專利名稱：電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于夾具技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種針對(duì)于電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架。
背景技術(shù)：
現(xiàn)代社會(huì)文明的發(fā)展對(duì)材料和構(gòu)件的電子探針微觀元素濃度分布特征的分析提出越來(lái)越高的要求，材料和構(gòu)件取樣尺寸的大小需得到足夠的保證。分析樣品承載支架的可承載樣品尺寸的能力和高度方向位置可調(diào)節(jié)的范圍對(duì)從材料或構(gòu)件取樣的范圍至關(guān)重要。樣品承載支架足夠承載所要求尺寸的樣品并對(duì)其位置進(jìn)行調(diào)節(jié)是進(jìn)行電子探針試驗(yàn)的基本前提。取樣的尺寸越大，對(duì)材料分析的范圍就越廣，就越能代表材料整體的特征，越能反映材料真實(shí)的數(shù)據(jù)；另外，對(duì)某些樣品分析時(shí)不宜對(duì)其進(jìn)行破壞取樣，如貴重首飾、關(guān)鍵物證等，因此，大尺寸的樣品承載支架受到了廣大相關(guān)試驗(yàn)人員、科研人員和工程技術(shù)人員的青睞。而據(jù)我們調(diào)研發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有的電子探針?lè)治鲈囼?yàn)用的樣品承載支架最大可承載的樣品大小在Φ25Χ15πιπι以內(nèi)，很多條件下不能滿足對(duì)樣品的分析試驗(yàn)要求，因此， 有必要提高樣品承載支架的承載能力。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提出一種能夠滿足大的承載樣品分析試驗(yàn)要求的電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是調(diào)節(jié)支架包括底盤(pán)、外框、銅套、調(diào)節(jié)板、限位塊、螺紋頂柱，每個(gè)限位塊上設(shè)有二組螺紋頂柱和一個(gè)螺紋桿，兩個(gè)限位塊用第一組螺紋頂柱固定在底盤(pán)的兩側(cè)，外框放置在底盤(pán)上并用第二組螺紋頂柱將外框與底盤(pán)固定在一起，底盤(pán)底部開(kāi)有燕尾槽；外框的中部開(kāi)有通孔，銅套置于外框的通孔中，螺紋桿頂在銅套上，銅套與調(diào)節(jié)板螺紋連接；調(diào)節(jié)板的底部開(kāi)有調(diào)節(jié)槽。所述的銅套與外框的配合為間隙配合。所述的調(diào)節(jié)板的直徑與銅套的內(nèi)徑相配合，調(diào)節(jié)板的直徑為25mm 82mm。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是本實(shí)用新型采用銅套與調(diào)節(jié)板的結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于制作而且操作靈活、使用可靠，可承載最大至Φ82Χ 17mm大小不等的樣品，并利用調(diào)節(jié)板在銅套內(nèi)的相對(duì)高度調(diào)節(jié)樣品分析面的位置，增加了電子探針?lè)治鰳悠啡哟笮『托螤畹撵`活性；另外，由于限位塊和螺紋頂柱的配合使用，使得承載樣品的調(diào)節(jié)板與銅套和外框之間的配合穩(wěn)定可靠，試驗(yàn)樣品不會(huì)在電子探針試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生微小漂移，從而可以保證該支架使用的穩(wěn)定性和試驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性；特別對(duì)于某些不宜或不易被破壞的分析樣品，可以使用本支架將樣品本身不經(jīng)任何破壞地直接放入電子探針樣品室，同時(shí)利用調(diào)節(jié)板靈活調(diào)節(jié)樣品分析面或樣品中其它感興趣區(qū)域的高度至電子探針試驗(yàn)分析所要求的高度位置，進(jìn)行無(wú)損傷試驗(yàn)，從而獲得全面的、真實(shí)而可靠的電子探針試驗(yàn)數(shù)據(jù)；本實(shí)用新型不僅大大提高了電子探針?lè)治鲈嚇映休d的可靠性和穩(wěn)定性，而且突破了電子探針試驗(yàn)對(duì)試樣大小和形狀要求嚴(yán)格的局限性，有很高的相關(guān)科研試驗(yàn)應(yīng)用和工程應(yīng)用價(jià)值。

圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖1的后視圖；圖3是圖1的仰視圖。
具體實(shí)施方式
調(diào)節(jié)支架包括底盤(pán)1、外框2、銅套3、調(diào)節(jié)板5、限位塊4、螺紋頂柱6，每個(gè)限位塊 4上設(shè)有二組螺紋頂柱6和一個(gè)螺紋桿7，兩個(gè)限位塊4用第一組螺紋頂柱固定在底盤(pán)的兩側(cè)，外框放置在底盤(pán)上并用第二組螺紋頂柱將外框與底盤(pán)固定在一起，底盤(pán)底部開(kāi)有燕尾槽；外框的中部開(kāi)有通孔，銅套置于外框的通孔中，螺紋桿頂在銅套上，銅套與調(diào)節(jié)板螺紋連接；調(diào)節(jié)板的底部開(kāi)有調(diào)節(jié)槽8。樣品承載支架包括底盤(pán)1、外框2、銅套3、調(diào)節(jié)板5、限位塊4、螺紋頂柱等。底盤(pán)底部開(kāi)有燕尾槽9，中心部位開(kāi)Φ20的圓孔，底盤(pán)和兩側(cè)限位塊固定外框，保證底盤(pán)與外框配合的準(zhǔn)確度，每個(gè)限位塊通過(guò)其底部?jī)山M螺孔螺柱與底盤(pán)連接，并通過(guò)中間兩組螺孔螺柱固定外框，外框內(nèi)嵌入銅套和調(diào)節(jié)板，銅套與外框間隙配合，銅套和調(diào)節(jié)板之間通過(guò)螺紋配合，調(diào)節(jié)板上放置待分析樣品并經(jīng)底盤(pán)開(kāi)孔通過(guò)其背面開(kāi)槽借用螺絲刀調(diào)節(jié)至合適高度， 螺紋頂柱位于限位塊頂部，通過(guò)外框螺孔頂于銅套外側(cè)，使銅套產(chǎn)生微小變形以將調(diào)節(jié)板固定，防止使用過(guò)程中調(diào)節(jié)板連同樣品產(chǎn)生動(dòng)作從而影響電子探針?lè)治鼍龋瑯悠分Ъ芤?jiàn)圖1。在裝載樣品時(shí)，根據(jù)樣品大小在調(diào)節(jié)板上粘貼適當(dāng)大小的導(dǎo)電膠，并將樣品牢牢固定在調(diào)節(jié)板上，松開(kāi)螺紋頂柱，借助螺絲刀從調(diào)節(jié)板底面的開(kāi)槽調(diào)節(jié)樣品的上分析表面高度至與外框上表面重合，擰緊螺紋頂柱以固定調(diào)節(jié)板，最后通過(guò)支架底盤(pán)的燕尾槽與電子探針樣品臺(tái)連接，放入電子探針樣品室抽真空至合適值，即可對(duì)樣品進(jìn)行分析。首先，將樣品通過(guò)導(dǎo)電膠固定在支架上，松開(kāi)螺紋頂柱，然后通過(guò)調(diào)節(jié)板將樣品的分析面調(diào)節(jié)至與外框上表面重合，固定螺紋頂柱，最后將樣品支架固定在樣品臺(tái)上，即可將其放入電子探針樣品室內(nèi)進(jìn)行分析。
權(quán)利要求1.一種電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架，其特征是，調(diào)節(jié)支架包括底盤(pán)、夕卜框、銅套、調(diào)節(jié)板、限位塊、螺紋頂柱，每個(gè)限位塊上設(shè)有二組螺紋頂柱和一個(gè)螺紋桿，兩個(gè)限位塊用第一組螺紋頂柱固定在底盤(pán)的兩側(cè)，外框放置在底盤(pán)上并用第二組螺紋頂柱將外框與底盤(pán)固定在一起，底盤(pán)底部開(kāi)有燕尾槽；外框的中部開(kāi)有通孔，銅套置于外框的通孔中，螺紋桿頂在銅套上，銅套與調(diào)節(jié)板螺紋連接；調(diào)節(jié)板的底部開(kāi)有調(diào)節(jié)槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架，其特征是，所述的銅套與外框的配合為間隙配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架，其特征是，所述的調(diào)節(jié)板的直徑與銅套的內(nèi)徑相配合，調(diào)節(jié)板的直徑為25mm 82mm。
專利摘要本實(shí)用新型屬于夾具技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種針對(duì)于電子探針試驗(yàn)用樣品承載與位置調(diào)節(jié)支架。調(diào)節(jié)支架包括底盤(pán)、外框、銅套、調(diào)節(jié)板、限位塊、螺紋頂柱，每個(gè)限位塊上設(shè)有二組螺紋頂柱和一個(gè)螺紋桿，兩個(gè)限位塊固定在底盤(pán)的兩側(cè)，外框放置在底盤(pán)上并固定在一起，底盤(pán)底部開(kāi)有燕尾槽；外框的中部開(kāi)有通孔，銅套置于外框的通孔中，螺紋桿頂在銅套上，銅套與調(diào)節(jié)板螺紋連接；調(diào)節(jié)板的底部開(kāi)有調(diào)節(jié)槽。本實(shí)用新型采用銅套與調(diào)節(jié)板的結(jié)構(gòu)，可承載最大至Φ82×17mm大小不等的樣品，并利用調(diào)節(jié)板的高度調(diào)節(jié)樣品分析面的位置，增加了電子探針?lè)治鰳悠啡哟笮〉撵`活性，特別適用于某些不宜或不易破壞的分析樣品，直接將樣品本身放入樣品室進(jìn)行無(wú)損傷試驗(yàn)。
文檔編號(hào)G01N23/225GK202230039SQ201120346158
公開(kāi)日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2011年9月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月14日
發(fā)明者何玉懷, 王祺, 范映偉, 趙文俠, 陶春虎 申請(qǐng)人:中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京航空材料研究院, 試金石檢測(cè)科技有限公司