專利名稱：探針的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種探針，特別有關一種用來測試電路板的探針。
背景技術：
一般而言，在電路板的制造過程中，有許多外在因素會影響生產(chǎn)中的電路板，例如組件的損壞、缺件、線路短路、線路開路、零件不良、機臺的異?；蛉藶槭枋У?。因此，為了對電子產(chǎn)品的出貨質量進行控管，在完成電路板的制造過程后，通常制造商會先藉由自動化設備對電路板進行電性測試，并利用測量的數(shù)據(jù)來加以判斷電路板上各組件的電性參數(shù)是否正常，藉以預先確認電路板的質量是否符合規(guī)范，讓使用電路板的電子產(chǎn)品合乎質量標準。因此，考慮到電路板生產(chǎn)完成后的測試需求，在電路設計時，便會在電路板上設置許多的測試點，以利后續(xù)利用自動化設備對電路板進行測試。具體而言，當電路板在進行測試時，可藉由設置于自動化設備上的探針接觸電路板的測試點，并輸入測試信號至電路板進行測試，并根據(jù)自動化設備計算機測量的信號來判斷電路板的功能是否正常。此外，在電路板上的測試點一般為零件腳或焊接點(soldering point)。常見的電路板測試點是在各測試點的表面附著錫膏以形成球狀的凸起結構。之后，通過自動化設備的探針直接接觸位于測試點的球狀的凸起結構，再加以測量相關的電性參數(shù)，例如電阻值、電容值或電感值等。此外，由于電路板的組件僅設置于同一表面已成為發(fā)展的趨勢，為了減少錫膏印刷設備與人力成本，測試點上膏的方式已由傳統(tǒng)的錫膏印刷改為波峰焊上錫。然而，若使用波峰焊上錫的方式，大量的助焊劑可能會殘留在電路板上的測試點與零件腳上，使得自動化設備上未經(jīng)設計的探針易被助焊劑附著，導致測量時探針與零件腳接觸不良，影響自動化設備測試時的穩(wěn)定性。也就是說，當探針易被助焊劑附著時，可能會造成測量錯誤而使產(chǎn)能降低，并增加制造的成本。因此，需要提供一種探針以解決上述問題。

實用新型內(nèi)容本實用新型的一技術方式為一種探針。根據(jù)本實用新型一實施方式，一種探針包括一針頭部以及多個測試丘；該多個測試丘形成于該針頭部上，每二相鄰的該些測試丘之間形成一 V形山谷部，且每一該V形山谷部具有50度至55度的夾角。在本實用新型一實施方式中，其中上述每一測試丘具有山峰部，且山峰部的頂端與V形山谷部的底端之間的垂直距離為115mm至1. 35mm。本實用新型一實施方式中，其中上述每一山峰部具有43度至47度的夾角。本實用新型一實施方式中，其中上述測試丘具有螺旋狀的外形。本實用新型一實施方式中，其中上述測試丘的數(shù)量為7個。[0013]本實用新型一實施方式中，其中上述探針還包含針身部連接于針頭部，且與測試丘位于針頭部的相反兩側。本實用新型一實施方式中，其中上述針身部與針頭部分別具有圓柱狀的外形。本實用新型一實施方式中，其中上述針頭部的截面積大于針身部的截面積。本實用新型一實施方式中，其中上述測試丘的其中之一由其余測試丘圍繞。本實用新型一實施方式中，其中上述測試丘與針頭部為一體成形的金屬塊體。在本實用新型上述實施方式中，由于二相鄰測試丘之間的V形山谷部具有50度至陽度的夾角，且山峰部的頂端與V形山谷部的底端之間的垂直距離為1. 15mm至1. 35mm。這樣的設計有利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于探針的測試丘上，進而提升探針的使用壽命，降低產(chǎn)品制造的成本。此外，探針的測試丘具有螺旋狀的外形，可確保探針可穩(wěn)定地接觸于電路板上的測試點與零件腳，不易滑開。另一方面，此探針具有鍍金且光滑的表面，使探針容易清潔，因此當探針應用于自動化設備時，可提升測試時的穩(wěn)定性。

圖1繪示根據(jù)本實用新型一實施方式的探針的立體圖。圖2繪示圖1的探針連接于自動化設備的側視圖。圖3繪示圖1的探針使用時的側視圖。主要組件符號說明100:探針110:針頭部120 測試丘 122 :V形山谷部124:山峰部 130 針身部200:自動化設備 300:電路板310 測試點 Al 截面積A2 截面積D 垂直距離θ i 夾角θ 2 夾角
具體實施方式
以下將以附圖公開本實用新型的多個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節(jié)將在以下敘述中一并說明。然而，應了解到，這些實務上的細節(jié)不應當用以限制本實用新型。也就是說，在本實用新型部分實施方式中，這些實務上的細節(jié)是非必要的。此外，為簡化附圖起見，一些公知慣用的結構與組件在附圖中將以簡單示意的方式繪示。圖1繪示根據(jù)本實用新型一實施方式的探針100的立體圖。如圖所示，探針100包含針頭部110與多個測試丘120。測試丘120形成于針頭部110上，每二相鄰的測試丘120 之間形成V形山谷部122，且每一 V形山谷部122具有50度至55度的夾角θ 10每一測試丘120具有山峰部124，且山峰部IM的頂端與V形山谷部122的底端之間(以虛線表示)的垂直距離D可以為1.15mm至1.35mm。此外，每一山峰部1 可以具有 43度至47度的夾角θ2。在較佳的實施方式中，V形山谷部122的夾角Q1SSS度，山峰部124的頂端與V形山谷部122的底端之間的垂直距離D為1. 3mm，而山峰部IM具有45度的夾角θ2。然而，在制造時可能會產(chǎn)生些微的誤差，例如V形山谷部122的夾角9工的公差可以為士 1度。此外，測試丘120具有螺旋狀的外形且測試丘120的數(shù)量為七個。舉例來說，測試丘120的排列方式可以為六個測試丘120圍繞位于中央的一個測試丘120。另一方面，測試丘120與針頭部110可以為一體成形的金屬塊體，且探針100的針頭部110與測試丘120
具有鍍金且光滑的表面。應當了解到，在以下敘述中，已經(jīng)在上述實施方式中敘述過的探針100各部分的連接關系將不再重復贅述，僅就針頭部110連接于外部自動化設備的結構以及連接方式加以補充，合先敘明。圖2繪示圖1的探針100連接于自動化設備200的側視圖。如圖所示，探針100可選擇性地包含針身部130。其中，針身部130連接于針頭部110，且與測試丘120位于針頭部110的相反兩側。此外，針身部130連接于針頭部110的方式可以為焊接、卡合、或一體成形的，只要針身部130可以搭配自動化設備200便可。在使用時，可以由自動化設備200 來控制針身部130伸長或縮短，也可以固定針身部130于自動化設備200上，依照自動化設備200的設計而定。在本實施方式中，針身部130與針頭部110分別具有圓柱狀的外形，且針頭部110 的截面積Al大于針身部130的截面積Α2。舉例來說，針頭部110可以具有1. 4mm的直徑， 而針身部130可以具有0. 9mm的直徑，但并不限制本實用新型。在以下敘述中，將詳細說明探針100測量電路板時的使用情形。圖3繪示圖1的探針100使用時的側視圖。同時參閱圖1與圖3，電路板300的線路上設置有測試點310，在本實施方式中，測試點310的表面為凸起的結構。具體而言，使用者可通過設置于自動化設備200上的探針100直接接觸測試點310，再加以測量相關的電性參數(shù)回傳至自動化設備200的計算機(未繪示在圖中)，以確認電路板300的線路有無導通或空焊。上述電性參數(shù)例如電阻值、電容值或電感值等。此外，由于測試點310上膏的方式已由傳統(tǒng)的錫膏印刷改為波峰焊上錫，若使用公知的探針則助焊劑可能會殘留在電路板300的測試點310上。然而在本實施方式中，自動化設備200使用探針100，V形山谷部122具有50度至55度的夾角θ i，且山峰部124的頂端與V形山谷部122的底端之間的垂直距離D為1. 15mm至1. 35mm。這樣的設計因切口較大，有利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于探針100的測試丘120上，以確保下一次使用時的測試質量。在本實施方式中，探針100具有七個測試丘120，且測試丘120具有螺旋狀的外形， 這樣的設計可確保探針100可穩(wěn)定地接觸于電路板300上的測試點310，而不易在測試點 310上滑開。另一方面，探針100具有鍍金且光滑的表面，使探針100容易清潔，并具有較高的強度。如此一來，當探針100應用于自動化設備200時，探針100可提升測量時的穩(wěn)定性。再者，經(jīng)由自動化設備200使用此種探針100后的統(tǒng)計結果顯示，探針100的使用壽命(測量次數(shù))可提升至22萬至M萬次，與傳統(tǒng)探針相比較可節(jié)省57%的探針花費，進而降低產(chǎn)品的制造成本。本實用新型上述實施方式的探針100與先前技術相比較，具有以下優(yōu)點[0044](I)V形山谷部具有50度至55度的夾角，且山峰部的頂端與V形山谷部的底端之間的垂直距離為1. 15mm至1. 35mm，這樣的設計有利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于探針的測試丘上，進而提升探針的使用壽命，降低產(chǎn)品制造的成本。(2)探針的測試丘具有螺旋狀的外形，這樣的設計可確保探針可穩(wěn)定地接觸于電路板上的測試點與零件腳，而不易滑開。(3)探針具有鍍金且光滑的表面，使探針在使用后容易清潔，因此當探針應用于自動化設備時，可提升測試時的穩(wěn)定性。雖然本實用新型已以實施方式公開如上，然而其并非用以限定本實用新型，任何本領域技術人員，在不脫離本實用新型的精神和范圍內(nèi)，應當可作各種的更動與潤飾，因此本實用新型的保護范圍應當視后附的權利要求書的范圍所界定者為準。
權利要求1.一種探針，其特征在于，該探針包括 一針頭部；以及多個測試丘，該多個測試丘形成于該針頭部上，每二相鄰的該些測試丘之間形成一 V 形山谷部，且每一該V形山谷部具有50度至55度的夾角。
2.如權利要求1所述的探針，其特征在于，每一該測試丘具有一山峰部，且該山峰部的頂端與該V形山谷部的底端之間的垂直距離為1. 15mm至1. 35mm。
3.如權利要求2所述的探針，其特征在于，每一該山峰部具有43度至47度的夾角。
4.如權利要求1所述的探針，其特征在于，該些測試丘具有螺旋狀的外形。
5.如權利要求1所述的探針，其特征在于，該些測試丘的數(shù)量為七個。
6.如權利要求1所述的探針，其特征在于，該探針還包括一針身部，該針身部連接于該針頭部，且與該些測試丘位于該針頭部的相反兩側。
7.如權利要求6所述的探針，其特征在于，該針身部與該針頭部分別具有圓柱狀的外形。
8.如權利要求6所述的探針，其特征在于，該針頭部的截面積大于該針身部的截面積。
9.如權利要求1所述的探針，其特征在于，該些測試丘的其中之一由其余該些測試丘圍繞。
10.如權利要求1所述的探針，其特征在于，該些測試丘與該針頭部為一體成形的金屬塊體。
專利摘要一種探針。該探針包括一針頭部以及多個測試丘；該多個測試丘形成于該針頭部上，每二相鄰的該些測試丘之間形成一V形山谷部，且每一該V形山谷部具有50度至55度的夾角。本實用新型的探針有利于助焊劑的排出，使助焊劑或其他異物不易殘留于探針的測試丘上，進而提升探針的使用壽命，降低產(chǎn)品制造的成本。此外，探針可穩(wěn)定地接觸于電路板上的測試點與零件腳，不易滑開，且本實用新型的探針容易清潔，能提升測試時的穩(wěn)定性。
文檔編號G01R1/067GK202256408SQ20112041736
公開日2012年5月30日 申請日期2011年10月27日 優(yōu)先權日2011年10月27日
發(fā)明者李勇, 林曉佳, 蔡哲翔 申請人:緯創(chuàng)資通股份有限公司