專利名稱：熱釋光探測元件照射盒的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種熱釋光探測元件篩選照射盒(以下簡稱照射盒)。
背景技術：
熱釋光探測器技術是在六十年代發(fā)展起來的一種劑量測量方法。熱釋光探測器具有能量響應好、靈敏度高、受環(huán)境影響小、使用方便、可測X、β、Y、η等多種射線的優(yōu)點。廣泛應用于輻射防護、放射醫(yī)學、放射生物學、地質(zhì)學、考古學和環(huán)境保護等領域。熱釋光探測器中的探測元件是由氟化鋰(LiF:Mg，Cu, P)制成的，其制作過程是將氟化鋰(LiF:Mg*Cu*P)經(jīng)250°C退火后封閉在小塑料管中作為探測元件，該探測元件再經(jīng)標準輻射場輻照即成。在輻照時，為保證各探測元件的一致性以及輻照密度，通常需要人工對其進行擺放、排版，但由于探測元件尺寸較小(例如，管狀的外形尺寸為外徑2毫米，長約 12毫米)，因此擺放較為困難，工作效率較低。

實用新型內(nèi)容為克服上述缺陷，本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的探測元件用照射盒為達到上述目的，本實用新型探測元件用照射盒，為內(nèi)部具有開口向上的具有倒C 形容置腔的非金屬透光平板，所述的C形容置腔的厚度與探測元件的尺寸相適配。特別是，在所述的照射盒上方設有裝料漏斗，所述的裝料漏斗為長條形漏斗，其中漏斗下端開口為長條形，其長度大于一個探測元件的長度，其厚度與隔板厚度相適配。特別是，所述的裝料漏斗下方設有滑動裝料漏斗卡槽，裝料漏斗卡槽的厚度與照射盒厚度相適配；所述的裝料漏斗通過卡槽卡設在照射盒上，并能沿照射盒上端滑動。特別是，所述的照射盒上方設有滑動卡槽，照射盒卡槽的厚度與漏斗下端厚度相適配；所述的裝料漏斗下端設在照射盒的卡槽內(nèi)，并能沿照射盒卡槽滑動。為達到上述目的，本實用新型的照射盒為兩非金屬透光平板，在兩非金屬透光平板中間固設內(nèi)有開口朝上的倒C形孔的隔板以形成一倒C形容置腔，，所述的C形容置腔的厚度與探測元件的尺寸相適配。特別是，在所述的照射盒上方設有裝料漏斗，所述的裝料漏斗為長條形漏斗，其中漏斗下端開口為長條形，其長度大于一個探測元件的長度，其厚度與隔板厚度相適配。特別是，所述的裝料漏斗下方設有滑動裝料漏斗卡槽，裝料漏斗卡槽的厚度與照射盒厚度相適配；所述的裝料漏斗通過卡槽卡設在照射盒上，并能沿照射盒上端滑動。特別是，所述的照射盒上方設有滑動卡槽，照射盒卡槽的厚度與漏斗下端厚度相適配；所述的裝料漏斗下端設在照射盒的卡槽內(nèi)，并能沿照射盒卡槽滑動。采用上述結(jié)構(gòu)，可以將多個探測元件放入照射盒上方開口，或通過漏斗放入照射盒上方開口，使探測元件掉入到C形容置空間內(nèi)，可以較為方便地對探測元件進行擺放，擺放速度快，整體結(jié)構(gòu)簡單，使用方便。
圖1為本實用新型的實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為圖1的A-A向示意圖。圖3A為圖1的B-B向示意分解圖。圖:3B為圖1的B-B向示意圖。圖4為另一實施例的剖視示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型作進一步的說明。如圖1至圖4所示，本實用新型探測元件用照射盒1，為內(nèi)部具有開口向上的具有倒C形容置腔11的非金屬透光平板，其中，C形容置腔的厚度與探測元件的尺寸相適配。這樣，可以將多個探測元件放入照射盒上方開口，使探測元件掉入到C形容置空間11內(nèi)(排版時，可根據(jù)需要進行輕微晃動，以便于排版)，可以較為方便地對探測元件進行擺放，直到排滿。排版速度快，整體結(jié)構(gòu)簡單，使用方便。本實用新型的照射盒的加工方法可有多種，例如可以將非金屬透光平板通過刀具將其內(nèi)部掏空，也可以如圖2所示，采用兩塊非金屬透光平板制作，在兩非金屬透光平板中間固設內(nèi)有開口朝上的倒C形孔的隔板，以形成一倒C形容置腔，所述的C形容置腔11的厚度與探測元件的尺寸相適配。還可以采用兩塊非金屬透光平板，其中一塊非金屬透光平板上加工成一個倒C形凹槽后再與另一非金屬透光平板合并。作為本實用新型進一步的改進，在所述的照射盒上方設有裝料漏斗2，所述的裝料漏斗為長條形漏斗，其中漏斗下端開口為長條形，其長度大于一個探測元件的長度，其厚度與隔板厚度相適配。作為本實用新型進一步的改進，如圖4所示，所述的裝料漏斗2下方設有滑動裝料漏斗卡槽，裝料漏斗卡槽的厚度與照射盒厚度相適配；所述的裝料漏斗2通過卡槽卡設在照射盒上，并能沿照射盒上端滑動。作為本實用新型進一步的改進，如圖3A和圖:3B所示，所述的照射盒上方設有滑動卡槽12，照射盒卡槽的厚度與漏斗下端厚度相適配；所述的裝料漏斗2下端設在照射盒的卡槽內(nèi)，并能沿照射盒卡槽滑動。以上所述，僅是本實用新型的較佳實施例而已，并非是對本實用新型作其它形式的限制，任何熟悉本專業(yè)的技術人員可能利用上述揭示的技術內(nèi)容加以變更或改型為等同變化的等效實施例。但是凡是未脫離本實用新型技術方案內(nèi)容，依據(jù)本實用新型的技術實質(zhì)對以上實例所作的任何簡單修改、等同變化與改型，仍屬于本實用新型技術方案的保護范圍。
權(quán)利要求1.一種熱釋光探測元件照射盒，其特征在于，所述照射盒為內(nèi)部具有開口向上的具有倒C形容置腔的非金屬透光平板，所述的C形容置腔的厚度與探測元件的尺寸相適配。
2.如權(quán)利要求1所述的探測元件用照射盒，其特征在于，在所述的照射盒上方設有裝料漏斗，所述的裝料漏斗為長條形漏斗，其中漏斗下端開口為長條形，其長度大于一個探測元件的長度，其厚度與隔板厚度相適配。
3.如權(quán)利要求2所述的探測元件用照射盒，其特征在于，所述的裝料漏斗下方設有滑動裝料漏斗卡槽，裝料漏斗卡槽的厚度與照射盒厚度相適配；所述的裝料漏斗通過卡槽卡設在照射盒上，并能沿照射盒上端滑動。
4.如權(quán)利要求1所述的探測元件用照射盒，其特征在于，所述的照射盒上方設有滑動卡槽，照射盒卡槽的厚度與漏斗下端厚度相適配；所述的裝料漏斗下端設在照射盒的卡槽內(nèi)，并能沿照射盒卡槽滑動。
5.一種探測元件用照射盒，其特征在于，所述照射盒為兩非金屬透光平板，在兩非金屬透光平板中間固設內(nèi)有開口朝上的倒C形孔的隔板以形成一倒C形容置腔，所述的C形容置腔的厚度與探測元件的尺寸相適配。
6.如權(quán)利要求5所述的探測元件用照射盒，其特征在于，在所述的照射盒上方設有裝料漏斗，所述的裝料漏斗為長條形漏斗，其中漏斗下端開口為長條形，其長度大于一個探測元件的長度，其厚度與隔板厚度相適配。
7.如權(quán)利要求6所述的探測元件用照射盒，其特征在于，所述的裝料漏斗下方設有滑動裝料漏斗卡槽，裝料漏斗卡槽的厚度與照射盒厚度相適配；所述的裝料漏斗通過卡槽卡設在照射盒上，并能沿照射盒上端滑動。
8.如權(quán)利要求5所述的探測元件用照射盒，其特征在于，所述的照射盒上方設有滑動卡槽，照射盒卡槽的厚度與漏斗下端厚度相適配；所述的裝料漏斗下端設在照射盒的卡槽內(nèi)，并能沿照射盒卡槽滑動。
專利摘要本實用新型公開了一種熱釋光探測元件照射盒，為解決現(xiàn)有技術中探測元件篩選擺放慢的問題而發(fā)明。為達到上述目的，本實用新型照射盒，為內(nèi)部具有開口向上的具有倒C形容置腔的非金屬透光平板，所述的C形容置腔的厚度與探測元件的尺寸相適配。采用上述結(jié)構(gòu)，可以將多個探測元件放入照射盒上方開口，或通過漏斗放入照射盒上方開口，使探測元件掉入到照射盒空間內(nèi)，可以較為方便地對探測元件進行擺放，擺放速度快，整體結(jié)構(gòu)簡單，使用方便。
文檔編號G01T1/11GK202041647SQ201120000648
公開日2011年11月16日 申請日期2011年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月4日
發(fā)明者張建, 程旭 申請人:北京瑞福特輻射測量儀器有限公司