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      基于回波損耗補償?shù)恼瓗炀€測試方法

      文檔序號:5902508閱讀:176來源:國知局
      專利名稱:基于回波損耗補償?shù)恼瓗炀€測試方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明屬于天線測試領(lǐng)域,具體涉及一種利用回波損耗補償技術(shù)在窄帶天線測試中消除多徑干擾信號,提高測量天線參數(shù)(包括方向圖和增益、以及其它參數(shù))精度的使用方法。
      背景技術(shù)
      衡量一付天線的實際輻射性能,需通過精確的測量。測試環(huán)境中(室外開闊場和微波暗室)存在多徑干擾,在常規(guī)的間接時域測量中,通常采用加時域門的方法去除干擾。這需要有足夠的測試帶寬,以獲得高的距離分辨率。然而,對于窄帶天線,特別是低頻段天線,其工作帶寬窄,對應(yīng)的距離分辨率難以優(yōu)于10米量級。當(dāng)多徑信號與直射波的波程差小于 距離分辨率時,其響應(yīng)在時間(距離)域上相互重疊,不能明確區(qū)分和分辨。這種情況下時域加門技術(shù)不能有效去除干擾,難以獲得高的測量精度。而且在低頻段暗室內(nèi)吸波材料的性能下降,使得暗室側(cè)壁、地面等的多徑干擾更嚴(yán)重,測試誤差不能滿足要求。微波暗室在300MHz以下頻段,其靜區(qū)性能難以優(yōu)于_30dB,側(cè)壁的多徑反射增強,導(dǎo)致天線方向圖的測試精度難以達到±1. 5dB ;IOOMHz以下頻段惡化到±2dB以上。在外場測試時,由于外部環(huán)境的不可控,多徑干擾更加嚴(yán)重。通常天線的工作帶寬通常取反射系數(shù)小于-IOdB (即駐波比小于2)時的頻帶范圍。對于工作帶寬小于30MHz的天線,其距離分辨率大于10m,無法通過加時域們?nèi)コ蓴_。

      發(fā)明內(nèi)容
      為了避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,本發(fā)明提出一種基于回波損耗補償?shù)恼瓗炀€測試方法,拓展被測天線的測試帶寬。技術(shù)方案一種基于回波損耗補償?shù)恼瓗炀€測試方法,其特征在于步驟如下步驟I :搭建天線測試系統(tǒng)發(fā)射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度,且位于同一軸線;步驟2 :測試被測天線的反射系數(shù)r (f);步驟3 :根據(jù)測試場地的情況,算出要消除代表第m條多徑的多徑波Rm和直射波Rtl的最小波程差A(yù)d = Hiin(Rm-Rtl) (m),得到測試天線所需的掃頻帶寬
      權(quán)利要求
      1.一種基于回波損耗補償?shù)恼瓗炀€測試方法,其特征在于步驟如下 步驟I:搭建天線測試系統(tǒng)發(fā)射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度,且位于同一軸線; 步驟2 :測試被測天線的反射系數(shù)r (f); 步驟3 :根據(jù)測試場地的情況,算出要消除代表第m條多徑的多徑波Rm和直射波Rtl的最小波程差A(yù) d = min (Rffl-R0),單位為m,得到測試天線所需的掃頻帶寬2 ^,由(I)式檢驗天線測試系統(tǒng)能否滿足保精度的測試靈敏度要求;
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種基于回波損耗補償?shù)恼瓗炀€測試方法,其特征在于搭建天線測試系統(tǒng)發(fā)射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度,且位于同一軸線;根據(jù)某一頻點的反射系數(shù),可以推算出天線相應(yīng)頻點的輻射能量損耗,并加以數(shù)值補償,使得時-頻變換后,時域波形沒有畸變。本發(fā)明通過對測試帶寬進行拓寬,以獲取理想的時域分辨率,從而有效抑制多徑干擾的影響,將測試技術(shù)應(yīng)用到微波暗室低頻段(300MHz以下頻段)天線測試,以及有近端強反射體的開闊場測試,可使低頻和窄帶天線方向圖精度改善2dB左右,獲得高精度的天線測試結(jié)果。
      文檔編號G01R29/10GK102798769SQ20121027381
      公開日2012年11月28日 申請日期2012年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月2日
      發(fā)明者張麟兮, 郭靜遠(yuǎn), 宋鵬, 張穎軍, 張曼, 張琦, 魏世京 申請人:西北工業(yè)大學(xué)
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