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      表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法

      文檔序號(hào):6159894閱讀:142來源:國知局
      表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法。其中,表面等離子體諧振圖像檢測芯片包括:透明基底;敏感膜陣列,包含至少兩個(gè)分離的敏感膜單元,至少兩分離的敏感膜單元中的每一敏感膜單元包括:金屬膜和敏感材料;檢測池陣列,為具有厚度的材料,包含貫穿檢測池陣列的、與至少兩個(gè)分離的敏感膜單元分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)分離的檢測池單元,其中:檢測池陣列上除至少兩個(gè)分離的檢測池單元之外的區(qū)域與透明基底緊密結(jié)合,形成密封;至少兩個(gè)分離的檢測池單元中的每一檢測池單元,其面積大于或等于對(duì)應(yīng)敏感膜單元的面積,從而將該敏感膜單元圍設(shè)于其底部。本發(fā)明無需外接的流通系統(tǒng),大大降低了儀器的制造成本。
      【專利說明】表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及應(yīng)用表面等離子體諧振原理進(jìn)行生物和化學(xué)分析的【技術(shù)領(lǐng)域】,尤其涉及一種表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]表面等離子體諧振(Surface Plasmon Resonance,簡稱SPR)是發(fā)生在平面金屬膜界面的一種物理光學(xué)現(xiàn)象。SPR對(duì)平面金屬膜界面附近的折射率變化非常靈敏。利用SPR原理可以檢測發(fā)生在平面金屬膜界面處100多nm范圍內(nèi)的生物分子相互作用。SPR檢測方法具有靈敏度高、無需標(biāo)記、可獲得反應(yīng)動(dòng)力學(xué)過程等優(yōu)點(diǎn)。
      [0003]表面等離子體諧振圖像檢測技術(shù)(Surface Plasmon Resonance Imaging,簡稱SPRI)為采用圖像的檢測方式,可以獲得平面金屬膜上多個(gè)位點(diǎn)發(fā)生的生物分子相互作用信息,可實(shí)現(xiàn)多參數(shù)并行檢測(Hickel et al.1989 ;Rothenhausler&Knoll 1988 ;Brockmanet al.2000)。
      [0004]美國專利第US7670556號(hào)公開了一種表面等離子體諧振圖像的檢測方法。圖1A為現(xiàn)有技術(shù)表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的工作示意圖。具有橫磁(TransverseMagnetic,簡稱TM)偏振的平行入射光通過棱鏡耦合,照射在傳感芯片上,入射光與傳感芯片表面的金屬膜的表面等離子體波發(fā)生諧振,在棱鏡的另一側(cè)采用圖像檢測裝置檢測出射光的圖像。在金屬膜的表面,制備有敏感膜(如抗體、DNA、受體等分子)。微流通道覆蓋在傳感芯片的表面,用于引入待測樣品。當(dāng)待測樣品中含有與敏感膜發(fā)生特異性反應(yīng)的物質(zhì)時(shí),出射光的圖像會(huì)發(fā)生改變。通過檢測出射光圖像不同區(qū)域的光強(qiáng)變化,可以對(duì)多個(gè)參數(shù)進(jìn)行并行檢測。
      [0005]圖1B為圖1A所示表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的流通系統(tǒng)工作原理圖。三種不同的蛋白質(zhì)A,B和C首先被固定到金膜的表面,然后在垂直方向上,待測樣品在外部流通驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的作用下,沿著微流路依次流過固定有蛋白質(zhì)A,B和C的敏感膜單元的表面。如果待測樣品中含有與蛋白質(zhì)A,B和C發(fā)生特異性反應(yīng)的物質(zhì),就會(huì)引起SPR信號(hào)的變化。通過同時(shí)監(jiān)測圖像上的多個(gè)敏感膜單元,就可實(shí)現(xiàn)多參數(shù)并行檢測。
      [0006]如上所述,現(xiàn)有技術(shù)表面等離子體諧振圖像檢測技術(shù)均需要配備一路或者多路流通系統(tǒng),儀器較為復(fù)雜,使用步驟繁瑣,對(duì)操作人員要求較高,從而限制了表面等離子體諧振圖像檢測技術(shù)應(yīng)用于現(xiàn)場快速檢測。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007](一 )要解決的技術(shù)問題
      [0008]為解決上述的一個(gè)或多個(gè)問題,本發(fā)明提供了一種表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法,以無需配備流通系統(tǒng)即可實(shí)現(xiàn)多參數(shù)檢測,簡化使用步驟,降低使用成本。
      [0009]( 二 )技術(shù)方案[0010]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法。其中,表面等離子體諧振圖像檢測芯片,包括:透明基底;敏感膜陣列,包含至少兩個(gè)分離的敏感膜單元,至少兩分離的敏感膜單元中的每一敏感膜單元包括:金屬膜和敏感材料;檢測池陣列,為具有厚度的材料,包含貫穿檢測池陣列的、與至少兩個(gè)分離的敏感膜單元分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)分離的檢測池單元,其中:檢測池陣列上除至少兩個(gè)分離的檢測池單元之外的區(qū)域與透明基底緊密結(jié)合,形成密封;至少兩個(gè)分離的檢測池單元中的每一檢測池單元,其面積大于或等于對(duì)應(yīng)敏感膜單元的面積,從而將該敏感膜單元圍設(shè)于其底部。[0011](三)有益效果
      [0012]從上述技術(shù)方案可以看出,本發(fā)明表面等離子體諧振圖像檢測芯片、系統(tǒng)及其使用方法具有以下有益效果:
      [0013](I)無需外接流通系統(tǒng)。本發(fā)明利用微加工工藝,加工制備成陣列化的檢測池,并與SPR基底組裝在一起,形成表面等離子體諧振圖像檢測芯片。該檢測池可以讓使用者直接的、可靠的將不同種類的微量(例如小于20微升)待測樣品滴加到芯片的表面,進(jìn)行陣列化的檢測。由于無需外接的流通系統(tǒng),大大降低了儀器的制造成本,簡化了使用步驟;
      [0014](2)使得拋棄型的SPR檢測芯片成為可能。本發(fā)明由于采用了新型的陣列化檢測池設(shè)計(jì),并提出了以階段SPR向應(yīng)值作為檢測結(jié)果的新方法,使得SPR檢測芯片與檢測池陣列集成在一起,避免了現(xiàn)有方法需要對(duì)微流通道和芯片表面進(jìn)行清洗和再生的后續(xù)維護(hù)步驟,使得SPR檢測芯片能夠?qū)崿F(xiàn)一次性使用,簡化了使用步驟,也降低了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0015]圖1A為現(xiàn)有技術(shù)表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的俯視圖;
      [0016]圖1B為圖1A所示表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的工作示意圖;
      [0017]圖2為本發(fā)明實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測芯片的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0018]圖3為本發(fā)明實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測芯片敏感膜單元的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0019]圖4為本發(fā)明實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0020]圖5多參數(shù)檢測的反應(yīng)動(dòng)力學(xué)曲線與檢測結(jié)果確定方法示意圖。
      [0021]【主要元件符號(hào)說明】
      [0022]100-表面等離子體諧振圖像檢測芯片
      [0023]101-透明基底102敏感膜陣列
      [0024]103-檢測池陣列104-敏感膜單元
      [0025]105-金屬膜;106-敏感材料;
      [0026]107-檢測池單元; 201-光源;
      [0027]202-滴管;203-棱鏡;
      [0028]204-圖像接收裝置。
      【具體實(shí)施方式】
      [0029]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合具體實(shí)施例,并參照附圖,對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。[0030]需要說明的是,在附圖或說明書描述中,相似或相同的部分都使用相同的圖號(hào)。且在附圖中,以簡化或是方便標(biāo)示。再者,附圖中未繪示或描述的實(shí)現(xiàn)方式,為所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中普通技術(shù)人員所知的形式。另外,雖然本文可提供包含特定值的參數(shù)的示范,但應(yīng)了解,參數(shù)無需確切等于相應(yīng)的值,而是可在可接受的誤差容限或設(shè)計(jì)約束內(nèi)近似于相應(yīng)的值。
      [0031]圖2為本發(fā)明實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示,本實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測芯片100包括:透明基底101、敏感膜陣列102和檢測池陣列103。透明基底101,由對(duì)入射光透明的材料制備而成,用來耦合入射光和作為敏感膜陣列的基底。敏感膜陣列,由至少兩個(gè)分離的敏感膜單元組成,每一敏感膜單元包括:金屬膜,沉積在透明基底上;敏感材料,通過物理吸附或者化學(xué)鍵共價(jià)連接的方式結(jié)合到所述金屬膜上,用于與被測物質(zhì)發(fā)生特異反應(yīng)。檢測池陣列,為具有厚度的材料,包含多個(gè)貫穿檢測池陣列的檢測池單元,該檢測池單元與敏感膜單元相對(duì)應(yīng),其面積大于或等于敏感膜單元的面積,檢測池陣列上除檢測池單元之外的區(qū)域與透明基底緊密結(jié)合,形成密封,從而將每一個(gè)敏感膜單元圍設(shè)于檢測池單元的底部。
      [0032]透明基底101 —般情況下采用光學(xué)玻璃材料制成,例如BK7光學(xué)玻璃。優(yōu)選的,該玻璃基底的厚度為0.1mm,尺寸大小為20mmX20mm ;玻璃基底的折射率與棱鏡的折射率一致。
      [0033]敏感膜陣列102位于玻璃基底101的一個(gè)表面,將該表面定義為玻璃基底101的檢測面。敏感膜陣列102可以采用光刻、濺射等半導(dǎo)體加工方法,在玻璃基底101的檢測面形成規(guī)則排列的圖形。敏感膜陣列102包括至少一個(gè)敏感膜單元104。
      [0034]圖3為本發(fā)明實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測芯片敏感膜單元的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示,敏感膜單元104由特定厚度的金屬膜105以及覆蓋于金屬膜之上的敏感材料106構(gòu)成。根據(jù)入射光波長的不同,金屬膜105可以選擇金、銀、鋁或者銅作為制備材料。作為一種例子,金屬膜105的材料為金,它的厚度精確的控制在50nm。敏感材料106為某種能夠?qū)Ρ粶y物質(zhì)能夠發(fā)生特異性反應(yīng)的材料,包括但不限于蛋白質(zhì)、抗體、DNA、多肽和配體。它們通過物理吸附或者化學(xué)鍵共價(jià)連接的方式結(jié)合到所述金屬膜上面。當(dāng)待測樣品中存在著與敏感材料發(fā)生特異性反應(yīng)的物質(zhì)的時(shí)候,就會(huì)引起該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的SPR信號(hào)的變化。例如,可以選擇羊抗人IgG抗體固定作為敏感材料106,制備在金屬膜105上,當(dāng)待測樣品中包含有人IgG分子時(shí),抗原分子與抗體就會(huì)發(fā)生特異性的反應(yīng)。
      [0035]在本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,敏感膜陣列中的其中之一的敏感膜單元被對(duì)被測物質(zhì)不敏感的鈍化材料修飾。該單元稱為參比單元,可以通過該參比單元的表面等離子體諧振特性對(duì)敏感膜陣列中除該參比單元之外的敏感膜單元的表面等離子體諧振特性進(jìn)行校正,例如通過將不同敏感膜單元的RU值與參比單元的RU值相減,可以去除樣品本底折射率對(duì)檢測結(jié)果的影響。
      [0036]檢測池陣列103為一塊表面平整的材料,包含至少兩個(gè)檢測池單元107。檢測池單元107為貫穿檢測池陣列103兩個(gè)表面的結(jié)構(gòu)。檢測池陣列103的一個(gè)表面與玻璃基底101的檢測面緊密結(jié)合,形成密封。每一個(gè)檢測池單元107與每一個(gè)敏感膜單元104對(duì)準(zhǔn),敏感膜單元104位于檢測池單元107的池底。
      [0037]檢測池單元107的截面形狀可以任意的形狀。如圓形、正方形、矩形、橢圓形等等。優(yōu)選的,檢測池單元107的截面形狀為圓形,直徑為5_,因此,每個(gè)檢測池單元的容積約為19 μ L0
      [0038]檢測池陣列的材料可以選擇樹脂、硅膠或者塑料。例如聚二甲基硅氧烷(Polydimethylsiloxane,簡稱PDMS)。PDMS是一種高分子有機(jī)娃化合物。具有光學(xué)透明,惰性,無毒,不易燃等特性。固化的PDMS為一種硅膠,通過表面處理以后,可以和玻璃基底101形成可逆或者不可逆的密封。優(yōu)選的,該檢測池的厚度為1_。
      [0039]圖4為本發(fā)明實(shí)施例表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖4所示,該表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)包括:棱鏡;表面等離子體諧振圖像檢測芯片100,放置于棱鏡203的表面,可采用折射率匹配液保證兩個(gè)界面的良好的光學(xué)耦合。光源201,位于棱鏡的一側(cè),用于發(fā)出準(zhǔn)直的光束經(jīng)過棱鏡照射在表面等離子體諧振圖像檢測芯片100的下表面,圖像接收裝置204,位于棱鏡的另一側(cè),用于接收光束經(jīng)過所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片100的表面后反射的經(jīng)過棱鏡的出射光。
      [0040]本實(shí)施例中,光源優(yōu)選為激光器。當(dāng)然也可以為具有起偏器輸出能力的發(fā)光二極管光源或者超亮發(fā)光二極管光源。棱鏡為三角形棱鏡或圓柱形棱鏡。
      [0041]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面,還提供了一種上述表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng)的使用方法。請(qǐng)參照?qǐng)D4,該使用方法包括:
      [0042]步驟S402,使用滴管202在至少兩個(gè)檢測池單元中滴加待測樣品;
      [0043]步驟S404,并行記錄該至少兩個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)的變化,以某個(gè)特定的截止時(shí)間對(duì)應(yīng)的信號(hào)值,作為每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值(Response Unit, RU);
      [0044]步驟S406,根據(jù)每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的RU值,計(jì)算得到每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度(Ci,i = 1,2,...N,N為敏感膜單元數(shù))。
      [0045]優(yōu)選地,所述步驟S402之前還包括:在檢測池單元中分別滴加已知濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品,如(),(;,2C0...,記錄每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的RU值,獲得樣品濃度Cx和表面等離子體信號(hào)值RU的校準(zhǔn)曲線。所述步驟S406包括:利用該校準(zhǔn)曲線,根據(jù)每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的RU值,計(jì)算得到每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度。
      [0046]優(yōu)選地,當(dāng)敏感膜陣列中的其中之一敏感膜單元被對(duì)被測物質(zhì)不敏感的鈍化材料修飾時(shí),所述步驟S404之后還包括:利用參比單元的表面等離子體諧振信號(hào)值對(duì)其他敏感膜單元的表面等離子體諧振信號(hào)值進(jìn)行校正。
      [0047]圖5為多參數(shù)檢測的反應(yīng)動(dòng)力學(xué)曲線與檢測結(jié)果確定方法示意圖。如圖5所示,每條反應(yīng)曲線分別代表SI,S2,S3和S4敏感膜單元的SPR響應(yīng)值的動(dòng)態(tài)過程。以反應(yīng)時(shí)間TO為反應(yīng)截止時(shí)間,根據(jù)每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的RU值,計(jì)算得到每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度(Ci, i = 1,2,3,4).[0048]需要說明的是,上述對(duì)各元件的定義并不僅限于實(shí)施方式中提到的各種具體結(jié)構(gòu)或形狀,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可對(duì)其進(jìn)行簡單地熟知地替。
      [0049]以上所述的具體實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種表面等離子體諧振圖像檢測芯片,包括: 透明基底; 敏感膜陣列,包含至少兩個(gè)分離的敏感膜單元,所述至少兩分離的敏感膜單元中的每一敏感膜單元包括: 金屬膜,沉積在所述透明基底上; 敏感材料,通過物理吸附或者化學(xué)鍵共價(jià)連接的方式結(jié)合到所述金屬膜上; 檢測池陣列,為具有厚度的材料,包含貫穿檢測池陣列的、與所述至少兩個(gè)分離的敏感膜單元分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)分離的檢測池單元,其中: 檢測池陣列上除所述至少兩個(gè)分離的檢測池單元之外的區(qū)域與所述透明基底緊密結(jié)合,形成密封; 所述至少兩個(gè)分離的檢測池單元中的每一檢測池單元,其面積大于或等于對(duì)應(yīng)敏感膜單元的面積,從而將該敏感膜單元圍設(shè)于其底部。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列的材料選自以下材料中的一種:樹脂、硅膠和塑料。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列的材料為固化的聚二甲基硅氧烷。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列中檢測池單元的的截面形狀為以下形狀中的一種:圓形、正方形、矩形和橢圓形。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所`述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列中檢測池單元的的截面形狀為圓形。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述檢測池陣列中檢測池單元的直徑為5mm,深度為1mm。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述敏感膜陣列敏感膜單元中: 金屬膜的材料選自于以下材料中的一種:金、銀、鋁和銅; 敏感材料選自于以下材料中的一種:蛋白質(zhì)、抗體、DNA、多肽和配體。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述金屬膜的材料為金,其厚度為50nm。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述至少兩個(gè)分離的敏感膜單元中至少一敏感膜單元被對(duì)被測物質(zhì)不敏感的鈍化材料所修飾,將該敏感膜單元作為參比單元。
      10.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的表面等離子體諧振圖像檢測芯片,其中,所述透明基底由光學(xué)玻璃材料制備。
      11.一種包括權(quán)利要求1至10中任一項(xiàng)所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片的表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng),還包括: 棱鏡;放置于所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片的下方,其上表面與所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片透明基底的下表面通過耦合液耦合; 光源,位于棱鏡的一側(cè),用于發(fā)出準(zhǔn)直的光束經(jīng)過棱鏡照射在表面等離子體諧振圖像檢測芯片的下表面;圖像接收裝置,位于棱鏡的另一側(cè),用于接收光束經(jīng)過所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片的下表面后反射的經(jīng)過棱鏡的出射光。
      12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng),其中,所述光源為激光器或發(fā)光二極管。
      13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的表面等離子體諧振圖像檢測系統(tǒng),其中,所述棱鏡為三角棱鏡或圓珠棱鏡。
      14.一種采用權(quán)利要求1至10中任一項(xiàng)所述表面等離子體諧振圖像檢測芯片進(jìn)行檢測的方法,包括: 在所述至少兩個(gè)檢測池單元中滴加待測樣品; 并行記錄所述至少兩個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)的變化,以特定的截止時(shí)間對(duì)應(yīng)的信號(hào)值,作為每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值; 對(duì)于每個(gè)敏感膜單元,根據(jù)該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值,計(jì)算得到該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度。
      15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其中, 所述在至少兩個(gè)檢測池單元中滴加待測樣品的步驟之前還包括:在多個(gè)檢測池單元中分別滴加已知濃度的標(biāo)準(zhǔn)樣品;記錄每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)樣品的表面等離子體諧振信號(hào)值;獲得樣品濃度和表面等離子體信號(hào)值的校準(zhǔn)曲線; 所述根據(jù)該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值,計(jì)算得到該敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度包括:利用所述樣品濃度和表面等離子體信號(hào)值的校準(zhǔn)曲線,根據(jù)每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體信號(hào)值,計(jì)算得到每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的待測物質(zhì)的濃度。
      16.根據(jù)權(quán)利要求14或15所述的方法,其中,當(dāng)敏感膜陣列中的其中之一敏感膜單元被對(duì)被測物質(zhì)不敏感的鈍化材料修飾,作為參比單元時(shí),所述以特定的截止時(shí)間對(duì)應(yīng)的信號(hào)值,作為每個(gè)敏感膜單元對(duì)應(yīng)的表面等離子體諧振信號(hào)值的步驟之后還包括: 利用參比單元的表面等離子體諧振信號(hào)值對(duì)其他敏感膜單元的表面等離子體諧振信號(hào)值進(jìn)行校正。
      【文檔編號(hào)】G01N21/41GK103512861SQ201210210534
      【公開日】2014年1月15日 申請(qǐng)日期:2012年6月20日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月20日
      【發(fā)明者】蔡浩原, 崔大付, 李輝, 陳興, 張璐璐, 孫建海, 任艷飛 申請(qǐng)人:中國科學(xué)院電子學(xué)研究所
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