專(zhuān)利名稱(chēng):一種基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明屬于激光技術(shù)領(lǐng)域,具體為ー種基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)進(jìn)行信噪比單次測(cè)量的方法及其裝置。
背景技術(shù):
在強(qiáng)激光與物質(zhì)相互作用領(lǐng)域,脈 沖信噪比是ー個(gè)主要關(guān)心的問(wèn)題。如果前沿脈沖或本底的強(qiáng)度高達(dá)101° W/cm2,那么它們就會(huì)在主激光脈沖達(dá)到之前與物質(zhì)進(jìn)行相互作用,從而會(huì)改變物質(zhì)靶的物理特性。鑒于此,信噪比的測(cè)量尤為重要。由于目前的高強(qiáng)度激光系統(tǒng)普遍工作在低重復(fù)率下,甚至無(wú)重復(fù)率(即單次),需要ー種技術(shù)能夠進(jìn)行脈沖信噪比的實(shí)時(shí)測(cè)量,以便于激光系統(tǒng)的優(yōu)化和信噪比的提升。盡管掃描型的信噪比測(cè)量技術(shù)已經(jīng)很成熟而且已經(jīng)商品化,實(shí)際可用的單次測(cè)量技術(shù)仍然面臨很大的挑戰(zhàn)。目前世界上還沒(méi)有ー種技術(shù)可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)大窗ロ、高分辨率、高保真度和高動(dòng)態(tài)范圍的信噪比單次測(cè)量,而這四個(gè)方面恰恰是實(shí)際信噪比測(cè)量最為關(guān)心的指標(biāo)。對(duì)于ー個(gè)信噪比單次測(cè)量裝置來(lái)說(shuō),最主要的是兩個(gè)部分相關(guān)過(guò)程和探測(cè)系統(tǒng)。探測(cè)系統(tǒng)主要決定測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍,而且目前已有基于光纖陣列和光電倍增管的探測(cè)系統(tǒng)(美國(guó)專(zhuān)利us 8,071,934 B2)可以提供超靈敏的測(cè)量。剩余的三個(gè)指標(biāo)(時(shí)間窗ロ、分辨率和保真度)主要由相關(guān)過(guò)程來(lái)決定。目前的技術(shù)可以分別對(duì)其中ー個(gè)指標(biāo)優(yōu)化,犧牲其余兩個(gè)指標(biāo)。比如傾斜脈沖前端可以增大單次時(shí)間窗ロ,但也會(huì)降低測(cè)量分辨率。分辨率和保真度之間也存在不可調(diào)和的矛盾。薄晶體可以支持高分辨率,但光在其前后面的反射不可避免地引入測(cè)量假信號(hào)。舉個(gè)例子,對(duì)于I mm厚的BBO晶體,以三階諧波產(chǎn)生互相關(guān)構(gòu)型,測(cè)量1054 nm脈沖信噪比,可以在20 ps/cm (即每Icm晶體寬度支持20 ps的窗ロ)的窗口內(nèi)支持O. 5 ps的分別率,但是窗口內(nèi)會(huì)出現(xiàn)反射形成的假信號(hào),比如前沿11 ps處會(huì)出現(xiàn)ー級(jí)反射假信號(hào),前沿22 ps處出現(xiàn)ニ級(jí)反射假信號(hào),這些假信號(hào)會(huì)干擾信噪比的測(cè)量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對(duì)目前信噪比單次測(cè)量尤其是相關(guān)過(guò)程的不足,提供ー種能同時(shí)實(shí)現(xiàn)大窗ロ、高分辨率和高保真度的信噪比單次測(cè)量方法及其裝置。本發(fā)明首次將高階準(zhǔn)位相匹配(quasi-phase-matching, QPM)技術(shù)引入到信噪比單次測(cè)量中,解決了現(xiàn)存的各種問(wèn)題,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了大窗ロ、高分辨率和高保真度的測(cè)量。信噪比單次測(cè)量過(guò)程中,測(cè)量窗ロ大小主要由晶體的寬度(W)和兩作用光束(待測(cè)光和取樣光)間的夾角決定,同樣的晶體寬度下,夾角越大,窗ロ越大。此夾角不能任意地大,要受限于位相匹配條件。傳統(tǒng)雙折射匹配對(duì)非共線角的限制比較嚴(yán)重,從而限制了窗ロ。而準(zhǔn)位相匹配由于引入了額外的自由度,即周期性極化的格矢,能夠很大程度地減輕位相匹配條件的限制,可以允許更大的非共線角,其位相失配可以通過(guò)極化格矢‘=2·/Λ來(lái)補(bǔ)償,其中Λ為極化周期,m為QPM階數(shù)。對(duì)于普通的QPM (m=l),減小Λ可以增大非共線角,從而增大窗ロ,但增加量受到目前エ藝水平的限制(最小的極化周期為4Mm)。為了進(jìn)一步增大非共線角,可以采用高階QPM (比如m=3, 5等,QPM原理決定m只能為奇數(shù))。在同樣的極化周期下,高階QPM比普通QPM位相補(bǔ)償能力提高m倍,測(cè)量窗ロ可以得到大幅提聞。分辨率和保真度間的矛盾可以通過(guò)QPM結(jié)構(gòu)完美解決。兩者間的矛盾主要來(lái)自于對(duì)晶體長(zhǎng)度的相反依賴(lài)性高分辨率需要短的晶體,而高保真度要求長(zhǎng)的晶體。常見(jiàn)的QPM晶體是周期性極化的銀酸鋰(periodically poled lithium niobate, PPLN),它的加工方法可以保證在一塊大的基片上只極化其中一小部分,如圖I (a)所示,極化區(qū)的長(zhǎng)度為L(zhǎng)1,未極化區(qū)(即鈮酸鋰基片)長(zhǎng)度為L(zhǎng)2。時(shí)間分辨率僅由L1來(lái)決定,而反射造成的前沿假信號(hào)的位置是由整個(gè)晶體長(zhǎng)度(L1+L2)來(lái)決定的。這樣實(shí)際設(shè)計(jì)時(shí)可按照要求的分辨率設(shè)計(jì)L1,然后根據(jù)窗ロ大小來(lái)確定要把反射造成的前沿假信號(hào)移到什么時(shí)間位置,即再確定L2。這樣分辨率和保真度之間的矛盾就很好地解決了。L1和L2沒(méi)有嚴(yán)格的比例關(guān)系,可以根據(jù)不同的測(cè)量要求靈活地選擇。利用這種晶體設(shè)計(jì),待測(cè)光和取樣光必須同為寬光束,而且要從晶體的同一端面入射,我們稱(chēng)之為“同向互相夫”。
圖I (b)所示為基于高階QPM的第二種構(gòu)型“側(cè)向互相夫”。利用這種設(shè)計(jì),待測(cè)光為寬光束而取樣光為細(xì)光束,兩者從晶體不同端面入射。需要指出的是只有使用高階QPM這種設(shè)計(jì)才能實(shí)現(xiàn),基于普通雙折射位相匹配或ー階QPM都無(wú)法實(shí)現(xiàn)此種構(gòu)型,因?yàn)橹挥懈唠AQPM才具有強(qiáng)大的位相失配補(bǔ)償能力。此時(shí)待測(cè)光束的口徑W決定著測(cè)量時(shí)間窗ロ,口徑越大窗ロ越大。而取樣光束口徑D決定測(cè)量分辨率,D越小分辨率越高。反射造成的假信號(hào)的位置由晶體寬度決定,并且在粗光束完全覆蓋晶體的境況下,取樣光反射造成的假信號(hào)一定在窗ロ之外,自動(dòng)保證了高保真度。這樣,測(cè)量窗ロ、分辨率和保真度各有ー個(gè)量來(lái)決定,彼此之間沒(méi)有耦合作用,可以同時(shí)得到優(yōu)化。在一定的條件下,待測(cè)光束和取樣光束的夾角可以為90°。本發(fā)明提供的一種基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法,包括以下步驟
1)產(chǎn)生脈沖的相關(guān)信號(hào);
2)傳輸所述的相關(guān)信號(hào),在所述的相關(guān)信號(hào)傳輸過(guò)程中,衰減所述相關(guān)信號(hào);
3)接收并探測(cè)步驟2)得到的衰減后相關(guān)信號(hào),產(chǎn)生模擬信號(hào);
4)轉(zhuǎn)換所述模擬信號(hào)為數(shù)字信號(hào),再接收并處理所述數(shù)字信號(hào)得到脈沖的信噪比;
其中步驟I)中產(chǎn)生脈沖的相關(guān)信號(hào)的過(guò)程具體如下
其特征在于步驟I)中產(chǎn)生脈沖的相關(guān)信號(hào)的過(guò)程具體如下近紅外待測(cè)激光被分束器分為兩束,其中一束作為待測(cè)光束,其依次經(jīng)過(guò)潛望鏡轉(zhuǎn)偏振,反射鏡反射后,經(jīng)過(guò)擴(kuò)束器擴(kuò)束使得光束口徑接近晶體寬度,再由柱凹面鏡將其聚焦至晶體寬的端面;另ー光束用來(lái)產(chǎn)生取樣光束,其通過(guò)脈沖浄化器產(chǎn)生干凈取樣光,再經(jīng)反射鏡反射,時(shí)間延時(shí)線延時(shí)后,直接由圓凹面鏡聚焦至晶體的窄端面上,或者經(jīng)過(guò)擴(kuò)束器擴(kuò)束后再由柱凹面鏡聚焦至晶體的同一寬端面上,兩光束發(fā)生和頻互相關(guān)作用,得到相關(guān)信號(hào);
所述晶體設(shè)計(jì)時(shí)需要滿(mǎn)足IΛ ,其中km為極化區(qū)的格矢,m為彡3的奇數(shù),
A為晶體極化區(qū)的周期。本發(fā)明中,所述脈沖浄化器選自倍頻器或光參量放大器中任ー種。
本發(fā)明中,晶體設(shè)計(jì)時(shí)!11為> 3的奇數(shù),所述待測(cè)光束和取樣光束在從晶體中的不同端面入射,晶體全部極化或者任意部分極化。在合適的QPM階數(shù)和極化周期下,兩光束的夾角正好為90°。本發(fā)明中,晶體設(shè)計(jì)時(shí),m為>3的奇數(shù),晶體部分極化,晶體極化區(qū)長(zhǎng)度L1,其大小由分辨率的要求決定,晶體未極化區(qū)長(zhǎng)度L2,其大小由保真度的要求決定。兩者沒(méi)有固定的比例關(guān)系,可以根據(jù)所需的性能要求,靈活地確定。本發(fā)明提供的一種實(shí)施上述基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法的裝置,包括相關(guān)器和探測(cè)系統(tǒng),所述相關(guān)器包括分束器、潛望鏡、反射鏡、擴(kuò)束器、時(shí)間延時(shí)線和脈沖凈化器。分束器和測(cè)量晶體之間有兩路光,一路為潛望鏡、第二反射鏡、第三反射鏡、第一擴(kuò)束器和第一柱凹面鏡依次放置;另外一路為脈沖浄化器、第一反射鏡、時(shí)間延時(shí)線和凹面鏡依次放置,或者另一路光路為脈沖凈化器、第一反射鏡、時(shí)間延時(shí)線、第二擴(kuò)束器和第二柱凹面鏡依次放置。
本發(fā)明采用“側(cè)向互相關(guān)器”進(jìn)行了原理驗(yàn)證試驗(yàn),測(cè)量了鈦寶石再生放大器輸出脈沖(中心波長(zhǎng)800 nm)的信噪比。實(shí)驗(yàn)中采用3. 4 Mm的中紅外長(zhǎng)波長(zhǎng)脈沖作為取樣光(中國(guó)專(zhuān)利,申請(qǐng)?zhí)柎a=201110048052. 2),PPLN晶體大小為10*5*0. 5 mm3,全部極化,極化周期為4.9 Mm。我們得到了窗ロ高達(dá)70 ps,分辨率900 fs (采用的細(xì)光束口徑為150μ m),窗口內(nèi)無(wú)假信號(hào)的單次測(cè)量結(jié)果。而且如果采用15-30 mm寬的PPLN,測(cè)量窗ロ可達(dá)100-200 ps,達(dá)到了與掃描型信噪比測(cè)量?jī)x相比擬的測(cè)量能力。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了大窗ロ、高分辨率、高保真度和高動(dòng)態(tài)范圍的信噪比單次測(cè)量。
圖I所示為基于高階準(zhǔn)位相匹配的兩種晶體設(shè)計(jì)及相關(guān)構(gòu)型。圖2所示為基于高階準(zhǔn)位相匹配的兩種構(gòu)型對(duì)應(yīng)的信噪比測(cè)量裝置。圖3所示為信噪比測(cè)量結(jié)果。下面的曲線為將主峰衰減3X IO7后的結(jié)果。圖中標(biāo)號(hào)1為待測(cè)近紅外激光(800nm鈦寶石激光或1054nm釹玻璃激光),2為分束器,3為待測(cè)激光,4為用于產(chǎn)生取樣光的激光,5為脈沖浄化器(倍頻器或光參量放大器),6為產(chǎn)生的取樣光,7為第一反射鏡,8為時(shí)間延時(shí)線,9為凹面鏡,10為潛望鏡(轉(zhuǎn)偏振),11為第二反射鏡,12為第三反射鏡,13為第一擴(kuò)束器,14為第一柱凹面鏡,15為基于圖I (b)構(gòu)型的晶體,16為產(chǎn)生的相關(guān)信號(hào)光,17為點(diǎn)狀衰減器,18為第一柱凸透鏡,19為第ニ柱凸透鏡,20為第三柱凸透鏡,21為第四反射鏡,22為基于光纖陣列和光電倍增管的探測(cè)系統(tǒng)(中國(guó)專(zhuān)利=200810207458. 9 ;美國(guó)專(zhuān)利=US 8,071,934 B2),23為第二擴(kuò)束器,24為第二柱凹面鏡,25為基于圖I (a)構(gòu)型的晶體。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例進(jìn)ー步闡述本發(fā)明。實(shí)施例I :
圖I (a)為基于高階準(zhǔn)位相匹配(QPM)的新穎的晶體設(shè)計(jì),在一塊大的鈮酸鋰基片上(長(zhǎng)度為L(zhǎng)fL2)只極化其中的一部分(長(zhǎng)度為L(zhǎng)1),剰余部分不極化(長(zhǎng)度為L(zhǎng)2)。極化區(qū)的周期為Λ,對(duì)應(yīng)的格矢為た = 2·/Λ,m為彡3的奇數(shù)。
以測(cè)量1054nm釹玻璃激光為例,取樣光為其倍頻光527nm。由釹玻璃激光器發(fā)出的1054nm激光I被分束器2分為兩束。一束作為待測(cè)光束3,依次經(jīng)過(guò)潛望鏡10轉(zhuǎn)偏振,第二反射鏡11,第三反射鏡12,第一擴(kuò)束器13 (擴(kuò)束至與晶體寬度相當(dāng))后,由柱凹面鏡14豎直聚焦至晶體25寬的端面。另一束4泵浦倍頻器5產(chǎn)生527nm取樣光6,經(jīng)過(guò)第一反射鏡7,時(shí)間延時(shí)線8和第二擴(kuò)束器23后,由第二柱凹面鏡24聚焦至晶體25的同一端面上。兩者發(fā)生和頻互相關(guān)作用,產(chǎn)生相關(guān)信號(hào)光16。16分別經(jīng)過(guò)點(diǎn)狀衰減器17 (抑制散射),第一柱透鏡18 (豎直準(zhǔn)直),第二柱透鏡19 (水平成像),第三柱透鏡20 (豎直聚焦),第四反射鏡21后被基于光纖陣列和光電倍增管的探測(cè)系統(tǒng)22接收(中國(guó)專(zhuān)利200810207458. 9 ;美國(guó)專(zhuān)利US 8,071,934 B2)。系統(tǒng)22可以給出信噪比測(cè)量曲線。本實(shí)施例中采用五階QPM (m=5),極化周期為4 μ m,此時(shí)允許的晶體內(nèi)非共線角度為58. 6° ,可以實(shí)現(xiàn)的測(cè)量窗ロ大小為69. 6ps/cm (姆Icm寬的晶體支持69. 6ps窗ロ)。極化區(qū)長(zhǎng)度L1可選擇為O. 25mm,支持400fs的分辨率。為了在窗口內(nèi)無(wú)假信號(hào),L2需滿(mǎn)足
Liさ59ラ,其中W為晶體寬度,C為真空中光速,η為527nm光在晶體內(nèi)的折射率。如果In
W=Icm,則 L2 至少為 4. 68mm。實(shí)施例2
圖1(b)為基于高階QPM的另一新穎構(gòu)型。以測(cè)量800nm鈦寶石激光為例,采用3.4μπι長(zhǎng)波長(zhǎng)取樣光,其對(duì)應(yīng)的原型實(shí)驗(yàn)裝置如下由鈦寶石激光器發(fā)出的SOOnm激光I被分束器2分為兩束。一束作為待測(cè)光束3,依次經(jīng)過(guò)潛望鏡10轉(zhuǎn)偏振,第二反射鏡11,第三反射鏡12,第一擴(kuò)束器13 (擴(kuò)束至與晶體寬度相當(dāng))后,由柱凹面鏡14豎直聚焦至晶體25寬的端面。另一束4泵浦中紅外光參量放大器5產(chǎn)生3. 4 μ m長(zhǎng)波長(zhǎng)取樣光6,經(jīng)過(guò)第一反射鏡7和時(shí)間延時(shí)線8后,由凹面鏡9聚焦至晶體15的窄端面上。兩者發(fā)生和頻互相關(guān)作用,產(chǎn)生相關(guān)信號(hào)光16。16分別經(jīng)過(guò)點(diǎn)狀衰減器17 (抑制散射),第一柱透鏡18 (豎直準(zhǔn)直),第二柱透鏡19 (水平成像),第三柱透鏡20 (豎直聚焦),第四反射鏡21后被基于光纖陣列和光電倍增管的探測(cè)系統(tǒng)22接收(中國(guó)專(zhuān)利=200810207458. 9 ;美國(guó)專(zhuān)利US 8,071,934 B2)。系統(tǒng)22可以給出信噪比測(cè)量曲線。本實(shí)施例中采用三階QPM(m=3),極化周期4.9 μ m,此時(shí)非共線角為90°,待測(cè)光束和取樣光束分別從晶體的兩個(gè)端面垂直入射。待測(cè)光束仍然為粗光束,其口徑?jīng)Q定時(shí)間窗ロ。取樣光束為細(xì)光束,其口徑?jīng)Q定分辨率(此時(shí)晶體的長(zhǎng)度對(duì)分辨率沒(méi)有影響)。由于取樣光是沿著晶體寬度方向入射的,此時(shí)保真度由晶體的寬度來(lái)決定(不再由晶體長(zhǎng)度決定)。時(shí)間窗口和保真度均與晶體寬度有關(guān),但具體的計(jì)算表明,由反射造成的假信號(hào)的時(shí)間位置一定處于測(cè)量窗ロ之外,從而保真度自動(dòng)保證。分辨率可以通過(guò)調(diào)整細(xì)光束的口徑來(lái)方便地調(diào)整。由于此時(shí)晶體的長(zhǎng)度不再對(duì)以上指標(biāo)存在影響,它可以被設(shè)計(jì)成任意值(原則上只要比細(xì)光束口徑大就行,但還要考慮到實(shí)際晶體加工的難易程度),并且可以全部極化。圖3是實(shí)施例2的實(shí)驗(yàn)測(cè)量曲線(非共線角為90° )。窗ロ 70 ps,實(shí)驗(yàn)中設(shè)定從前沿-65 ps測(cè)到后沿+5 ps0上面的曲線是正常測(cè)量結(jié)果,+7/14ps兩處的小脈沖經(jīng)過(guò)驗(yàn)證是激光器輸出的真實(shí)信號(hào),不是測(cè)量的假信號(hào)。為驗(yàn)證系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍,我們將待測(cè)信號(hào)3衰減三千萬(wàn)倍后再測(cè)量,得到的結(jié)果如下面的曲線所示。除了主峰之外,其余地方均為平的,那是儀器的測(cè)量極限。從圖中可看出,本裝置的動(dòng)態(tài)范圍約為109。實(shí)驗(yàn)中采用的取樣 光束口徑為150 μ m,相應(yīng)的分辨率為900fs,如果換用65 μ m的取樣光束,則分辨率會(huì)提高到約400fso
權(quán)利要求
1.一種基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法,包括以下步驟 1)產(chǎn)生脈沖的相關(guān)信號(hào); 2)傳輸所述的相關(guān)信號(hào),在所述的相關(guān)信號(hào)傳輸過(guò)程中,衰減所述相關(guān)信號(hào); 3)接收并探測(cè)步驟2)得到的衰減后相關(guān)信號(hào),產(chǎn)生模擬信號(hào); 4)轉(zhuǎn)換所述模擬信號(hào)為數(shù)字信號(hào),再接收并處理所述數(shù)字信號(hào)得到脈沖的信噪比; 其特征在于步驟I)中產(chǎn)生脈沖的相關(guān)信號(hào)的過(guò)程具體如下近紅外待測(cè)激光被分束器分為兩束,其中一束作為待測(cè)光束,其依次經(jīng)過(guò)潛望鏡轉(zhuǎn)偏振,反射鏡反射后,經(jīng)過(guò)擴(kuò)束器擴(kuò)束使得光束口徑接近晶體寬度,再由柱凹面鏡將其聚焦至晶體寬的端面;另一光束用來(lái)產(chǎn)生取樣光束,其通過(guò)脈沖凈化器產(chǎn)生干凈取樣光,再經(jīng)反射鏡反射,時(shí)間延時(shí)線延時(shí)后,直接由圓凹面鏡聚焦至晶體的窄端面上,或者是經(jīng)過(guò)擴(kuò)束器擴(kuò)束后再由柱凹面鏡聚焦至晶體的同一寬端面上,兩光束發(fā)生和頻互相關(guān)作用,得到相關(guān)信號(hào); 所述晶體設(shè)計(jì)時(shí)需要滿(mǎn)足 km = 2Km(k ,其中km為極化區(qū)的格矢,m為彡3的奇數(shù),Λ為晶體極化區(qū)的周期。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法,其特征在于所述晶體設(shè)計(jì)時(shí),m為> 3的奇數(shù),晶體部分極化,極化區(qū)長(zhǎng)L1,非極化區(qū)長(zhǎng)L2,L1由分辨率來(lái)確定,L2由保真度來(lái)確定,寬的取樣光束和寬的待測(cè)光束由晶體的寬端面入射。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法,其特征在于所述晶體設(shè)計(jì)時(shí),m為> 3的奇數(shù),晶體全部極化,寬的待測(cè)光束從晶體的寬端面入射,細(xì)的取樣光束從晶體的窄端面入射,兩者的夾角為90°。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的給予高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法,其特征在于所述脈沖凈化器選自倍頻器或光參量放大器中任一種。
5.一種實(shí)施權(quán)利要求I所述的基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的信噪比單次測(cè)量方法的裝置,包括相關(guān)器和探測(cè)系統(tǒng),其特征在于 所述相關(guān)器包括分束器、潛望鏡、反射鏡、擴(kuò)束器、時(shí)間延時(shí)線和脈沖凈化器;分束器和測(cè)量晶體之間有兩路光,一路為潛望鏡、第二反射鏡、第三反射鏡、第一擴(kuò)束器和第一柱凹面鏡依次放置;另外一路為脈沖凈化器、第一反射鏡、時(shí)間延時(shí)線和凹面鏡依次放置,或者另外一路為脈沖凈化器、第一反射鏡、時(shí)間延時(shí)線、第二擴(kuò)束器和第二柱凹面鏡依次放置。
全文摘要
本發(fā)明屬于激光技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種基于高階準(zhǔn)位相匹配互相關(guān)的脈沖信噪比單次測(cè)量方法及其裝置。高階準(zhǔn)位相匹配的引入,很好地解決了傳統(tǒng)測(cè)量方法中測(cè)量窗口、分辨率和保真度不能同時(shí)滿(mǎn)足的問(wèn)題?;诟唠A準(zhǔn)位相匹配原理,我們?cè)O(shè)計(jì)了兩類(lèi)互相關(guān)構(gòu)型同側(cè)互相關(guān)和側(cè)向互相關(guān)。這兩種測(cè)量構(gòu)型都可以實(shí)現(xiàn)大窗口、高分辨率和高保真度的測(cè)量。
文檔編號(hào)G01J11/00GK102840921SQ20121034261
公開(kāi)日2012年12月26日 申請(qǐng)日期2012年9月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月17日
發(fā)明者錢(qián)列加, 馬金貴, 王永志, 袁鵬, 謝國(guó)強(qiáng), 朱鶴元 申請(qǐng)人:復(fù)旦大學(xué)