元包括USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置、連接在所述USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的一端與所述控制單元之間的USB電纜、以及連接在所述USB/ GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的另一端與所述各可程控測(cè)試單元之間的GPIB電纜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制單元配置為通過采用Visual Basic語(yǔ)言編程進(jìn)行控制，并使所述顯示單元通過excel表格的形式對(duì)壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，且所述控制單元還配置為通過調(diào)用所述可程控測(cè)試單元的專用控制儀器編程語(yǔ)言經(jīng)由所述傳輸單元對(duì)所述可程控測(cè)試單元進(jìn)行控制。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制單元還配置為通過excel的統(tǒng)計(jì)功能對(duì)記錄于所述顯示單元的所述壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)編號(hào)、 自動(dòng)統(tǒng)計(jì)分析。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測(cè)壓電材料通過測(cè)試夾具與所述各可程控測(cè)試單元相連。
8.一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，包括提供控制單元以及與待測(cè)壓電材料相連的多個(gè)可程控測(cè)試單元；將所述控制單元與所述多個(gè)可程控測(cè)試單元通過傳輸單元相連；控制所述控制單元以通過所述傳輸單元向所述各可程控測(cè)試單元發(fā)送指令，對(duì)所述待測(cè)壓電材料的壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試；所述各可程控測(cè)試單元將測(cè)試得到的直接壓電性能數(shù)據(jù)通過所述傳輸單元反饋至所述控制單元；所述控制單元將接收到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元并進(jìn)行記錄；所述直接壓電性能數(shù)據(jù)為包括諧振頻率、諧振阻抗、反諧振頻率、反諧振阻抗、電導(dǎo)、電抗、容抗、靜態(tài)電容和介電損耗在內(nèi)的直接壓電性能數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，控制所述控制單元以根據(jù)預(yù)先設(shè)定的壓電性能參數(shù)公式從測(cè)試得到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)計(jì)算出所述待測(cè)壓電材料的間接壓電性能數(shù)據(jù)并發(fā)送至所述顯示單元，所述間接壓電性能數(shù)據(jù)為包括帶寬、介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因子和機(jī)電耦合系數(shù)在內(nèi)的間接壓電性能數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，控制所述控制單元以對(duì)各壓電性能數(shù)據(jù)預(yù)先設(shè)定參考數(shù)據(jù)范圍，判斷獲得的各壓電性能數(shù)據(jù)是否在預(yù)先設(shè)定的所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)，將屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至所述顯示單元進(jìn)行記錄，對(duì)不屬于所述參考數(shù)據(jù)范圍內(nèi)的所述壓電性能數(shù)據(jù)，所述控制單元向所述顯示單元發(fā)送更換待測(cè)壓電材料的提示指令。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，使所述可程控測(cè)試單元為內(nèi)置GPIB接口的測(cè)試裝置，且所述傳輸單元包括USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置、連接在所述USB/GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的一端與所述控制單元之間的USB電纜、以及連接在所述USB/ GPIB接口轉(zhuǎn)換裝置的另一端與所述各可程控測(cè)試單元之間的GPIB電纜。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述控制單元通過采用Visual Basic語(yǔ)言編程進(jìn)行控制，并使所述顯示單元通過excel表格的形式對(duì)壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，且所述控制單元通過調(diào)用所述可程控測(cè)試單元的專用控制儀器編程語(yǔ)言經(jīng)由所述傳輸單元對(duì)所述可程控測(cè)試單元進(jìn)行控制。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，控制所述控制單元以通過excel的統(tǒng)計(jì)功能對(duì)記錄于所述顯示單元的所述壓電性能數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)編號(hào)、 自動(dòng)統(tǒng)計(jì)分析。
14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，將所述待測(cè)壓電材料通過測(cè)試夾具與所述各可程控測(cè)試單元相連。
15.根據(jù)權(quán)利要求8所述的壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)壓電材料包括圓片型壓電材料。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種壓電材料性能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括控制單元、與待測(cè)壓電材料相連的多個(gè)可程控測(cè)試單元、以及連接在控制單元與多個(gè)可程控測(cè)試單元之間的傳輸單元，所述各可程控測(cè)試單元通過所述傳輸單元接收來(lái)自所述控制單元的指令以對(duì)所述待測(cè)壓電材料的壓電性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試得到的直接壓電性能數(shù)據(jù)通過所述傳輸單元反饋至所述控制單元，所述控制單元將接收到的所述直接壓電性能數(shù)據(jù)發(fā)送至顯示單元并進(jìn)行記錄，所述直接壓電性能數(shù)據(jù)為包括諧振頻率、諧振阻抗、反諧振頻率、反諧振阻抗、電導(dǎo)、電抗、容抗、靜態(tài)電容和介電損耗在內(nèi)的直接壓電性能數(shù)據(jù)。本系統(tǒng)和方法可對(duì)壓電元器件的性能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R29/22GK102495299SQ20111036321
公開日2012年6月13日 申請(qǐng)日期2011年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月16日
發(fā)明者范曉榮, 董顯林 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所