專利名稱:分光光度計的制作方法
技術領域:
本發(fā)明涉及分光光度計,特別涉及雙光束型或單光束型的紫外可視分光光度計。
背景技術:
作為測量樣品的透射率的裝置,開發(fā)了雙光束型的紫外可視分光光度計(例如參照專利文獻I)。圖11示出雙光束型的紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。紫外可視分光光度計160,包括樣品池6,參照池8,具有出射測量光的光源I與 分光器2的光源部50,光檢測器12,扇形鏡(切換部、遮光部)40,多個反射鏡3、5、7、9、10、11,不透光的殼體15,指示信號發(fā)生部20,模-數(shù)(A/D)變換器14,及控制紫外可視分光光度計160整體的計算機130。在殼體15內(nèi)部,樣品池6,參照池8,光源部50,光檢測器12,扇形鏡(切換部、遮光部)40和多個反射鏡3、5、7、9、10、11被配置在規(guī)定的位置上。還有,分析者通過打開殼體15的門,就能將樣品池6和參照池8換成新的樣品池和參照池。光源部50中,使從光源I發(fā)出的光入射到分光器2,由分光器2取出具有所需要的波長λ的單色光(測量光)。扇形鏡40以一定周期將單色光交替地分配為樣品側(cè)光束LS和參照側(cè)光束LR。而且,扇形鏡40中設有隨著旋轉(zhuǎn)以一定周期遮光樣品側(cè)光束LS和參照側(cè)光束LR的遮光部41,使樣品側(cè)光束LS的入射期間、樣品側(cè)光束LS的遮光期間、參照側(cè)光束LR的入射期間和參照側(cè)光束LR的遮光期間以一定周期按此順序發(fā)生。指示信號發(fā)生部20,與以一定速度旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的扇形鏡40的旋轉(zhuǎn)相同步地,每一轉(zhuǎn)發(fā)生一個脈沖的指示信號IDX。例如扇形鏡40的旋轉(zhuǎn)周期取與電源頻率同步的頻率,采用50Hz 或 60Hz。計算機130中備置CPU (控制部)131和存儲器(存儲部)134,還與具有鍵盤和鼠標等的輸入裝置32、以及顯示裝置33連接。另外,如對CPU131處理的功能進行模塊化來說明的話,具有將來自光檢測器12的輸出強度信號存儲到存儲器134中的存儲控制部131a,以及算出透射率的計算控制部131b。這樣的紫外可視分光光度計160中,從光源I發(fā)出的光入射到分光器2,由分光器
2取出具有所需要的波長λ的單色光。單色光經(jīng)反射鏡3送到扇形鏡40,由扇形鏡40交替地分配為樣品側(cè)光束LS和參照側(cè)光束LR。首先,樣品側(cè)光束LS經(jīng)反射鏡5被照射到樣品池6上,通過樣品池6的光經(jīng)反射鏡9、11送到光檢測器12的受光面上。送到光檢測器12的光經(jīng)光檢測器12進行光電變換,作為樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號S加以取出。又,由于扇形鏡40中設有隨著旋轉(zhuǎn)以一定周期遮光樣品側(cè)光束LS的遮光部41,所以遮光部41所對應的光檢測器12的輸出強度信號成為樣品側(cè)遮光期間的輸出強度信號DS。然后,光檢測器12的輸出強度信號S、DS由A/D變換器14以一定時間間隔采樣,并變換為數(shù)字電壓值(信號值)。
另一方面,參照側(cè)光束LR經(jīng)反射鏡7被照射到參照池8上,通過參照池8的光經(jīng)反射鏡10送到光檢測器12的受光面上。送到光檢測器12的光經(jīng)光檢測器12進行光電變換,作為參照側(cè)入射期間的輸出強度信號R加以取出。又,由于扇形鏡40中設有隨著旋轉(zhuǎn)以一定周期遮光參照側(cè)光束LR的遮光部41,所以遮光部41所對應的光檢測器12的輸出強度信號成為參照側(cè)遮光期間的輸出強度信號DR。然后,光檢測器12的輸出強度信號R、DR由A/D變換器14以一定時間間隔采樣,并變換為數(shù)字電壓值(信號值)。計算機130的存儲控制部131a進行控制,使來自光檢測器12的信號值(輸出強度信號S、DS、R、DR)存儲到存儲器134中。這時,有對應地存儲遮光部41所遮光的遮光期間、用扇形鏡40切換光路的切換期間、光檢測器12所得到的輸出強度信號。圖2是扇形鏡40的旋轉(zhuǎn)I周的期間(以此作為I個周期(N))的時序圖,圖3是示出延續(xù)多個周期期間的信號值(數(shù)字電壓值)與時間之間的關系的一個實例的圖。I周期N的期間中,光檢測器12以與樣品側(cè)光束LS的入射期間對應的輸出強度信 號S、與樣品側(cè)光束LS的遮光期間對應的輸出強度信號DS、與參照側(cè)光束LR的入射期間對應的輸出強度信號R、及與參照側(cè)光束LR的遮光期間對應的輸出強度信號DR的順序輸出上述各信號。此外,由于A/D變換器14中的采樣周期比周期N短,相對于一個周期N中的各信號分別得到多個(本例中各為6個)A/D變換器14的輸出數(shù)據(jù)(下面稱“檢測值數(shù)據(jù)”),因此Dl D6、D7 D12、D13 D18、以及D19 D24是分別對應于輸出強度信號S、輸出強度信號DS、輸出強度信號R、輸出強度信號DR的檢測值數(shù)據(jù)。這樣,利用存儲器134中存儲的輸出強度信號S、輸出強度信號DS、輸出強度信號R及輸出強度信號DR,計算控制部131b進行控制,利用下式(19)算出透射率。透射率(%)=[(Sn-DSn)/ (Rn —DRn)]/ZX 100……(19)Z是預先存儲的測量作為對照用的樣品(多為水或空氣)時的[(Sn — DSn)/ (Rn-DRn)]。具體地說,在各周期N中,對于與輸出強度信號Sn對應的檢測值數(shù)據(jù)D4 D6、與輸出強度信號DSn對應的檢測值數(shù)據(jù)DlO D12、與輸出強度信號Rn對應的檢測值數(shù)據(jù)D16 D18、與輸出強度信號DRn對應的檢測值數(shù)據(jù)D21 D24,計算各自的平均值,代入式(19),求出第N周期的透射率?,F(xiàn)有技術文獻專利文獻專利文獻I :日本特開2002-162294號公報
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題可是,近來在樣品的低透射率測量中提高對測量精度的要求,上述的紫外可視分光光度計160中測量精度方面有時存在問題。解決課題的手段因此,為解決上述課題,本件發(fā)明同仁對樣品的低透射率測量中提高測量精度的方法作了研討。光電倍增管等的光檢測器12中,雖然以一定時間間隔逐次地采樣取出輸出強度信號的檢測值數(shù)據(jù),但有時殘留著以前的輸出強度信號的檢測值數(shù)據(jù)的影響。因此,即使光檢測器12的受光面上沒有光的入射,在以前的輸出強度信號的檢測值數(shù)據(jù)是表示較多的光量時,有時輸出強度信號的檢測值數(shù)據(jù)也不為零。另外,因為對各信號各自得到多個(本例中各6個)的檢測值數(shù)據(jù)(Dl D6、D7 D12、D13 D18、D19 D24),所以實施從多個檢測值數(shù)據(jù)中只采用后半段時間得到的檢測值數(shù)據(jù)(D4 D6、D10 D12、D16 D18、D21 D24)。也考慮只用更為后半段時間得到的檢測值數(shù)據(jù)(D5 D6、Dll D12、D17 D18、D22 D24),但S/N會損失,又,即使在這種情況下也不能使測量精度充分提高。因此,決定導出除去輸出強度信號中所含的以前的輸出強度信號影響的演算公式。因特別是前一個輸出強度信號的影響大,所以除去其影響的效果較好。首先對單光束型紫外可視分光光度計作了研討。圖4示出用單光束型紫外可視分光光度計得到的延續(xù)多個周期期間的信號值(數(shù)字電壓值)與時間之間的關系的一個實例的圖。 圖4中,即使想取得真實輸出強度信號sN (=Sn-SO),但也不能在測量第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn的同時測量S0。因此,要推定SO。這里,一般認為SO是因第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim (前一輸出強度信號)的影響而不為零。因此,通過實驗或計算,算出為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的修正系數(shù)A。由此,找到了用修正系數(shù)A的方法。又,圖5示出用具有使測量光在一定周期不入射到光檢測器的遮光部、入射期間與遮光期間交替存在類型的單光束型紫外可視分光光度計得到的延續(xù)多個周期期間的信號值(數(shù)字電壓值)與時間之間的關系的一個實例的圖。與上述同樣地,通過實驗或計算,算出為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的修正系數(shù)B。由此,找到了用修正系數(shù)B的方法。另外,通過實驗或計算,也算出為除去第N周期的遮光期間的輸出強度信號DSn中所含的第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)C。由此,找到了用修正系數(shù)C的方法。又,在第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn是表示少的光量,第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sp1是表不多的光量時(例如在輸出強度信號Sp1表不輸出強度信號Sn的100倍以上的光量時),對第(N-I)周期的遮光期間的的輸出強度信號DSp1、第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn及第N周期的遮光期間的輸出強度信號DSn來說,一般認為第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響是主要的。即是說,在第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn是表示少的光量,第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim是表示多的光量時,為了除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響,可利用第(N-I)周期的遮光期間的輸出強度信號DSn^1與第N周期的遮光期間的輸出強度信號DSn。通過實驗或計算,算出為用它們除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的修正系數(shù)D。由此,找到了用修正系數(shù)D的方法。其次,對雙光束型紫外可視分光光度計作了研討。圖6與圖7示出用雙光束型紫外可視分光光度計得到的延續(xù)多個周期期間的信號值(數(shù)字電壓值)與時間之間的關系的一個實例的圖。而且,與單光束型紫外可視分光光度計同樣地找到了用修正系數(shù)E、F、G、H的方法。即是,本發(fā)明的分光光度計包括樣品池,將測量光出射到所述樣品池上的光源部,檢測通過了所述樣品池的測量光的光檢測器,存儲所述光檢測器得到的輸出強度信號的存儲部,及根據(jù)所述存儲部存儲的輸出強度信號S算出透射率或吸光度的控制部,所述控制部算出除去了第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期以前的入射期間的輸出強度信號SN_” SN_2、SN_3、……的影響的第N周期的真實輸出強度信號sNO這里,所謂“光檢測器”,例如可舉出光電倍增器、PbS光電導元件、或光電二極管
坐寸ο發(fā)明的效果
如上所述,根據(jù)本發(fā)明的分光光度計,因為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期以前的入射期間的輸出強度信號SN_i、SN_2、SN_3、……的影響,故能使測量精度提高。其它的用于解決課題的手段以及效果又,上述的發(fā)明中也可以為,所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)A,所述控制部用下面公式(I)算出第N周期的真實輸出強度信號SN。sN= (Sn - SmXA) ...... (I)這里,所謂“修正系數(shù)A”,是為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,本發(fā)明的分光光度計是包括以一定周期使來自所述光源部的測量光不入射到光檢測器的遮光部,并以入射期間、遮光期間這樣的順序予以執(zhí)行并將其作為一個周期的分光光度計,所述存儲部有對應地存儲所述遮光部遮光的遮光期間和所述光檢測器得到的輸出強度信號,所述控制部根據(jù)所述存儲部存儲的入射期間的輸出強度信號S和遮光期間的輸出強度信號DS,算出透射率或吸光度。又,上述的發(fā)明中也可以為,所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)B,所述控制部用下面式(2)算出第N周期的真實輸出強度信號sN。sN= (Sn — SmXB) — DSn...... (2)這里,所謂“修正系數(shù)B”,是考慮到有遮光期間為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,上述的發(fā)明中也可以為,所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)B和為除去第N周期的遮光期間的輸出強度信號DSn中所含的第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)C,所述控制部用下面式(3)算出第N周期的真實輸出強度信號sN。
sN= (Sn — Sn^1XB) — (DSn — SnXC) ...... (3)這里,所謂“修正系數(shù)C”,是為除去第N周期的遮光期間的輸出強度信號DSn中所含的第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,上述的發(fā)明中也可以為,所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)D,所述控制部用下面式(4)算出第N周期的真實輸出強度信號sN。sN=SN — (DSm — DSn) X 1/2XD — DSn...... (4)這里,所謂“修正系數(shù)D”,是在第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn是表示少的光量,第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim是表示多的光量時(例如在輸出強度信 號Sim表示輸出強度信號Sn的100倍以上的光量時),為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。再者,在Sn表示比Sim多的光量時,由于所計算的修正量((DSim — DSn) X 1/2XD)相對于Sn小得可以忽略,所以也仍可適用上述修正。又,上述的發(fā)明中,也可以是包括參照池,檢測通過了所述參照池的測量光的第二光檢測器,及將測量光分配到所述樣品池和參照池的分配部,所述存儲部存儲由所述第二光檢測器得到的輸出強度信號,所述控制部根據(jù)所述存儲部所存儲的樣品側(cè)輸出強度信號S和參照側(cè)輸出強度信號R,算出透射率或吸光度的分光光度計,所述控制部算出除去了第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第(N-I)周期以前的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rh、Rn-2、Rn-3、……的影響的第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。又,上述的發(fā)明中也可以為,所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的修正系數(shù)E,和為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響用的修正系數(shù)E’,所述控制部用下面式
(5)算出第N周期的真實輸出強度信號sN,且用下面式(6)算出第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。sN= (SN —SimXE) ...... (5)rN= (Rn — Rn_1XE> ) ...... (6)這里,所謂“修正系數(shù)E”,是為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含第(N-I)周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,所謂“修正系數(shù)Ε’ ”,是為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,也可取與修正系數(shù)E相同的系數(shù)。又,本發(fā)明的分光光度計,是包括樣品池;將測量光出射到所述樣品池上的光源部;檢測通過了所述樣品池的測量光的光檢測器;以一定周期使來自所述光源部的測量光不入射到光檢測器的遮光部;參照池;以一定周期使測量光導入替換樣品池的參照池的能夠變更的切換部;有對應地存儲所述遮光部遮光的遮光期間、所述切換部切換光路的切換期間及所述光檢測器得到的輸出強度信號的存儲部;及根據(jù)所述存儲部存儲的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號S、樣品側(cè)遮光期間的輸出強度信號DS、參照側(cè)入射期間的輸出強度信號R及參照側(cè)遮光期間的輸出強度信號DR,算出透射率或吸光度的控制部,以樣品側(cè)入射期間、樣品側(cè)遮光期間、參照側(cè)入射期間、參照側(cè)遮光期間這樣的順序予以執(zhí)行并將其作為一個周期的分光光度計,所述控制部算出除去了第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間以前的輸出強度信號Rh、SN_i、Rn_2、SN_2……的影響的第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,且算出除去了第N周期的參照側(cè) 入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間以前的輸出強度信號SN、Rn-!> SN_i、Rn_2……的影響的第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。如上所述,根據(jù)本發(fā)明的分光光度計,因為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間以前的輸出強度信號IVpSn+Rm、SN-2……的影響,還除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間以前的輸出強度信號SN、Rh、Sm、Rn_2……的影響,故能使測量精度提高。又,上述的發(fā)明中,也可以所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1的影響用的修正系數(shù)F,和為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)F’,所述控制部用下面式(7)算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,且用下面式(8)算出第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。sN= (Sn - Rn^1XF) - DSn...... (7)rN= (Rn — SnXF,)一 DRn...... (8)這里,所謂“修正系數(shù)F”,是考慮到有遮光期間為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,所謂“修正系數(shù)F’ ”,是考慮到有遮光期間為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長入上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,也可取與修正系數(shù)F相同的系數(shù)。又,上述的發(fā)明中,也可以所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1的影響用的修正系數(shù)F、為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)F’、為除去第N周期的樣品側(cè)遮光期間的輸出強度信號DSn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)G及為除去第N周期的參照側(cè)遮光期間的輸出強度信號DRn中所含的第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn的影響用的修正系數(shù)G’,所述控制部用下面式(9)算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,且用下面式(10)算出第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。sN= (Sn-RmXF)- (DSn-SnXG)……(9)
rN= (Rn — SnXF,)一(DRn — RnXG,)……(10)這里,所謂“修正系數(shù)G”,是為除去第N周期的樣品側(cè)遮光期間的輸出強度信號DSn中所含第N周期的入射期間的輸出強度信號3,的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,所謂“修正系數(shù)G’ ”,是為除去第N周期的參照側(cè)遮光期間的輸出強度信號DRn中所含第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。又,也可取與修正系數(shù)G相同的系數(shù)。又,上述的發(fā)明中,也可以所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1的影響用的修正系數(shù)H,和為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)H’,所述控制部用下面式(11)算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,且用下面式(12)算出第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。sN=SN - (DRm - DSn) X 1/2XH - DSn...... (11)rN=RN — (DSn — DRn) X 1/2XH,一 DRn...... (12)這里,所謂“修正系數(shù)H”,是在第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn是表示少的光量,第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1是表示多的光量時(例如在輸出強度信號Rim表示輸出強度信號Sn的100倍以上的光量時),為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。再者,在Sn表示比IV1多的光量時,由于所計算的修正量((DIV1 — DSn) X 1/2 X H)相對于Sn小得可以忽略,所以也仍可適用上述修正。又,所謂“修正系數(shù)H’ ”,是在第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn是表示少的光量,第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn是表示多的光量時(例如在輸出強度信號Sn表示輸出強度信號Rn的100倍以上的光量時),為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的系數(shù),是指對每個波長λ、檢測器通過實驗或計算預先確定的數(shù)值或公式。例如通過在各波長λ上多次測量對光檢測器的光入射后的輸出強度信號變化并求平均的那樣實驗來求得。也可取與修正系數(shù)H相同的系數(shù)。再者,在Rn表示比Sn多的光量時,由于所計算的修正量((DSn - DRn) X 1/2 XH’ )相對于Rn小得可以忽略,所以也仍可適用上述修正。
圖I是示出本發(fā)明第一實施形態(tài)的雙光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。圖2是示出扇形鏡的旋轉(zhuǎn)一周的期間的時序圖。圖3是示出延續(xù)多個周期期間的信號值與時間之間的關系的一例的圖。圖4是示出延續(xù)多個周期期間的信號值與時間之間的關系的一例的圖。圖5是示出延續(xù)多個周期期間的信號值與時間之間的關系的一例的圖。圖6是示出延續(xù)多個周期期間的信號值與時間之間的關系的一例的圖。圖7是示出延續(xù)多個周期期間的信號值與時間之間的關系的一例的圖。圖8是示出本發(fā)明第二實施形態(tài)的單光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。圖9是示出本發(fā)明第三實施形態(tài)的單光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。圖10是示出本發(fā)明第四實施形態(tài)的雙光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。圖11是示出以往的雙光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。符號說明6樣品池12光檢測器41遮光部50光源部3K23ICPU (控制部)34、234存儲器(存儲部)60、260紫外可視分光光度計。
具體實施例方式下面,用
本發(fā)明的實施形態(tài)。再者,本發(fā)明不限于以下說明那樣的實施形態(tài),在不超出本發(fā)明的主旨的范圍包含各種的形態(tài)自不待言。圖I是示出本發(fā)明第一實施形態(tài)的雙光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。對與紫外可視分光光度計160相同的部件,標注相同的符號。紫外可視分光光度計60包括樣品池6,參照池8,具有出射測量光的光源I和分光器2的光源部50,光檢測器12,扇形鏡(切換部、遮光部)40,多個反射鏡3、5、7、9、10、11,不透光的殼體15,指示信號發(fā)生部20,模-數(shù)(A/D)變換器14及控制紫外可視分光光度計60整體的計算機30。計算機30中包括CPU (控制部)31和存儲器34,還與具有鍵盤和鼠標的輸入裝置32、以及顯示裝置33連接。又,將CPU31處理的功能進行模塊化來說明的話,具有將來自光檢測器12的輸出強度信號的存儲到存儲器34的存儲控制部31a和算出透射率的計算控制部 31b。這里,存儲器34中預先存儲式(7)、式(8)、式(20)和修正系數(shù)Fa (FA1,F(xiàn)A2,F(xiàn)as ......)。sN= (Sn — Rn_!XFa ) — DSn...... (7)rN= (Rn — SnXFλ ) — DRn...... (8)透射率(%)=(sN/rN)/ZX100……(20)Z是預先存儲的測量作為對照用的樣品(多為水或空氣)時的(sN/rN)。修正系數(shù)Fa是或為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號IV1的影響,或為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號RN中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的系數(shù),是通過實驗或計算對每個波長λ 、λ2、λ 3預先確定的數(shù)值。例如通過在各波長λ I、λ 2、λ 3上多次測量對光檢測器12的光入射后的輸出強度信號變化并求平均那樣 的實驗求得的。又,式(7)也可為式(7’)。通常,多個周期重復相同狀態(tài)下的測量的情況較多,即便周期N在進展,發(fā)生急劇的光量變化情況不多,所以IV1=IVsN= (Sn - RnXFa ) - DSn...... (7,)計算控制部31b實行利用式(7)、式(8)、式(20)和修正系數(shù)FA1、FA2、FA3……算出透射率的控制。具體地說,取得分光器2取出的測量光的波長λ,在第(N-I)周期中,計算輸出強度信號Rim對應的檢測值數(shù)據(jù)D16 D18的平均值,再在第N周期中,對輸出強度信號Sn對應的檢測值數(shù)據(jù)D4 D6,輸出強度信號DSn對應的檢測值數(shù)據(jù)DlO D12,輸出強度信號Rn對應的檢測值數(shù)據(jù)D16 D18和輸出強度信號DRn對應的檢測值數(shù)據(jù)D21 D24,計算各自的平均值,代入式(7)和式(8),求出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號%和參照側(cè)真實輸出強度信號rN。然后,將第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN和參照側(cè)真實輸出強度信號rN代入式(20)中,求出第N周期的透射率。又在第N周期中,計算輸出強度信號Rn對應的檢測值數(shù)據(jù)D16 D18的平均值,再在第(N+1)周期中,對輸出強度信號SN+1對應的檢測值數(shù)據(jù)D4 D6,輸出強度信號DSn+1對應的檢測值數(shù)據(jù)DlO D12,輸出強度信號RN+1對應的檢測值數(shù)據(jù)D16 D18和輸出強度信號DRn+1對應的檢測值數(shù)據(jù)D21 D24,計算各自的平均值,代入式(7)和式(8),求出第(N+1)周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN和參照側(cè)真實輸出強度信號rN。然后,將第(N+1)周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號%和參照側(cè)真實輸出強度信號rN代入式(20)中,求出第(N+1)周期的透射率。這樣依次下去求得第N周期的透射率。如上所述,根據(jù)紫外可視分光光度計60,因除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響的同時,也除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響,因此能使測量精度提高。第二實施形態(tài)圖8示出本發(fā)明第二實施形態(tài)的單光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。對與紫外可視分光光度計160相同的部件,標注相同的符號。紫外可視分光光度計260包括樣品池6,具有出射測量光的光源I和分光器2的光源部50,光檢測器12,遮光部41,多個反射鏡3、5、9、11,不透光的殼體15,指示信號發(fā)生部20,模-數(shù)(A/D)變換器14及控制紫外可視分光光度計260整體的計算機230。計算機230中包括CPU (控制部)231和存儲器234,還與具有鍵盤和鼠標等的輸入裝置32、以及顯示裝置33連接。當對CPU231處理的功能進行模塊化來說明的話,具有將來自光檢測器12的輸出強度信號存儲到存儲器234中的存儲控制部231a和算出透射率的計算控制部231b。這里,存儲器234中預先存儲式(4)、式(21)和修正系數(shù)Da (Da 1;DA2,Da3,……)。Sn=Sn — (DSm — DSn) X 1/2XD人一DSn...... (4)透射率(%)=81/2父100……(21)Z是預先存儲的測量作為對照用的樣品(多為水或空氣)時的sN。修正系數(shù)Da是為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號sN_i的影響用的系數(shù),是通過實驗或計算對每個波長λ I、λ 2、λ 3……預先確定的數(shù)值。例如通過在各波長λ I、λ 2、λ 3上多次測量對光檢測器12的光入射后的輸出強度信號變化并求平均那樣的實驗求得的。計算控制部231b實行利用式(4)、式(21)和修正系數(shù)DA1、DA2、DA3……算出透射 率的控制。具體地說,取得分光器2取出的測量光的波長λ,在第(N-I)周期中,計算輸出強度信號DSim對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,且在第N周期中,對輸出強度信號Sn對應的檢測值數(shù)據(jù),輸出強度信號DSn對應的檢測值數(shù)據(jù),計算各自的平均值,代入式(4),求出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN。然后,將第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN代入式(21)中,求出第N周期的透射率。這樣依次下去求得第N周期的透射率。如上所述,根據(jù)紫外可視分光光度計260,因除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響,因此能使測量精度提聞。第三實施形態(tài)圖9示出本發(fā)明第三實施形態(tài)的,不以一定周期交替保持入射期間和遮光期間型的單光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。對與紫外可視分光光度計160相同的部件,標注相同的符號。紫外可視分光光度計360包括樣品池6,具有出射測量光的光源I和分光器2的光源部50,光檢測器12,多個反射鏡3、4、5、9、11,不透光的殼體15,指不信號發(fā)生器20,模-數(shù)(A/D)變換器14及控制紫外可視分光光度計360整體的計算機330。計算機330中包括CPU (控制部)331和存儲器334,還與具有鍵盤和鼠標等的輸入裝置32、以及顯示裝置33連接。當對CPU331處理的功能進行模塊化說明的話,具有將來自光檢測器12的輸出強度信號存儲到存儲器334中的存儲控制部331a和算出透射率的計算控制部331b。這里,存儲器334中預先存儲式(I)、式(21)和修正系數(shù)Αλ (Αλ1,Αλ2,Αλ3,……)。sN= (Sn - SmXAa)……(I)透射率(%)=81/2\100……(21)Z是預先存儲的測量作為對照用的樣品(多為水或空氣)時的sN。修正系數(shù)八入是為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號sN_i的影響用的系數(shù),是通過實驗或計算對每個波長λ I、λ 2、λ 3……預先確定的數(shù)值。例如通過在各波長λ I、λ 2、λ 3上多次測量對光檢測器12的光入射后的輸出強度信號變化并求平均那樣的實驗求得的。計算控制部331b實行利用式(I)、式(21)和修正系數(shù)Αλ1、Αλ2、Αλ3……算出透射率的控制。具體地說,取得分光器2取出的測量光的波長λ,在第(N-I)周期中,計算輸出強度信號Sim對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,且在第N周期中,計算輸出強度信號Sn對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,代入式(1),求出第N周期的真實輸出強度信號sN。然后,將第N周期的真實輸出強度信號sN代入式(21)中,求出第N周期的透射率。這樣依次下去求得第N周期的透射率。如上所述,根據(jù)紫外可視分光光度計360,因除去第N周期的入射期間的輸出強度 信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響,因此能使測量精度提聞。第四實施形態(tài)圖10示出本發(fā)明第四實施形態(tài)的,不以一定周期交替保持入射期間和遮光期間型的雙光束型紫外可視分光光度計的概略構(gòu)成圖。對與紫外可視分光光度計160相同的部件,標注相同的符號。紫外可視分光光度計460包括樣品池6,參照池8,具有出射測量光的光源I和分光器2的光源部50,第一光檢測器12,第二光檢測器13,光束分配用半反射鏡(分配部)42,多個反射鏡3、5、9、10,不透光的殼體15,指示信號發(fā)生器20,模-數(shù)(A/D)變換器14及控制紫外可視分光光度計460整體的計算機430。利用半反射鏡42將測量光光量二等分分配到樣品側(cè)和參照側(cè)上。樣品側(cè)光束LS連續(xù)入射到第一光檢測器12上。另一方面,參照側(cè)光束LR連續(xù)入射到第二光檢測器13上。如從各自的光檢測器12、13來看,與不以一定周期交替保持入射期間和遮光期間型的單光束型分光光度計的光檢測器做相同的動作。計算機430中包括CPU (控制部)431和存儲器(存儲部)434,還與具有鍵盤和鼠標等的輸入裝置32、以及顯示裝置33連接。當對CPU431處理的功能進行模塊化來說明的話,具有將來自光檢測器12的輸出強度信號存儲到存儲器434中的存儲控制部431a和算出透射率的計算控制部431b。這里,存儲器434中預先存儲式(5)、式(6)、式(20)、修正系數(shù)Eλ (Ελ1, Ελ2,Ε ,……)和修正系數(shù)Ε’ λ (Ε,λ1,Ε’ λ2,Ε’ λ3,……)。sN= (Sn-Sn^1XEa ) ...... (5)rN= (Rn — Rn_1XE> λ ) ...... (6)透射率(%)=(sN/rN)/ZX100……(20)Z是預先存儲的測量作為對照用的樣品(多為水或空氣)時的sN/rN。修正系數(shù)Eλ是為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間樣品側(cè)的輸出強度信號Sim的影響用的系數(shù),是通過實驗或計算對每個波長λ I、λ 2、λ 3……預先確定的數(shù)值。例如通過在各波長λ I、λ 2、λ 3……上多次測量對第一光檢測器12的光入射后的輸出強度信號變化并求平均那樣的實驗求得的。
又,修正系數(shù)E’入是為除去第N周期的入射期間的參照側(cè)輸出強度信號Rn中所含的第(N-I)周期的入射期間的參照側(cè)輸出強度信號IV1的影響用的系數(shù),是通過實驗或計算對每個波長λ I、λ 2、λ 3……預先確定的數(shù)值。例如通過在各波長λ1、λ2、λ3……上多次測量對第二光檢測器13的光入射后的輸出強度信號變化并求平均那樣的實驗求得的。計算控制部431b實行利用式(5)、(6)、式(20)和修正系數(shù)Eλl、Eλ2、Eλ3……和修正系數(shù)Ε’ λ1、Ε’ λ2、Ε’ λ3……算出透射率的控制。具體地說,取得分光器2取出的測量光的波長λ,在第(N-I)周期中,計算樣品側(cè)輸出強度信號Sim對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,且在第N周期中,計算樣品側(cè)輸出強度信 號Sn對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,代入式(5),求出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN。又,在第(N-1)周期中,計算參照側(cè)輸出強度信號IV1對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,且在第N周期中,計算參照側(cè)輸出強度信號Rn對應的檢測值數(shù)據(jù)的平均值,代入式(6),求出第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。然后,將第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN與參照側(cè)真實輸出強度信號rN代入式(20)中,求出第N周期的透射率。這樣依次下去求得第N周期的透射率。如上所述,根據(jù)紫外可視分光光度計460,因除去第N周期的入射期間的樣品側(cè)輸出強度信號Sn中所含的第(N-I)周期的入射期間的樣品側(cè)輸出強度信號Sim的影響的同時,還除去第N周期的入射期間的參照側(cè)輸出強度信號Rn中所含的第(N-I)周期的入射期間的參照側(cè)輸出強度信號Rim的影響,因此能使測量精度提高。其他實施形態(tài)(一)上述的紫外可視分光光度計60中,示出了存儲器34中預先存儲式(7)、式
(8)、式(20)和修正系數(shù)FA1、FA2、FA3、……,計算控制部31b利用式(7)、式(8)、式(20)和修正系數(shù)FA1、FA2、FA3、……算出透射率那樣的構(gòu)成,然而也可以為存儲器中預先存儲式
(9)、式(10)、式(20)和修正系數(shù)FA1、FA2、FA3、……、GA1、GA2、GA3……,計算控制部利用式
(9)、式(10)、式(20)和修正系數(shù)FA1、FA2、FA3、……、GA1、GA2、GA3、……算出透射率那樣的構(gòu)成,也可以為存儲器中預先存儲式(11)、式(12)、式(20)和修正系數(shù)Ηλ1、Ηλ2、Ηλ3……,算出控制部利用式(11)、式(12)、式(20)和修正系數(shù)Ηλ1、Ηλ2、Ηλ3……算出透射率那樣的構(gòu)成,也可以為存儲器中預先存儲式(7) 式(12)、式(20)和修正系數(shù),計算控制部選擇式
(7) 式(12)、式(20)和修正系數(shù)算出透射率那樣的構(gòu)成。sN= (Sn — RmXF) — (DSn — SnXG) ...... (9)rN= (Rn — SnXF) — (DRn — RnXG)……(10)sN=SN - (DRm - DSn) X 1/2XH - DSn ...... (11)rN=RN — (DSn — DRn) X1/2XH — DRn...... (12)再者,在第I周期用式(11)時,也可用式(11’)。又,在第I周期用式(9)時,也可用式(9’)。Sn=Sn — (DRn — DSn) X 1/2XH — DSn ...... (11,)sN= (Sn — RnXF) — (DSn — SnXG) ...... (9,)(二)上述的紫外可視分光光度計260中,示出了存儲器234中預先存儲式(4)、式(21)和修正系數(shù)DA1、DA2、DA3、……,計算控制部231b利用式(4)、式(21)和修正系數(shù)DA1、DA2、DA3、……算出透射率那樣的構(gòu)成,然而也可以為存儲器中預先存儲式(3)、式(21)和修正系數(shù)Βλ1、Βλ2、Βλ3……、CA1、CA2、CA3、……,計算控制部利用式(3)、式(21)和修正系數(shù)Βλ1、Βλ2、Βλ3……、CA1、CA2、CA3、……算出透射率那樣的構(gòu)成,也可以為存儲器中預先存儲式(2)、式(21)和修正系數(shù)Βλ1、Βλ2、Βλ3……,計算控制部利用式(2)、式(21)和修正系數(shù)Βλ1、Βλ2、Βλ3……算出透射率那樣的構(gòu)成,也可以為存儲器中預先存儲式(I) 式(4)、式
(21)和修正系數(shù),計算控制部選擇式(I) 式(4)、式(21)和修正系數(shù)算出透射率那樣的構(gòu)成。sN= (Sn — SmXB) — (DSn — SnXC)……(3)sN= (Sn — SmXB) — DSn...... (2)(三)上述的紫外可視分光光度計60中,示出了在離開殼體15的位置上配置計算機30那樣的構(gòu)成,然而也可以與殼體一體地配置計算機的構(gòu)成。 產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明能用于例如雙光束型或單光束型的紫外可視分光光度計等中。
權利要求
1.一種分光光度計,其特征在于,包括 樣品池; 將測量光出射到所述樣品池上的光源部; 檢測通過了所述樣品池的測量光的光檢測器; 存儲所述光檢測器得到的輸出強度信號的存儲部;及 根據(jù)所述存儲部存儲的輸出強度信號S算出透射率或吸光度的控制部, 所述控制部算出除去了第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期以前的入射期間的輸出強度信號的影響的第N周期的真實輸出強度信號sN。
2.如權利要求I所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)A, 所述控制部用下面式(I) sN= (Sn-SmXA)……(I) 算出第N周期的真實輸出強度信號
3.如權利要求I所述的分光光度計,其特征在于,包括以一定周期使來自所述光源部的測量光不入射到光檢測器的遮光部,所述分光光度計以入射期間、遮光期間這樣的順序予以執(zhí)行并將其作為一個周期, 所述存儲部有對應地存儲由所述遮光部遮光的遮光期間和由所述光檢測器得到的輸出強度信號, 所述控制部根據(jù)所述存儲器所存儲的入射期間的輸出強度信號S與遮光期間的輸出強度信號DS,算出透射率或吸光度。
4.如權利要求3所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)B, 所述控制部用下面式(2) sN= (Sn-S^1XB)-DSn...... (2) 算出第N周期的真實輸出強度信號
5.如權利要求3所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的修正系數(shù)B和為除去第N周期的遮光期間的輸出強度信號DSn中所含的第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)C,所述控制部用下面式(3)sN= (Sn - Sn^1XB) - (DSn - SnXC) ...... (3) 算出第N周期的真實輸出強度信號sN。
6.如權利要求3所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的入射期間的輸出強度信號Sh的影響用的修正系數(shù)D, 所述控制部用下面式(4)Sn=Sn — (DSh — DSn) X1/2XD — DSn...... (4)算出第N周期的真實輸出強度信號sN。
7.如權利要求I所述的分光光度計,其特征在于,包括 參照池; 檢測了通過所述參照池的測量光的第二光檢測器;及 將測量光分配到所述樣品樣品池和參照池的分配部, 所述存儲部存儲由所述第二光檢測器得到的輸出強度信號, 所述控制部根據(jù)所述存儲部所存儲的樣品側(cè)輸出強度信號S和參照側(cè)輸出強度信號R,算出透射率或吸光度,所述控制部算出除去了第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N-I周期以前的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號的影響的第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。
8.如權利要求7所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sim的影響用的修正系數(shù)E和為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N-I周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響用的修正系數(shù)E’, 所述控制部用下面式(5)和式(6) sN= (Sn-SmXE) ...... (5) rN= (Rn — RmXEj ) ...... (6) 算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,以及第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。
9.一種分光光度計,其特征在于,包括 樣品池; 將測量光出射到所述樣品池上的光源部; 檢測通過了所述樣品池的測量光的光檢測器; 以一定周期使來自所述光源部的測量光不入射到光檢測器的遮光部; 參照池; 以一定周期使測量光導入替換所述樣品池的參照池的能夠變更的切換部; 有對應地存儲由所述遮光部遮光的遮光期間、由所述切換部切換光路的切換期間及由所述光檢測器得到的輸出強度信號的存儲部;及 根據(jù)所述存儲部存儲的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號S、樣品側(cè)遮光期間的輸出強度信號DS、參照側(cè)入射期間的輸出強度信號R及參照側(cè)遮光期間的輸出強度信號DR,算出透射率或吸光度的控制部, 所述分光光度計以樣品側(cè)入射期間、樣品側(cè)遮光期間、參照側(cè)入射期間及參照側(cè)遮光期間這樣的順序予以執(zhí)行并將其作為一個周期, 所述控制部算出除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的參照側(cè)入射期間以前的輸出強度信號的影響的第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,且算出除去了第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間以前的輸出強度信號的影響的第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。
10.如權利要求9所述的分光光度計,其特征在于,所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響用的修正系數(shù)F和為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)F’, 所述控制部用下面式(7)和式(8) sN= (Sn-RmXF)-DSn ……(7) rN= (Rn-SnXFj)-DRn……(8) 算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,以及第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。
11.如權利要求9所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響用的修正系數(shù)F、為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)F’、為除去第N周期的樣品側(cè)遮光期間的輸出強度信號DSn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)G及為除去第N周期的參照側(cè)遮光期間的輸出強度信號DRn中所含的第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn的影響用的修正系數(shù)G’, 所述控制部用下面式(9)和式(10)sN= (Sn — IV1XF) — (DSn — SnXG) ...... (9) rN= (Rn — SnXFO- (DRn — RnXGj)……(10) 算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,以及第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。
12.如權利要求9所述的分光光度計,其特征在于, 所述存儲部存儲為除去第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn中所含的第N-I周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rim的影響用的修正系數(shù)H和為除去第N周期的參照側(cè)入射期間的輸出強度信號Rn中所含的第N周期的樣品側(cè)入射期間的輸出強度信號Sn的影響用的修正系數(shù)H’, 所述控制部用下面式(11)和式(12 ) sN=SN- (DRm-DSn) X 1/2XH-DSn ...... (11)rN=RN — (DSn — DRn) X1/2XH,一 DRn...... (12) 算出第N周期的樣品側(cè)真實輸出強度信號sN,以及第N周期的參照側(cè)真實輸出強度信號rN。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能使測量精度提高的分光光度計,是包括樣品池,將測量光出射到樣品池上的光源部,檢測通過樣品池的測量光的光檢測器,以一定周期使來自光源部的測量光不入射到光檢測器的遮光部,有對應地存儲遮光部遮光的遮光期間及光檢測器得到的輸出強度信號的存儲部,及根據(jù)存儲部存儲的入射期間的輸出強度信號S及遮光期間的輸出強度信號DS算出透射率或吸光度的控制部,以入射期間、遮光期間這樣的順序予以執(zhí)行并將其作為一個周期的分光光度計,其特征在于,所述控制部算出除去第N周期的入射期間的輸出強度信號SN中所含的第N-1周期的入射期間的輸出強度信號SN-1的影響的第N周期的真實輸出強度信號sN。
文檔編號G01N21/33GK102841065SQ20121016758
公開日2012年12月26日 申請日期2012年5月25日 優(yōu)先權日2011年6月21日
發(fā)明者木村俊郎, 篠山智生, 加藤大二郎 申請人:株式會社島津制作所