專利名稱：一種檢測儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢測儀，特別是指一種光學(xué)鏡頭檢測儀。
背景技術(shù)：
光學(xué)鏡頭檢測儀是一種用于檢測光學(xué)鏡頭是否達(dá)到光學(xué)技術(shù)指標(biāo)的裝置。目前，在光學(xué)鏡頭生產(chǎn)行業(yè)的檢測環(huán)節(jié)，普遍使用光學(xué)逆投影機(jī)來檢測鏡頭的解像力、分辨率、拖影、銳度等技術(shù)參數(shù)。一般這種類似設(shè)備的檢測方式是由人眼來判斷，缺乏客觀性，同時(shí)操作效率低下，對人員素質(zhì)要求較高，培訓(xùn)時(shí)間長；而且對環(huán)境的光線要求較高，占地面積大；設(shè)備消耗品較多，維護(hù)成本高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出一種檢測儀，解決了現(xiàn)有技術(shù)中檢測儀操作效率低、要求高和維護(hù)成本高的問題，測試速度快，檢測項(xiàng)目嚴(yán)謹(jǐn)，功能全；人員培訓(xùn)簡單，工作占地面積小。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的一種檢測儀，包括主機(jī)和機(jī)架，所述主機(jī)固定在所述機(jī)架上；所述主機(jī)包括鏡頭測試夾具、調(diào)整托臺、數(shù)據(jù)傳輸接口、焦距調(diào)整裝置、芯片、空腔和側(cè)板；所述鏡頭測試夾具設(shè)于所述調(diào)整托臺上方；所述調(diào)整托臺設(shè)于所述空腔上方；所述數(shù)據(jù)傳輸接口設(shè)于所述側(cè)板上，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述芯片電性連接；所述焦距調(diào)整裝置設(shè)于所述空腔上，且所述焦距調(diào)整裝置與所述芯片電性連接；所述芯片安裝在所述空腔內(nèi)；所述側(cè)板固定在所述空腔的外圍。進(jìn)一步，所述側(cè)板包括底座板和側(cè)板，所述側(cè)板包括第一側(cè)板、第二側(cè)板和第三側(cè)板，所述第一側(cè)板、所述第二側(cè)板和所述第三側(cè)板固定在所述空腔側(cè)面，所述底座板固定在所述空腔下方。進(jìn)一步，所述底座板上設(shè)有第一通孔，所述空腔上設(shè)有第二通孔，所述調(diào)整托臺上設(shè)有第三通孔，所述檢測儀進(jìn)一步設(shè)有螺釘，所述螺釘貫穿所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔。進(jìn)一步，所述第一側(cè)板上設(shè)有指示燈，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口設(shè)于所述第二側(cè)板上。進(jìn)一步，所述焦距調(diào)整裝置上設(shè)有刻度。進(jìn)一步，所述調(diào)整托臺上設(shè)有凹槽，所述鏡頭測試夾具下方設(shè)有凸起，所述凸起設(shè)于所述凹槽內(nèi)。進(jìn)一步，所述芯片包括第一芯片和第二芯片，所述第一芯片為數(shù)字處理電路板，所述第二芯片為控制傳輸電路板；所述數(shù)字處理電路板圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊，所述控制傳輸電路板包括調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊。進(jìn)一步，所述調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊均與所述圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊電性連接。進(jìn)一步，所述機(jī)架包括支架、日光燈光管、光學(xué)標(biāo)靶和升降裝置；所述日光燈光管、所述光學(xué)標(biāo)靶和所述升降裝置均固定在所述支架上，且所述主機(jī)固定在所述升降裝置上。進(jìn)一步，所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊電性連接，所述圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊與所述光學(xué)標(biāo)靶感應(yīng)連接。本發(fā)明檢測儀通過在主機(jī)上設(shè)有芯片，芯片包括調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊，故在對大批量的鏡頭進(jìn)行測試時(shí)，因設(shè)備的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、穩(wěn)定且客觀，故消除了人員的判別差異，且可以自動保留數(shù)據(jù)，嚴(yán)格客觀的確保鏡頭的生產(chǎn)品質(zhì)；另外檢測儀的測試速度快，檢測項(xiàng)目嚴(yán)謹(jǐn)，功能全；人員培訓(xùn)簡單，工作占地面積小；通過在多個(gè)工廠的現(xiàn)場大批量測試驗(yàn)證，其穩(wěn)定度，準(zhǔn)確度均有大幅度提高。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明檢測儀的結(jié)構(gòu)圖；圖2為本發(fā)明檢測儀主機(jī)的結(jié)構(gòu)圖；圖3為本發(fā)明檢測儀主機(jī)的分解圖；圖4為本發(fā)明檢測儀的光學(xué)標(biāo)靶圖；圖5為本發(fā)明檢測儀主機(jī)的計(jì)算結(jié)果函數(shù)圖；圖6為本發(fā)明檢測儀主機(jī)的另一計(jì)算結(jié)果函數(shù)圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。參照圖I、圖2及圖3，一種檢測儀1，包括主機(jī)2和機(jī)架3，所述主機(jī)2固定在所述機(jī)架3上；所述主機(jī)2包括鏡頭測試夾具4、調(diào)整托臺5、數(shù)據(jù)傳輸接口 6、焦距調(diào)整裝置7、芯片(未圖示)、空腔8和側(cè)板9 ;所述鏡頭測試夾具4設(shè)于所述調(diào)整托臺5上方；所述調(diào)整托臺5設(shè)于所述空腔8上方；所述數(shù)據(jù)傳輸接口 6設(shè)于所述側(cè)板9上，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口6與所述芯片電性連接；所述焦距調(diào)整裝置7設(shè)于所述空腔8上，且所述焦距調(diào)整裝置7與所述芯片電性連接；所述芯片安裝在所述空腔8內(nèi)；所述側(cè)板9固定在所述空腔8的外圍。進(jìn)一步，所述側(cè)板9包括底座板91和側(cè)板92，所述側(cè)板92包括第一側(cè)板921、第二側(cè)板922和第三側(cè)板923，所述第一側(cè)板921、所述第二側(cè)板922和所述第三側(cè)板923固、定在所述空腔8側(cè)面，所述底座板91固定在所述空腔8下方。所述側(cè)板的設(shè)置，對所述空腔有一定的保護(hù)作用，防止碰撞過程中，對空腔內(nèi)的芯片造成影響，使其無法正常工作 ’另夕卜，側(cè)板還具有防塵的功能，防止灰塵掉在所述空腔上，并對其內(nèi)的芯片造成污染并影響其性能，使用者可以根據(jù)需要再增設(shè)一第四側(cè)板(未圖示)，所述第四側(cè)板也固定在所述空腔的側(cè)面，從而將所述空腔的四周都密封起來。進(jìn)一步，所述底座板91上設(shè)有第一通孔911，所述空腔8上設(shè)有第二通孔81，所述調(diào)整托臺5上設(shè)有第三通孔51，所述檢測儀進(jìn)一步設(shè)有螺釘(未圖示)，所述螺釘貫穿所述第一通孔911、所述第二通孔81和所述第三通孔51。所述底座板、所述調(diào)整托臺和所述空腔通過螺釘來固定，第一通孔和第二通孔的數(shù)量使用者根據(jù)實(shí)際需求來進(jìn)行設(shè)計(jì)，只需將底座板、調(diào)整托臺、空腔固定牢固即可；另外使用者也可以根據(jù)需要選擇其它的固定方式，只需將三者固定在一起即可。
進(jìn)一步，所述第一側(cè)板921上設(shè)有指示燈10，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口 6設(shè)于所述第二側(cè)板922上；當(dāng)然使用者也可以根據(jù)需要選擇將指示燈和數(shù)據(jù)接口同時(shí)設(shè)在第一側(cè)板、第二側(cè)板或者第三側(cè)板上，或者分別設(shè)在不同的側(cè)板上。指示燈設(shè)有兩個(gè)，一個(gè)紅燈和一個(gè)綠燈；所述數(shù)據(jù)傳輸接口的設(shè)置，方便將檢測儀的主機(jī)接入到外界的硬件設(shè)備(如電腦等)上；所述指示燈的設(shè)置，用于方便使用者分辨外界的硬件設(shè)備是否跟檢測儀的主機(jī)連接上以及設(shè)備的工作狀態(tài)，當(dāng)外界硬件設(shè)備通過所述數(shù)據(jù)傳輸接口連接到檢測儀的主機(jī)時(shí)，如果連接正常，則綠燈亮，如果連接不正常，則紅燈亮。所述數(shù)據(jù)傳輸接口可以是USB接口，即USB2. 0或者USB3. 0等，使用者也可以根據(jù)需要選擇其它類型的接口，如HiSpeed等，只需將芯片內(nèi)的數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)傳輸接口傳輸至外界設(shè)備即可。進(jìn)一步，所述焦距調(diào)整裝置7上設(shè)有刻度(未圖示)。所述刻度的設(shè)置，使得使用者在調(diào)整鏡頭的焦距時(shí)，方便讀取和記錄刻度，并計(jì)算誤差。進(jìn)一步，所述調(diào)整托臺5上設(shè)有凹槽52，所述鏡頭測試夾具4下方設(shè)有凸起41，所述凸起41設(shè)于所述凹槽52內(nèi)。通過將凸起41設(shè)于凹槽52中，使得鏡頭測試夾具固定在調(diào)整托臺上，在測試大批量的鏡頭時(shí)，將鏡頭置于所述鏡頭測試夾具上時(shí)，所述鏡頭測試夾具在所述調(diào)整托臺上可以旋轉(zhuǎn)角度且不易移動，故不易引起誤差。進(jìn)一步，所述芯片包括第一芯片和第二芯片，所述第一芯片為數(shù)字處理電路板，所述第二芯片為控制傳輸電路板；所述數(shù)字處理電路板圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊，所述控制傳輸電路板包括調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊。使用者可以根據(jù)工作需要，可以選擇安裝其他的芯片，將檢測儀的性能進(jìn)一步的進(jìn)行優(yōu)化，滿足工作需要。進(jìn)一步，所述調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊均與所述圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊電性連接。所述圖像數(shù)據(jù)傳輸分析模塊能實(shí)現(xiàn)圖像數(shù)據(jù)的高速傳輸與預(yù)處理；所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊能實(shí)現(xiàn)顏色高精度(單色12Bit)、高分辨率的圖形采集還原；所述標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊能快速(0. I秒)將所述光學(xué)標(biāo)靶上面的目標(biāo)圖像捕捉出來，并進(jìn)行自動精確定位與自動調(diào)整，且計(jì)算定位精度小于0. 25個(gè)CCD/CM0S像素(CCD為Charge Couple Device的縮寫，中文名稱“電荷率禹合圖像傳感器”;CMOS為Complementary Metal-Oxide Semiconductor的縮寫，中文名稱為“互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體圖像傳感器”。);所述MTF(調(diào)制傳遞函數(shù)MTF，ModulationTransfer Function)全頻域推算模塊的分析速度快,0. 3秒內(nèi)可以將全部MTF函數(shù)數(shù)據(jù)分析出來，并且同時(shí)計(jì)算出畸變值、相對亮度差、相對后焦值、視場角度值。進(jìn)一步，所述機(jī)架3包括支架31、日光燈光管32、光學(xué)標(biāo)靶33和升降裝置34 ;所述日光燈光管32、所述光學(xué)標(biāo)靶33和所述升降裝置34均固定在所述支架31上，且所述主機(jī)2固定在所述升降裝置34上。所述主機(jī)的高低可以通過所述升降裝置的的升降來進(jìn)行調(diào)節(jié)。進(jìn)一步，所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述圖像數(shù)據(jù)傳輸分析模塊電性連接，所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊與所述光學(xué)標(biāo)靶通過被測試鏡頭的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行光學(xué)感應(yīng)。使用者可以根據(jù)需要調(diào)整所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊與所述光學(xué)標(biāo)靶的感應(yīng)距離，只需鏡頭光學(xué)系統(tǒng)生成的圖像能夠完整地顯示整幅的所述光學(xué)標(biāo)靶即可。所述光學(xué)標(biāo)靶具有全頻域多點(diǎn)分析、畸變分析、焦距分析、暗角分析、視場角計(jì)算等功能，故該檢測儀能夠適合于畸變較大的鏡頭檢測。本發(fā)明檢測儀在初次使用時(shí)，先將主機(jī)安裝在所述機(jī)架上，將被測試鏡頭擺放于鏡頭測試夾具，然后調(diào)整升降裝置，使得所述主機(jī)處于合適的位置，然后將主機(jī)通過數(shù)據(jù)傳輸接口連接到電腦上并打開軟件，故第一芯片和第二芯片上的數(shù)據(jù)便可以通過電腦讀出來，使用者通過操作電腦，將各參數(shù)設(shè)定為標(biāo)準(zhǔn)值，相應(yīng)的光學(xué)標(biāo)靶上便會光學(xué)標(biāo)靶圖，使用者通過調(diào)節(jié)焦距調(diào)整旋鈕、日光燈光管的高度和光學(xué)標(biāo)靶的高度，將主機(jī)和電腦統(tǒng)一，調(diào)整好之后，便可以批量對光學(xué)鏡頭進(jìn)行測試。測試時(shí)，將光學(xué)鏡頭放在檢測儀上，光學(xué)標(biāo)靶的圖形沒有發(fā)生改變，便表明該鏡頭合格，否之則需要進(jìn)行調(diào)試。本發(fā)明檢測儀通過在主機(jī)上設(shè)有第一芯片和第二芯片，且第一芯片為數(shù)字處理電路板，第二芯片為控制傳輸電路板；數(shù)字處理電路板包括圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊，控制傳輸電路板包括調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊。故在對大批量的鏡頭進(jìn)行測試時(shí)，因設(shè)備的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、穩(wěn)定且客觀，故消除了人員的判別差異，且可以自動保留數(shù)據(jù)，嚴(yán)格客觀的確保鏡頭的生產(chǎn)品質(zhì)；另外檢測儀的測試速度快，檢測項(xiàng)目嚴(yán)謹(jǐn)，功能全；人員培訓(xùn)簡單，工作占地面積?。煌ㄟ^在多個(gè)工廠的現(xiàn)場大批量測試驗(yàn)證，其穩(wěn)定度，準(zhǔn)確度均有大幅度提高。以光學(xué)鏡頭型號Phenix P220-M為例，將該鏡頭放在所述鏡頭測試夾具4上，調(diào)整升降裝置，使得所述主機(jī)處于合適的位置，然后將主機(jī)通過數(shù)據(jù)傳輸接口連接到電腦上并打開軟件，故第一芯片和第二芯片上的數(shù)據(jù)便可以通過電腦讀出來，使用者通過操作電腦，將各參數(shù)設(shè)定為標(biāo)準(zhǔn)值，相應(yīng)的光學(xué)標(biāo)靶上便會光學(xué)標(biāo)靶圖，參照圖4，A為光學(xué)標(biāo)靶圖中間的MTF函數(shù)數(shù)據(jù)，B為光學(xué)標(biāo)靶圖外圍的MTF函數(shù)數(shù)據(jù)；使用者通過調(diào)節(jié)焦距調(diào)整旋鈕、日光燈光管的高度和光學(xué)標(biāo)祀的高度，將主機(jī)和電腦統(tǒng)一，調(diào)整好之后，通過所述第一芯片上的圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊進(jìn)行邏輯運(yùn)算，便可將圖4中間和外圍的數(shù)據(jù)函數(shù)圖在電腦上顯示出來，請參照圖5和圖6，圖5和圖6說明越往中間，光學(xué)鏡頭的性能越佳，MTF函數(shù)值就越高。隨著視場角度變小，其MTF函數(shù)曲線上升、畸變值變小、相對亮度差變小。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢測儀，其特征在于，包括主機(jī)和機(jī)架，所述主機(jī)固定在所述機(jī)架上； 所述主機(jī)包括鏡頭測試夾具、調(diào)整托臺、數(shù)據(jù)傳輸接口、焦距調(diào)整裝置、芯片、空腔和側(cè)板； 所述鏡頭測試夾具設(shè)于所述調(diào)整托臺上方； 所述調(diào)整托臺設(shè)于所述空腔上方； 所述數(shù)據(jù)傳輸接口設(shè)于所述側(cè)板上，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述芯片電性連接； 所述焦距調(diào)整裝置設(shè)于所述空腔上，且所述焦距調(diào)整裝置與所述芯片電性連接； 所述芯片安裝在所述空腔內(nèi)； 所述側(cè)板固定在所述空腔的外圍。
2.如權(quán)利要求I所述的檢測儀，其特征在于，所述側(cè)板包括底座板和側(cè)板，所述側(cè)板包括第一側(cè)板、第二側(cè)板和第三側(cè)板，所述第一側(cè)板、所述第二側(cè)板和所述第三側(cè)板固定在所述空腔側(cè)面，所述底座板固定在所述空腔下方。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測儀，其特征在于，所述底座板上設(shè)有第一通孔，所述空腔上設(shè)有第二通孔，所述調(diào)整托臺上設(shè)有第三通孔，所述檢測儀進(jìn)一步設(shè)有螺釘，所述螺釘貫穿所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測儀，其特征在于，所述第一側(cè)板上設(shè)有指示燈，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口設(shè)于所述第二側(cè)板上。
5.如權(quán)利要求4所述的檢測儀，其特征在于，所述焦距調(diào)整裝置上設(shè)有刻度。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測儀，其特征在于，所述調(diào)整托臺上設(shè)有凹槽，所述鏡頭測試夾具下方設(shè)有凸起，所述凸起設(shè)于所述凹槽內(nèi)。
7.如權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的檢測儀，其特征在于，所述芯片包括第一芯片和第二芯片，所述第一芯片為數(shù)字處理電路板，所述第二芯片為控制傳輸電路板；所述數(shù)字處理電路板圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊，所述控制傳輸電路板包括調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測儀，其特征在于，所述調(diào)制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊均與所述圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊電性連接。
9.如權(quán)利要求8所述的檢測儀，其特征在于，所述機(jī)架包括支架、日光燈光管、光學(xué)標(biāo)靶和升降裝置；所述日光燈光管、所述光學(xué)標(biāo)靶和所述升降裝置均固定在所述支架上，且所述主機(jī)固定在所述升降裝置上。
10.如權(quán)利要求9所述的檢測儀，其特征在于，所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述圖像數(shù)據(jù)分析 傳輸模塊電性連接，所述圖像標(biāo)靶動態(tài)捕捉定位模塊與所述光學(xué)標(biāo)靶感應(yīng)連接。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種檢測儀，包括主機(jī)和機(jī)架，所述主機(jī)固定在所述機(jī)架上；所述主機(jī)包括鏡頭測試夾具、調(diào)整托臺、數(shù)據(jù)傳輸接口、焦距調(diào)整裝置、芯片、空腔和側(cè)板；所述鏡頭測試夾具設(shè)于所述調(diào)整托臺上方；所述調(diào)整托臺設(shè)于所述空腔上方；所述數(shù)據(jù)傳輸接口設(shè)于所述側(cè)板上，且所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述芯片電性連接；所述焦距調(diào)整裝置設(shè)于所述空腔上，且所述焦距調(diào)整裝置與所述芯片電性連接；所述芯片安裝在所述空腔內(nèi)；所述側(cè)板固定在所述空腔的外圍。本發(fā)明檢測儀結(jié)構(gòu)簡單、測試速度快，檢測項(xiàng)目嚴(yán)謹(jǐn)，功能全；人員培訓(xùn)簡單，工作占地面積小。
文檔編號G01M11/02GK102721531SQ201210185290
公開日2012年10月10日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月6日
發(fā)明者李明 申請人:李明