大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于控制測量方法，具體涉及大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法。它包括：步驟一：計算；步驟二：鉚接裝配型架結(jié)構(gòu)優(yōu)化，在鉚接裝配型架平臺上增加定位壓緊附件，以保證在上架裝配前端框時，對接分離面處兩框段齊平，減少鉚接應(yīng)力影響，所述的定位壓緊的位置就是步驟一計算得到的位置；步驟三：設(shè)置裝配定位孔，在前端框象限缺口以及對接處各增加一個定位裝配定位孔；步驟四：測量；步驟五：檢驗。本發(fā)明顯著的有益效果是：以上技術(shù)有效的控制了一級尾段殼體圓度變形，成功的將圓度控制在了總裝使用要求的3.5mm范圍內(nèi)。數(shù)字化測量：通過現(xiàn)場測試驗證及后續(xù)研制產(chǎn)品使用，提高測量效率30％以上。測量誤差控制在±0.05mm以內(nèi)。
【專利說明】大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于控制測量方法，具體涉及大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]運載火箭鉚接殼段產(chǎn)品結(jié)構(gòu)較復(fù)雜剛度強度大，受鉚接應(yīng)力及殼體剛性應(yīng)力釋放的影響將直接導(dǎo)致殼體對接分離面處、前后端框各框段對接處產(chǎn)生誤差積累，發(fā)生變形。采用傳統(tǒng)的裝配工藝方案裝配經(jīng)常出現(xiàn)圓度超差現(xiàn)象，難以滿足運載火箭裝配要求。
[0003]此外，目前的圓度測量方式是利用機械百分表對大尺寸殼體的同軸度及圓度誤差進行測量。基本原理如附圖1所示:將產(chǎn)品吊放在旋轉(zhuǎn)測量臺上，轉(zhuǎn)動測量臺一周，用百分表測量各特征點的數(shù)據(jù)，采用人眼讀數(shù)、手工計算和人工錄入數(shù)據(jù)的方式進行進一步的計算，得到測試結(jié)果。對人的依賴性大，效率低下、測量結(jié)果可靠性及有效性差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法。
[0005]本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的:一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法，其特征在于:包括下述步驟:
[0006]步驟一:計算
[0007]步驟二:鉚接裝配型架結(jié)構(gòu)優(yōu)化
[0008]在鉚接裝配型架平臺上增加定位壓緊附件，以保證在上架裝配前端框時，對接分離面處兩框段齊平，減少鉚接應(yīng)力影響，所述的定位壓緊的位置就是步驟一計算得到的位置，
[0009]步驟三:設(shè)置裝配定位孔
[0010]在前端框象限缺口以及對接處各增加一個定位裝配定位孔，
[0011]步驟四:測量
[0012]步驟五:檢驗
[0013]根據(jù)步驟五得到的結(jié)果檢驗，當(dāng)同軸度不符合設(shè)計要求的時候，重新執(zhí)行步驟一至步驟六，直到同軸度滿足要求為止。
[0014]如上所述的一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法，其中，計算包括下述內(nèi)容:做拋物線圖定位圓度變形位置，首先對殼段圓度超差36點測量的具體數(shù)據(jù)做歸納匯總，利用EXCEL做出分析圖表，并結(jié)合前端框結(jié)構(gòu)及36點測量點的分布，找出殼體超差較大的特征點及位置規(guī)律，波峰處殼體表現(xiàn)為向內(nèi)凹陷，波谷處殼體表現(xiàn)向外凸出。
[0015]如上所述的一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法，其中，所述的步驟四包括下述內(nèi)容，使用下述裝置進行測量
[0016]
【權(quán)利要求】
1.一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法，其特征在于:包括下述步驟: 步驟一:計算 步驟二:鉚接裝配型架結(jié)構(gòu)優(yōu)化 在鉚接裝配型架平臺上增加定位壓緊附件，以保證在上架裝配前端框時，對接分離面處兩框段齊平，減少鉚接應(yīng)力影響，所述的定位壓緊的位置就是步驟一計算得到的位置， 步驟三:設(shè)置裝配定位孔 在前端框象限缺口以及對接處各增加一個定位裝配定位孔， 步驟四:測量 步驟五:檢驗 根據(jù)步驟五得到的結(jié)果檢驗，當(dāng)同軸度不符合設(shè)計要求的時候，重新執(zhí)行步驟一至步驟六，直到同軸 度滿足要求為止。
2.如權(quán)利要求1所述的一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法，其特征在于:計算包括下述內(nèi)容:做拋物線圖定位圓度變形位置，首先對殼段圓度超差36點測量的具體數(shù)據(jù)做歸納匯總，利用EXCEL做出分析圖表，并結(jié)合前端框結(jié)構(gòu)及36點測量點的分布，找出殼體超差較大的特征點及位置規(guī)律，波峰處殼體表現(xiàn)為向內(nèi)凹陷，波谷處殼體表現(xiàn)向外凸出。
3.如權(quán)利要求2所述的一種大直徑鉚接部段圓度控制及測量工藝方法，其特征在于:所述的步驟四包括下述內(nèi)容，使用下述裝置進行測量
【文檔編號】G01B5/20GK103712545SQ201210379799
【公開日】2014年4月9日 申請日期:2012年10月9日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月9日
【發(fā)明者】楊燁, 章茂云, 王學(xué)明, 劉琦 申請人:首都航天機械公司, 中國運載火箭技術(shù)研究院