專利名稱：一種用光纖位移傳感器測(cè)定工件圓度誤差的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及ー種測(cè)定エ件圓度誤差的裝置，屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在エ業(yè)控制和精密機(jī)械制造中，通常使用專業(yè)圓度儀來(lái)測(cè)量エ件的圓度誤差。被測(cè)エ件安裝在中心可做精確調(diào)整的微動(dòng)定心臺(tái)上，用ー個(gè)精密回轉(zhuǎn)軸系上一個(gè)動(dòng)點(diǎn)(測(cè)量裝置的觸頭)所產(chǎn)生的理想圓與被測(cè)輪廓進(jìn)行比較，就可求得圓度誤差值。但是高精度的圓度儀售價(jià)相當(dāng)昂貴，一般都是上百萬(wàn)元才能買到，而且這種圓度儀專業(yè)性強(qiáng)、操作復(fù)雜、現(xiàn) 場(chǎng)測(cè)量能力差，對(duì)エ件的實(shí)時(shí)殘品控制應(yīng)用不便。而用便攜式圓度儀測(cè)量時(shí)支撐轉(zhuǎn)子具有偏心誤差，圓盤エ件與支撐轉(zhuǎn)子之間也存在安裝偏心誤差，那么測(cè)量信號(hào)中就包含這些偏心誤差信號(hào)，為了測(cè)量圓盤エ件的圓度誤差就必須去除這些誤差信號(hào)，目前的技術(shù)人員還沒(méi)有找到較好的方法和裝置。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種用光纖位移傳感器測(cè)定エ件圓度誤差的裝置，可以快速的檢測(cè)出圓盤エ件的圓度誤差是否在正常范圍內(nèi)，快速識(shí)別殘次品，它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、安裝調(diào)試方便、成本低廉、操作方便。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案一種用光纖位移傳感器測(cè)定エ件圓度誤差的裝置，包括待測(cè)エ件I、支撐轉(zhuǎn)子2、反射式光纖位移傳感器I 4、雙蹤示波器5、反射式光纖位移傳感器II 6，待測(cè)エ件I安裝在支撐轉(zhuǎn)子2上，待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2的側(cè)面一周均勻涂抹高反光材料3，反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6分別置于待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2的反光材料3涂抹處，且都與雙蹤示波器5連接。所述的反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6為相同結(jié)構(gòu)的光纖位移傳感器，反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6到反光材料3的距離均為5mm。所述的待測(cè)エ件I、支撐轉(zhuǎn)子2、反射式光纖位移傳感器I 4、雙蹤示波器5、反射式光纖位移傳感器II 6均為市售的普通元件。本實(shí)用新型的工作原理當(dāng)兩個(gè)信號(hào)接入雙蹤示波器后，雙蹤示波器將待測(cè)エ件的信號(hào)和支撐轉(zhuǎn)子的信號(hào)相減，然后與標(biāo)準(zhǔn)エ件的信號(hào)比對(duì)，識(shí)別待測(cè)エ件的圓度誤差是否在允許的范圍，進(jìn)而識(shí)別殘次品。本實(shí)用新型的有益效果是I、可以去除支撐轉(zhuǎn)子產(chǎn)生的偏心誤差和圓盤エ件與支撐轉(zhuǎn)子之間的安裝偏心誤差;2、可以在加工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)圓盤エ件進(jìn)行單個(gè)或者批次檢測(cè)；3、可快速的檢測(cè)出圓盤エ件的圓度誤差是否在正常范圍內(nèi)，快速識(shí)別殘次品；[0012]4、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、安裝調(diào)試方便、操作方便、成本低廉。

[0013]圖I本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖中1_待測(cè)エ件、2-支撐轉(zhuǎn)子、3-高反光材料、4-反射式光纖位移傳感器I、5-雙蹤示波器、6-反射式光纖位移傳感器II。
具體實(shí)施方式
如
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)ー步說(shuō)明，以方便技術(shù)人員理解。圖I所示本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖，裝置包括待測(cè)エ件I、支撐轉(zhuǎn)子2、反射式光纖位移傳感器I 4、雙蹤示波器5、反射式光纖位移傳感器II 6，待測(cè)エ件I安裝在支撐轉(zhuǎn)子2上，待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2的側(cè)面一周均勻涂抹高反光材料3，反射式光纖位移傳感器
I4和反射式光纖位移傳感器II 6分別置于待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2的反光材料3涂抹處，且都與雙蹤示波器5連接，標(biāo)定反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6到反光材料3的距離均為5mm。本實(shí)用新型的具體測(cè)量步驟如下(I)用如圖I所示的裝置測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)エ件獲得標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。用標(biāo)準(zhǔn)エ件代替待測(cè)エ件1，標(biāo)準(zhǔn)エ件的側(cè)面一周也均勻涂抹高反光材料3，反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6分別從標(biāo)準(zhǔn)エ件和支撐轉(zhuǎn)子2處測(cè)得信號(hào)，兩個(gè)信號(hào)接入雙蹤示波器5，然后將標(biāo)準(zhǔn)エ件的信號(hào)和支撐轉(zhuǎn)子2的信號(hào)相減得到標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，用雙蹤示波器5儲(chǔ)存標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。(2)在圖I所示的裝置里安裝待測(cè)エ件1，待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2的側(cè)面一周均勻涂抹高反光材料3,反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6分別置于待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2的反光材料3涂抹處,標(biāo)定反射式光纖位移傳感器I 4、反射式光纖位移傳感器II 6和反光材料3的距離為5mm,反射式光纖位移傳感器I 4和反射式光纖位移傳感器II 6分別從待測(cè)エ件I和支撐轉(zhuǎn)子2處測(cè)得信號(hào)，兩個(gè)信號(hào)接入雙蹤示波器5，然后將待測(cè)エ件I的信號(hào)和支撐轉(zhuǎn)子2的信號(hào)相減，最后與步驟(I)里雙蹤示波器5儲(chǔ)存的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)比對(duì)，識(shí)別待測(cè)エ件的圓度誤差是否在允許的范圍，進(jìn)而識(shí)別殘次品。本實(shí)用新型是通過(guò)具體實(shí)施過(guò)程進(jìn)行說(shuō)明的，在不脫離本實(shí)用新型范圍的情況下，還可以對(duì)實(shí)用新型進(jìn)行各種變換及等同代替，因此，本實(shí)用新型不局限于所公開(kāi)的具體實(shí)施過(guò)程，而應(yīng)當(dāng)包括落入本實(shí)用新型權(quán)利要求范圍內(nèi)的全部實(shí)施方案。
權(quán)利要求1.ー種利用光纖位移傳感器測(cè)定エ件圓度誤差的裝置，其特征在于包括待測(cè)エ件(I)、支撐轉(zhuǎn)子(2)、反射式光纖位移傳感器I (4)、雙蹤示波器(5)、反射式光纖位移傳感器II (6)，待測(cè)エ件(I)安裝在支撐轉(zhuǎn)子(2)上，待測(cè)エ件(I)和支撐轉(zhuǎn)子(2)的側(cè)面一周均勻涂抹高反光材料(3)，反射式光纖位移傳感器I (4)和反射式光纖位移傳感器II (6)分別置于待測(cè)エ件(I)和支撐轉(zhuǎn)子(2)的反光材料(3)涂抹處，且都與雙蹤示波器(5)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的利用光纖位移傳感器測(cè)定エ件圓度誤差的裝置，其特征在于反射式光纖位移傳感器I (4)和反射式光纖位移傳感器II (6)到反光材料(3)的距離均為 Smnin
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的利用光纖位移傳感器測(cè)定エ件圓度誤差的裝置，其特征在于所述的反射式光纖位移傳感器I (4)和反射式光纖位移傳感器II (6)為相同結(jié)構(gòu)的光纖位移傳感器。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種用光纖位移傳感器測(cè)定工件圓度誤差的裝置，屬于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，包括反射式光纖位移傳感器、待測(cè)工件、支撐轉(zhuǎn)子、雙蹤示波器組成，待測(cè)工件安裝在支撐轉(zhuǎn)子上，待測(cè)工件和支撐轉(zhuǎn)子的側(cè)面一周涂抹高反光材料，光纖位移傳感器分別置于待測(cè)工件和支撐轉(zhuǎn)子的反光材料涂抹處；本實(shí)用新型可以去除支撐轉(zhuǎn)子的偏心誤差和圓盤工件與支撐轉(zhuǎn)子之間的安裝偏心誤差，可以在加工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)圓盤工件進(jìn)行單個(gè)或者批次檢測(cè)，可快速的檢測(cè)出圓盤工件的圓度誤差是否在正常范圍內(nèi)，快速識(shí)別殘次品，同時(shí)它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、安裝調(diào)試方便、成本低廉、操作方便。
文檔編號(hào)G01B11/24GK202403678SQ201120550129
公開(kāi)日2012年8月29日 申請(qǐng)日期2011年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月26日
發(fā)明者劉志強(qiáng), 吳加權(quán), 曾春平, 李方江, 李迅鵬, 馬琨 申請(qǐng)人:昆明理工大學(xué)