專(zhuān)利名稱(chēng)：電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置，特別涉及一種電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)階段工業(yè)生產(chǎn)和生活中所用的高精度水平儀裝置多數(shù)基于光學(xué)原理檢測(cè)。由于受到光源對(duì)環(huán)境要求和儀器尺寸多數(shù)偏大等方面的限制，現(xiàn)階段所采用的平面檢測(cè)儀不方便進(jìn)行實(shí)地檢測(cè)。

發(fā)明內(nèi)容應(yīng)用本新型公開(kāi)的了一種電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，包括放大器I、分析處理系統(tǒng)2、和測(cè)試電路3，所述測(cè)試電路3經(jīng)放大器I連接至分析處理系統(tǒng)2。所述測(cè)試電路3包括鐵磁性小球4、通電線圈5、電感傳感器，所述鐵磁性小球4與兩側(cè)的通電線圈5串聯(lián)后與電感傳感器并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。測(cè)試電路3包括電源、電阻Z1、電阻Z2、鐵磁性小球4、通電線圈5，所述鐵磁性小球4與兩側(cè)通電線圈5的串聯(lián)后，在于兩串聯(lián)電阻Zl、Z2并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。所述放大器I電感感應(yīng)的一端連接鐵磁性小球4，另一端連接電阻Zl、Z2相連的電路。電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置工作原理如下當(dāng)檢測(cè)平面存在一定傾斜度時(shí)，裝置的探測(cè)部分鐵磁性小球?qū)⑾鄳?yīng)的向較低側(cè)產(chǎn)生一段位移。由于小球分別原遠(yuǎn)離和靠近相應(yīng)側(cè)的線圈會(huì)導(dǎo)致兩側(cè)線圈電感值發(fā)生不同的變化。小球靠近一側(cè)的線圈電感值增加，而遠(yuǎn)離一側(cè)的線圈電感值減小。通過(guò)電感傳感器將兩側(cè)線圈的電感變化量采集，并經(jīng)過(guò)放大器送到分析處理系統(tǒng)中。分析處理系統(tǒng)通過(guò)對(duì)兩側(cè)線圈改變后的電感進(jìn)行比較、分析出小球在曲面上的的位移量再經(jīng)數(shù)學(xué)計(jì)算后即可得到平面的傾斜角度。改變小球的半徑即可改變裝置的靈敏度，而改變小球“軌道”曲率可以改變裝置的精確度。本實(shí)用新型基于電磁學(xué)原理，有效地避免了光學(xué)平面檢測(cè)裝置的光源對(duì)環(huán)境要求的限制。另一方面，此裝置中的傳感器，放大器和分析處理系統(tǒng)以及附加的結(jié)果顯示，可以通過(guò)使用集成電路實(shí)現(xiàn)，大幅度的減小了裝置的尺寸，可便于攜帶，可以實(shí)現(xiàn)實(shí)地檢測(cè)。

圖I電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置原理圖，圖I中，I、放大器，2、分析處理系統(tǒng)，3、測(cè)試電路，4、鐵磁性小球，5通電線圈。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步解釋說(shuō)明。實(shí)施例I[0012]一種電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，包括放大器I、分析處理系統(tǒng)2、和測(cè)試電路3，所述測(cè)試電路3經(jīng)放大器I連接至分析處理系統(tǒng)2。所述測(cè)試電路3包括鐵磁性小球4、通電線圈5、電感傳感器，所述鐵磁性小球4與兩側(cè)的通電線圈5串聯(lián)后與電感傳感器并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。測(cè)試電路3包括電源、電阻Z1、電阻Z2、鐵磁性小球4、通電線圈5，所述鐵磁性小球4與兩側(cè)通電線圈5的串聯(lián)后，在于兩串聯(lián)電阻Zl、Z2并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。所述放大器I電感感應(yīng)的一端連接鐵磁性小球4，另一端連接電阻Zl、Z2相連的電路。以上所述，僅為本實(shí)用新型較佳的具體實(shí)施方式
，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型披露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)方案及其實(shí)用新型構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，其特征在于包括放大器(I)、分析處理系統(tǒng)(2)、和測(cè)試電路(3)，所述測(cè)試電路(3)經(jīng)放大器(I)連接至分析處理系統(tǒng)(2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路(3)包括鐵磁性小球(4)、通電線圈(5)、電感傳感器，所述鐵磁性小球(4)與兩側(cè)的通電線圈(5)串聯(lián)后與電感傳感器并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路(3)包括電源、電阻Z1、電阻Z2、鐵磁性小球(4)、通電線圈(5)，所述鐵磁性小球(4)與兩側(cè)通電線圈(5)的串聯(lián)后，在于兩串聯(lián)電阻Z1、Z2并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述放大器(I)電感感應(yīng)的一端連接鐵磁性小球(4)，另一端連接電阻Zl、Z2相連的電路。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電渦流平面傾斜及平面度檢測(cè)裝置，包括放大器(1)、分析處理系統(tǒng)(2)、和測(cè)試電路(3)，所述測(cè)試電路(3)經(jīng)放大器(1)連接至分析處理系統(tǒng)(2)。所述測(cè)試電路(3)包括鐵磁性小球(4)、通電線圈(5)、電感傳感器，所述鐵磁性小球(4)與兩側(cè)的通電線圈(5)串聯(lián)后與電感傳感器并聯(lián)，再與電源并聯(lián)。本實(shí)用新型基于電磁學(xué)原理，有效地避免了光學(xué)平面檢測(cè)裝置的光源對(duì)環(huán)境要求的限制。
文檔編號(hào)G01C9/00GK202547642SQ20112050772
公開(kāi)日2012年11月21日 申請(qǐng)日期2011年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月8日
發(fā)明者張興明, 楊杰, 許文軒 申請(qǐng)人:大連海事大學(xué)