專利名稱：一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于瓦楞紙板機(jī)械制造領(lǐng)域，具體涉及一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置及方法。
背景技術(shù)：
目前的瓦楞紙板生產(chǎn)線上涂漿機(jī)對瓦楞紙的涂漿厚度的控制，如圖(1)所示，為現(xiàn)有常用的瓦楞紙板生產(chǎn)過程中涂漿機(jī)控漿裝置及方式，主要過程是涂漿輥1在漿盆3上沾上漿料8后，經(jīng)過控漿輥2刮漿，將厚度11的涂漿涂在單面瓦楞紙9上，最后單面瓦楞紙9與面紙10進(jìn)行粘合，其涂漿厚度檢測方式是根據(jù)涂漿輥1軸心坐標(biāo)101、控漿輥2軸心坐標(biāo)201、涂漿輥1半徑102、控漿輥2半徑202，計算涂漿輥1和控漿輥2之間的間隙，即得到涂漿厚度11。這種方式的主要問題是由于安裝或者機(jī)械振動等原因，涂漿輥1和控漿輥2的軸心坐標(biāo)都很難確定。此外，由于涂漿輥1和控漿輥2在涂漿和刮漿的過程中受到磨損，他們的半徑也會隨使用時間以及工作量的增大而減小。所以這種測量方式精度不夠高，容易導(dǎo)致漿料浪費和生產(chǎn)質(zhì)量不合格等。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種提高上漿量厚度測量精度，提高成品質(zhì)量和成品合格率的涂漿機(jī)上漿量檢測裝置。本發(fā)明還提供一種提高上漿量厚度測量精度，提高成品質(zhì)量和成品合格率的涂漿機(jī)上漿量檢測方法。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明第一個目的是實現(xiàn)一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置，其采用的技術(shù)方案如下
一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置，包括涂漿輥、控漿輥、漿盆，還包括用于檢測涂漿輥上涂漿厚度的膜厚計、用于對涂漿輥和控漿輥進(jìn)行位置調(diào)整的運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)、用于接收膜厚計數(shù)據(jù)并對運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)進(jìn)行控制的系統(tǒng)控制器，所述膜厚計設(shè)置在涂漿輥和控漿輥的上方，膜厚計與系統(tǒng)控制器連接，系統(tǒng)控制器與運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接，運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)與涂漿輥、控漿輥連接。上述方案中，所述膜厚計為P偏光方式紅外線膜厚計。上述方案中，所述系統(tǒng)控制器還連接有用于顯示系統(tǒng)控制器數(shù)據(jù)的顯示器。本發(fā)明的第二個目的是實現(xiàn)一種涂漿機(jī)上漿量檢測方法，其采用的技術(shù)方案如下
一種涂漿機(jī)上漿量檢測方法，包括如下步驟涂漿輥轉(zhuǎn)動經(jīng)過漿盆沾上漿料，再經(jīng)過控漿輥進(jìn)行刮漿處理；利用膜厚計對涂漿輥上的涂漿厚度進(jìn)行實時檢測；膜厚計將檢測到的涂漿厚度實時數(shù)據(jù)發(fā)送給系統(tǒng)控制器；涂漿輥將漿料涂在單面瓦楞紙上，單面瓦楞紙與面紙進(jìn)行粘合；系統(tǒng)控制器根據(jù)接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標(biāo)準(zhǔn)厚度的偏差值； 運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)根據(jù)偏差值調(diào)整涂漿輥與控漿輥之間的間隙； 調(diào)整后的涂漿輥進(jìn)行下一次的沾漿料操作。上述方案中，所述膜厚計為P偏光方式紅外線膜厚計。上述方案中，所述P偏光方式紅外線膜厚計對涂漿輥上漿量進(jìn)行實時檢測前還需進(jìn)行如下步驟
利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同材料的漿料進(jìn)行實驗檢測，獲取不同材料的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系；
利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同濃度的漿料進(jìn)行實驗檢測，獲取不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系；
根據(jù)獲取的對應(yīng)關(guān)系和要進(jìn)行實時檢測的漿料的材料、濃度設(shè)置要進(jìn)行實時檢測的P 偏光方式紅外線膜厚計的位置。 上述方案中，系統(tǒng)控制器中的數(shù)據(jù)通過顯示器顯示。上述方案中，膜厚計對上漿量厚度的檢測為在線檢測或離線檢測。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明技術(shù)方案的有益效果是
本發(fā)明在涂漿輥對瓦楞紙涂漿之前，采用P偏光方式紅外線膜厚計對漿料厚度進(jìn)行檢測，能夠提高上漿量厚度測量精度，并根據(jù)實測的漿料厚度反饋給系統(tǒng)控制器，系統(tǒng)控制器根據(jù)實測漿料厚度與要求的標(biāo)準(zhǔn)漿料厚度進(jìn)行比對，從而調(diào)整涂漿輥與控漿輥之間的間隙。保證涂在瓦楞紙上的漿料厚度達(dá)到預(yù)設(shè)要求，同時涂漿厚度比較均勻。在節(jié)約漿料的同時，有效地提高了成品質(zhì)量和成品合格率。本發(fā)明還設(shè)置了與系統(tǒng)控制器連接的顯示器， 系統(tǒng)控制器所接收到數(shù)據(jù)和經(jīng)過其處理的相關(guān)數(shù)據(jù)都可以通過顯示器顯示出來，可以對涂漿厚度進(jìn)行實時的人性化監(jiān)控，此外，膜厚計對漿料厚度的檢測可以采用在線檢測和離線檢測，既可以對實時的生產(chǎn)進(jìn)行檢測和監(jiān)控，還可以對將對漿料的檢測應(yīng)用到除在線生產(chǎn)外的離線檢測中，如獲取不同材料的漿料或不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系時，可以采用離線方式進(jìn)行檢測，此時無需開啟整個瓦楞紙板生產(chǎn)線就可以進(jìn)行檢測，只需運行涂漿輥、膜厚計、控制器、顯示器等相關(guān)部件就對涂漿輥上的上漿量厚度進(jìn)行檢測，大大節(jié)省了生產(chǎn)成本，更大大方便了整個檢測過程。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中對涂漿機(jī)上漿量厚度常用檢測方式的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為本發(fā)明中一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置結(jié)構(gòu)示意圖3為本發(fā)明中一種涂漿機(jī)上漿量檢測方法的流程圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的說明。如圖2所示，本發(fā)明中一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置，包括涂漿輥1、控漿輥2、漿盆 3，膜厚計4、運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)5 (圖中未顯示)、系統(tǒng)控制器6和顯示器7 ；
膜厚計4為P偏光方式紅外線膜厚計，其設(shè)置在涂漿輥1和控漿輥2的上方，用于檢測涂漿輥上涂漿厚度；運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)5與涂漿輥1、控漿輥2連接，系統(tǒng)控制器6與膜厚計4、運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)5連接，接收膜厚計檢測的數(shù)據(jù)，并根據(jù)接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標(biāo)準(zhǔn)厚度的偏差值，運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)5根據(jù)偏差值對涂漿輥和控漿輥進(jìn)行位置調(diào)整。顯示器7與系統(tǒng)控制器6連接，用于顯示系統(tǒng)控制器中相關(guān)數(shù)據(jù)。如圖3所示，為本發(fā)明中一種涂漿機(jī)上漿量檢測方法流程圖，所述方法包括如下步驟
(51)涂漿輥1轉(zhuǎn)動經(jīng)過漿盆3沾上漿料8，再經(jīng)過控漿輥2進(jìn)行刮漿處理；
(52)利用膜厚計4對涂漿輥1上的涂漿厚度進(jìn)行實時檢測；膜厚計4為P偏光方式紅外線膜厚計
(53)膜厚計4將檢測到的涂漿厚度實時數(shù)據(jù)發(fā)送給系統(tǒng)控制器6；
(54)涂漿輥1將漿料8涂在單面瓦楞紙9上，單面瓦楞紙9與面紙10進(jìn)行粘合；
(55)系統(tǒng)控制器6根據(jù)接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標(biāo)準(zhǔn)厚度的偏差值；
(56)運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)5根據(jù)偏差值調(diào)整涂漿輥1與控漿輥2之間的間隙；
(57)調(diào)整后的涂漿輥1進(jìn)行下一次的沾漿料操作。實時調(diào)整涂漿輥1與控漿輥2之間的間隙，可以保證涂中瓦楞紙上的漿料8厚度達(dá)到預(yù)期設(shè)計要求，同時保證了涂漿厚度比較均勻，在節(jié)約漿料的同時，有效提高了成品質(zhì)量和成品合格率。膜厚計4對上漿量厚度的檢測采用在線檢測或離線檢測，系統(tǒng)控制器6中的數(shù)據(jù)通過顯示器8顯示，上漿量的厚度曲線可以通過顯示器8直接觀察，對涂漿機(jī)的上漿量進(jìn)行實時監(jiān)控。P偏光方式紅外線膜厚計4對涂漿輥1上漿量進(jìn)行實時檢測前還需進(jìn)行如下步驟
利用P偏光方式紅外線膜厚計4對不同材料的漿料進(jìn)行實驗檢測，獲取不同材料的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系；
利用P偏光方式紅外線膜厚計4對不同濃度的漿料進(jìn)行實驗檢測，獲取不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系；
根據(jù)獲取的對應(yīng)關(guān)系和要進(jìn)行實時檢測的漿料的材料、濃度設(shè)置要進(jìn)行實時檢測的P偏光方式紅外線膜厚計的位置。
權(quán)利要求
1.一種涂漿機(jī)上漿量檢測裝置，包括涂漿輥(1)、控漿輥(2)、漿盆(3)，其特征在于，還包括用于檢測涂漿輥(1)上涂漿厚度的膜厚計(4 )、用于對涂漿輥(1)和控漿輥(2 )進(jìn)行位置調(diào)整的運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5)、用于接收膜厚計(4)數(shù)據(jù)并對運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5)進(jìn)行控制的系統(tǒng)控制器(6)，所述膜厚計(4)設(shè)置在涂漿輥(1)和控漿輥(2)的上方，膜厚計(4)與系統(tǒng)控制器(6 )連接，系統(tǒng)控制器(6 )與運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5 )連接，運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5 )與涂漿輥(1)、 控漿輥(2)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的涂漿機(jī)上漿量檢測裝置，其特征在于，所述膜厚計(4)為P偏光方式紅外線膜厚計。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的涂漿機(jī)上漿量檢測裝置，其特征在于，所述系統(tǒng)控制器還連接有用于顯示系統(tǒng)控制器數(shù)據(jù)的顯示器(J)。
4.一種涂漿機(jī)上漿量檢測方法，其特征在于，包括如下步驟涂漿輥(1)轉(zhuǎn)動經(jīng)過漿盆(3 )沾上漿料(8 )，再經(jīng)過控漿輥(2 )進(jìn)行刮漿處理；利用膜厚計(4)對涂漿輥(1)上的涂漿厚度進(jìn)行實時檢測；膜厚計(4)將檢測到的涂漿厚度實時數(shù)據(jù)發(fā)送給系統(tǒng)控制器(6)；涂漿輥(1)將漿料涂在單面瓦楞紙(9)上，單面瓦楞紙(9)與面紙(10)進(jìn)行粘合；系統(tǒng)控制器(6)根據(jù)接收到的涂漿厚度計算出涂漿實測厚度與標(biāo)準(zhǔn)厚度的偏差值；運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)(5)根據(jù)偏差值調(diào)整涂漿輥(1)與控漿輥(2)之間的間隙；調(diào)整后的涂漿輥(1)進(jìn)行下一次的沾漿料操作。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的涂漿機(jī)上漿量檢測方法，其特征在于，所述膜厚計(4)為P偏光方式紅外線膜厚計。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的涂漿機(jī)上漿量檢測方法，其特征在于，所述P偏光方式紅外線膜厚計對涂漿輥(1)上漿量進(jìn)行實時檢測前還需進(jìn)行如下步驟利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同材料的漿料進(jìn)行實驗檢測，獲取不同材料的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系；利用P偏光方式紅外線膜厚計對不同濃度的漿料進(jìn)行實驗檢測，獲取不同濃度的漿料與P偏光方式紅外線膜厚計接收正反射光的對應(yīng)關(guān)系；根據(jù)獲取的對應(yīng)關(guān)系和要進(jìn)行實時檢測的漿料的材料、濃度設(shè)置要進(jìn)行實時檢測的P 偏光方式紅外線膜厚計的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的涂漿機(jī)上漿量檢測方法，系統(tǒng)控制器(6)中的數(shù)據(jù)通過顯示器(8)顯示。
8.根據(jù)權(quán)利要求4至7任一項所述的涂漿機(jī)上漿量檢測方法，其特征在于，膜厚計(4) 對上漿量厚度的檢測為在線檢測或離線檢測。
全文摘要
本發(fā)明屬于瓦楞紙板機(jī)械制造領(lǐng)域，具體涉及一種涂漿機(jī)上漿量的檢測裝置及方法。所述裝置包括涂漿輥、控漿輥、漿盆，還包括用于檢測涂漿輥上涂漿厚度的膜厚計、用于對涂漿輥和控漿輥進(jìn)行位置調(diào)整的運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)、用于接收膜厚計數(shù)據(jù)并對運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)進(jìn)行控制的系統(tǒng)控制器，所述膜厚計設(shè)置在涂漿輥和控漿輥的上方，膜厚計與系統(tǒng)控制器連接，系統(tǒng)控制器與運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接，運動執(zhí)行機(jī)構(gòu)與涂漿輥、控漿輥連接。本發(fā)明能提高上漿量厚度測量精度，保證涂在瓦楞紙上的漿料厚度達(dá)到預(yù)設(shè)要求，同時涂漿厚度比較均勻。在節(jié)約漿料的同時，有效地提高了成品質(zhì)量和成品合格率。
文檔編號G01B11/06GK102553787SQ201110437250
公開日2012年7月11日 申請日期2011年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月23日
發(fā)明者田剛, 程良倫, 黃加異, 黃雙歡, 黃曼 申請人:廣東工業(yè)大學(xué)