專利名稱：一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及移動通信技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
射頻前端芯片和基帶芯片都是移動終端的核心部件。其中，基帶芯片用于合成即將發(fā)射的基帶信號，或?qū)邮盏降幕鶐盘栠M行解碼；基帶信號是指信源發(fā)出的沒有經(jīng)過調(diào)制的原始電信號。射頻前端芯片負責射頻收發(fā)；具體的，發(fā)射時，把從基帶芯片傳過來的基帶信號，通過上變頻，把頻率調(diào)制到較高的、適合天線發(fā)射的頻率上，通過天線無線傳輸；接收時，把從天線上接收到的射頻信號，通過下變頻，轉(zhuǎn)換為基帶信號，傳給基帶芯片進行處理。通常，基帶芯片所發(fā)出的理想基帶信號，需要經(jīng)過射頻前端芯片的各種處理，變成射頻信號，再發(fā)送出去的。這中間的轉(zhuǎn)換和處理過程，并不是完全理想的，因此最終發(fā)射出去的射頻信號，會存在一定的偏差(如頻率誤差、相位誤差等)。同樣的，在接收過程中，射頻前端芯片接收到空中的射頻信號，將其下變頻，加以濾波、放大等處理，轉(zhuǎn)變?yōu)榛鶐盘?，傳給基帶芯片處理。在接收處理的過程中，同樣也存在著偏差。上述發(fā)射和接收過程中產(chǎn)生的各種偏差，是由射頻前端芯片本身的特性所造成的，是無法完全消除的，其程度大小，可以用來衡量射頻前端芯片的性能。因此，需要對射頻前端芯片的性能進行測試，從而對射頻前端芯片做出量化的評估。通常，對于射頻前端芯片的性能測試，包括靜態(tài)性能測試和動態(tài)性能測試兩方面。靜態(tài)性能的測試可以通過手工將射頻前端芯片設(shè)置在特定的工作狀態(tài)，然后對其性能進行測試。而動態(tài)性能的測試，需要模擬實際應(yīng)用中的各種情景，在極短的時間內(nèi)對芯片進行定時精確的一系列控制，這是用人工方式無法實現(xiàn)的。現(xiàn)有技術(shù)中，對射頻前端芯片的動態(tài)性能進行測試，需要將射頻前端芯片的各種控制序列的先后關(guān)系和控制指令之間的延時關(guān)系作為時序模板，通過程序固化的方式燒錄到基帶芯片中。但需要對控制序列或者指令延時進行修改時，則需要重新修改代碼，重編譯后再燒錄到基帶芯片中。而且，現(xiàn)有技術(shù)中，只能依賴基帶芯片來進行射頻前端芯片的動態(tài)性能測試，使得測試進度受制于基帶芯片的進度，不利于射頻前端芯片的研發(fā)及推出市場。由此可見，現(xiàn)有的射頻前端芯片動態(tài)性能測試技術(shù)，其測試進程比較耗時、復(fù)雜度高且通用性不強，使得測試人員需要耗費很多時間對測試平臺進行修改，影響測試的效率與效果。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置及系統(tǒng)，能夠讓射頻前端芯片脫離基帶芯片，獨立測試射頻前端芯片的動態(tài)性能；該裝置及系統(tǒng)具有較高的靈活性，大大提高了射頻前端芯片動態(tài)性能測試的效率和效果。本發(fā)明提供一種射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括上位機和動態(tài)測試裝置；所述上位機通過動態(tài)測試裝置接被測射頻前端芯片；所述上位機，用于編輯及存儲動態(tài)測試所需所有測試項的控制序列；在動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列至所述動態(tài)測試裝置；所述動態(tài)測試裝置，用于接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片。優(yōu)選地，所述動態(tài)測試裝置包括時鐘模塊、寄存器模塊、任務(wù)調(diào)度模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、上位機接口模塊、RF數(shù)據(jù)接口模塊、以及RF控制接口模塊；所述時鐘模塊，用于產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置所需的各種頻率的時鐘；所述寄存器模塊，用于通過所述上位機接口模塊接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，根據(jù)接收自所述任務(wù)調(diào)度模塊的調(diào)度指令調(diào)出相應(yīng)的控制指令，通過所述RF控制接口模塊發(fā)送至被測射頻前端芯片；所述任務(wù)調(diào)度模塊，用于在動態(tài)測試過程中，控制所述測試裝置工作模式的切換；按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，向所述寄存器模塊發(fā)送調(diào)度指令；控制所述RF數(shù)據(jù)接口模塊和RF控制接口模塊的啟動、以及對被測射頻前端芯片各輸入輸出端口的操作；所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于存儲所述被測射頻前端芯片發(fā)射測試時發(fā)射的數(shù)據(jù)以及接收測試時收到的通信用數(shù)據(jù)；所述上位機接口模塊，用于實現(xiàn)所述上位機與所述測試裝置之間的通信；所述RF數(shù)據(jù)接口模塊，用于向所述被測射頻前端芯片收發(fā)通信用數(shù)據(jù)；所述RF控制接口模塊，用于實現(xiàn)所述測試裝置對所述被測射頻前端芯片的讀寫寄存器以及相關(guān)輸入輸出端口的操作。優(yōu)選地，所述時鐘模塊采用從射頻前端芯片輸入的26M作為同步時鐘源，通過數(shù)字時鐘管理模塊DCM產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置工作的主時鐘以及不同通信制式下收發(fā)數(shù)據(jù)所需的同步時鐘。優(yōu)選地，所述測試裝置的工作模式包括單次運行模式和循環(huán)運行模式；所述循環(huán)運行模式為，以當前測試項對應(yīng)的所有控制指令為一周期，從第一條控制指令開始執(zhí)行直至最后一條控制指令，定時器清零，返回初始狀態(tài)，再從第一條控制指令開始執(zhí)行，如此循環(huán)執(zhí)行所有的控制指令；
所述單次運行模式為，將當前測試項對應(yīng)的所有控制指令執(zhí)行一次，返回空閑狀態(tài)。優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)存儲模塊包括數(shù)據(jù)發(fā)射單元和數(shù)據(jù)接收單元；所述數(shù)據(jù)發(fā)射單元，用于在發(fā)射測試時，預(yù)先從所述上位機上下載通信用數(shù)據(jù)并存儲；在動態(tài)測試運行到發(fā)射狀態(tài)時，依次調(diào)出相應(yīng)的數(shù)據(jù)，通過所述RF數(shù)據(jù)接口模塊發(fā)送至所述被測射頻前端芯片；所述數(shù)據(jù)接收單元，用于在接收測試時，接收并存儲所述被測射頻前端芯片的通信用數(shù)據(jù)；待接收測試完成后，把接收到的數(shù)據(jù)通過所述上位機接口模塊上傳回所述上位機。優(yōu)選地，所述上位機接口模塊包括兩種工作模式數(shù)據(jù)通信模式和命令通信模式；在數(shù)據(jù)通信模式下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述數(shù)據(jù)存儲模塊進行操作；在命令通信模塊下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述寄存器模塊進行操作。 本發(fā)明還提供一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置，所述裝置用于配合上位機對被測射頻前端芯片進行動態(tài)測試；所述裝置包括時鐘模塊、寄存器模塊、任務(wù)調(diào)度模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、上位機接口模塊、RF數(shù)據(jù)接口模塊、以及RF控制接口模塊；所述時鐘模塊，用于產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置所需的各種頻率的時鐘；所述寄存器模塊，用于通過所述上位機接口模塊接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，根據(jù)接收自所述任務(wù)調(diào)度模塊的調(diào)度指令調(diào)出相應(yīng)的控制指令，通過所述RF控制接口模塊發(fā)送至被測射頻前端芯片；所述任務(wù)調(diào)度模塊，用于在動態(tài)測試過程中，控制所述測試裝置工作模式的切換；按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，向所述寄存器模塊發(fā)送調(diào)度指令；控制所述RF數(shù)據(jù)接口模塊和RF控制接口模塊的啟動、以及對被測射頻前端芯片各輸入輸出端口的操作；所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于存儲所述被測射頻前端芯片發(fā)射測試時發(fā)射的通信用數(shù)據(jù)以及接收測試時收到的通信用數(shù)據(jù)；所述上位機接口模塊，用于實現(xiàn)所述上位機與所述測試裝置之間的通信；所述RF數(shù)據(jù)接口模塊，用于向所述被測射頻前端芯片收發(fā)通信用數(shù)據(jù)；所述RF控制接口模塊，用于實現(xiàn)所述測試裝置對所述被測射頻前端芯片的讀寫寄存器以及相關(guān)輸入輸出端口的操作。優(yōu)選地，所述時鐘模塊采用從射頻前端芯片輸入的26M作為同步時鐘源，通過數(shù)字時鐘管理模塊DCM產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置工作的主時鐘以及不同通信制式下收發(fā)數(shù)據(jù)所需的同步時鐘。優(yōu)選地，所述測試裝置的工作模式包括單次運行模式和循環(huán)運行模式；所述循環(huán)運行模式為，以當前測試項對應(yīng)的所有控制指令為一周期，從第一條控制指令開始執(zhí)行直至最后一條控制指令，定時器清零，返回初始狀態(tài)，再從第一條控制指令開始執(zhí)行，如此循環(huán)執(zhí)行所有的控制指令；所述單次運行模式為，將當前測試項對應(yīng)的所有控制指令執(zhí)行一次，返回空閑狀態(tài)。優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)存儲模塊包括數(shù)據(jù)發(fā)射單元和數(shù)據(jù)接收單元；所述數(shù)據(jù)發(fā)射單元，用于在發(fā)射測試時，預(yù)先從所述上位機上下載通信用數(shù)據(jù)并存儲；在動態(tài)測試運行到發(fā)射狀態(tài)時，依次調(diào)出相應(yīng)的數(shù)據(jù)，通過所述RF數(shù)據(jù)接口模塊發(fā)送至所述被測射頻前端芯片；
所述數(shù)據(jù)接收單元，用于在接收測試時，接收并存儲所述被測射頻前端芯片的通信用數(shù)據(jù)；待接收測試完成后，把接收到的數(shù)據(jù)通過所述上位機接口模塊上傳回所述上位機。優(yōu)選地，所述上位機接口模塊包括兩種工作模式數(shù)據(jù)通信模式和命令通信模式；在數(shù)據(jù)通信模式下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述數(shù)據(jù)存儲模塊進行操作；在命令通信模塊下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述寄存器模塊進行操作根據(jù)本發(fā)明提供的具體實施例，本發(fā)明公開了以下技術(shù)效果本發(fā)明實施例中，把需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分(即為對所述被測射頻前端芯片進行動態(tài)測試所需的所有測試項的控制序列)存儲在上位機中，在每次動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列至所述動態(tài)測試裝置；所述動態(tài)測試裝置接收當前測試項對應(yīng)的控制序列，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片，實現(xiàn)對所述被測射頻前端芯片的動態(tài)測試。由此，能夠讓射頻前端芯片脫離基帶芯片，獨立測試射頻前端芯片的動態(tài)性能；而且本發(fā)明實施例中，需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分存儲在上位機中，即使需要對控制序列或者各控制指令的執(zhí)行時間進行修改，也只需要在上位機的控制軟件中進行修改即可，不需要對動態(tài)測試裝置進行硬件修改，由此使得該裝置及系統(tǒng)具有較高的靈活性，大大提高了射頻前端芯片動態(tài)性能測試的效率和效果。


圖I為本發(fā)明實施例一所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)；圖2為本發(fā)明實施例二所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)。
具體實施例方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細的說明。有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置及系統(tǒng)，能夠讓射頻前端芯片脫離基帶芯片，獨立測試射頻前端芯片的動態(tài)性能；該裝置及系統(tǒng)具有較高的靈活性，大大提高了射頻前端芯片動態(tài)性能測試的效率和效果。本發(fā)明實施例的主要發(fā)明構(gòu)思在于把需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分與固化程序分離。射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置的硬件框架通過固化程序來實現(xiàn)，如任務(wù)調(diào)度的硬件架構(gòu)、各種對外接口、讀寫寄存器的電路結(jié)構(gòu)等。將需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分(如動態(tài)測試過程中所有測試項的控制序列)保存在上位機中，通過上位機軟件寫動態(tài)測試裝置的寄存器來實現(xiàn)，可以滿足在不更改測試裝置硬件框架的前提下，對這部分的隨時修改。測試裝置中預(yù)留有足夠的寄存器空間用于存儲動態(tài)測試時所用的控制序列以及相關(guān)的時間模塊。參照圖1，為本發(fā)明實施例一所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。如圖I所示，所述系統(tǒng)包括上位機10和動態(tài)測試裝置20。所述上位機10通過所述動態(tài)測試裝置20接被測射頻前端芯片30。所述上位機10，用于存儲對所述被測射頻前端芯片30進行動態(tài)測試所需的所有測試項的控制序列以；在動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列至所述動態(tài)測試裝置20。
所述動態(tài)測試裝置20，用于接收并保存所述上位機10發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片30。本發(fā)明實施例中，把需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分(即為對所述被測射頻前端芯片30進行動態(tài)測試所需的所有測試項的控制序列)存儲在上位機10中，在每次動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列及相關(guān)的時間模塊至所述動態(tài)測試裝置20 ;所述動態(tài)測試裝置20接收當前測試項對應(yīng)的控制序列及相關(guān)的時間模塊，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片30，實現(xiàn)對所述被測射頻前端芯片30的動態(tài)測試。由此，能夠讓射頻前端芯片30脫離基帶芯片，獨立測試射頻前端芯片的動態(tài)性能；而且本發(fā)明實施例中，把需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分以寄存器的方式實現(xiàn)，調(diào)試和修改的操作在上位機10中完成，即使需要對控制序列或者各控制指令的執(zhí)行時間進行修改，也只需要在上位機10的控制軟件中進行修改即可，不需要對動態(tài)測試裝置20進行硬件修改，由此使得該裝置及系統(tǒng)具有較高的靈活性，大大提高了射頻前端芯片動態(tài)性能測試的效率和效果。參照圖2，為本發(fā)明實施例二所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。如圖2所示，所述系統(tǒng)包括上位機10和動態(tài)測試裝置20。所述上位機10通過所述動態(tài)測試裝置20接被測射頻前端芯片30。所述上位機10，用于存儲對所述被測射頻前端芯片30進行動態(tài)測試所需的所有測試項的控制序列；在動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列及相關(guān)的時間模塊至所述動態(tài)測試裝置20。具體的，所述上位機編輯動態(tài)測試中需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的部分，具體包括對所述被測射頻前端芯片30進行動態(tài)測試所需的所有測試項的控制序列；編輯好后，上位機10將當前測試項對應(yīng)的配置信息(包括當前測試項所需的控制序列及相關(guān)的時間模塊)發(fā)送至所述動態(tài)測試裝置20，供動態(tài)測試過程中調(diào)出使用。對于被測射頻芯片30的動態(tài)測試，一般每個測試項都會包括很多條控制指令，每條控制指令都包括其須執(zhí)行的內(nèi)容以及指定的執(zhí)行時間，按照各條控制指令的執(zhí)行時間，該測試項對應(yīng)的所有控制指令就構(gòu)成一控制序列。優(yōu)選地，所述上位機10，可以提供圖形界面供操作人員編輯及存儲動態(tài)測試所需所有測試項的控制序列。需要說明的是，對所述被測射頻前端芯片30進行動態(tài)測試時所用的控制序列，不是一開始就確定下來的。具體的，可以根據(jù)被測射頻芯片30的設(shè)計指標，先預(yù)估一個理想化的流程，然后測試人員根據(jù)測試的實際情況，調(diào)整各控制指令的先后執(zhí)行順序以及其被調(diào)用的時間點，或者添加或刪去控制指令，以達到符合測試需要的控制序列。上述所有的調(diào)整過程就是在上位機10的控制軟件中修改寄存器的值，并寫入所述動態(tài)測試裝置20察看被測射頻前端芯片30的輸出的過程，由此可以即時的看到修改配置所達到的效果。一旦確定好控制序列以及相關(guān)的時間模塊后，就可把針對當前測試項的所有配置保存起來，之后針對同類型的測試項就可直接調(diào)用配置。
本發(fā)明實施例中，把需要調(diào)試和經(jīng)常需要修改的操作放置在上位機10中，這樣做的有益效果是，可以模擬基帶芯片對于射頻前端芯片的控制流程，實現(xiàn)可靈活修改調(diào)試的動態(tài)控制，以達到提高對射頻前端芯片動態(tài)測試的效率和效果的目的。如圖2所示，所述動態(tài)測試裝置20包括時鐘模塊201、寄存器模塊202、任務(wù)調(diào)度模塊203、數(shù)據(jù)存儲模塊204、上位機接口模塊205、RF (Radio Frequency,無線電頻率)數(shù)據(jù)接口模塊206、以及RF控制接口模塊207。所述時鐘模塊201，用于產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置20所需的各種頻率的時鐘。具體的，所述時鐘模塊201采用從射頻芯片輸入的26M作為同步時鐘源，通過DCM(Digital Clock Managers，數(shù)字時鐘管理模塊)產(chǎn)生整個動態(tài)測試裝置20工作的主時鐘以及不同通信制式下收發(fā)數(shù)據(jù)所需的同步時鐘。由于GSM制式和TD-SCDMA制式乃至TD-LTE制式下，對于信號的速率要求是不一樣的。因此本發(fā)明實施例所述動態(tài)測試裝置20也需要根據(jù)制式的不同，工作在相應(yīng)的時鐘頻率下，因此所述時鐘模塊201能夠產(chǎn)生至少兩種時鐘頻率。在實際應(yīng)用中，根據(jù)所述動態(tài)測試裝置20當前所處的工作模式來選擇相應(yīng)的時鐘頻率。所述寄存器模塊202，用于通過所述上位機接口模塊205接收并保存所述上位機10發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的配置信息(即為當前測試項對應(yīng)的控制序列及相關(guān)的時間模塊)；并在動態(tài)測試過程中，根據(jù)接收自所述任務(wù)調(diào)度模塊203的調(diào)度指令調(diào)出相應(yīng)的控制指令，通過所述RF控制接口模塊207發(fā)送至被測射頻前端芯片30。需要說明的是，本發(fā)明實施例中，所述寄存器模塊202可以通過上位機10軟件進行讀寫，不涉及硬件修改，因此可實現(xiàn)快速讀寫。所述任務(wù)調(diào)度模塊203，用于在動態(tài)測試過程中，控制所述測試裝置的工作模式的切換；按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，向所述寄存器模塊202發(fā)送調(diào)度指令，完成動態(tài)測試各控制指令的定時調(diào)用；控制所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206和RF控制接口模塊207的啟動、以及對被測射頻前端芯片30各輸入輸出(IO)端口的操作。其中，所述按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，向所述寄存器模塊202發(fā)送調(diào)度指令，完成動態(tài)測試各控制指令的定時調(diào)用具體為在進行動態(tài)測試時，所述任務(wù)調(diào)度模塊203的定時器開始計時，發(fā)送第一調(diào)度指令至所述寄存器模塊202，所述寄存器模塊202接收到所述第一調(diào)度指令后，讀出當前測試項對應(yīng)控制序列中的第一條控制指令，等待所述第一條控制指令執(zhí)行時間的到達。當計時到所述第一條控制指令的執(zhí)行時間時，所述任務(wù)調(diào)度模塊203發(fā)送第二調(diào)度指令至所述寄存器模塊202，所述寄存器模塊202接收到所述第二調(diào)度指令后，將所述第一條控制指令發(fā)送至被測射頻前端芯片30運行，并讀出當前測試項對應(yīng)控制序列中的第二條控制指令，等待所述第二條控制指令執(zhí)行時間的到達。當計時到所述第二條控制指令的執(zhí)行時間時，所述任務(wù)調(diào)度模塊203發(fā)送第三調(diào)度指令至所述寄存器模塊202，所述寄存器模塊202接收到所述第三調(diào)度指令后，將所述第三條控制指令發(fā)送至被測射頻前端芯片30運行，并讀出當前測試項對應(yīng)控制序列中的第三條控制指令，等待所述第三條控制指令執(zhí)行時間的到達。依次類推，完成對當前測試項對應(yīng)控制序列中各條控制指令的定時調(diào)度。本發(fā)明實施例中，所述寄存器模塊202根據(jù)接收自所述任務(wù)調(diào)度模塊203的調(diào)度指令，提前讀出當前測試項對應(yīng)的各條控制指令并等待其執(zhí)行時間的到達，能夠有效避免從寄存器模塊202中讀出控制指令到實際執(zhí)行該控制指令期間的延時，使得當各控制指令的執(zhí)行時間達到時，能夠立即運行該控制指令，達到每條控制指令都能精確定時的目的。需要進一步說明的是所述測試裝置的工作模式包括單次運行模式和循環(huán)運行模式。所述循環(huán)運行模式是指，以當前測試項對應(yīng)的所有控制指令為一周期，從第一條控制指令開始執(zhí)行直至最后一條控制指令，然后定時器清零，回到初始狀態(tài)，再從第一條控制指令開始執(zhí)行，如此循環(huán)執(zhí)行所有的控制指令。這種工作模式適用于模擬無線通信中按照通信協(xié)議進行數(shù)據(jù)收發(fā)的過程。例如，在TD-SCDMA制式下按時隙進行的收發(fā)，或者是GSM制式下突發(fā)的形式。所述單次運行模式是指只將當前測試項對應(yīng)的所有控制指令執(zhí)行一次，然后返回空閑狀態(tài)。此時所述被測射頻前端芯片停留在執(zhí)行完最后一條控制指令時的狀態(tài)，由此可以驗證某一系列控制指令的操作對被測射頻前端芯片的影響。所述數(shù)據(jù)存儲模塊204，用于存儲所述被測射頻前端芯片30發(fā)射測試時發(fā)射的通信用數(shù)據(jù)以及接收測試時收到的通信用數(shù)據(jù)。具體的，所述數(shù)據(jù)存儲模塊包括數(shù)據(jù)發(fā)射單元和數(shù)據(jù)接收單元。所述數(shù)據(jù)發(fā)射單元，用于在發(fā)射測試時，預(yù)先從所述上位機上下載通信用數(shù)據(jù)并存儲；在動態(tài)測試運行到發(fā)射狀態(tài)時，依次調(diào)出相應(yīng)的數(shù)據(jù)，通過所述RF數(shù)據(jù)接口模塊發(fā)送至所述被測射頻前端芯片。所述數(shù)據(jù)接收單元，用于在接收測試時，接收并存儲所述被測射頻前端芯片的通信用數(shù)據(jù)；待接收測試完成后，把接收到的數(shù)據(jù)通過所述上位機接口模塊上傳回所述上位機。在發(fā)射測試時，所述測試裝置20預(yù)先從所述上位機10上下載數(shù)據(jù)，并存儲在所述數(shù)據(jù)存儲模塊204中，在動態(tài)測試運行到發(fā)射狀態(tài)時，從所述數(shù)據(jù)存儲模塊204中依次調(diào)出相應(yīng)的數(shù)據(jù)，通過所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206發(fā)送至所述被測射頻前端芯片30。在接收測試時，所述測試裝置20將接收自所述被測射頻前端芯片30的數(shù)據(jù)存儲在所述數(shù)據(jù)存儲模塊204中，待接收測試完成后，把接收到的數(shù)據(jù)通過所述上位機接口模塊205上傳回所述上位機，用于后續(xù)的數(shù)據(jù)分析工作。所述上位機接口模塊205，用于實現(xiàn)所述上位機10與所述測試裝置20之間的通
信。 需要說明的是，所述上位機接口模塊205包括數(shù)據(jù)通信和命令通信兩種工作模塊。其中，在數(shù)據(jù)通信模式下，所述上位機10直接對所述測試裝置20的數(shù)據(jù)存儲模塊204進行操作。在命令通信模塊下，所述上位機10對所述測試裝置20的寄存器模塊202進行操作。由此可以實現(xiàn)總線復(fù)用功能，節(jié)省硬件資源。所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206，用于向所述被測射頻前端芯片30收發(fā)通信用數(shù)據(jù)。
具體的，所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206可以依據(jù)當前通信制式來切換數(shù)據(jù)傳輸模式。根據(jù)目前市面上通用的標準，TD制式下采用IObit并行接口，GSM制式下采用DIGRF接口。為了簡化測試人員編輯測試用數(shù)據(jù)源的流程，在所述數(shù)據(jù)存儲模塊203中存儲的發(fā)射數(shù)據(jù)，是原始的基帶數(shù)據(jù)。在發(fā)射測試時，所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206根據(jù)通信制式的不同，分別對從所述數(shù)據(jù)存儲模塊203中讀出的數(shù)據(jù)進行處理。具體的，在TD-SCDMA制式下，所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206先將讀出的數(shù)據(jù)送入脈沖成型濾波器，經(jīng)濾波器處理后再發(fā)送給被測射頻前端芯片；在GSM制式下，所述RF數(shù)據(jù)接口模塊206先按照DIGRF協(xié)議將讀出的基帶數(shù)據(jù)加入接口協(xié)議信息，再發(fā)送給被測射頻前端芯片。所述RF控制接口模塊207，用于實現(xiàn)測試裝置20對所述被測射頻前端芯片30的讀寫寄存器以及相關(guān)IO端口的操作控制。一般情況下，所述被測射頻前端芯片30的讀寫寄存器采用M0T0R0LASPI接口和 DIGRF接口，所述RF控制接口模塊207可以根據(jù)實際應(yīng)用需要進行切換。當需要對其他類型接口的射頻前端芯片進行測試時，只需要對應(yīng)的更改所述RF控制接口模塊207的接口類型即可，不需要對整個測試裝置進行過多的修改。本發(fā)明實施例中，采用把硬件框架固化在所述動態(tài)測試裝置20中，把動態(tài)測試調(diào)試過程中需要經(jīng)常修改的控制序列部分，以寄存器模塊202的方式來實現(xiàn)，即在動態(tài)測試裝置20中，構(gòu)建一存儲容量足夠大，結(jié)構(gòu)固定的寄存器模塊202，構(gòu)建后整個動態(tài)測試裝置20的硬件將不需再進行改動。動態(tài)測試時，只需通過上位機10來編輯控制序列，并在每次動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列至所述動態(tài)測試裝置20 ;所述動態(tài)測試裝置20接收當前測試項對應(yīng)的控制序列，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片30，實現(xiàn)對所述被測射頻前端芯片30的動態(tài)測試。當測試完成，可以把當前編輯好的控制序列存于上位機10中，避免動態(tài)測試裝置20掉電后造成寄存器內(nèi)容的丟失。下面對本發(fā)明實施例所述的動態(tài)測試系統(tǒng)的工作過程進行詳細介紹。所述動態(tài)測試裝置20上電后處于空閑狀態(tài)(IDLE)，此時上位機10進行以下操作(I)編輯當前動態(tài)測試所需的控制序列，并設(shè)定各條控制指令的執(zhí)行時間。(2)通過單步運行的方式來驗證所述控制序列每一步(即為每一條控制指令)執(zhí)行后，所述被測射頻前端芯片30所處的狀態(tài)。(3)下載發(fā)射測試中需要發(fā)送至被測射頻前端芯片的數(shù)據(jù)至所述動態(tài)測試裝置20 ;或者上傳接收測試中從所述被測射頻前端芯片30中接收到的數(shù)據(jù)。(4)配置所述動態(tài)測試裝置20的相關(guān)參數(shù)，如接口的工作頻率、切換RF控制接口豐吳塊等。(5)保存當前測試所需的控制序列及相關(guān)的時間模塊，或者加載之前測試中存好的配置。在上述空閑狀態(tài)下，把動態(tài)測試過程所需的配置設(shè)定好后，通過上位機10的控制軟件使所述動態(tài)測試裝置20進入運行模式(RUN)。首先，上位機10的控制軟件把設(shè)定好的當前測試項對應(yīng)的配置信息寫入所述動態(tài)測試裝置20的寄存器模塊202中，然后所述動態(tài)測試裝置20的任務(wù)調(diào)度模塊203開始工作，當運行到某條控制指令對應(yīng)的執(zhí)行時間點時，執(zhí)行該條控制指令，即為動態(tài)測試裝置20對被測射頻前端芯片30進行相關(guān)的操作，例如寫射頻前端芯片30的寄存器、或改變對應(yīng)的IO端口的電平等所述動態(tài)測試裝置20的工作模式包括兩種單次運行模式和循環(huán)運行模式。這兩種工作模式可以應(yīng)對不同的測試需求。當選擇循環(huán)運行模式時，以當前測試項對應(yīng)的所有控制指令為一周期，從第一條控制指令開始執(zhí)行直至最后一條控制指令，然后定時器清零，回到初始狀態(tài)，再從第一條控制指令開始執(zhí)行，如此循環(huán)執(zhí)行所有的控制指令。這種工作模式適用于模擬無線通信中按照通信協(xié)議進行數(shù)據(jù)收發(fā)的過程。例如，在TD-SCDMA制式下按時隙進行的收發(fā)，或者是GSM制式下突發(fā)的形式。當選擇單次運行模式時，則只將當前測試項對應(yīng)的所有控制指令執(zhí)行一次，然后返回空閑狀態(tài)。此時所述被測射頻前端芯片30停留在執(zhí)行完最后一條控制指令時的狀態(tài)，由此可以驗證某一系列控制指令的操作對被測射頻前端芯片30的影響。需要說明的是，在動態(tài)測試過程中，一旦所述動態(tài)測試裝置20進入運行模式，所述上位機10的控制軟件與動態(tài)測試裝置20之間將不需要再進行任何人工的控制，即兩者之間不會再有任何數(shù)據(jù)的交互，所有對被測射頻前端芯片30的操作控制都將由所述動態(tài)測試裝置20自動完成。由此可以極大的減少測試人員的操作工作量，使其專注于測試現(xiàn)象的分析以及記錄，不需要對測試裝置進行更多的操作。以上對本發(fā)明所提供的一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置及系統(tǒng)，進行了詳細介紹，本文中應(yīng)用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式
及應(yīng)用范圍上均會有改變之處。綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括上位機和動態(tài)測試裝置； 所述上位機通過動態(tài)測試裝置接被測射頻前端芯片； 所述上位機，用于編輯及存儲動態(tài)測試所需所有測試項的控制序列；在動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列至所述動態(tài)測試裝置； 所述動態(tài)測試裝置，用于接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述動態(tài)測試裝置包括時鐘模塊、寄存器模塊、任務(wù)調(diào)度模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、上位機接口模塊、RF數(shù)據(jù)接口模塊、以及RF控制接口模塊； 所述時鐘模塊，用于產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置所需的各種頻率的時鐘； 所述寄存器模塊，用于通過所述上位機接口模塊接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，根據(jù)接收自所述任務(wù)調(diào)度模塊的調(diào)度指令調(diào)出相應(yīng)的控制指令，通過所述RF控制接口模塊發(fā)送至被測射頻前端芯片； 所述任務(wù)調(diào)度模塊，用于在動態(tài)測試過程中，控制所述測試裝置工作模式的切換；按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，向所述寄存器模塊發(fā)送調(diào)度指令；控制所述RF數(shù)據(jù)接口模塊和RF控制接口模塊的啟動、以及對被測射頻前端芯片各輸入輸出端口的操作； 所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于存儲所述被測射頻前端芯片發(fā)射測試時發(fā)射的數(shù)據(jù)以及接收測試時收到的通信用數(shù)據(jù)； 所述上位機接口模塊，用于實現(xiàn)所述上位機與所述測試裝置之間的通信； 所述RF數(shù)據(jù)接口模塊，用于向所述被測射頻前端芯片收發(fā)通信用數(shù)據(jù)； 所述RF控制接口模塊，用于實現(xiàn)所述測試裝置對所述被測射頻前端芯片的讀寫寄存器以及相關(guān)輸入輸出端口的操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述時鐘模塊采用從射頻前端芯片輸入的26M作為同步時鐘源，通過數(shù)字時鐘管理模塊DCM產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置工作的主時鐘以及不同通信制式下收發(fā)數(shù)據(jù)所需的同步時鐘。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試裝置的工作模式包括單次運行模式和循環(huán)運行模式； 所述循環(huán)運行模式為，以當前測試項對應(yīng)的所有控制指令為一周期，從第一條控制指令開始執(zhí)行直至最后一條控制指令，定時器清零，返回初始狀態(tài)，再從第一條控制指令開始執(zhí)行，如此循環(huán)執(zhí)行所有的控制指令； 所述單次運行模式為，將當前測試項對應(yīng)的所有控制指令執(zhí)行一次，返回空閑狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)存儲模塊包括數(shù)據(jù)發(fā)射單元和數(shù)據(jù)接收單元； 所述數(shù)據(jù)發(fā)射單元，用于在發(fā)射測試時，預(yù)先從所述上位機上下載通信用數(shù)據(jù)并存儲；在動態(tài)測試運行到發(fā)射狀態(tài)時，依次調(diào)出相應(yīng)的數(shù)據(jù)，通過所述RF數(shù)據(jù)接口模塊發(fā)送至所述被測射頻前端芯片；所述數(shù)據(jù)接收單元，用于在接收測試時，接收并存儲所述被測射頻前端芯片的通信用數(shù)據(jù)；待接收測試完成后，把接收到的數(shù)據(jù)通過所述上位機接口模塊上傳回所述上位機。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機接口模塊包括兩種工作模式數(shù)據(jù)通信模式和命令通信模式； 在數(shù)據(jù)通信模式下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述數(shù)據(jù)存儲模塊進行操作； 在命令通信模塊下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述寄存器模塊進行操作。
7.一種射頻前端芯片的動態(tài)測試裝置，其特征在于，所述裝置用于配合上位機對被測射頻前端芯片進行動態(tài)測試； 所述裝置包括時鐘模塊、寄存器模塊、任務(wù)調(diào)度模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、上位機接口模塊、RF數(shù)據(jù)接口模塊、以及RF控制接口模塊； 所述時鐘模塊，用于產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置所需的各種頻率的時鐘； 所述寄存器模塊，用于通過所述上位機接口模塊接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，根據(jù)接收自所述任務(wù)調(diào)度模塊的調(diào)度指令調(diào)出相應(yīng)的控制指令，通過所述RF控制接口模塊發(fā)送至被測射頻前端芯片； 所述任務(wù)調(diào)度模塊，用于在動態(tài)測試過程中，控制所述測試裝置工作模式的切換；按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，向所述寄存器模塊發(fā)送調(diào)度指令；控制所述RF數(shù)據(jù)接口模塊和RF控制接口模塊的啟動、以及對被測射頻前端芯片各輸入輸出端口的操作； 所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于存儲所述被測射頻前端芯片發(fā)射測試時發(fā)射的通信用數(shù)據(jù)以及接收測試時收到的通信用數(shù)據(jù)； 所述上位機接口模塊，用于實現(xiàn)所述上位機與所述測試裝置之間的通信； 所述RF數(shù)據(jù)接口模塊，用于向所述被測射頻前端芯片收發(fā)通信用數(shù)據(jù)； 所述RF控制接口模塊，用于實現(xiàn)所述測試裝置對所述被測射頻前端芯片的讀寫寄存器以及相關(guān)輸入輸出端口的操作。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述時鐘模塊采用從射頻前端芯片輸入的26M作為同步時鐘源，通過數(shù)字時鐘管理模塊DCM產(chǎn)生所述動態(tài)測試裝置工作的主時鐘以及不同通信制式下收發(fā)數(shù)據(jù)所需的同步時鐘。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試裝置的工作模式包括單次運行模式和循環(huán)運行模式； 所述循環(huán)運行模式為，以當前測試項對應(yīng)的所有控制指令為一周期，從第一條控制指令開始執(zhí)行直至最后一條控制指令，定時器清零，返回初始狀態(tài)，再從第一條控制指令開始執(zhí)行，如此循環(huán)執(zhí)行所有的控制指令； 所述單次運行模式為，將當前測試項對應(yīng)的所有控制指令執(zhí)行一次，返回空閑狀態(tài)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)存儲模塊包括數(shù)據(jù)發(fā)射單元和數(shù)據(jù)接收單元； 所述數(shù)據(jù)發(fā)射單元，用于在發(fā)射測試時，預(yù)先從所述上位機上下載通信用數(shù)據(jù)并存儲；在動態(tài)測試運行到發(fā)射狀態(tài)時，依次調(diào)出相應(yīng)的數(shù)據(jù)，通過所述RF數(shù)據(jù)接口模塊發(fā)送至所述被測射頻前端芯片； 所述數(shù)據(jù)接收單元，用于在接收測試時，接收并存儲所述被測射頻前端芯片的通信用數(shù)據(jù)；待接收測試完成后，把接收到的數(shù)據(jù)通過所述上位機接口模塊上傳回所述上位機。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機接口模塊包括兩種工作模式數(shù)據(jù)通信模式和命令通信模式； 在數(shù)據(jù)通信模式下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述數(shù)據(jù)存儲模塊進行操作； 在命令通信模塊下，所述上位機接口模塊用于所述上位機對所述寄存器模塊進行操作。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種射頻前端芯片的動態(tài)測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括上位機，用于編輯及儲存動態(tài)測試所需所有測試項的控制序列；在動態(tài)測試過程中，發(fā)送當前測試項對應(yīng)的控制序列至動態(tài)測試裝置；動態(tài)測試裝置，用于接收并保存所述上位機發(fā)送的當前測試項對應(yīng)的控制序列；并在動態(tài)測試過程中，按照當前測試項對應(yīng)的控制序列中各控制指令的執(zhí)行時間，依次調(diào)出相應(yīng)的控制指令，發(fā)送至被測射頻前端芯片。采用本發(fā)明實施例，能夠讓射頻前端芯片脫離基帶芯片，獨立測試射頻前端芯片的動態(tài)性能；該裝置及系統(tǒng)具有較高的靈活性，大大提高了射頻前端芯片動態(tài)性能測試的效率和效果。
文檔編號G01R31/28GK102621478SQ20121008930
公開日2012年8月1日 申請日期2012年3月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月29日
發(fā)明者葉暉, 李志俊, 梁曉峰, 鄭衛(wèi)國 申請人:廣州市廣晟微電子有限公司