專利名稱：雙面帶頂針的pcba測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試裝置，尤其是涉及一種雙面帶頂針的印刷電路板裝配 (PCBA, Printed Circuit Board Assembly)測試裝置。
背景技術(shù)：
印刷電路板裝配(PCBA，Printed Circuit Board Assembly)是指 PCB 空板經(jīng)過 SMT上件，再經(jīng)過DIP插件的整個制程。由于PCBA上插接了若干電子元器件，因此，需要對各個電子元器件進行測試，以確保產(chǎn)品質(zhì)量。目前，對PCBA測試要求PCB板裝上所有連接插座，測試時先將所有外接部分如手柄、喇叭、外線和按鍵板等直接插到對應(yīng)插座，測試PCBA功能，測試完畢，將這些外界件拆開，然后重復(fù)上述動作測下一塊PCBA。雖然這樣功能是可以測試，但生產(chǎn)效率低，要很多測試人員才能滿足需要。
發(fā)明內(nèi)容為解決現(xiàn)有PCBA測試時存在測試效率低的技術(shù)問題，本實用新型提出一種雙面帶頂針的PCBA測試裝置，利用頂針直接接觸PCBA上進行測試。本實用新型采用如下技術(shù)方案實現(xiàn)一種雙面帶頂針的PCBA測試裝置，其包括 下測試架；設(shè)置在下測試架正上方的上測試架；在上測試架的下側(cè)面上設(shè)置若干個第一頂針以及用于對PCBA的測試位置進行限位的第一定位塊；在下測試架的上側(cè)面上設(shè)置若干個第二頂針以及用于對PCBA的測試位置進行限位的第二定位塊；且第一定位塊與第二定位塊之間形成一個固定PCBA的測試空間。在一個優(yōu)選實施例中，在上測試架的下側(cè)面上設(shè)置若干個連接在其中一個或多個第一頂針與外部測試設(shè)備之間的外接測試部。在另一個優(yōu)選實施例中，在下測試架的上側(cè)面上設(shè)置若干個連接在其中一個或多個第二頂針與外部測試設(shè)備之間的外接測試部。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型具有如下有益效果本實用新型的測試裝置具有結(jié)構(gòu)簡單、測試簡便的特點，有利于提高PCBA的測試效率。

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型提出的PCBA測試裝置包括上測試架1 ；下測試架2，所述上測試架1設(shè)置在下測試架2的正上方；在上測試架1的下側(cè)面上設(shè)置對測試PCBA固定位置進行限位的第一定位塊11 ；以及設(shè)置在上測試架1的下側(cè)面上的若干個第一頂針12，該第一頂針12的一末端點通過導(dǎo)線電連接外部的測試設(shè)備；在下測試架2的上側(cè)面上設(shè)置第二定位塊21，該第一定位塊11與第二定位塊21之間形成一個恰好能夠容納測試PCBA的測試空間；同樣的，在在下測試架2的上側(cè)面上設(shè)置若干個第二頂針22。其中，根據(jù)不同PCBA測試的實際需要，其中一個或多個第一頂針12或/和第二頂針22可以通過導(dǎo)線與外部的測試設(shè)備電連接，也可以連接分別設(shè)置在上測試架1的下側(cè)面上或下測試架2的上側(cè)面上設(shè)置的外接測試部連接。比如，在下測試架2的上側(cè)面上設(shè)置一個或多個外接測試部23，該外接測試部23可以為喇叭、外線或按鍵板等，從而將之前分別需要操作員手工方式一一連接至待測試PCBA的各個外接測試部固定設(shè)置在上測試架1 或/和下測試架2之上，只需要將待測試的PCBA放置在第一定位塊11與第二定位塊之間， 通過第一頂針12與第二頂針22分別電連接PCBA兩側(cè)面上的各個測試點(測試點為插接在電路板上的元件針腳或焊盤)，即可以快速的對PCBA進行測試。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種雙面帶頂針的PCBA測試裝置，其特征在于，包括下測試架；設(shè)置在下測試架正上方的上測試架；在上測試架的下側(cè)面上設(shè)置若干個第一頂針以及用于對PCBA的測試位置進行限位的第一定位塊；在下測試架的上側(cè)面上設(shè)置若干個第二頂針以及用于對 PCBA的測試位置進行限位的第二定位塊；且第一定位塊與第二定位塊之間形成一個固定 PCBA的測試空間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述雙面帶頂針的PCBA測試裝置，其特征在于，在上測試架的下側(cè)面上設(shè)置若干個連接在其中一個或多個第一頂針與外部測試設(shè)備之間的外接測試部。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述雙面帶頂針的PCBA測試裝置，其特征在于，在下測試架的上側(cè)面上設(shè)置若干個連接在其中一個或多個第二頂針與外部測試設(shè)備之間的外接測試部。
專利摘要本實用新型公開一種雙面帶頂針的PCBA測試裝置，其包括下測試架；設(shè)置在下測試架正上方的上測試架；在上測試架的下側(cè)面上設(shè)置若干個第一頂針以及用于對PCBA的測試位置進行限位的第一定位塊；在下測試架的上側(cè)面上設(shè)置若干個第二頂針以及用于對PCBA的測試位置進行限位的第二定位塊；且第一定位塊與第二定位塊之間形成一個固定PCBA的測試空間。本實用新型的測試裝置具有結(jié)構(gòu)簡單、測試簡便的特點，有利于提高PCBA的測試效率。
文檔編號G01R31/28GK202110251SQ201120225148
公開日2012年1月11日 申請日期2011年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月29日
發(fā)明者盧桂權(quán) 申請人:深圳市盈信電子科技有限公司