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      一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器的制作方法

      文檔序號:5917506閱讀:436來源:國知局
      專利名稱:一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器的制作方法
      技術領域
      本實用新型涉及一種大電流發(fā)生器,特別是一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器。
      背景技術
      目前,市場上的繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,大多數(shù)采用電容,利用電容放電產(chǎn)生瞬間大電流,這種放電方式波形與繼電器觸點測試要求的波形相差甚遠,且通電時間不能準確確定,用于繼電器觸點測試效果不佳。由于電容需要事先進行充電,所以使用也不夠方便,而且充電量大小也對測試時的放電效果造成影響。

      實用新型內(nèi)容本新型的目的是提供一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,用以解決現(xiàn)有技術中,測試波形不能滿足繼電器觸點測試要求和通電時間不準確的問題。為實現(xiàn)上述目的,本實用新型的技術方案是一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,包括主電路與控制電路,主電路包括升流變壓器,升流變壓器的原邊連接交流電源輸入端,副邊用于輸出繼電器觸點測試用大電流,原邊上串設有單向可控硅;所述控制電路包括 CPU,所述CPU通過可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路控制連接所述單向可控硅的觸發(fā)端,所述CPU通過交流電過零檢測電路采樣連接所述交流電源輸入端。本電流發(fā)生器在升流變壓器原邊由可控硅控制較小的電流,在升流變壓器的副邊產(chǎn)生很大的電流,達到產(chǎn)生大電流的目的。由于可控硅安裝在升流變壓器的原邊,流經(jīng)可控硅的電流較小,降低了對可控硅電流規(guī)格的要求;同時利用我國市電50赫茲的半個周波, 剛好為10毫秒,來滿足繼電器觸點大電流測試時對通電時間的要求。所述升流變壓器原邊還串設有限流電阻。所述CPU還控制連接有用于指示測試狀態(tài)的指示燈。所述CPU還輸入連接啟動電路。所述啟動電路為人工按鍵輸入電路,電路輸出端連接所述CPU的對應輸入端口。所述CPU采用32位的ARM7微處理器LPC2138。選用了高性能價格比的嵌入式處理器LPC2138,發(fā)揮了其性能強勁、外設豐富的特點,尤其是對交流過零檢測準確性的要求提供了可靠支持。啟動電路用于告知CPU啟動大電流測試;交流過零檢測電路用于檢測交流電的過零點,為可控硅的觸發(fā)脈沖提供參考點; 可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路用于為可控硅提供觸發(fā)脈沖;信號燈電路用于指示大電流發(fā)生器當前所處的狀態(tài);可控硅用于控制交流電的接通和關斷;限流電阻用于控制流過升流變壓器的原邊電流;升流變壓器用于提升交流電流。

      圖1為本新型的電路原理圖。
      具體實施方式

      以下結(jié)合附圖對本新型做進一步說明。如圖1所示的一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,包括主電路與控制電路,主電路包括升流變壓器Tl,升流變壓器Tl的原邊連接交流電源輸入端,副邊用于輸出繼電器觸點測試用大電流,原邊上串設有單向可控硅Ql與限流電阻Rl ;控制電路包括CPU,CPU通過可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路控制連接單向可控硅Ql的觸發(fā)端,CPU通過交流電過零檢測電路采樣連接所述交流電源輸入端,AC-A與AC-N之間加市電交流220伏,可控硅Ql控制交流電通斷;控制升流變壓器Tl原邊電流的大小,將原邊電流按比例提升到副邊,從副邊輸出大電流,A與B之間連接待測試的繼電器觸點。CPU是本升流變壓器的控制核心,它接收啟動電路、交流過零檢測電路信號,控制可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路及信號燈。當啟動電路(可采用人工按鍵方式)人工啟動后,CPU檢測到啟動信號,控制信號燈閃爍,5秒鐘后,通過交流過零檢測電路檢測到交流過零時向可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路發(fā)出觸發(fā)信號,產(chǎn)生觸發(fā)脈沖,可控硅受到觸發(fā)脈沖激勵,可控硅導通,交流電經(jīng)限流電阻限流,升流變壓器升流,在升流變壓器的副邊產(chǎn)生大電流。當交流電反向后可控硅自然關斷,大電流的通電時間剛好為10毫秒。測試結(jié)束,CPU控制信號燈為常亮狀態(tài)。
      權(quán)利要求1.一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,其特征在于,包括主電路與控制電路,主電路包括升流變壓器,升流變壓器的原邊連接交流電源輸入端,副邊用于輸出繼電器觸點測試用大電流,原邊上串設有單向可控硅;所述控制電路包括CPU,所述CPU通過可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路控制連接所述單向可控硅的觸發(fā)端,所述CPU通過交流電過零檢測電路采樣連接所述交流電源輸入端。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,其特征在于,所述升流變壓器原邊還串設有限流電阻。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,其特征在于,所述CPU 還控制連接有用于指示測試狀態(tài)的指示燈。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,其特征在于,所述CPU 還輸入連接啟動電路。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,其特征在于,所述啟動電路為人工按鍵輸入電路,電路輸出端連接所述CPU的對應輸入端口。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項所述的一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,其特征在于,所述CPU采用32位的ARM7微處理器LPC2138。
      專利摘要本實用新型涉及一種繼電器觸點測試用大電流發(fā)生器,包括主電路與控制電路,主電路包括升流變壓器,升流變壓器的原邊連接交流電源輸入端,副邊用于輸出繼電器觸點測試用大電流,原邊上串設有單向可控硅;所述控制電路包括CPU,所述CPU通過可控硅觸發(fā)驅(qū)動電路控制連接所述單向可控硅的觸發(fā)端,所述CPU通過交流電過零檢測電路采樣連接所述交流電源輸入端。本電流發(fā)生器在升流變壓器原邊由可控硅控制較小的電流,在升流變壓器的副邊產(chǎn)生很大的電流,達到產(chǎn)生大電流的目的。由于可控硅安裝在升流變壓器的原邊,流經(jīng)可控硅的電流較小,降低了對可控硅電流規(guī)格的要求。
      文檔編號G01R31/327GK202126486SQ201120225230
      公開日2012年1月25日 申請日期2011年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月29日
      發(fā)明者吳德葆, 周志輝, 歹志陽, 王曉換 申請人:河南許繼儀表有限公司, 許繼集團有限公司
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