專利名稱：彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及エ業(yè)檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及ー種彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，對于彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測步驟大致如下當(dāng)彩色濾光片進(jìn)入AOI (Automatic Optic Inspection,自動光學(xué)檢測)設(shè)備內(nèi)后,有顯微鏡進(jìn)行移動讀取Mark (標(biāo)記)，識別出Mark，確立坐標(biāo)系；TDI CXD (時間延遲積分電荷耦合元件)再對彩色濾 光片進(jìn)行掃描，通過圖像處理與顯微鏡讀取Mark確立的坐標(biāo)系進(jìn)行匹配，輸出缺陷坐標(biāo)。圖I是AOI設(shè)備示意圖，如圖I所示，所述AOI設(shè)備I包括顯微鏡和TDI CCD,并且顯微鏡設(shè)置在顯微鏡龍門架11上，TDI CXD設(shè)置在TDI CXD龍門架12上?，F(xiàn)有檢測方法存在以下缺陷彩色濾光片進(jìn)入AOI設(shè)備內(nèi)后，先由顯微鏡進(jìn)行移動讀取AOI Mark，再由TDI C⑶進(jìn)行圖像掃描，讀取AOI Mark與TDI C⑶掃描分為兩個步驟，導(dǎo)致檢測步驟多，檢測周期比較長，并且造成設(shè)備發(fā)生故障的頻率上升，影響設(shè)備的穩(wěn)定性；顯微鏡龍門架與TDI CCD龍門架屬于兩個不同的龍門架，他們之間存在著坐標(biāo)上的誤差，而TDI CCD所輸出的缺陷坐標(biāo)是以顯微鏡計算的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，這樣缺陷坐標(biāo)的誤差就會很大，不能準(zhǔn)確地對缺陷進(jìn)行處理，影響產(chǎn)品的品質(zhì)。

發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是如何提供ー種彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法，以簡化檢測步驟，提高檢測精度。(ニ)技術(shù)方案ー種彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法，其包括步驟A :捕捉彩色濾光片的圖像；B :對所述圖像進(jìn)行處理，得到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)；C :根據(jù)所述臨界點(diǎn)捕捉到所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣；D :根據(jù)所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣確定所述彩色濾光片的坐標(biāo)系，根據(jù)所述坐標(biāo)系輸出缺陷坐標(biāo)。其中，所述步驟A中，通過時間延遲積分電荷耦合元件捕捉彩色濾光片的圖像。其中，所述步驟B具體包括步驟BI :對所述圖像進(jìn)行合成；B2 :對合成后的圖像進(jìn)行灰階處理，獲取所述彩色濾光片上各個像素的灰階值；B3 :根據(jù)所述灰階值的變化情況，找到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)。其中，所述標(biāo)記為多個，呈十字形，分別設(shè)置在所述彩色濾光片的拐角處。
其中，在所述步驟D之后還包括步驟E :修補(bǔ)設(shè)備根據(jù)所述缺陷坐標(biāo)對所述彩色濾光片進(jìn)行修補(bǔ)。(三)有益效果本發(fā)明所述彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法具有以下優(yōu)勢省略了顯微鏡讀取Mark的步驟，通過圖像處理建立坐標(biāo)系并輸出缺陷坐標(biāo)數(shù)據(jù)，既減少了設(shè)備的工作周期，提高了檢測效率，又提高了對缺陷坐標(biāo)的檢測精度；避免了由于顯微鏡或者顯微鏡的龍門架出現(xiàn)故障，而影響TDI CCD工作的情況，提高了檢測設(shè)備的穩(wěn)定性；由檢測設(shè)備輸出的缺陷坐標(biāo)更加精確，從而使下游的修補(bǔ)設(shè)備能夠更準(zhǔn)確地找出缺陷位置進(jìn)行修補(bǔ)，提升了產(chǎn)品質(zhì)量。


圖I是AOI設(shè)備示意圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例所述彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法的流程圖；圖3是所述步驟B的流程圖；圖4是所述標(biāo)記在彩色濾光片上的位置示意圖；圖5是所述標(biāo)記所對應(yīng)的臨界點(diǎn)示意圖；圖6是根據(jù)臨界點(diǎn)捕捉到的所述標(biāo)記的示意圖；圖7是根據(jù)臨界點(diǎn)捕捉到的所述彩色濾光片的邊緣示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對本發(fā)明的具體實(shí)施方式
作進(jìn)ー步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。圖2是本發(fā)明實(shí)施例所述彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法的流程圖，如圖2所示，所述方法包括步驟A :捕捉彩色濾光片的圖像。本步驟中，通過時間延遲積分電荷耦合元件(即TDI (XD)捕捉彩色濾光片的圖像，所述圖像具有較高的分辨率。TDI CXD適用于對ー些高速移動的物體成像，其優(yōu)勢是同一景物對多行線陣像元信號相加成像，與普通線陣CCD (尤其是面陣CCD)相比較減小了像元之間響應(yīng)的不均勻性。B :對所述圖像進(jìn)行處理，得到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)。圖3是所述步驟B的流程圖，如圖3所示，所述步驟B具體包括步驟BI :對所述圖像進(jìn)行合成。由于彩色濾光片處于運(yùn)動狀態(tài)，TDI CXD所捕捉原始圖像并不能反映完整的彩色濾光片，因此，需要首先對所述圖像進(jìn)行合成，以得到能夠反映完整的彩色濾光片的圖像，以便后續(xù)處理。B2:對合成后的圖像進(jìn)行灰階處理，獲取所述彩色濾光片上各個像素的灰階值。B3 :根據(jù)所述灰階值的變化情況，找到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)?；译A值代表了圖像中像素由最暗到最亮之間不同亮度的層次級別，當(dāng)圖像中包含標(biāo)記(即Mark)時，會在標(biāo)記與背景圖像的交界處出現(xiàn)灰階值跳變的現(xiàn)象。同理，在所述彩色濾光片的邊緣處，也會出現(xiàn)灰階值跳變的現(xiàn)象。這種灰階值跳變的現(xiàn)象對應(yīng)于一系列灰階變化的臨界點(diǎn)，而根據(jù)這些臨界點(diǎn)可以捕捉到所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣。C :根據(jù)所述臨界點(diǎn)捕捉到所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣。圖4是所述標(biāo)記在彩色濾光片上的位置示意圖,如圖4所示,本實(shí)施例中,所述標(biāo)記為四個，呈十字形，分別設(shè)置在所述彩色濾光片的四個拐角處。所述標(biāo)記可以用于后續(xù)建立所述彩色濾光片的坐標(biāo)系，考慮到建立坐標(biāo)系的需要，其數(shù)量還可以是3個、5個等等。圖5是所述標(biāo)記所對應(yīng)的臨界點(diǎn)示意圖；圖6是根據(jù)臨界點(diǎn)捕捉到的所述標(biāo)記的示意圖。如圖5和圖6所示，根據(jù)所述標(biāo)記所對應(yīng)的臨界點(diǎn)可以清晰地捕捉到所述彩色濾光片上的標(biāo)記，在獲得所述標(biāo)記的過程中，并未如傳統(tǒng)方法那樣用到顯微鏡，從而簡化了處理步驟，提高了檢測效率。圖7是根據(jù)臨界點(diǎn)捕捉到的所述彩色濾光片的邊緣示意圖，如圖7所示，基干與捕捉所述標(biāo)記相同的原理，可以捕捉得到所述彩色濾光片的邊緣。D :根據(jù)所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣確定所述彩色濾光片的坐標(biāo)系，根據(jù)所述坐標(biāo)系輸出缺陷坐標(biāo)。首先以所述標(biāo)記為例進(jìn)行說明，參見圖4，根據(jù)圖4中至少三個標(biāo)記，可以建立一個對應(yīng)所述彩色濾光片的直角坐標(biāo)系，并且確定坐標(biāo)原點(diǎn)。比如，將左下角標(biāo)記的中心記作點(diǎn)0,將左上角標(biāo)記的中心記作點(diǎn)Y,將右下角標(biāo)記的中心記作點(diǎn)X,則可建立ー個以0點(diǎn)為原點(diǎn)，以O(shè)、X所在直線為X軸，以O(shè)、Y所在直線為y軸的直角坐標(biāo)系，根據(jù)該直角坐標(biāo)系可以為所述彩色濾光片上每個點(diǎn)賦予ー個坐標(biāo)，從而可以根據(jù)該直角坐標(biāo)系輸出缺陷坐標(biāo)。當(dāng)根據(jù)所述彩色濾光片的邊緣確定所述彩色濾光片的坐標(biāo)系時，可以選擇兩個相互垂直的邊緣建立ー個與上述直角坐標(biāo)系相類似的直角坐標(biāo)系，比如，以左側(cè)邊緣和下側(cè)邊緣的交點(diǎn)為原點(diǎn)，以左側(cè)邊緣所在直線為y軸，以下側(cè)邊緣所在直線為X軸建立直角坐標(biāo)系，然后根據(jù)該直角坐標(biāo)系輸出缺陷坐標(biāo)。由于所述彩色濾光片的邊緣并不一定標(biāo)準(zhǔn)，所以依據(jù)所述標(biāo)記確定的直角坐標(biāo)系相比依據(jù)所述彩色濾光片的邊緣所確定的直角坐標(biāo)系具有更高的精度，所得到的缺陷坐標(biāo)也相應(yīng)地更加精確。
在得到所述缺陷坐標(biāo)后，可以采用修補(bǔ)設(shè)備根據(jù)所述缺陷坐標(biāo)對所述彩色濾光片進(jìn)行修補(bǔ)，以保證所述彩色濾光片的質(zhì)量可靠。本發(fā)明實(shí)施例所述彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法具有以下優(yōu)勢省略了顯微鏡讀取Mark的步驟，通過圖像處理建立坐標(biāo)系并輸出缺陷坐標(biāo)數(shù)據(jù)，既減少了設(shè)備的工作周期，提高了檢測效率，又提高了對缺陷坐標(biāo)的檢測精度；避免了由于顯微鏡或者顯微鏡的龍門架出現(xiàn)故障，而影響TDI CCD工作的情況，提高了檢測設(shè)備的穩(wěn)定性；由檢測設(shè)備輸出的缺陷坐標(biāo)更加精確，從而使下游的修補(bǔ)設(shè)備能夠更準(zhǔn)確地找出缺陷位置進(jìn)行修補(bǔ)，提升了產(chǎn)品質(zhì)量。以上實(shí)施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對本發(fā)明的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
權(quán)利要求
1.一種彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法，其特征在于，包括步驟 A :捕捉彩色濾光片的圖像； B :對所述圖像進(jìn)行處理，得到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)； C :根據(jù)所述臨界點(diǎn)捕捉到所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣； D :根據(jù)所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣確定所述彩色濾光片的坐標(biāo)系，根據(jù)所述坐標(biāo)系輸出缺陷坐標(biāo)。
2.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述步驟A中，通過時間延遲積分電荷耦合元件捕捉彩色濾光片的圖像。
3.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述步驟B具體包括步驟 BI :對所述圖像進(jìn)行合成； B2 :對合成后的圖像進(jìn)行灰階處理，獲取所述彩色濾光片上各個像素的灰階值； B3 :根據(jù)所述灰階值的變化情況，找到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)。
4.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述標(biāo)記為多個，呈十字形，分別設(shè)置在所述彩色濾光片的拐角處。
5.如權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，在所述步驟D之后還包括步驟E:修補(bǔ)設(shè)備根據(jù)所述缺陷坐標(biāo)對所述彩色濾光片進(jìn)行修補(bǔ)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種彩色濾光片上缺陷坐標(biāo)的檢測方法，涉及工業(yè)檢測領(lǐng)域。所述方法包括步驟捕捉彩色濾光片的圖像；對所述圖像進(jìn)行處理，得到所述彩色濾光片上灰階變化的臨界點(diǎn)；根據(jù)所述臨界點(diǎn)捕捉到所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣；根據(jù)所述彩色濾光片上的標(biāo)記或者所述彩色濾光片的邊緣確定所述彩色濾光片的坐標(biāo)系，根據(jù)所述坐標(biāo)系輸出缺陷坐標(biāo)。所述方法具有以下優(yōu)勢省略了顯微鏡讀取Mark的步驟，通過圖像處理建立坐標(biāo)系并輸出缺陷坐標(biāo)數(shù)據(jù)，既減少了設(shè)備的工作周期，提高了檢測效率，又提高了對缺陷坐標(biāo)的檢測精度。
文檔編號G01N21/88GK102854195SQ20121035721
公開日2013年1月2日 申請日期2012年9月21日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月21日
發(fā)明者張鐵軼, 余道平, 劉超強(qiáng), 張祥 申請人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司