專(zhuān)利名稱(chēng)：相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種相機(jī)模組測(cè)試系統(tǒng)，特別涉及一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
目前越來(lái)越多電子產(chǎn)品內(nèi)包含可拍照、錄像的攝影單元，如手機(jī)、平版計(jì)算機(jī)等。每個(gè)可拍照、錄像的攝影單元內(nèi)都有至少一個(gè)相機(jī)模組，每個(gè)相機(jī)模組都由感應(yīng)器、鏡頭等主要組件所組成，在組合的過(guò)程中，可能會(huì)有微小顆粒掉入其中，如果成像區(qū)域內(nèi)有微小顆粒，則成像上就會(huì)產(chǎn)生色度不均勻、有污霧的一個(gè)污點(diǎn)區(qū)域，現(xiàn)有的檢測(cè)方式為通過(guò)人眼來(lái)會(huì)判，但是，每人的視覺(jué)感官不同，標(biāo)準(zhǔn)也不盡相同，因此，易產(chǎn)生誤判或漏判，而且檢測(cè)效率比較低。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種自動(dòng)檢測(cè)污點(diǎn)的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法。一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，其包括相機(jī)模組及與該相機(jī)模組相連的信號(hào)處理器，該信號(hào)處理器包括區(qū)域劃分模組、亮度讀取模組及運(yùn)算判斷模組，該區(qū)域劃分模組用于將該相機(jī)模組采集的圖像畫(huà)面劃分為多個(gè)測(cè)試區(qū)域，該亮度讀取模組用于讀取圖像畫(huà)面中多個(gè)測(cè)試區(qū)域的測(cè)試點(diǎn)的亮度值，該運(yùn)算判斷模組預(yù)設(shè)一個(gè)臨界對(duì)比度，用于運(yùn)算各測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)周邊的亮度對(duì)比度，如果該對(duì)比度小于或等于預(yù)設(shè)的臨界對(duì)比度，則該測(cè)試點(diǎn)為污點(diǎn)。一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法，其采用上述相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試相機(jī)模組是否存在污點(diǎn)，該相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法如下:連接該相機(jī)模組與該信號(hào)處理器，于該運(yùn)算處理模組中設(shè)定一個(gè)臨界對(duì)比度；該區(qū)域劃分模組將圖像畫(huà)面分割成多個(gè)測(cè)試區(qū)域；該運(yùn)算判斷模組運(yùn)算各測(cè)試區(qū)域中各測(cè)試點(diǎn)亮度與測(cè)試點(diǎn)周邊亮度比值，如果該對(duì)比度小于或等于預(yù)設(shè)的臨界對(duì)比度，則該測(cè)試點(diǎn)為污點(diǎn)。通過(guò)上述相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，利用區(qū)域劃分模組對(duì)相機(jī)模組采集的圖像畫(huà)面進(jìn)行區(qū)域劃分，運(yùn)算判斷模組對(duì)各區(qū)域測(cè)試點(diǎn)亮度與測(cè)試點(diǎn)周邊區(qū)域亮度進(jìn)行對(duì)比并判斷是否小于或等于臨界對(duì)比度，判斷精確而且效率高。


圖1是本實(shí)施方式的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的模組示意圖。圖2是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的方法示意圖。圖4是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的方塊劃分示意圖。圖5是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的區(qū)域劃分示意圖。
圖6是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)區(qū)域測(cè)試示意圖。圖7是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的另一個(gè)區(qū)域測(cè)試示意圖。圖8是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的又一個(gè)區(qū)域測(cè)試示意圖。圖9是圖1所示的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的又一個(gè)區(qū)域測(cè)試示意圖。
權(quán)利要求
1.一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，包括相機(jī)模組，其特征在于:該相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)還包括與該相機(jī)模組相連的信號(hào)處理器，該信號(hào)處理器包括區(qū)域劃分模組、亮度讀取模組及運(yùn)算判斷模組，該區(qū)域劃分模組用于將該相機(jī)模組采集的圖像畫(huà)面劃分為多個(gè)測(cè)試區(qū)域，該亮度讀取模組用于讀取圖像畫(huà)面中多個(gè)測(cè)試區(qū)域的測(cè)試點(diǎn)的亮度值，該運(yùn)算判斷模組預(yù)設(shè)有一個(gè)臨界對(duì)比度，并運(yùn)算各測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)周邊的亮度的對(duì)比度，如果該對(duì)比度小于或等于預(yù)設(shè)的臨界對(duì)比度，則該測(cè)試點(diǎn)為污點(diǎn)。
2.如權(quán)利要求1所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:該相機(jī)模組包括一個(gè)發(fā)送圖像畫(huà)面的信號(hào)發(fā)送器，該信號(hào)處理器還包括一個(gè)信號(hào)接收模組，信號(hào)接收模組接收該信號(hào)發(fā)送器發(fā)送的圖像畫(huà)面信號(hào)，該區(qū)域劃分模組對(duì)信號(hào)接收模組接收的畫(huà)面進(jìn)行測(cè)試區(qū)域劃分。
3.如權(quán)利要求1所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:該信號(hào)處理器還包括存儲(chǔ)模組，用于存儲(chǔ)該亮度讀取模組讀取的各測(cè)試區(qū)域的測(cè)試點(diǎn)亮度值，該運(yùn)算判斷模組從該存儲(chǔ)模組讀取需要比對(duì)的亮度值。
4.如權(quán)利要求2所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:該信號(hào)處理器還包括顯示屏，該顯示屏顯示該信號(hào)接收模組接收的圖像畫(huà)面，而且能根據(jù)運(yùn)算判斷模組判斷的結(jié)果標(biāo)示污點(diǎn)所在區(qū)域。
5.如權(quán)利要求2所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:該相機(jī)模組還包括鏡頭及感應(yīng)器，該感應(yīng)器通過(guò)該鏡頭進(jìn)行圖像采集，并將采集的圖像畫(huà)面?zhèn)魉徒o信號(hào)發(fā)送器發(fā)送。
6.一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試 方法，其采用權(quán)利要求1所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試相機(jī)模組是否存在污點(diǎn)，該相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法如下: 連接該相機(jī)模組與該信號(hào)處理器，于該運(yùn)算處理模組中設(shè)定一臨界對(duì)比度； 該區(qū)域劃分模組將圖像畫(huà)面劃分成多個(gè)測(cè)試區(qū)域； 該運(yùn)算判斷模組運(yùn)算各測(cè)試區(qū)域中各測(cè)試點(diǎn)亮度與測(cè)試點(diǎn)周邊亮度的對(duì)比度，如果該對(duì)比度小于或等于預(yù)設(shè)的臨界對(duì)比度，則該測(cè)試點(diǎn)為污點(diǎn)。
7.如權(quán)利要求6所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法，其特征在于:區(qū)域劃分模組將畫(huà)面劃分成多個(gè)測(cè)試區(qū)域的方法如下: 區(qū)域劃分模組先將畫(huà)面劃分為多個(gè)方塊； 區(qū)域劃分模組再將已劃分為多個(gè)方塊的畫(huà)面劃分為多個(gè)測(cè)試區(qū)域，每一測(cè)試區(qū)域占據(jù)多個(gè)方塊。
8.如權(quán)利要求7所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法，其特征在于:該區(qū)域劃分模組將圖像畫(huà)面劃分成九個(gè)測(cè)試區(qū)域，該九個(gè)測(cè)試區(qū)域分別為一個(gè)中央測(cè)試區(qū)域，位于該中央測(cè)試區(qū)域上下兩側(cè)的兩個(gè)水平測(cè)試區(qū)域，位于該中央測(cè)試區(qū)域左右兩側(cè)的兩個(gè)垂直測(cè)試區(qū)域，以及四個(gè)角落測(cè)試區(qū)域。
9.如權(quán)利要求8所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法，其特征在于:該運(yùn)算判斷模組對(duì)各區(qū)域運(yùn)算時(shí)，于測(cè)試點(diǎn)周邊定義空格區(qū)域及對(duì)比區(qū)域，該空格區(qū)域及該對(duì)比區(qū)域分別占據(jù)至少一個(gè)方塊，該運(yùn)算判斷模組運(yùn)算測(cè)試點(diǎn)的亮度值與該對(duì)比區(qū)域的亮度平均值的亮度比值，如果該亮度比值小于或等于預(yù)設(shè)的臨界對(duì)比度，則該測(cè)試點(diǎn)為污點(diǎn)。
10.如權(quán)利要求9所述的相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試方法，其特征在于:該兩個(gè)水平測(cè)試區(qū)域的空格區(qū)域及對(duì)比區(qū)域定義于測(cè)試點(diǎn)水平向兩側(cè)，該兩個(gè)垂直測(cè)試區(qū)域的空格區(qū)域及對(duì)比區(qū)域定義于測(cè)試點(diǎn)垂直向兩側(cè)，四個(gè)角落測(cè)試區(qū)域的空格區(qū)域及對(duì)比區(qū)域定義于測(cè)試點(diǎn)水平向一側(cè)及垂直向一側(cè)，圖像畫(huà)面居中的測(cè)試區(qū)域的空格區(qū)域及對(duì)比區(qū)域定義于測(cè)試點(diǎn)水平向兩側(cè)及 垂直向兩側(cè)。
全文摘要
一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)，其包括相機(jī)模組及與相機(jī)模組相連的信號(hào)處理器，信號(hào)處理器包括區(qū)域劃分模組、亮度讀取模組及運(yùn)算判斷模組，區(qū)域劃分模組用于將相機(jī)模組采集的圖像畫(huà)面劃分為多個(gè)測(cè)試區(qū)域，亮度讀取模組用于讀取圖像畫(huà)面中多個(gè)測(cè)試區(qū)域的測(cè)試點(diǎn)的亮度值，運(yùn)算判斷模組預(yù)設(shè)一個(gè)臨界對(duì)比度，用于運(yùn)算各測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)周邊的亮度的對(duì)比度，如果對(duì)比度小于或等于預(yù)設(shè)的臨界對(duì)比度，則測(cè)試點(diǎn)為污點(diǎn)。本發(fā)明還提供一種相機(jī)模組污點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法。該測(cè)試系統(tǒng)的區(qū)域劃分模組對(duì)相機(jī)模組采集的圖像畫(huà)面進(jìn)行區(qū)域劃分，運(yùn)算判斷模組對(duì)各區(qū)域測(cè)試點(diǎn)亮度與測(cè)試點(diǎn)周邊區(qū)域亮度進(jìn)行對(duì)比并判斷是否小于或等于臨界對(duì)比度，判斷精確而且效率高。
文檔編號(hào)G01N21/88GK103179428SQ201110437300
公開(kāi)日2013年6月26日 申請(qǐng)日期2011年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月23日
發(fā)明者吳炯陞 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司