專利名稱：集成電路開短路測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及集成電路測試系統(tǒng)，尤其涉及一種集成電路開短路測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
集成電路開短路測試是基于歐姆定律，用來確定集成電路連接性的測試方法。它是一種非?？焖侔l(fā)現(xiàn)芯片的各個引腳間的是否有短路，及在芯片封裝時是否漏焊。這項測試保證測試接口與集成電路正常連接，接觸測試通過測量輸入輸出管腳上保護二極管的自然壓降來確定連接性。集成電路開短路測試分正向開/短路測試和負向開/短路測試。一般芯片的每個引腳都有保護電路，是兩個首尾相接的二極管，一端接正向電源，一端接負極。信號是從兩個二極管的接點進來。在對集成電路測試時，先把芯片的正向電源引腳接0伏(或接地)，再給每個芯片引腳供給一個ΙΟΟμΑ從測試機到芯片的電流信號，電流信號經(jīng)上端二極管流向正向電源 (0伏)，然后測引腳的電壓，正常的值應(yīng)該是一個二極管的偏差電壓0. 7伏左右，設(shè)上限為 1. 5伏，下限為0. 2伏，大于1. 5伏判斷為開路不良，小于0. 2伏判斷為短路不良。這就是正向開/短路測試。負向開/短路測試的原理基本相同。同樣先把正向電源接0伏，然后再給一個芯片到測試的電流，電流由負極經(jīng)下端二級管流向測試機。然后測引腳的電壓，同樣正常的值應(yīng)該是一個二極管的偏差電壓0. 7伏左右，只是電壓方向相反，上限還是為1. 5伏，下限為 0. 2伏，大于1. 5伏判斷為開路，小于0. 2伏判斷為短路。這就是負向開/短路測試。傳統(tǒng)的開短路測試機一般只有全測模式，測試集成電路時必須將所有引腳全部測完才會停止測試并發(fā)送測試結(jié)果，不能實時顯示出具體不良信息，在測試集成電路過程中無法顯示出具體開路或短路之引腳數(shù)，不能統(tǒng)計出每個引腳的開路或短路次數(shù)。

實用新型內(nèi)容本實用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種集成電路開短路測試系統(tǒng)，能實時顯示集成電路測試中的異常信息，統(tǒng)計集成電路引腳開短路次數(shù)。為解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的一個技術(shù)方案是提供一種集成電路開短路測試系統(tǒng)，包括電源模塊、測試模塊、統(tǒng)計模塊、控制模塊和顯示模塊；所述電源模塊連接集成電路芯片，所述測試模塊的受控端連接所述控制模塊，測試模塊的測量端連接所述集成電路芯片，測試模塊的輸出端連接所述統(tǒng)計模塊，所述統(tǒng)計模塊連接所述顯示模塊。其中，所述控制模塊還具有與上位機電腦連接通信的接口。其中，所述測試系統(tǒng)還包括TTL通信模塊，所述TTL通信模塊與所述控制模塊連接。其中，所述控制模塊為單片機。本實用新型的有益效果是區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的測試機不能實時顯示集成電路測試不良信息，本實用新型的集成電路開短路測試系統(tǒng)測試模塊對集成電路芯片的引腳進行測試，統(tǒng)計模塊記錄集成電路測試不合格的引腳并統(tǒng)計該引腳開路或短路的次數(shù)，在顯示模塊上詳細顯示出集成電路的異常信息，開路或短路是哪個引腳，并統(tǒng)計該引腳開路或短路的次數(shù)，方便及時了解集成電路的不良情況并為集成電路的失效分析提供必要的依據(jù)。

圖1是集成電路芯片開短路測試的電路原理圖；圖2是本實用新型集成電路開短路測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖3是本實用新型另一實施例的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施方式
為詳細說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳予說明。圖1為集成電路芯片IC開短路測試的電路原理圖，作為示例，圖1中的集成電路芯片IC包括電源引腳VCC、接地引腳GND、第一引腳1和第二引腳2 ；第一引腳1的保護電路包括第一二極管Dl和第二二極管D2，第一二極管Dl的正極接第二二極管D2的負極，兩者連接的公共接點連接第一引腳1 ；第二引腳2的保護電路包括第三二極管D3和第四二極管D4，第三二極管D3的正極接第四二極管D4的負極，兩者連接的公共接點連接第二引腳 2 ；第一二極管Dl的負極與第三二極管D3的負極連接，其公共接點連接集成電路芯片IC的電源引腳VCC，第二二極管D2的正極與第四二極管D4的正極連接，其公共接點連接集成電路芯片IC的接地引腳GND。測試時，電源模塊DPS加在電源引腳VCC和接地引腳GND兩端， 測試模塊PMU連接待測的第一引腳1或第二引腳2進行測試。請參閱圖2，本實用新型提供一種集成電路開短路測試系統(tǒng)，包括電源模塊DPS、 測試模塊PMU、統(tǒng)計模塊11、控制模塊MCU、顯示模塊12 ；所述電源模塊DPS連接集成電路芯片IC，所述測試模塊PMU的受控端連接所述控制模塊MCU，測試模塊PMU的測量端連接所述集成電路芯片IC，測試模塊PMU的輸出端連接所述統(tǒng)計模塊11，所述統(tǒng)計模塊11連接所述顯示模塊12。采用本實用新型的測試系統(tǒng)測試集成電路芯片IC時，電源模塊DPS連接電源引腳 VCC和接地引腳GND，測試模塊PMU連接集成電路芯片IC的待測引腳(第一引腳1或第二引腳2)。電源模塊DPS施加OV的電壓到集成電路芯片IC的電源引腳VCC;測試模塊PMU逐次量測IC的保護二極管的電壓值，即PMU每次只量測一個保護二極管，當(dāng)該保護二極管量測完后，PMU又繼續(xù)量測下一個保護二極管，一直到全部輸入(Input Pin)及輸出(Output Pin)都量測完成才結(jié)束。當(dāng)測試模塊PMU量測反向保護二極管(即第二二極管D2和第四二極管D4)時，測試模塊PMU向集成電路芯片IC的第一引腳1 (或第二引腳2)先施加-100 μ A 電流再量測該引腳的電壓值，當(dāng)測試模塊PMU量測正向保護二極管時，測試模塊PMU向集成電路芯片IC的引腳施加100 μ A電流再量測電壓值。測試模塊PMU的測試結(jié)果發(fā)送給統(tǒng)計模塊11，統(tǒng)計模塊11記錄集成電路測試不合格的引腳并統(tǒng)計該引腳開路或短路的次數(shù)，統(tǒng)計模塊11將統(tǒng)計結(jié)果及測試模塊PMU的測試結(jié)果發(fā)送給顯示模塊12顯示。參閱圖3，在具體的實施例中，控制模塊MCU還與上位機電腦連接，在上位機電腦上實現(xiàn)對控制模塊MCU的控制，結(jié)合上位機電腦強大的硬件資源，可以方便地對控制模塊 MCU寫入測試程序，使測試系統(tǒng)按照程序運行，測試模式靈活，功能強大。測試的操作界面使用上位機電腦的界面操作，采用基于微軟windows桌面操作系統(tǒng)，可在操作界面完成產(chǎn)品參數(shù)(如待測IC引腳數(shù)、VCC引腳、GND引腳、NC引腳等)設(shè)置、測試統(tǒng)計設(shè)置(直測、全測、重測、不計數(shù))、系統(tǒng)校正等，操作簡易。參 閱圖3，測試系統(tǒng)還具有TTL(Transistor-Transistor Logic,晶體管邏輯電路)通信模塊，控制模塊MCU通過該TTL通信模塊連接外部的機械手(Handler)進行全自動高速測試。在上述實施例中，所述控制模塊MCU為單片機，當(dāng)然并不限為單片機，還可以為可編程邏輯器件PLC等。本實用新型的集成電路開短路測試系統(tǒng)測試時，可詳細顯示出集成電路的異常信息，開路或短路是哪個引腳，并統(tǒng)計該引腳開路或短路的次數(shù)，方便及時了解集成電路的不良情況并為集成電路的失效分析提供必要的依據(jù)。另外，集成電路開短路測試系統(tǒng)具有直測模式，直測模式是測試機在測試集成電路時，以掃描的方式逐個引腳進行測式，遇到引腳開路或短路時立即停止測試并發(fā)送出測試結(jié)果。該測試模式有效地提高了批量集成電路測試的效率。以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種集成電路開短路測試系統(tǒng)，其特征在于，包括電源模塊、測試模塊、統(tǒng)計模塊、控制模塊和顯示模塊；所述電源模塊連接集成電路芯片，所述測試模塊的受控端連接所述控制模塊，測試模塊的測量端連接所述集成電路芯片，測試模塊的輸出端連接所述統(tǒng)計模塊， 所述統(tǒng)計模塊連接所述顯示模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路開短路測試系統(tǒng)，其特征在于所述控制模塊還具有與上位機電腦連接通信的接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的集成電路開短路測試系統(tǒng)，其特征在于還包括TTL通信模塊，所述TTL通信模塊與所述控制模塊連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成電路開短路測試系統(tǒng)，其特征在于所述控制模塊為單片機。
專利摘要本實用新型公開了一種集成電路開短路測試系統(tǒng)，包括電源模塊、測試模塊、統(tǒng)計模塊、控制模塊和顯示模塊；所述電源模塊連接集成電路芯片，所述測試模塊的受控端連接所述控制模塊，測試模塊的測量端連接所述集成電路芯片，測試模塊的輸出端連接所述統(tǒng)計模塊，所述統(tǒng)計模塊連接所述顯示模塊。本實用新型可在顯示模塊上詳細顯示出集成電路的異常信息，開路或短路是哪個引腳，并統(tǒng)計該引腳開路或短路的次數(shù)，方便及時了解集成電路的不良情況并為集成電路的失效分析提供必要的依據(jù)。
文檔編號G01R31/02GK202119855SQ201120171770
公開日2012年1月18日 申請日期2011年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月26日
發(fā)明者林寬強, 陳賢明 申請人:深圳市矽格半導(dǎo)體科技有限公司