專利名稱：一種對離子導電體的雙電量測量方法及應用的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種對離子導電體的雙電量測量方法及應用方法，特別是針對地下水資源勘探、油氣勘探、導電金屬礦物勘探工程中使用的ー種對離子導電體的雙電量測量方法。
背景技術：
現(xiàn)有技術中，針對離子導電體的電法測量一般采用電阻率法或阻抗法，在勘探領域一般采用電阻率法或激發(fā)極化法或復電阻率法。該類技術的共同之處是依托基本物理量電阻率和阻抗、相位、極化率、頻散率、虛部、實部多個綜合物理量對被測物體進行定性分祈。由于測量獲取的電阻率參數(shù)是由有功電流形成的，因而與被測物體相關性高；測量獲取的綜合物理量是未知比例的有功電流和無功電流共同作用的響應，因而與被測物體相關性 低。大地的導電性能主要受地層含水率、流體礦化度和導電礦物三種因素的直接影響，三種因素都屬于未知變量，而現(xiàn)有測量方法中僅僅測量了有功電流，很難對大地的地層含水率、流體礦化度和導電礦物等多種影響進行準確地解釋，所以造成目前的電法勘探解釋結論符合率較低。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是為了克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種對離子導電體的雙電量測量方法及應用方法，能夠提高離子導電體定性和定量分析的能力；能夠提高地下水資源、導電金屬礦物和油氣的勘探成效。本發(fā)明采取的技術方案為本發(fā)明ー種對離子導電體的雙電量測量方法，其方法包括1、向被測量的離子導電體A、B兩點之間供給小于IOKHz頻率的交變電流，電流流經離子導電體后，形成待測的電壓V、模電流Iz、相位Θ、有功電流Ir和無功電流Ix待測信息；2、按照常規(guī)方法采集電壓、模電流、相位Θ信息；3、采用與電壓相位一致的方波以相敏檢波獲取有功電流Ir，或采用公式Ir = Iz Xcos Θ獲取有功電流；4、采用比電壓相位超前90°的方波以相敏檢波獲取無功電流IX，或采用公式Ix = Iz X sin0獲取無功電流；
5、采用電學公式R=V/Ir計算獲取電阻R，采用電學公式Xc=V/Ix獲取容抗Xe，采用電學公式C=Iパ2 FXc)獲得電容C ;6、采用電學公式P =KrXR計算獲取電阻率P，公式中P為電阻率，R為實測電阻，Kr為電極系數(shù)，Kr的単位，m ;7、采用新創(chuàng)公式 =Kc X C獲得離子電容率，公式中C為實測電容，為離子電容率，離子電容率的量綱為法拉/米，F(xiàn)/m，Kc為電極系數(shù)，Kc的單位，1/m。本發(fā)明ー種對離子導電體的雙電量應用，其應用包括，I、采用公式
權利要求
1.一種對離子導電體的雙電量測量方法，其特征在于向被測量的離子導電體A、B兩點之間供給小于IOKHz頻率的交變電流，電流流經離子導電體后，形成電壓V、模電流Iz、相位Θ、有功電流Ir、無功電流Ix待測信息；按照常規(guī)方法采集電壓信息和模電流(3);采用與電壓相位一致的方波(2)以相敏檢波獲取有功電流Ir，或采用公式Ir = Iz Xcos Θ 獲取有功電流Ir ;采用比電壓相位超前90°的方波(3)以相敏檢波獲取無功電流Ix，或采用公式Ix = Iz X sin Θ獲取無功電流；采用電學公式R=V/Ir計算獲取電阻R,采用電學公式Xc=V/Ix獲取容抗Xe，采用電學公式C=I/ (2 Ji FXc)獲得電容C ;采用電學公式 P =KrXR計算獲取電阻率P ,公式中P為電阻率,R為實測電阻,Kr為電極系數(shù)，Kr的單位，m;采用新創(chuàng)公式 =KcXC獲得離子電容率，公式中C為實測電容，為離子電容率，離子電容率的量綱=法拉/米，F(xiàn)/m, Kc為電極系數(shù)，Kc的單位，1/m。
2.—種對離子導電體的雙電量應用，其特征在于應用包括，采用公式
全文摘要
本發(fā)明涉及一種對離子導電體的雙電量測量方法及應用，雙電量測量方法是采用與電壓相同的方波相敏檢波獲取有功電流Ir，采用與電壓超前90°的方波相敏檢波獲取無功電流Ix，然后根據(jù)電學公式計算獲取電阻率ρ和離子電容率ε；雙電量應用方法是首先利用本發(fā)明的公式計算離子電容率相對于電阻率的相對變化關系M值，再根據(jù)M值的變化識別地下各種不同的礦藏。本發(fā)明的有益效果及優(yōu)點是能夠提高離子導電體定性和定量分析的能力；能夠提高地下水資源、導電金屬礦物和油氣的勘探成效。
文檔編號G01V3/06GK102692652SQ201210190998
公開日2012年9月26日 申請日期2012年6月12日 優(yōu)先權日2012年6月12日
發(fā)明者劉紅岐, 邱春寧 申請人:西南石油大學