專利名稱：具備定位功能的原位測試采集儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及原位測試采集儀，尤其涉及一種具備定位功能的原位測試采集儀法。
背景技術(shù)：
在巖土工程勘察中，原位測試是重要勘察方法之一，外業(yè)測試數(shù)據(jù)采用原位測試采集儀記錄，但目前使用的原位測試采集儀不具有定位功能，外業(yè)實施完成后原位測試位置需采用專門測量設(shè)備進行測量，這樣工作繁瑣，效率不高，且容易在室內(nèi)造假，對于一些移位較大的測試孔，當(dāng)出現(xiàn)外業(yè)施工隊伍弄虛作假情況時，就不能真實反映外業(yè)實際測試位置與設(shè)計位置的偏差。

實用新型內(nèi)容有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種具有全球定位功能，能采集并記錄勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)的原位測試采集儀。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種具備定位功能的原位測試采集儀，包括 AD轉(zhuǎn)換單元、GPS裝置、顯示屏和單片機處理芯片，所述AD轉(zhuǎn)換單元、顯示屏和GPS裝置均與所述單片機處理芯片相連接。上述技術(shù)方案中，所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD轉(zhuǎn)換單元。上述技術(shù)方案中，所述顯示屏為觸摸式點陣顯示屏。上述技術(shù)方案中，所述原位測試采集儀還包括勘探孔信息測試數(shù)據(jù)儲存卡，所述勘探孔信息測試數(shù)據(jù)儲存卡與所述單片機處理芯片相連接。上述技術(shù)方案中，所述原位測試采集儀整機采用3. 3V電壓設(shè)計。上述技術(shù)方案中，所述單片機處理芯片為8位低功耗高速單片機。上述技術(shù)方案中，所述AD轉(zhuǎn)換單元為美國ADI公司的可編程放大倍數(shù)高精度測量 M位AD轉(zhuǎn)換專用集成芯片。上述技術(shù)方案中，所述GPS裝置為RFIII處理芯片的ARM7內(nèi)核模塊。本實用新型是在現(xiàn)有原位測試采集儀的基礎(chǔ)上增設(shè)內(nèi)置GPS裝置，使其具有全球定位功能，這樣就能采集到勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)并記錄、儲存下來，在數(shù)據(jù)輸出時將勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)和采集儀所測得的貫入阻力數(shù)據(jù)一起導(dǎo)出，終端軟件不僅能顯示貫入阻力數(shù)據(jù)和及其數(shù)據(jù)曲線，還能顯示原位測試位置坐標(biāo)信息，真實地反映實際測試位置與設(shè)計位置的偏差情況，可有效控制外業(yè)施工質(zhì)量，且不需再攜帶專門測量設(shè)備進行測量，提高了工作效率。以下將結(jié)合附圖對本實用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進一步說明，以充分地了解本實用新型的目的、特征和效果。

[0014]圖1是本實用新型一個較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型公開了一種具備定位功能的原位測試采集儀，包括多通道AD轉(zhuǎn)換單元、單片機處理芯片、勘探孔信息測試數(shù)據(jù)儲存卡、觸摸式點陣顯示屏和GPS裝置。所述多通道AD轉(zhuǎn)換單元與原位測試探頭傳感器相連接，用于接收所述原位測試探頭傳感器采集到的模擬信號并將所述模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，然后將所述數(shù)字信號傳送給所述單片機處理芯片，所述模擬信號包括原位測試探頭傳感器采集到的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)。所述GPS裝置與所述單片機處理芯片相連接，用于自動收集衛(wèi)星信號、 采集勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)并將所述勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)傳送到所述單片機處理芯片。 所述單片機處理芯片與所述多通道AD轉(zhuǎn)換單元相連接，用于處理外業(yè)測試數(shù)據(jù)并形成數(shù)據(jù)曲線，其中所述外業(yè)測試數(shù)據(jù)包括所述勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)、所述貫入阻力數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)和采集信息數(shù)據(jù)，所述采集信息數(shù)據(jù)包括工程名稱、工程編號、勘探孔孔號和設(shè)計孔深。所述勘探孔信息測試數(shù)據(jù)儲存卡與所述單片機處理芯片相連接，用于儲存所述經(jīng)單片機處理芯片處理后的外業(yè)測試數(shù)據(jù)；所述觸摸式點陣顯示屏與所述單片機處理芯片相連接，用于顯示所述經(jīng)單片機處理芯片處理過的外業(yè)測試數(shù)據(jù)及其數(shù)據(jù)曲線。在上述技術(shù)方案中，其中原位測試采集儀整機芯片采用3. 3V低電壓設(shè)計，降低了整機功耗，其中單片機處理芯片為8位低功耗高速單片機；而AD轉(zhuǎn)換單元為美國ADI公司的可編程放大倍數(shù)高精度測量M位AD轉(zhuǎn)換專用集成芯片，有利于提高采集精度；GPS部分采用了 RFIII處理芯片的ARM7內(nèi)核的小體積模塊，具有搜尋快，定位精度高的特點。以上詳細描述了本實用新型的較佳具體實施例。應(yīng)當(dāng)理解，本領(lǐng)域的普通技術(shù)無需創(chuàng)造性勞動就可以根據(jù)本實用新型的構(gòu)思作出諸多修改和變化。因此，凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人員依本實用新型的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過邏輯分析、推理或者有限的實驗可以得到的技術(shù)方案，皆應(yīng)在由權(quán)利要求書所確定的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種具備定位功能的原位測試采集儀，包括AD轉(zhuǎn)換單元、GPS裝置、顯示屏和單片機處理芯片，所述AD轉(zhuǎn)換單元、顯示屏和GPS裝置均與所述單片機處理芯片相連接。
2.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD轉(zhuǎn)換單元。
3.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述顯示屏為觸摸式點陣顯示屏。
4.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述原位測試采集儀還包括勘探孔信息測試數(shù)據(jù)儲存卡，所述勘探孔信息測試數(shù)據(jù)儲存卡與所述單片機處理芯片相連接。
5.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述原位測試采集儀的輸入電壓為3. 3V。
6.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述單片機處理芯片為8位單片機。
7.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述AD轉(zhuǎn)換單元為美國ADI公司的M位AD轉(zhuǎn)換專用集成芯片。
8.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述GPS裝置為RFIII 處理芯片的ARM7內(nèi)核模塊。
專利摘要本實用新型公開了一種具備定位功能的原位測試采集儀，包括AD轉(zhuǎn)換單元、GPS裝置、顯示屏和單片機處理芯片，所述AD轉(zhuǎn)換單元、顯示屏和GPS裝置均與所述單片機處理芯片相連接。是在現(xiàn)有原位測試采集儀的基礎(chǔ)上增設(shè)內(nèi)置GPS裝置，使其具有全球定位功能，這樣就能采集到勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)并記錄、儲存下來，在數(shù)據(jù)輸出時將勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)和采集儀所測得的貫入阻力數(shù)據(jù)一起導(dǎo)出，終端軟件不僅能顯示貫入阻力數(shù)據(jù)和及其數(shù)據(jù)曲線，還能顯示原位測試位置坐標(biāo)信息，真實地反映實際測試位置與設(shè)計位置的偏差情況，可有效控制外業(yè)施工質(zhì)量，且不需再攜帶專門測量設(shè)備進行測量，提高了工作效率。
文檔編號G01S19/42GK202157318SQ20112019219
公開日2012年3月7日 申請日期2011年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月9日
發(fā)明者徐敏生, 殷立宏, 沈日庚 申請人:上海市城市建設(shè)設(shè)計研究院