專利名稱：高電壓測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種高電壓測(cè)試裝置，其以同軸電纜作為檢查對(duì)象，在上述同軸電纜的中心導(dǎo)體(芯線)與屏蔽導(dǎo)體之間施加高電壓，進(jìn)行有關(guān)電絕緣狀態(tài)的測(cè)試。
背景技術(shù)：
例如，在將收音機(jī)、電視等的無線裝置的輸入與天線相連接的情況下，通常使用同軸電纜。這類同軸電纜具有粗細(xì)一定的中心導(dǎo)體和屏蔽導(dǎo)體，該屏蔽導(dǎo)體配置為筒狀，包圍著上述中心導(dǎo)體的周圍，并在其與中心導(dǎo)體之間夾著預(yù)定的絕緣材料。在車載收音機(jī)接收機(jī)等的輸入與天線等連接的情況下，也使用這樣的同軸電纜。另外，如專利文獻(xiàn)I所述，也有在同軸電纜的中心導(dǎo)體的一部分插入有電容器的情況。另一方面，當(dāng)用戶將這種同軸電纜之類的電線用于各種用途時(shí)，為了保證電線的安全性和品質(zhì)，需要實(shí)施電氣檢查。具體而言，需要由用戶確認(rèn)確保了同軸電纜的中心導(dǎo)體與屏蔽導(dǎo)體之間的絕緣性。而且，需要由用戶在中心導(dǎo)體與屏蔽導(dǎo)體之間施加直流的高電壓(例如1000V)來測(cè)量絕緣電阻，或者施加與商用交流電源同等頻率(例如50Hz)的交流電壓(例如振幅1000V)來確認(rèn)其耐壓沒有問題。另外，例如在專利文獻(xiàn)2中，公開了用于監(jiān)視配電盤中的電線的電絕緣材料的老化狀態(tài)的絕緣監(jiān)視裝置。即，其公開了一種使用配置于配電盤內(nèi)的天線來檢測(cè)并監(jiān)視隨著絕緣老化導(dǎo)致的部分放電而發(fā)射出的電磁波的技術(shù)。在先技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1:日本特開2001-202836號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2:日本特開2005-265684號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的課題例如，在測(cè)量普通同軸電纜的絕緣電阻的情況下，能夠通過將絕緣電阻測(cè)試儀的兩個(gè)電極分別與檢查對(duì)象的同軸電纜的中心導(dǎo)體以及屏蔽導(dǎo)體相連接，并對(duì)這些電極施加預(yù)定電壓，從而簡(jiǎn)便地進(jìn)行測(cè)試。但是，在對(duì)如上所述的中心導(dǎo)體的一部分插入有電容器的同軸電纜進(jìn)行測(cè)試的情況下，則存在發(fā)生各種問題的可能性。即，因?yàn)橥S電纜的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間的直流電流由電容器隔離，所以，僅僅將絕緣電阻測(cè)試儀的兩個(gè)電極連接到同軸電纜的一端的中心導(dǎo)體以及屏蔽導(dǎo)體時(shí)，將只能對(duì)從同軸電纜的一端到電容器的一端的范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。因此，就需要在結(jié)束同軸電纜的一端的測(cè)試之后，將絕緣電阻測(cè)試儀兩個(gè)電極切換連接到該同軸電纜的另一端的中心導(dǎo)體以及屏蔽導(dǎo)體并再次進(jìn)行測(cè)試。另外，在實(shí)施絕緣電阻測(cè)試和耐壓測(cè)試等時(shí)，通常施加1000V左右的高電壓。內(nèi)置于同軸電纜中的電容器本身的耐壓通常最大為50V左右。因此，當(dāng)測(cè)試時(shí)操作人員連接錯(cuò)誤時(shí)，或者同軸電纜本身的絕緣性能存在問題時(shí)，還會(huì)出現(xiàn)同軸電纜的電容器因施加了過大的電壓而被擊穿的可能性。本發(fā)明即是鑒于上述現(xiàn)狀而作出，其目的在于提供一種高電壓測(cè)試裝置，該裝置即使在對(duì)內(nèi)置有電容器的同軸電纜進(jìn)行測(cè)試的情況下，也能夠在不會(huì)擊穿電容器的狀態(tài)下，通過簡(jiǎn)單操作對(duì)電纜整體進(jìn)行測(cè)試。用于解決課題的手段為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的高電壓測(cè)試裝置具有下述(I) (4 )的特征。(I) 一種高電壓測(cè)試裝置，該高電壓測(cè)試裝置以具有中心導(dǎo)體和屏蔽導(dǎo)體的同軸電纜為檢查對(duì)象，通過在上述同軸電纜的中心導(dǎo)體與屏蔽導(dǎo)體之間施加高電壓，進(jìn)行有關(guān)電氣絕緣狀態(tài)的測(cè)試，上述屏蔽導(dǎo)體包圍著上述中心導(dǎo)體的周圍，在其與中心導(dǎo)體之間夾著預(yù)定的絕緣材料，其中，上述高電壓測(cè)試裝置具有電纜連接部，該電纜連接部將輸出高電壓的測(cè)試儀的兩個(gè)輸出電極分別與作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的中心導(dǎo)體以及屏蔽導(dǎo)體連接，上述電纜連接部還具有:將上述同軸電纜的中心導(dǎo)體的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間電氣短路的芯線短路部；以及將上述同軸電纜的屏蔽導(dǎo)體的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間電氣短路的屏蔽線短路部。(2)根據(jù)上述(I)所述的高電壓測(cè)試裝置，其中，上述高電壓測(cè)試裝置還具有時(shí)間常數(shù)電路，該時(shí)間常數(shù)電路連接在上述測(cè)試儀的輸出與上述電纜連接部的輸入之間，并包括至少一個(gè)電阻器以及至少一個(gè)電容器。(3)根據(jù)上述(2)所述的高電壓測(cè)試裝置，其中，上述時(shí)間常數(shù)電路具有吸收異常高電壓的電涌消除電路。(4)根據(jù)上述(I)所述的高電壓測(cè)試裝置，其中，上述電纜連接部具有兩個(gè)以上的同軸連接器，該同軸連接器用于分別與設(shè)置于作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的長(zhǎng)度方向的一端和另一端的兩個(gè)連接器相連接。根據(jù)上述(I)的結(jié)構(gòu)的高電壓測(cè)試裝置，即使在作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜中內(nèi)置有電容器的情況下，也能夠防止在上述電容器的端子之間施加高電壓。而且，測(cè)試用電壓借助上述芯線短路部同時(shí)施加到上述同軸電纜的兩端。因此，即使不分成兩次進(jìn)行測(cè)試，而是通過一次測(cè)試也能夠?qū)ι鲜鐾S電纜的整體進(jìn)行測(cè)試。另外，即使在作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的長(zhǎng)度較長(zhǎng)的情況下，也能夠抑制施加于上述電容器的端子之間的電壓的增大。根據(jù)上述(2)的結(jié)構(gòu)的高電壓測(cè)試裝置，能夠緩和由上述測(cè)試儀施加到作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的高電壓的變化速度。由此緩和上述同軸電纜內(nèi)部的電感成分的影響。因此，即使在作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的長(zhǎng)度較長(zhǎng)的情況下，也能夠抑制施加于上述電容器的端子之間的電壓的增大。根據(jù)上述(3)的結(jié)構(gòu)的高電壓測(cè)試裝置，在因某種原因而暫時(shí)施加了異常高電壓的情況下，上述電涌消除電路將該異常高電壓吸收。因此，能夠抑制施加于上述電容器的端子之間的電壓的增大。根據(jù)上述(4)的結(jié)構(gòu)的高電壓測(cè)試裝置，只要將作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的兩端安裝到上述電纜連接部的兩個(gè)同軸連接器，就能夠安全地進(jìn)行測(cè)試。即，能夠防止因誤操作等造成上述同軸電纜內(nèi)部的電容器被施加過大的電壓的情況。以上，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了簡(jiǎn)要說明。并且，通過參照附圖來通讀下面所說明的具體實(shí)施方式
，本發(fā)明的細(xì)節(jié)將會(huì)更加明確。


圖1是使用實(shí)施方式的高電壓測(cè)試裝置對(duì)天線用電線線束進(jìn)行測(cè)試時(shí)的連接狀態(tài)的接線示意圖。圖2是圖1所示電路的等效電路的電路圖。圖3是表示作為檢查對(duì)象的天線用電線線束的結(jié)構(gòu)例的主視圖。圖4是向圖1以及圖3所示的天線用電線線束施加測(cè)試用電壓時(shí)影響所及的各部的電路元件的連接狀態(tài)的示意圖。圖5是施加了測(cè)試用直流電壓之后不久的天線用電線線束的等效電路的電路示意圖。圖6是施加了測(cè)試用直流電壓后再經(jīng)過充分時(shí)間后的天線用電線線束的等效電路的電路不意圖。圖7是高電壓測(cè)試用夾具中沒有時(shí)間常數(shù)電路的情況下的電壓波形的波形示意圖。 圖8是高電壓測(cè)試用夾具中具有時(shí)間常數(shù)電路的情況下的電壓波形的波形示意圖。圖9是實(shí)際測(cè)試狀態(tài)下出現(xiàn)于天線用電線線束內(nèi)部的電容器端子之間的電壓波形例的波形示意圖。圖10是使用變形例的高電壓測(cè)試裝置對(duì)天線用電線線束進(jìn)行測(cè)試時(shí)的連接狀態(tài)的接線示意圖。符號(hào)說明10天線用電線線束11同軸電纜Ila芯線Ilb屏蔽導(dǎo)體12、13 線束側(cè)連接器14電容器20、20B 高電壓測(cè)試用夾具(高電壓測(cè)試裝置)21、22 測(cè)試儀側(cè)連接器23夾具電路23a時(shí)間常數(shù)電路23b電涌消除電路24、25 端子30絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀31,32 輸出電極40天線用電線線束
41、43同軸電纜42、44、45線束側(cè)連接器46電容器51、52、53測(cè)試儀側(cè)連接器P1、P3芯線短路部P2、P4屏蔽線短路部X收音機(jī)單元Y天線放大器
具體實(shí)施例方式以下，參照各附圖，對(duì)本發(fā)明的高電壓測(cè)試裝置相關(guān)的具體實(shí)施方式
進(jìn)行說明。圖1表示使用本實(shí)施方式的高電壓測(cè)試裝置對(duì)天線用電線線束進(jìn)行測(cè)試時(shí)的連接狀態(tài)的具體例。另外，在本實(shí)施方式中，作為代表例，是假定了將如圖3所示的天線用電線線束10用作檢查對(duì)象的情 況。如圖3所示，該天線用電線線束10被用于連接預(yù)定的收音機(jī)單元(車載無線電接收器的輸入)X與天線放大器(將來自車載天線的高頻信號(hào)放大的放大器)Y之間。另外，如圖3所示，其包括具有某種程度的長(zhǎng)度(例如1.6m)的同軸電纜(1.5C-2V)11和分別與該同軸電纜的一端IlA以及另一端IlB相連接的線束側(cè)連接器12、13。并且，在線束側(cè)連接器12的內(nèi)側(cè)內(nèi)置有電容器14。具體而言，線束側(cè)連接器12是符合日本汽車技術(shù)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)(JASO)的JASO插頭(plug)。另外，線束側(cè)連接器13是同軸用高頻連接器(HFC)。同軸電纜11其中心部具有粗細(xì)一定的作為導(dǎo)電體的芯線11a，其外周由預(yù)定的電氣絕緣材料包覆。并且，在該電氣絕緣材料的外側(cè)，配置有呈圓筒狀并將芯線Ila包圍的屏蔽導(dǎo)體lib。S卩，芯線Ila與屏蔽導(dǎo)體Ilb配置為同軸狀，兩者之間由電氣絕緣材料進(jìn)行絕緣。另外，屏蔽導(dǎo)體Ilb的外側(cè)由適當(dāng)?shù)耐馄?絕緣體)包覆。內(nèi)置于線束側(cè)連接器12內(nèi)的電容器14是用于與同軸電纜11所連接的天線系統(tǒng)(例如圖3中，收音機(jī)單元X和天線放大器Y相當(dāng)于該天線系統(tǒng))的信號(hào)源進(jìn)行匹配(matching)的電容器，起到匹配用補(bǔ)償電容器的作用。S卩，如圖3所示，電容器14的一端在同軸電纜11的一端IlA與芯線Ila相連接，電容器14的另一端與線束側(cè)連接器12的中心的電極12a相連接。采用該結(jié)構(gòu)，使得天線用電線線束10具備了用于與天線系統(tǒng)的信號(hào)源進(jìn)行匹配的功能。另外，線束側(cè)連接器12的外周的電極12b在同軸電纜11的一端IlA與屏蔽導(dǎo)體Ilb相連接。線束側(cè)連接器13的中心的電極13a在同軸電纜11的另一端IlB與芯線Ila相連接，外周的電極13b在同軸電纜11的另一端IlB與屏蔽導(dǎo)體Ilb相連接。在將圖3所示的天線用電線線束10作為檢查對(duì)象進(jìn)行測(cè)試時(shí)，如圖1所示，將其與高電壓測(cè)試用夾具(高電壓測(cè)試裝置)20相連接。即，因?yàn)橥S電纜11具備可撓性，所以，將天線用電線線束10彎曲為U字狀，使其一端側(cè)的線束側(cè)連接器(插頭)12與測(cè)試儀側(cè)連接器(插座)21進(jìn)行機(jī)械連接和電連接，并使另一端側(cè)的線束側(cè)連接器(母頭)13與測(cè)試儀側(cè)連接器(公頭)22進(jìn)行機(jī)械連接和電連接。
圖1所示的高電壓測(cè)試用夾具20具有測(cè)試儀側(cè)連接器21、22和夾具電路23。測(cè)試儀側(cè)連接器21和測(cè)試儀側(cè)連接器22配置于相互鄰近的位置。另外，測(cè)試儀側(cè)連接器21的中心側(cè)電極21a在芯線短路部Pl與測(cè)試儀側(cè)連接器22的中心側(cè)電極22a相連接，測(cè)試儀側(cè)連接器21的外周側(cè)電極21b在屏蔽線短路部P2與測(cè)試儀側(cè)連接器22的外周側(cè)電極22b相連接。芯線短路部Pl經(jīng)由夾具電路23與端子24相連接，屏蔽線短路部P2經(jīng)由夾具電路23與端子25相連接。夾具電路23的端子24以及25分別與絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30的輸出電極31以及32相連接。絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30具有進(jìn)行使用了直流高電壓的絕緣電阻測(cè)試的功能和使用了交流高電壓的耐電壓測(cè)試的功能。即，能夠在輸出電極31、32之間施加了直流高電壓(例如1000V)的狀態(tài)下測(cè)量檢查對(duì)象的絕緣電阻。另外，能夠在輸出電極31、32之間施加了低頻交流(例如50Hz)高電壓(例如1000V)的狀態(tài)下識(shí)別檢查對(duì)象是否發(fā)生絕緣破壞。圖2表示圖1所示的電路的主要部分的等效電路。如圖2所示，高電壓測(cè)試用夾具20的夾具電路23具有時(shí)間常數(shù)電路23a和電涌消除電路23b。時(shí)間常數(shù)電路23a是為了減緩在切換絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30所輸出的直流電壓導(dǎo)通/切斷時(shí)的波形的上升和下降而設(shè)置的。此外，在圖2所示的結(jié)構(gòu)例中，時(shí)間常數(shù)電路具有兩個(gè)電阻器和三個(gè)電容器，但也可以僅由一個(gè)電阻器和一個(gè)電容器構(gòu)成時(shí)間常數(shù)電路 23a。電涌消除電路23b是為了保護(hù)整個(gè)系統(tǒng)而設(shè)置的。即，在因某種原因而暫時(shí)施加了異常的高電壓(電涌電壓)的情況下，為了電路各部分不被破壞，電涌消除電路23b將電涌電壓消除。在該結(jié)構(gòu)例中，由極性相互反向并串聯(lián)連接的兩個(gè)二極管構(gòu)成電涌消除電路23b。此外，電涌消除電路23b用于意外保護(hù)，因此也可以省略。圖4表示向圖1以及圖3所示的天線用電線線束10施加測(cè)試用電壓時(shí)對(duì)天線用電線線束10造成影響的各部分的主要電路元件的假定連接狀態(tài)。圖4所示的各電路元件的實(shí)體如下所示。Cl:相當(dāng)于線束側(cè)連接器12內(nèi)部的電容器14的靜電電容R:芯線Ila與屏蔽導(dǎo)體Ilb之間的絕緣電阻C2:芯線Ila與屏蔽導(dǎo)體Ilb之間的寄生電容L:存在于芯線Ila等中的電感成分因此，關(guān)于天線用電線線束10的等效電路，如圖2所示，包括Cl、C2、L各成分。如圖1所示，通過在芯線短路部Pl使測(cè)試儀側(cè)連接器21的中心側(cè)電極21a與測(cè)試儀側(cè)連接器22的中心側(cè)電極22a短路，將電容器14的一端與另一端之間進(jìn)行電連接。因此，在穩(wěn)態(tài)下，電容器14兩端之間的電壓為0V。但是，在測(cè)試時(shí)從絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30的輸出施加直流電壓的情況下，在導(dǎo)通/切斷切換時(shí)，也會(huì)產(chǎn)生高電壓的上升和下降。因此，圖2所示的Cl、C2、L各成分對(duì)于此時(shí)的交流成分出現(xiàn)了影響，有可能在電容器14的兩端之間出現(xiàn)高電壓。特別是同軸電纜11長(zhǎng)度較長(zhǎng)的情況下，存在C1、C2、L各成分的影響變大的可能性。圖5表示施加了測(cè)試用直流電壓之后不久的天線用電線線束10的等效電路。即，在施加了直流電壓之后不久，由于電感成分L的作用，在短時(shí)間內(nèi)(例如8ns)產(chǎn)生反電動(dòng)勢(shì)，在其影響下，電容器14 (Cl)的兩端出現(xiàn)了以下式表示的電壓Vcl。Vcl=(外加電壓)XC2/ (Cl + C2)...(I)另外，圖6表示施加了測(cè)試用直流電壓之后再經(jīng)過充分時(shí)間后的天線用電線線束10的等效電路。即，因?yàn)樵谑┘又绷麟妷汉蠼?jīng)過了充分的時(shí)間后，電感成分L的反電動(dòng)勢(shì)的影響消失，所以，電容器14 (Cl)的兩端在芯線短路部Pl變?yōu)楸欢探訝顟B(tài)，電容器14 (Cl)的兩端變?yōu)榈入娢?。也就是說，在使用高電壓測(cè)試用夾具20在芯線短路部Pl將天線用電線線束10的一端與另一端短接的情況下，也對(duì)電容器14暫時(shí)施加有上述第(I)式的電壓。在該電壓大小超過電容器14的耐壓(例如50V)的情況下，電容器14可能被擊穿。圖7表示高電壓測(cè)試用夾具20沒有時(shí)間常數(shù)電路23a的情況下的電壓波形。即，當(dāng)施加于天線用電線線束10的輸入電壓Vin (A點(diǎn)一D點(diǎn)間的電壓)如圖7所示的波形那樣發(fā)生急劇變化時(shí)，在過渡狀態(tài)期間Tl內(nèi)，電容器14 (Cl)的兩端出現(xiàn)電壓Vcl。在圖7所示的例中，作為輸入電壓Vin給與5V的變化時(shí)，觀測(cè)到最大為3.8V的振幅的電壓Vcl。因此，假如將1000V作為輸入電壓Vin進(jìn)行施加的情況下，760V的高電壓將被施加到電容器14 (Cl)的兩端，電容器14發(fā)生絕緣擊穿。另一方面，圖8表不聞電壓測(cè)試用夾具20具有時(shí)間常數(shù)電路23a的情況下的電壓的波形。即，施加到天線用電線線束10的輸入電壓Vin (A點(diǎn)一D點(diǎn)間的電壓)在時(shí)間常數(shù)電路23a的影響下，如圖8所示的波形，其上升和下降變得平緩。其結(jié)果為，即使在過渡狀態(tài)期間內(nèi)，電容器14 (Cl)的兩端出現(xiàn)的電壓Vcl也變小到噪聲級(jí)的程度。圖9表示實(shí)際測(cè)試狀態(tài)下出現(xiàn)于天線用電線線束10內(nèi)部的電容器14 (Cl)的端子之間的電壓波形例。在圖9所示的例中，示出了施加直流500V作為上述輸入電壓Vin時(shí)的過渡狀態(tài)下的電容器14 (Cl)的兩端出現(xiàn)的電壓Vcl。在該例中，因?yàn)殡妷篤cl的振幅最大值為4.68V，所以，如果考慮到電容器14的通常的耐壓(例如50V)，則完全沒有問題。也就是說，在天線用電線線束10的絕緣電阻測(cè)試時(shí)，即使將絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30所輸出的直流高電壓(例如1000V)急劇接通或切斷的情況下，也能夠通過在高電壓測(cè)試用夾具20中安裝時(shí)間常數(shù)電路23a，防止在過渡狀態(tài)下超過耐壓的高電壓施加到電容器14的端子之間。此外，在絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30所輸出的電壓變化平緩的情況下，或者與同軸電纜11長(zhǎng)度較短時(shí)一樣，電感成分L的影響較小的情況下，即使沒有時(shí)間常數(shù)電路23a也可能不出現(xiàn)問題。(變形例)圖10表示使用變形例的高電壓測(cè)試裝置對(duì)天線用電線線束40進(jìn)行測(cè)試時(shí)的連接狀態(tài)。在圖10所示的例中，用作檢查對(duì)象的天線用電線線束40具有兩條同軸電纜41、43和三個(gè)線束側(cè)連接器42、44、45。S卩，同軸電纜41的一端以及同軸電纜43的一端與共用的線束側(cè)連接器45相連接，同軸電纜41的另一端與線束側(cè)連接器42相連接，同軸電纜43的另一端與線束側(cè)連接器44相連接。線束側(cè)連接器42為JASO插頭，線束側(cè)連接器45為高頻連接器(HFC)，線束側(cè)連接器44為JASO微型插頭。在線束側(cè)連接器42內(nèi)部?jī)?nèi)置有電容器46。圖10所示的高電壓測(cè)試用夾具(高電壓測(cè)試裝置)20B呈僅通過一次測(cè)試就能夠?qū)μ炀€用電線線束40的整體進(jìn)行檢查的結(jié)構(gòu)。即，高電壓測(cè)試用夾具20B具有測(cè)試儀側(cè)連接器51、52以及53。另外，測(cè)試儀側(cè)連接器51、測(cè)試儀側(cè)連接器52和測(cè)試儀側(cè)連接器53配置于相互鄰近的位置。如圖10所示，測(cè)試儀側(cè)連接器51與線束側(cè)連接器42相連接，測(cè)試儀側(cè)連接器52與線束側(cè)連接器44相連接，測(cè)試儀側(cè)連接器53與線束側(cè)連接器45相連接。另外，在芯線短路部P3，測(cè)試儀側(cè)連接器51的中心側(cè)電極、測(cè)試儀側(cè)連接器52的中心側(cè)電極、測(cè)試儀側(cè)連接器53的中心側(cè)電極共用電連接。另外，在屏蔽線短路部P4，測(cè)試儀側(cè)連接器51的外周側(cè)電極、測(cè)試儀側(cè)連接器52的外周側(cè)電極、測(cè)試儀側(cè)連接器53的外周側(cè)電極共用電連接。因此，在如圖10所示的連接狀態(tài)下，只要從絕緣電阻/耐壓測(cè)試儀30的輸出端輸出電壓，就能夠?qū)νS電纜41的整體以及同軸電纜43的整體施加電壓，僅通過一次作業(yè)就能夠完成天線用電線線束40的整體的測(cè)試。如上所述，本發(fā)明的高電壓測(cè)試裝置能夠應(yīng)用到對(duì)例如搭載于車輛的天線電纜等進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試或耐壓測(cè)試的情況，特別是在作為檢查對(duì)象的電纜內(nèi)置有電容器的情況下，也能夠僅通過一次作業(yè)即完成電纜整體的測(cè)試，有助于作業(yè)效率的改善。而且，因?yàn)橹灰獙⑦B接器連接起來就能夠開始測(cè)試，所以，能夠防止因錯(cuò)誤的連接操作而對(duì)電容器施加過大的電壓的情況。另外，通過安裝時(shí)間常數(shù)電路，也能夠防止在暫時(shí)的過渡狀態(tài)下對(duì)電容器施加過大電壓的情況。另外，參照特定的實(shí)施方式詳細(xì)說明了本發(fā)明，但在不背離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可進(jìn)行各種變更和修正，這對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言是不言而喻的。此外，本申請(qǐng)基于2010年11月2日提出的日本專利申請(qǐng)(日本特愿2010-246474)，在此，其內(nèi)容作為參照而被引入。產(chǎn)業(yè)實(shí)用性根據(jù)本發(fā)明，即使在對(duì)內(nèi)置有電容器的同軸電纜進(jìn)行測(cè)試的情況下，也能夠在不破壞電容器的前提下，以簡(jiǎn)單的操作進(jìn)行電纜整體的測(cè)試。
權(quán)利要求
1.一種高電壓測(cè)試裝置，所述高電壓測(cè)試裝置以具有中心導(dǎo)體和屏蔽導(dǎo)體的同軸電纜為檢查對(duì)象，通過在所述同軸電纜的中心導(dǎo)體與屏蔽導(dǎo)體之間施加高電壓，進(jìn)行有關(guān)電氣絕緣狀態(tài)的測(cè)試，所述屏蔽導(dǎo)體包圍著所述中心導(dǎo)體周圍，在所述屏蔽導(dǎo)體與所述中心導(dǎo)體之間，夾著預(yù)定的絕緣材料，其特征在于， 所述高電壓測(cè)試裝置具有電纜連接部，所述電纜連接部將輸出高電壓的測(cè)試儀的兩個(gè)輸出電極分別與作為檢查對(duì)象的所述同軸電纜的中心導(dǎo)體以及屏蔽導(dǎo)體連接， 所述電纜連接部還具有:將所述同軸電纜的中心導(dǎo)體的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間電氣短路的芯線短路部；以及將所述同軸電纜的屏蔽導(dǎo)體的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間電氣短路的屏蔽線短路部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電壓測(cè)試裝置，其特征在于， 所述高電壓測(cè)試裝置還具有時(shí)間常數(shù)電路，所述時(shí)間常數(shù)電路連接在所述測(cè)試儀的輸出與所述電纜連接部的輸入之間，并包括至少一個(gè)電阻器以及至少一個(gè)電容器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高電壓測(cè)試裝置，其特征在于， 所述時(shí)間常數(shù)電路具有吸收異常高電壓的電涌消除電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電壓測(cè)試裝置，其特征在于， 所述電纜連接部具有兩個(gè)以上的同軸連接器，所述同軸連接器用于分別與設(shè)置于作為檢查對(duì)象的所述同軸電纜的長(zhǎng)度方向的一端和另一端的兩個(gè)連接器相連接。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種高電壓測(cè)試裝置，其即使在對(duì)內(nèi)置有電容器的同軸電纜進(jìn)行測(cè)試的情況下，也能夠在不會(huì)擊穿電容器的狀態(tài)下，通過簡(jiǎn)單操作對(duì)電纜整體進(jìn)行測(cè)試。高電壓測(cè)試裝置對(duì)作為檢查對(duì)象的由芯線(11a)和被絕緣的屏蔽導(dǎo)體(11b)構(gòu)成的同軸電纜(11)施加高電壓，進(jìn)行有關(guān)電氣絕緣狀態(tài)的測(cè)試，該裝置具有將輸出高電壓的測(cè)試儀的兩個(gè)輸出用輸出電極(31、32)分別與作為檢查對(duì)象的上述同軸電纜的中心導(dǎo)體以及屏蔽導(dǎo)體相連接的高電壓測(cè)試用夾具(20)，上述電纜連接部具有將上述同軸電纜的芯線(11a)的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間電氣短路的芯線短路部(P1)；和將上述同軸電纜的屏蔽導(dǎo)體(11b)的長(zhǎng)度方向的一端與另一端之間電氣短路的屏蔽線短路部(P2)。
文檔編號(hào)G01R31/12GK103201643SQ201180052839
公開日2013年7月10日 申請(qǐng)日期2011年11月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月2日
發(fā)明者大巖和之, 八木大亮 申請(qǐng)人:矢崎總業(yè)株式會(huì)社