專利名稱：用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種用于對陶瓷基板上定位圓孔洞的進行一個是否偏移的檢測裝置。
背景技術：
陶瓷基板是指銅箔在高溫下直接鍵合到氧化鋁或氮化鋁陶瓷基板表面(單面或雙面)上的特殊工藝板。陶瓷基板已成為了大功率電力電子電路結構技術和互連技術的基礎材料。陶瓷基板應用于不同場合時，通常需要對其進行不同的加工。通常將陶瓷基板夾裝在夾裝臺上通過激光在陶瓷基板同一側的端腳分別加工一同直徑的定位圓，然后再同一圓心處加工出一同心圓。但是，由于加工時夾裝臺受到振動等外界因素的影響容易造成需要同心的定位圓實際并不同心。激光加工產生的定位圓實則由一系列間距相等的一定深度的激光加工微孔組成，在檢測是否真正同心時很難靠肉眼或顯微鏡進行判斷。

實用新型內容本實用新型的目的在于解決上述的技術問題，提出一種用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置。本實用新型的目的，將通過以下技術方案得以實現用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，包括一用于定位的支架，所述支架上設置有一夾具，所述夾具上夾裝有一攝像機組件，所述攝像機組件，所述攝像機組件通過數據線連接與計算機連接，所述計算機上連接有一顯示器。優(yōu)選地，所述攝像機組件的下方固定有一顯微鏡組件。優(yōu)選地，所述攝像機組件為CXD攝像機組件。優(yōu)選地，所述的裝置設置有至少2臺支架。本實用新型的有益效果主要體現在通過顯微鏡與攝像組件的結合對陶瓷基板上的定位圓進行很好的同心偏移檢測，檢測效率及判斷的準確度得到大大的提高。

圖1是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
本實用新型提供了用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，如圖1所示，包括一放置在臺面1上、用于定位的支架21，所述支架21上設置有一夾具2，所述夾具2上夾裝有一 CXD 攝像機組件22，所述CXD攝像機組件22通過數據線連接與計算機(圖中未示意)連接，所述計算機上連接有一顯示器4。為了更清楚的檢測到陶瓷基板上的定位圓11，所述C⑶攝像機組件22的下方固定有一顯微鏡組件23，通過顯微鏡組件23和C⑶攝像組件22的結合反應到顯示器4上，以便更好的觀察檢測。為了使得檢測的效率提高，所述的裝置設置有有四臺支架21，同時對四個陶瓷基板上的定位圓11進行檢測。下面具體闡述下本實用新型的使用方法將待檢測陶瓷基板放置于工作臺面1上，將定位圓11移動至顯微鏡組件23的正下方，停留設定的時間，保證圖像經CXD攝像機組件22能拍攝并將其圖像傳送至計算機，然后再移動至另一定位圓11處進行拍攝檢測。待檢測陶瓷基板是已經通過激光加工管路加工有定位圓11的陶瓷基板，激光劃線由一系列間距相等的一定深度的激光加工微孔組成，因此，定位圓在顯示器上顯示為等間距的微孔組成圓形。如何加工孔技術已經是現有技術，在此不在贅述。具體的檢測方法是，檢測軟件對圖像進行黑白二次化處理，對每組中兩個定位圓 (直徑不同的兩個需要為同心圓的定位圓)分別單獨分析求出其圓輪廓上每個微孔的各自圓心，再以每個圓心坐標擬合出定位圓輪廓，從而求得定位圓圓心，進而計算兩個圓心間距，再與允許誤差對比，判定是否超差。四組定位圓同時顯示于顯示器4上，任一個超差即發(fā)出相應提示警報。合格則繼續(xù)下一輪檢測。本實用新型尚有多種實施方式，凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術方案，均落在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于包括一用于定位的支架，所述支架上設置有一夾具，所述夾具上夾裝有一攝像機組件，所述攝像機組件，所述攝像機組件通過數據線連接與計算機連接，所述計算機上連接有一顯示器。
2.根據權利要求1所述的用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于所述攝像機組件的下方固定有一顯微鏡組件。
3.根據權利要求2所述的用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于所述攝像機組件為CXD攝像機組件。
4.根據權利要求3所述的用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于所述的裝置設置有至少2臺支架。
專利摘要本實用新型揭示了一種用于檢測陶瓷基板孔偏移的裝置，其特征在于包括一用于定位的支架，所述支架上設置有一夾具，所述夾具上夾裝有一攝像機組件，所述攝像機組件，所述攝像機組件通過數據線連接與計算機連接，所述計算機上連接有一顯示器，本實用新型通過顯微鏡與攝像組件的結合對陶瓷基板上的定位圓進行很好的同心偏移檢測，檢測效率及判斷的準確度得到大大的提高。
文檔編號G01B11/27GK202284950SQ201120409909
公開日2012年6月27日 申請日期2011年10月25日 優(yōu)先權日2011年10月25日
發(fā)明者衛(wèi)建國, 姜清蓮, 李江鋒, 楊豐, 秦樂寧, 謝懷婷, 鄧磊, 黃明臻 申請人:蘇州賽瑯泰克高技術陶瓷有限公司