專利名稱：光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種用于檢測光學(xué)膜片的光學(xué)性能的自動檢測裝置。
背景技術(shù)：
目前，隨著光纖通訊技術(shù)的不斷發(fā)展和普及使用，其中WDM (波分復(fù)用)技術(shù)相關(guān)的器件設(shè)備及其核心膜片(芯片)已經(jīng)開始大量進(jìn)入光纖敷設(shè)的骨干網(wǎng)絡(luò)和城域網(wǎng)絡(luò)，WDM 膜片的生產(chǎn)使用量越來越大，生產(chǎn)企業(yè)對高效、準(zhǔn)確的測試WDM膜片光學(xué)性能提出了迫切要求。目前，通常是通過人工檢測，其檢測效率低，還可能出現(xiàn)過程疲勞、類別混料等人為因素，膜片產(chǎn)品的品質(zhì)控制得不到有效保障。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的不足而提供一種檢測效率高，避免出現(xiàn)人為因素而導(dǎo)致膜片產(chǎn)品的品質(zhì)控制得不到有效保障的光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備。本實用新型的目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備，包括底座，所述的底座上設(shè)有膜片上料盤、膜片檢測臺、 若干個分等級的裝膜片盒，所述的底座上設(shè)有可對膜片上料盤中的光學(xué)膜片進(jìn)行圖象坐標(biāo)定位的定位CCD，所述的底座上設(shè)有第一機(jī)械臂和第二機(jī)械臂，第一機(jī)械臂和第二機(jī)械臂上分別設(shè)有拾取器，第一機(jī)械臂根據(jù)光學(xué)膜片的坐標(biāo)定位來移動，第一機(jī)械臂上的拾取器拾取膜片并放置到膜片檢測臺上，第二機(jī)械臂上根據(jù)膜片檢測結(jié)果來移動，第二機(jī)械臂上的拾取器拾取膜片并將放置到不同等級的裝膜片盒內(nèi)。所述的底座上設(shè)有定位CXD支架，定位CXD設(shè)置在定位CXD支架上。由于采用了上述的結(jié)構(gòu)，通過本自動測試設(shè)備中的(XD，可以對雜亂無序的膜片產(chǎn)品進(jìn)行坐標(biāo)定位，使之變成有序，實現(xiàn)膜片檢測的自動上料；通過機(jī)械臂與計算機(jī)之間的相互通訊，設(shè)備實現(xiàn)自動觸發(fā)測試，根據(jù)測試結(jié)果分類，自動分類裝盒；最終實現(xiàn)膜片的全自動化檢測。本實用新型具有下述的有益效果(1)全自動檢測的設(shè)備可以全天侯的工作，與人工檢測相比，不會出現(xiàn)過程疲勞、 類別混料等人為因素，膜片產(chǎn)品的品質(zhì)控制有絕對保障；(2)本自動檢測設(shè)備可以保持穩(wěn)定、持續(xù)不間斷的工作，可以1人管理多臺設(shè)備， 生產(chǎn)效率與人工測試相比得到了成倍的提供。

利用附圖對本實用新型作進(jìn)一步說明，但附圖中的實施例不構(gòu)成對本實用新型的任何限制，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。圖1是光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。如圖1所示，本實用新型所述的光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備，包括底座1，所述的底座1 上設(shè)有膜片上料盤2、膜片檢測臺3、若干個分等級的裝膜片盒4。所述的底座1上設(shè)有可對膜片上料盤2中的光學(xué)膜片進(jìn)行圖象坐標(biāo)定位的定位CCD5，所述的底座1上設(shè)有定位CCD 支架9，定位CCD5設(shè)置在定位CCD支架9上。所述的底座1上設(shè)有第一機(jī)械臂6和第二機(jī)械臂7，第一機(jī)械臂6和第二機(jī)械臂7上分別設(shè)有拾取器8。第一機(jī)械臂6根據(jù)光學(xué)膜片的坐標(biāo)定位來移動，第一機(jī)械臂6上的拾取器8拾取膜片并放置到膜片檢測臺3上。第二機(jī)械臂7上根據(jù)膜片檢測結(jié)果來移動，第二機(jī)械臂7上的拾取器8拾取膜片并將放置到不同等級的裝膜片盒4內(nèi)。本實用新型使用時，把雜亂無序的光學(xué)膜片載入膜片上料盤2中一定位CCD5拍照，通過計算機(jī)軟件對雜亂無序的光學(xué)膜片進(jìn)行圖象坐標(biāo)定位一計算機(jī)根據(jù)圖象坐標(biāo)系與機(jī)械坐標(biāo)系之間的換算關(guān)系，把每個膜片對應(yīng)的圖象坐標(biāo)換算為機(jī)械坐標(biāo)一計算機(jī)把每個膜片的坐標(biāo)位置傳遞給第一機(jī)械臂6的控制系統(tǒng)一第一機(jī)械臂6根據(jù)該膜片的坐標(biāo)位置， 到該處拾取膜片放置到膜片檢測臺3上一計算機(jī)檢測軟件對膜片的性能進(jìn)行檢測，根據(jù)檢測結(jié)果分離出膜片的等級類別一計算機(jī)把膜片檢測的等級類別結(jié)果發(fā)送給第二機(jī)械臂7 的控制系統(tǒng)一機(jī)第二機(jī)械臂7根據(jù)收到的等級類別把膜片放置到對應(yīng)等級的裝膜片盒4 中。總之，本實用新型雖然例舉了上述優(yōu)選實施方式，但是應(yīng)該說明，雖然本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以進(jìn)行各種變化和改型，除非這樣的變化和改型偏離了本實用新型的范圍，否則都應(yīng)該包括在本實用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備，包括底座(1)，所述的底座(1)上設(shè)有膜片上料盤(2)、 膜片檢測臺(3)、若干個分等級的裝膜片盒(4)，其特征在于所述的底座(1)上設(shè)有可對膜片上料盤(2)中的光學(xué)膜片進(jìn)行圖象坐標(biāo)定位的定位CCD (5)，所述的底座(1)上設(shè)有第一機(jī)械臂(6)和第二機(jī)械臂(7)，第一機(jī)械臂(6)和第二機(jī)械臂(7)上分別設(shè)有拾取器(8)，第一機(jī)械臂(6)根據(jù)光學(xué)膜片的坐標(biāo)定位來移動，第一機(jī)械臂(6)上的拾取器(8)拾取膜片并放置到膜片檢測臺(3)上，第二機(jī)械臂(7)上根據(jù)膜片檢測結(jié)果來移動，第二機(jī)械臂(7)上的拾取器(8)拾取膜片并將放置到不同等級的裝膜片盒(4)內(nèi)。
2.按照權(quán)利要求1所述的光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備，其特征在于所述的底座(1)上設(shè)有定位CXD支架(9)，定位CXD (5)設(shè)置在定位C⑶支架(9)上。
專利摘要本實用新型公開了一種光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備。光學(xué)膜片自動檢測設(shè)備，包括底座，所述的底座上設(shè)有膜片上料盤、膜片檢測臺、若干個分等級的裝膜片盒，所述的底座上設(shè)有可對膜片上料盤中的光學(xué)膜片進(jìn)行圖象坐標(biāo)定位的定位CCD，所述的底座上設(shè)有第一機(jī)械臂和第二機(jī)械臂，第一機(jī)械臂和第二機(jī)械臂上分別設(shè)有拾取器，第一機(jī)械臂根據(jù)光學(xué)膜片的坐標(biāo)定位來移動，第一機(jī)械臂上的拾取器拾取膜片并放置到膜片檢測臺上，第二機(jī)械臂上根據(jù)膜片檢測結(jié)果來移動，第二機(jī)械臂上的拾取器拾取膜片并將放置到不同等級的裝膜片盒內(nèi)。本實用新型可實現(xiàn)膜片的全自動化檢測，檢測效率高，膜片產(chǎn)品的品質(zhì)控制可得到有效保障。
文檔編號G01M11/02GK202216829SQ20112029923
公開日2012年5月9日 申請日期2011年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月17日
發(fā)明者范衛(wèi)星, 董興華, 趙勝平 申請人:奧普鍍膜技術(shù)(廣州)有限公司