專利名稱：光纖接口檢測塞規(guī)及檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光纖接口檢測裝置，特別涉及一種光纖接口檢測塞規(guī)及檢測方法。
背景技術(shù)：
光纖連接器是光纖與光纖之間進(jìn)行可拆卸/活動連接的器件，它通過將光纖的兩個端面精密對接起來，使發(fā)射光纖輸出的光能量能最大限度地耦合到接收光纖中去，同時使由于其介入光鏈路而對系統(tǒng)造成的影響減到最??；LC型光纖跳線是光纖連接器的一種，通過光纖接口將LC型光纖跳線連接SFP模塊的連接器，采用了操作方便的模塊化插孔(RJ)閂鎖機(jī)理制成，由于采用的插針和套筒尺寸較小，提高了光纖配線架中光纖連接器的密度，在單模SFF方面，LC類型的連接器實際已經(jīng)占據(jù)了主導(dǎo)地位，在多模方面的應(yīng)用也增長迅速。
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如果光纖接口出現(xiàn)尺寸超差，可能導(dǎo)致光纖跳線插入光模塊光纖接口時出現(xiàn)插拔困難的問題，該問題在現(xiàn)有的諸多產(chǎn)品中屢屢出現(xiàn)，直接影響光纖連接器的光傳輸系統(tǒng)可靠性和各項性能。判斷光纖接口是否合格，是通過光纖跳線插入和拔出模塊光纖接口的最大力是否超標(biāo)，按MSA標(biāo)準(zhǔn)該力為FS 19. 6N,目前檢測方法是直接使用光纖跳線插拔模塊對應(yīng)接口，如果插拔順暢，就判定為合格，否則為不合格。光纖跳線直接檢驗的弊端在于
I、光纖跳線本身具有公差，同一個模塊上用不同的供應(yīng)商提供的跳線檢測時往往出現(xiàn)一個插拔順暢，一個插拔困難的現(xiàn)象，使檢驗必須返回到接口尺寸的測量上來，而該尺寸由于公差較小(±0. 05)，再加上儀器和人為因素，測量結(jié)果精度不高且效率極為低下。2、光纖跳線作為直接檢驗工具經(jīng)過頻繁插拔，容易出現(xiàn)磨損，斷裂等問題，以致影響檢驗準(zhǔn)確性。3、從功能上而言，光纖跳線尺寸只適用于裝配，不具備檢驗功能；而自制塞規(guī)為控制對應(yīng)接口尺寸，須做到極限偏差，以保證通過檢測的模塊適用于任何光纖跳線。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的使用光纖跳線對光纖接口進(jìn)行插拔來檢測結(jié)果精度不高、效率較低的上述不足，提供一種光纖接口檢測塞規(guī)以及用于光纖接口檢測塞規(guī)的檢測方法。為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案
一種光纖接口檢測塞規(guī)，包括手柄，以及連接于手柄上的并與待檢測光模塊的光纖接口相適配的檢測頭，檢測頭內(nèi)設(shè)有與待檢測光模塊內(nèi)的光器件接口相對應(yīng)的光纖頭安裝孔，所述手柄和檢測頭為導(dǎo)磁材料，所述檢測頭與手柄之間通過至少一個磁鐵配合連接，且使得磁鐵在所述手柄和所述檢測頭之間產(chǎn)生的磁力小于等于19. 6N。檢測頭外形與待檢測光模塊光纖接口為相同形狀結(jié)構(gòu)，以便能相互配合進(jìn)行檢測；光纖頭伸出檢測頭的一端是用于檢測光器件在模塊結(jié)構(gòu)中的同軸度，以判斷是否安裝到位。如同軸度不滿足要求，光纖頭將很難甚至無法插入光器件接口。通過磁鐵來實現(xiàn)手柄和檢測頭的連接，相比螺釘連接裝配更快速、便捷。根據(jù)MSA標(biāo)準(zhǔn)，并通過實際設(shè)計計算和實驗保證手柄端與磁鐵的磁力F = 19. 6N,最大允許插拔力19. 6N為時最佳檢測磁力,但不局限于嚴(yán)格意義上的19. 6N，實際該塞規(guī)在誤差范圍內(nèi)可取較佳值為18-20N之間的中某
一數(shù)值。優(yōu)選地，所述檢測頭與手柄相連接端分別為檢測頭連接端和手柄配合端；所述檢測頭連接端與磁鐵相互過盈配合，所述手柄配合端與磁鐵相互間隙配合，或所述檢測頭連接端與磁鐵相互間隙配合，所述手柄配合端與磁鐵相互過盈配合。檢測頭連接端與磁鐵通過過盈配合，是為了使檢測頭與磁鐵能連接成一體，防止磁鐵在該塞規(guī)拔出時丟失；而手柄配合端與磁鐵通過間隙配合，是為了磁鐵來實現(xiàn)磁力控制拔出力，同時方便裝配。
優(yōu)選地，所述檢測頭內(nèi)設(shè)有可安裝光纖頭的卡箍。通過在檢測頭內(nèi)部設(shè)卡箍與光纖頭一端相互連接，在拆卸和更換光纖頭時更為方便。優(yōu)選地，所述卡箍表面設(shè)有開口槽。優(yōu)選地，所述卡箍上開口槽為單邊貫通式開口槽。采用線切割在卡箍上加工單邊貫通式開口槽，使卡箍具有彈性，從而實現(xiàn)卡箍與光纖頭的“彈性緊配合”，相比沒有該開口槽的卡箍與光纖頭之間的緊配合而言，除了能保證光纖頭與卡箍可靠連接的同時還有很好的可拆卸性，方便光纖頭損壞后的更換，還降低了卡箍的加工難度。優(yōu)選地，所述檢測頭表面設(shè)有插入深度標(biāo)尺。在檢測頭表面設(shè)插入深度標(biāo)尺，可以為判斷檢測頭是否插入光纖接口到位，提供了快速直觀的參照。優(yōu)選地，所述手柄成柱形狀，表面設(shè)有防滑槽，且手柄兩端部截面尺寸大于手柄中部截面尺寸。手柄表面設(shè)有防滑槽，增大了拔出時的手持摩擦力，更為省力；手柄兩端截面積大于中部截面積，手柄末端能擋住在拔出時手產(chǎn)生的滑動，拔出更為容易。優(yōu)選地，所述手柄配合端設(shè)有至少一個拆卸讓位槽。手柄配合端設(shè)有的至少一個拆卸讓位槽，是為了光纖頭損壞后，手指可以通過拆卸讓位槽來克服磁力，從而方便地將手柄和檢測頭分離開，進(jìn)行光纖頭的更換。優(yōu)選地，所述手柄和檢測頭為模具鋼。檢測頭和手柄都采用的模具鋼，具有良好的磁導(dǎo)性，能更好的被磁鐵所吸附，并且模具鋼有足夠的硬度和耐磨性，可以保證長時間使用而不降低其檢測精度。優(yōu)選地，所述光纖接口為LC、SC、FC、ST等插拔型光纖接口。對于不同的光模塊光纖接口，諸如LC、SC、FC、ST型光纖接口，只需修改檢測頭的外形尺寸，與其相應(yīng)的光模塊光纖接口相匹配后，就可以用光模塊檢測塞規(guī)進(jìn)行檢測了。一種光纖接口檢測塞規(guī)的檢測方法，包括以下步驟
步驟一、將光纖接口檢測塞規(guī)上的所述檢測頭插入被檢測光模塊光纖接口 ；
步驟二、通過檢測頭表面所述深度標(biāo)尺判斷檢測頭的插入深度，并將檢測頭插入到位；
步驟三、將所述手柄朝檢測頭插入的相反方向外拔，若手柄和檢測頭一起拔出，則光模塊光纖接口尺寸超差合格；若手柄和檢測頭出現(xiàn)分離，即手柄拔出而檢測頭未被拔出，則可判定光模塊光纖接口尺寸超差不合格。在上述步驟二中，檢測頭插入光模塊光纖接口深度隨光模塊類型而改變，即同種光模塊插入深度相同，不同光模塊插入深度不完全一樣。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果
本發(fā)明根據(jù)MSA標(biāo)準(zhǔn)，通過設(shè)計磁鐵產(chǎn)生的磁力(最佳設(shè)計磁力為19. 6N)，來檢測光纖接口檢測塞規(guī)在拔出光纖接口時手柄和檢測頭是否分離，實現(xiàn)判斷光纖接口是否存在加工尺寸超差，即若光纖接口檢測塞規(guī)拔出時檢測頭與手柄一起，光纖接口尺寸合格，若光纖接口檢測塞規(guī)拔出時檢測頭與手柄，則光纖接口尺寸存在超差，該裝置拆裝簡便快捷、檢測快速有效；檢測頭深度標(biāo)尺的設(shè)計，判斷檢測頭插入光纖接口直觀準(zhǔn)確；手柄表面的防滑槽 和端部的大于中部的尺寸，使用更加簡單、輕松；只需要改變檢測頭的外形與待檢測光模塊光纖接口相匹配，就能適應(yīng)多種光纖接口的檢測工作。


圖I為本發(fā)明所述光纖接口檢測塞規(guī)示意圖。圖2為本發(fā)明所述光纖接口檢測塞規(guī)結(jié)構(gòu)分解示意圖。圖3為本發(fā)明所述手柄、檢測頭與磁鐵的配合分解示意圖。圖4為本發(fā)明所述光纖頭和卡箍配合分解示意圖。圖5為本發(fā)明所述光纖接口檢測塞規(guī)縱剖面圖。圖6為所述檢測頭和光模塊配合局部結(jié)構(gòu)放大示意圖。圖7為本發(fā)明所述光纖接口檢測塞規(guī)與光模塊配合示意 圖8為圖7中的局部結(jié)構(gòu)放大示意圖。圖中標(biāo)記
01、光模塊,02、光器件,1、手柄,2、檢測頭，3、光纖頭,4、卡箍,5、磁鐵,6、檢測頭連接端，7、手柄配合端，8、拆卸讓位槽，9、深度標(biāo)尺，10、開口槽，11、緊定螺栓。
具體實施例方式下面結(jié)合試驗例及具體實施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實施例，凡基于本發(fā)明內(nèi)容所實現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。如圖1-8所示，一種光纖接口檢測塞規(guī)，包括手柄I和連接在手柄I上的檢測頭2，檢測頭2外形與待檢測光模塊01光纖接口為相同形狀結(jié)構(gòu)，以便能相互配合進(jìn)行檢測，檢測頭2內(nèi)部中空并設(shè)有光纖頭3和卡箍4 ;光纖頭3 —端與卡箍4相互連接，緊定螺栓11再通過檢測頭2和卡箍4上的螺紋孔將檢測頭2和卡箍4相互固定；光纖頭3另一端伸出檢測頭2且能與待檢測光模塊01內(nèi)的光器件02接口配合，光纖頭3伸出檢測頭2 —端是為了檢測光器件02在光模塊01內(nèi)的同軸度，以判斷光器件02是否安裝到位，如同軸度不滿足要求，光纖頭3將很難甚至無法插入光器件02接口 ；手柄I和檢測頭2為導(dǎo)磁材料，檢測頭2端部的檢測頭連接端6與手柄I端部的手柄配合端7通過至少一個磁鐵5相互配合連接，且使得磁鐵5在手柄I和檢測頭2之間產(chǎn)生的磁力小于等于19. 6N。其中手柄I和檢測頭2為S136模具鋼，具有良好的導(dǎo)磁性，能更好的被磁鐵5所吸附，另一方面還具有較高的硬度和耐磨性，可以保證手柄I和檢測頭2長時間使用而不降低其檢測精度。如圖3所示，本發(fā)明中檢測頭連接端6與磁鐵5采用過盈配合，手柄配合端7與磁鐵5采用間隙配合。原因在于檢測頭連接端6與磁鐵5通過過盈配合，能使檢測頭2與磁鐵5連接成一體，防止磁鐵5在該塞規(guī)拔出時丟失；而手柄配合端7與磁鐵5通過間隙配合，是為了磁鐵5來實現(xiàn)磁力控制拔出力，通過磁鐵來實現(xiàn)手柄I和檢測頭2的連接，相比螺釘連接裝配更快速、便捷。根據(jù)MSA標(biāo)準(zhǔn)，并通過實際設(shè)計計算和實驗保證檢測頭連接端6、手柄配合端7與磁鐵5的磁力F = 19. 6N時為最佳檢測磁力，但不局限于19. 6N,經(jīng)實驗表明可取18-20N之間的較佳范圍數(shù)值。如圖4所示，卡箍4表面設(shè)有開口槽10，進(jìn)一步的采用線切割在卡箍4上加工單邊·貫通式開口槽10，卡箍4會具有彈性，從而實現(xiàn)卡箍4與光纖頭3的“彈性緊配合”，相比沒有該開口槽10的卡箍4與光纖頭3之間的緊配合而言，除了能保證光纖頭3與卡箍4可靠連接的同時還有很好的可拆卸性外，方便光纖頭3損壞后的更換，還降低了卡箍4的加工難度。為了更好的使用本發(fā)明所述光纖頭檢測塞規(guī)，在檢測頭2表面還設(shè)有插入深度標(biāo)尺9，如圖8所示，該深度標(biāo)尺9可以為判斷檢測頭2是否插入光模塊01光纖接口到位，提供了快速直觀的參照，如圖6所示。手柄I做成柱形狀，且表面設(shè)有防滑槽，增大了拔出時的手持摩擦力，更為省力；手柄I兩端截面積大于中部截面積，手柄I末端能擋住在拔出時手產(chǎn)生的滑動，拔出更為容易。在手柄配合端7還設(shè)有至少一個拆卸讓位槽8，本實施例的手柄配合端設(shè)有兩個拆卸讓位槽8，在該塞規(guī)使用過程中若出現(xiàn)光纖頭3損壞，手指可以通過拆卸讓位槽8來克服磁力，從而方便地將手柄I和檢測頭2分離開，進(jìn)行光纖頭3的更換。需要說明的是，光模塊01光纖接口可以為LC、SC、FC、ST等插拔型光纖接口。對于不同的光模塊01光纖接口，只需修改檢測頭2的外形尺寸，與其相應(yīng)的光模塊01光纖接口相匹配后，就可以用光纖接口檢測塞規(guī)進(jìn)行檢測了。圖7、8為本發(fā)明所述光纖接口檢測塞規(guī)與光模塊01配合檢測的示意圖，使用該光纖接口檢測塞規(guī)的檢測方法，包括以下步驟
步驟一、將光纖接口檢測塞規(guī)上的檢測頭2插入被檢測光模塊01光纖接口 ；
步驟二、通過檢測頭2表面所述深度標(biāo)尺9判斷檢測頭2的插入深度，并將檢測頭2插入到位；
步驟三、將手柄I朝檢測頭插入的相反方向外拔，若手柄I和檢測頭2 —起拔出，則光豐旲塊01光纖接口尺寸合格；右手柄I和檢測頭2出現(xiàn)分尚，即手柄I拔出而檢測頭2未被拔出，則可判定光模塊01光纖接口尺寸超差不合格。其中，在上述步驟二中，檢測頭2插入光模塊01光纖接口深度隨光模塊01類型而改變，即同種光模塊01插入深度相同，不同光模塊01插入深度不完全一樣。
權(quán)利要求
1.一種光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，包括手柄(I)，以及連接于手柄(I)上的并與待檢測光模塊(Ol)的光纖接口相適配的檢測頭(2)，所述檢測頭(2)內(nèi)設(shè)有與待檢測光模塊(01)內(nèi)的光器件(02)接口相對應(yīng)的光纖頭(3)安裝孔，所述手柄(I)和檢測頭(2)為導(dǎo)磁材料，所述檢測頭(2)與手柄(I)之間通過至少一個磁鐵(5)配合連接，且使得磁鐵(5)在所述手柄(I)和所述檢測頭(2)之間產(chǎn)生的磁力小于或等于19. 6N。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述檢測頭(2)與手柄(I)相連接端分別為檢測頭連接端(6)和手柄配合端(7);所述檢測頭連接端(6)與磁鐵(5)相互過盈配合，所述手柄配合端(7)與磁鐵(5)相互間隙配合，或所述檢測頭連接端(6)與磁鐵(5)相互間隙配合，所述手柄配合端(7)與磁鐵(5)相互過盈配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述檢測頭(2)內(nèi)設(shè)有可安裝光纖頭⑶的卡箍⑷。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述卡箍(4)表面設(shè)有開口槽(10)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述卡箍(4)上開口槽(10)為單邊貫通式開口槽。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述檢測頭(2)表面設(shè)有插入深度標(biāo)尺(9)。
7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述手柄(I)成柱形狀，且表面設(shè)有防滑槽。
8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述手柄配合端(7)設(shè)有至少一個拆卸讓位槽(8)。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的LC光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述手柄(I)和檢測頭(2)為模具鋼。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任一所述的光纖接口檢測塞規(guī)，其特征在于，所述光纖接口為LC、SC、FC、ST等插拔型光纖接口。
11.一種光纖接口檢測塞規(guī)的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟 步驟一、將光纖接口檢測塞規(guī)上的所述檢測頭(2)插入被檢測光模塊(01)光纖接口 ； 步驟二、通過檢測頭⑵表面所述深度標(biāo)尺(9)判斷檢測頭(2)的插入深度，并將檢測頭⑵插入到位； 步驟三、將所述手柄⑴朝檢測頭⑵插入的相反方向外拔，若手柄⑴和檢測頭(2)一起拔出，則光模塊(01)光纖接口尺寸超差合格；若手柄(I)和檢測頭(2)出現(xiàn)分離，即手柄(I)拔出而檢測頭(2)未被拔出，則可判定光模塊(01)光纖接口尺寸超差不合格。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光纖接口檢測塞規(guī)，包括手柄，以及連接于手柄上的并與待檢測光模塊的光纖接口相適配的檢測頭，檢測頭能與待檢測光模塊光纖接口相互配合，檢測頭內(nèi)部中空并設(shè)有光纖頭和卡箍；光纖頭一端與卡箍相互連接，光纖頭另一端伸出檢測頭且與待檢測光模塊內(nèi)的光器件配合；手柄和檢測頭為導(dǎo)磁材料，檢測頭與手柄之間通過至少一個磁鐵配合連接，且使得磁鐵在所述手柄和所述檢測頭之間產(chǎn)生的磁力小于或等于19.6N；檢測時，只需從光模塊光纖接口拔出塞規(guī)，通過手柄和檢測頭分離與否來判斷光纖接口是否存在加工尺寸超差。本發(fā)明所述光纖接口檢測塞規(guī)，拆裝簡便快捷、檢測快速有效，能適應(yīng)多種光模塊光纖接口類型的檢測工作。
文檔編號G01B5/18GK102889847SQ20121042977
公開日2013年1月23日 申請日期2012年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月31日
發(fā)明者張紹友, 王自力, 王洪賓 申請人:索爾思光電(成都)有限公司