專利名稱：石英晶片檢測臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢測臺，尤其是石英晶片的檢測臺。
背景技術(shù)：
目前，在石英晶片制造行業(yè)中，對于石英晶片成品或半成品出品前需要對晶片進行檢測，檢測晶片是否有缺損，表面是否有劃傷等瑕疵，通常是將石英晶片逐個進行檢查，這種人工勞動極大地影響了工作效率，同時也增添了工作人員的工作負擔，費時費力。

實用新型內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種石英晶片成品檢測臺，能夠快速地、成 批得檢測石英晶片成品或半成品的質(zhì)量，提高了生產(chǎn)效率。本實用新型是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。一種石英晶片檢測臺，其包括了透明的觀察板設(shè)置于頂部的檢測臺基座，觀察板設(shè)有至少一個石英晶片放置框，且其下方設(shè)有若干均勻布置的發(fā)光裝置于檢測臺基座內(nèi)。進一步地，上述石英晶片放置框是由兩對隔板構(gòu)成的，且上述兩對隔板與觀察板共圍成矩形體空間。進一步地，上述觀察板為玻璃制且厚度一致的平板。進一步地，上述發(fā)光裝置設(shè)為日光燈管。進一步地，上述日光燈管等間距得平行鋪設(shè)于檢測臺基座底部。本實用新型在使用時，將成品(半成品)的石英晶片，放入檢測臺的石英晶片放置框內(nèi)，石英晶片組的兩端的石英晶片面貼于放置框的兩對應(yīng)隔板內(nèi)面，打開日光燈管，從石英晶片的正上方進行觀察，若出現(xiàn)非正常狀的陰影或者區(qū)別于正常顏色的亮點時，即為存在缺損的石英晶片。本實用新型的有益效果在于，通過發(fā)光裝置將光線打至觀察板的下板面，可清晰得觀察出石英晶片成品是否有缺陷或者劃傷，一次可檢測大量的石英晶片成品，節(jié)省了工作時間，提高了生產(chǎn)效率，減少了工作量以及工作負擔。

圖I為本實施案例石英晶片檢測臺的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖I的A方向視角示意圖。
具體實施方式
下面根據(jù)附圖和實施例對本實用新型作進一步詳細說明。圖I為本實施案例石英晶片檢測臺的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為圖I的A方向視角示意圖，參照圖I、圖2，本實用新型，石英晶片檢測臺1，是由檢測臺基座11、觀察板13、日光燈管
15、石英晶片放置框17構(gòu)成的，其中日光燈管15設(shè)有3個，石英晶片放置框17設(shè)有2個。[0016]檢測臺基座11是由底板111、兩對側(cè)板即側(cè)板113、117和側(cè)板115、119圍成的頂部開放式的箱體結(jié)構(gòu)。觀察板13固定在檢測臺基座11的頂端，觀察板13是由玻璃板制作的，并且觀察板13的厚度沒有變化即為等厚板。觀察板13的上端面設(shè)置了 2個石英晶片放置框17，石英晶片放置框17是由兩對隔板即隔板171、175和隔板173、177與觀察板13共同構(gòu)成的，并且共同圍成的空間為矩形體，同時這2個石英晶片放置框17相互平行得設(shè)置在觀察板13上端面。本實用新型在使用時，將待檢的石英晶片，放入檢測臺I的石英晶片放置框17內(nèi)，石英晶片組的兩端的石英晶片面貼于放置框的兩對應(yīng)隔板171、175的內(nèi)面處，打開3個日光燈管15，從石英晶片組的正上方進行觀察，若出現(xiàn)非正常狀的陰影或者區(qū)別于正常顏色的売點時，即為存在缺損的石英晶片。綜上所述，本實用新型，石英晶片檢測臺可一次性檢測大量的石英晶片，節(jié)省了工作時間，提高石英晶片檢測精準度，減少了工作量以及工作負擔。 上述實施例只為說明本實用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點，其目的在于讓熟悉此領(lǐng)域技術(shù)的人士能夠了解本實用新型內(nèi)容并加以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍。凡根據(jù)本實用新型精神實質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種石英晶片檢測臺，其特征在于，所述檢測臺包括了透明的觀察板設(shè)置于頂部的檢測臺基座，觀察板設(shè)有至少一個石英晶片放置框，且其下方設(shè)有若干均勻布置的發(fā)光裝置于檢測臺基座內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述石英晶片放置框是由兩對隔板構(gòu)成的，且上述兩對隔板與觀察板共圍成矩形體空間。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述觀察板為玻璃制且厚度一致的平板。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述發(fā)光裝置設(shè)為日光燈管。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述日光燈管等間距得平行鋪設(shè)于檢測臺基座底部。
專利摘要本實用新型公開了一種石英晶片檢測臺，其包括了透明的觀察板設(shè)置于頂部的檢測臺基座，觀察板設(shè)有至少一個石英晶片放置框，且其下方設(shè)有若干均勻布置的發(fā)光裝置于檢測臺基座內(nèi)。本實用新型的優(yōu)點在于能夠快速地、成批地檢測石英晶片成品或半成品的質(zhì)量，提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號G01N21/88GK202512065SQ20112042267
公開日2012年10月31日 申請日期2011年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月31日
發(fā)明者夏金鑫, 朱正義, 杜剛, 王麗英 申請人:銅陵市三科電子有限責任公司