專利名稱：孔距檢測裝置的制作方法
孔距檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種機(jī)械檢測裝置，尤其是涉及ー種孔距檢測裝置。背景技木隨著機(jī)械加工行業(yè)發(fā)展，大理石以其減震性能優(yōu)良，熱穩(wěn)定性好，外表美觀等諸多優(yōu)點(diǎn)，現(xiàn)已成為很多的精密機(jī)械床身及橫梁部件的設(shè)計(jì)首選。但是由于大理石鉆孔需要采用金剛石砂輪鉆頭，隨著鉆孔數(shù)量增多，砂輪鉆頭磨損變小及砂輪更換，加工設(shè)備的自身累積誤差等因素會造成加工的石頭孔位發(fā)生偏移，就會給我們下一歩安裝エ序帶來問題。現(xiàn)有檢測技術(shù)中采用卷尺進(jìn)行測量很難保證每個(gè)孔間距是否合格；卡尺測量又由于石頭孔易于崩邊而測量不準(zhǔn)；紅膠片測量由于是用肉眼觀察故存在個(gè)體差異且難以量化。故迫切需要ー種操作簡便且可保證測量準(zhǔn)確的測孔工具。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，而提出一種孔距檢測裝置，該裝置檢測石頭的孔距簡單且精確，不會發(fā)生偏移。本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)手段包括，提出ー種孔距檢測裝置，包括至少兩個(gè)檢測體，該檢測體上設(shè)置有若干檢測孔，其中所述的檢測裝置還包括檢測銷，該檢測銷包括中部和兩端的檢測部，該中部與兩端的檢測部同軸，該中部與檢測體相配合，兩檢測部插入兩相鄰檢測孔進(jìn)行檢測。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的孔距檢測裝置，通過插在檢測體上的檢測銷對大理石上的孔距進(jìn)行檢測，改變了傳統(tǒng)用分孔卡尺測量或采用紅膠片底板的檢測方式，消除由于加工時(shí)設(shè)備的累積誤差對石頭孔位的影響，從而提高石頭檢測孔的檢測精度，同時(shí)，該檢測裝置使用時(shí)方便簡捷，能夠?qū)⑵綍r(shí)測量統(tǒng)計(jì)石頭孔徑及孔距等繁瑣的數(shù)據(jù)化為簡單的測量，使檢測結(jié)果更加直觀，提高檢測精確度的同時(shí)也提升了效率。

圖1是本發(fā)明實(shí)施例的檢測體與連接塊連接在一起的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本發(fā)明實(shí)施例的檢測銷插入到檢測體進(jìn)行檢測的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本發(fā)明實(shí)施例的檢測體上開設(shè)有檢測孔及L型槽的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是本發(fā)明實(shí)施例的連接塊上設(shè)置有連接孔及N-N截面結(jié)構(gòu)示意圖。圖5本發(fā)明實(shí)施例的端面定位銷的結(jié)構(gòu)示意圖。圖6是本發(fā)明實(shí)施例的檢測銷的結(jié)構(gòu)示意圖。圖7是本發(fā)明檢測孔距的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式為了進(jìn)一步說明本發(fā)明的原理和結(jié)構(gòu)，現(xiàn)結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。如圖1、圖2和圖6所示，本發(fā)明實(shí)施例提供ー種孔距檢測裝置，包括至少兩個(gè)檢測體，本發(fā)明實(shí)施例是以三個(gè)檢測體1為例，但實(shí)際操作吋，可以是多個(gè)檢測體1。本實(shí)施例中，檢測體1包括檢測體11，檢測體12和檢測體13，該檢測體11，檢測體12和檢測體13 通過連接塊2進(jìn)行連接，該檢測體1上設(shè)置有若干檢測孔14，所述的檢測裝置還包括檢測銷 31或檢測銷32，兩檢測銷31、32僅兩端外徑不同，根據(jù)待檢石頭孔的孔徑大小進(jìn)行選擇使用，檢測銷31或檢測銷32包括中部ΦA(chǔ)和兩端的檢測部(tal和Φ 2，該中部ΦA(chǔ)處與兩端的檢測部ΦβΙ和Φ 2同軸，該中部ΦΑ與檢測體11、12或13所開檢測孔14相配合，兩端檢測部Φα 和Φa2插入兩相鄰待檢石頭孔進(jìn)行檢測。如圖3所示，本發(fā)明實(shí)施例所述的檢測體11、體12及體13側(cè)面開設(shè)有L型槽，其目標(biāo)是為了考慮導(dǎo)軌安裝距靠肩尺寸要求，作為測量待檢石頭孔與靠肩距離是否合格。如圖4所示，本發(fā)明實(shí)施例所述的連接塊2上分別設(shè)置有若干連接孔21，每兩個(gè)連接孔21之間的孔距與檢測體11、體12及體13上的檢測孔14的孔距相一致，孔的直徑大小亦相同。如圖2及5所示，本發(fā)明實(shí)施例所述的檢測體1端面設(shè)置有定位銷41 (或42)，對檢測體11 (或體π)進(jìn)行定位。所述的端面定位銷41或42與待檢石頭孔成1 160錐度的結(jié)構(gòu)。該端面定位銷41和42是根據(jù)待檢石頭孔的孔徑公差范圍之內(nèi)進(jìn)行制作的系列產(chǎn)品，其結(jié)構(gòu)相同，僅配合部分錐度的直徑不相同。如圖7所示，其為本發(fā)明實(shí)施例測量石頭孔距的結(jié)構(gòu)示意圖，首先，檢測時(shí)將待檢石頭檢具放置在待檢橫梁孔處，靠肩貼緊石頭導(dǎo)軌安裝靠肩基面，將檢測體11或檢測體13 端部裝入端面定位銷41或端面定位銷42 ；然后用2個(gè)連接塊2分別連接檢測體11與檢測體12，檢測體12與檢測體13，并在其中插入檢測銷31或32，具體使用檢測銷須視石頭實(shí)際孔徑而定。如圖3所示，視待檢石頭孔的孔徑合格尺寸大小，分別選取不同直徑的檢測銷31 或32進(jìn)行檢測。具體方法為固定檢測體11或檢測體13 —端，用兩塊連接塊2分別連接檢測體11與檢測體12，檢測體12與檢測體13。用選定規(guī)格的檢測銷31或32沿定位銷ー 端依次對各個(gè)檢測孔14位進(jìn)行檢測，分別將檢測銷31或32穿過檢測體11、檢測體12及檢測體13上的檢測孔14，再插入待檢石頭孔，如可順利放入，則大理石孔合格，否則視為不合格。本發(fā)明實(shí)施例的工作原理是由于石頭加工孔距隨著設(shè)備距離起始點(diǎn)位移的増加而使累積誤差増大，加上金剛石鉆頭鉆削石頭磨損，勢必會對檢測體1的孔徑及孔距產(chǎn)生影響。本裝置通過限定檢測體11、體12與體13上所開的檢測孔14與孔之間的公差在使用允許范圍之內(nèi)來保證檢測的準(zhǔn)確性；并通過檢測銷31或32中間部分ΦΑ與檢測體11、體 12及體13所開的檢測孔14配合，下半部分與待檢石頭孔相配合，通過對檢測銷31或32上下圓柱部分同心度的約定而使檢測銷所檢測的石頭孔距反饋給體11、體12及體13，如可以放入石頭中，則即滿足尺寸公差要求。本エ裝使用方便簡捷，能夠化平時(shí)測量統(tǒng)計(jì)石頭孔徑及孔距等繁瑣的數(shù)據(jù)為簡單的測量，使檢測結(jié)果更直觀。使檢測石頭孔更方便更快捷。提高了檢測的準(zhǔn)確率的同時(shí)效率也得以提升。
以上僅為本發(fā)明的較佳可行實(shí)施例，并非限制本發(fā)明的保護(hù)范圍，故凡運(yùn)用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所做出的等效結(jié)構(gòu)變化，均包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.ー種孔距檢測裝置，包括至少兩個(gè)檢測體，該檢測體上設(shè)置有若干檢測孔，其特征在干所述的檢測裝置還包括檢測銷，該檢測銷包括中部和兩端的檢測部，該中部與檢測體相配合，兩端檢測部插入兩相鄰檢測孔進(jìn)行檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的孔距檢測裝置，其特征在于所述的檢測體之間通過連接塊進(jìn)行連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的孔距檢測裝置，其特征在于所述的檢測體端面設(shè)置有定位銷，對檢測體進(jìn)行定位。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的孔距檢測裝置，其特征在于所述的端面定位銷與被檢測端部孔相配合部分成1 160錐度的結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的孔距檢測裝置，其特征在于所述的檢測體側(cè)面開設(shè)有L型槽。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的孔距檢測裝置，其特征在于所述的每塊連接塊上分別設(shè)置有兩個(gè)孔，且連接塊上兩個(gè)孔間的孔距與檢測體上的孔距相一致。
全文摘要
本發(fā)明提供一種孔距檢測裝置，包括至少兩個(gè)檢測體，每個(gè)檢測體上設(shè)置有若干檢測孔，其中所述的檢測裝置還包括檢測銷，該檢測銷包括中部和兩端的檢測部，該中部與兩端的檢測部同軸，該中部與檢測體相配合，兩檢測部插入兩相鄰檢測孔進(jìn)行檢測；本發(fā)明通過插在檢測體上的檢測銷對大理石上的孔距進(jìn)行檢測，改變了傳統(tǒng)用分孔卡尺測量或采用紅膠片底板的檢測方式，消除由于加工時(shí)設(shè)備的累積誤差對大理石孔位的影響，從而提高大理石檢測孔的檢測精度，同時(shí)，該檢測裝置使用時(shí)方便簡捷，能夠?qū)⑵綍r(shí)測量統(tǒng)計(jì)大理石孔徑及孔距等繁瑣的數(shù)據(jù)化為簡單的測量，使檢測結(jié)果更加直觀，提高檢測精確度的同時(shí)也提升了效率。
文檔編號G01B5/14GK102564268SQ20111041988
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月15日
發(fā)明者唐福儉, 高云峰 申請人:深圳市大族數(shù)控科技有限公司, 深圳市大族激光科技股份有限公司