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      具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架的制作方法

      文檔序號(hào):5962334閱讀:231來源:國(guó)知局
      專利名稱:具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及電磁兼容試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架。
      背景技術(shù)
      電磁兼容,指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中其他事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。電磁兼容性(EMC)包括兩個(gè)方面的要求一方面指設(shè)備在正常運(yùn)行過程中對(duì)所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過一定的限值;另ー方面指器具對(duì)所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度,即電磁敏感性。國(guó)際電エ委員會(huì)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)IEC61000 - 4 - 3中規(guī)定了 16點(diǎn)場(chǎng)均勻性校驗(yàn)的要求在一定功率的電磁波入射條件下,在圖I所示的空間平面內(nèi)均勻分布的16個(gè)位置點(diǎn)中的12個(gè)位置點(diǎn)上,任意兩位置點(diǎn)采用場(chǎng)強(qiáng)探頭測(cè)得的場(chǎng)強(qiáng)差應(yīng)小于6分貝。如中國(guó)專利(申請(qǐng)公布號(hào)CN102608558A)所公開的輻射場(chǎng)均勻性校驗(yàn)定位裝置,其電場(chǎng)探頭可以在水平及垂直ニ維方向上變換位置,在初次測(cè)量時(shí)進(jìn)行輻射場(chǎng)均勻性校驗(yàn)關(guān)鍵位置點(diǎn)的標(biāo)定后,在后續(xù)的測(cè)試中通過對(duì)電場(chǎng)探頭在ニ維方向上進(jìn)行位置變動(dòng),完成輻射場(chǎng)均勻性校驗(yàn)其他多個(gè)位置點(diǎn)的定位操作。而且其說明書第70段和第73段是通過水平連桿的旋轉(zhuǎn)和水平連桿的軸向滑動(dòng)完成16個(gè)位置點(diǎn)的測(cè)試,但是這樣的方式在水平連桿的位置變換過程中可能會(huì)出現(xiàn)誤差,造成電場(chǎng)探頭的測(cè)試結(jié)果不夠精準(zhǔn),而且其測(cè)試形成的是ー個(gè)點(diǎn)或者一條線,既耗時(shí)間,同時(shí)也不能精確的達(dá)到測(cè)試中各個(gè)點(diǎn)位置之間的距離。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其測(cè)試架拆分成幾個(gè)部分,便于攜帶,組裝后形成ー個(gè)整體,形成是ー個(gè)面,測(cè)試過程中測(cè)試架不用再移動(dòng),能精確的完成測(cè)試要求,同時(shí)節(jié)省測(cè)試時(shí)間。為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其中,包括多個(gè)橫桿、多個(gè)連接桿、多個(gè)支撐桿、多個(gè)豎桿、多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)和多個(gè)豎向連接結(jié)構(gòu),豎直方向上支撐桿與豎桿通過豎向連接結(jié)構(gòu)連接,豎桿與豎桿通過豎向連接結(jié)構(gòu)連接,豎桿與支撐桿位于同一直線上;橫桿與橫桿通過橫向連接結(jié)構(gòu)連接,連接桿一端連接橫向連接結(jié)構(gòu),另一端連接豎向連接結(jié)構(gòu),連接桿與橫桿位于同一直線上;所述的連接桿垂直于豎桿,所述的多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)上均設(shè)有用于測(cè)量的場(chǎng)強(qiáng)探頭。進(jìn)ー步的,所述的橫向連接結(jié)構(gòu)包括橫向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ、橫向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ和橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ,所述的橫向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ與橫桿或連接桿連接,橫向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ與橫桿或連接桿連接;橫向連接結(jié)構(gòu)第三端口上設(shè)置場(chǎng)強(qiáng)探頭。通過橫向連接結(jié)構(gòu)的3個(gè)端ロ可將連接桿與橫桿穩(wěn)定可靠的連接為一整體。所述的豎向連接結(jié)構(gòu)包括豎向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ、豎向連接結(jié)構(gòu)第二端口和豎向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ,豎向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ連接支撐桿或豎桿,豎向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ連接連接桿,豎向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ連接豎桿或空置。通過豎向連接結(jié)構(gòu)的3個(gè)端ロ可將支撐桿、豎桿和連接桿穩(wěn)定可靠的連接為一整體。豎向連接結(jié)構(gòu)與橫向連接結(jié)構(gòu)配合,使得測(cè)試架形成一類似網(wǎng)狀的結(jié)構(gòu),測(cè)試過程中測(cè)試架不用再移動(dòng),能精確的完成測(cè)試要求,同時(shí)節(jié)省測(cè)試時(shí)間。進(jìn)ー步的,所述的場(chǎng)強(qiáng)探頭底部設(shè)有底座,底座插入橫向連接結(jié)構(gòu)第三端口中,場(chǎng)強(qiáng)探頭固定于橫向連接結(jié)構(gòu)上。所述的底座為圓柱形,底座直徑< 30mm?,F(xiàn)有的場(chǎng)強(qiáng)探頭底部大多有有一個(gè)圓柱形的底座或者沒有設(shè)置底座,橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ位置空心,場(chǎng)強(qiáng)探頭放進(jìn)去剛好能保持場(chǎng)強(qiáng)探頭處于水平狀態(tài),場(chǎng)強(qiáng)探頭的底座有大有小,但是直徑30mm能放置大部分型號(hào)的場(chǎng)強(qiáng)探頭,所以橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ位置空心的直徑30mm可以放置不同的場(chǎng)強(qiáng)探頭。進(jìn)ー步的,所述的支撐桿的個(gè)數(shù)為2個(gè),且豎直對(duì)稱設(shè)置于測(cè)試架兩端,其長(zhǎng)度為 800_。支撐桿可使得測(cè)試架整體穩(wěn)固的固定于地面上,其長(zhǎng)度尺寸適中,安裝拆卸方便。進(jìn)ー步的,所述的豎桿的個(gè)數(shù)為6個(gè),豎直對(duì)稱設(shè)置于測(cè)試架兩端,每端3個(gè),其長(zhǎng)度為500mm ;所述的豎向連接結(jié)構(gòu)個(gè)數(shù)為8個(gè)。所述的橫向連接結(jié)構(gòu)每排上設(shè)有4個(gè),測(cè)試架設(shè)有并列平行的4排,共16個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu);所述的橫桿長(zhǎng)度為500mm。具體的,16個(gè)測(cè)試點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)試點(diǎn),16個(gè)點(diǎn)校準(zhǔn)完成后,對(duì)這16個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,在這16個(gè)點(diǎn)中有75% (即12個(gè)點(diǎn))的讀數(shù)在0dB-+6dB的容差范圍內(nèi),則證明這個(gè)場(chǎng)是均勻的,即符合測(cè)試要求,在頻率范圍小于IGHZ的情況下,該裝置能滿足16個(gè)點(diǎn)或者小于16個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)要求,對(duì)于頻率范圍大于1GHZ,它采用的是是獨(dú)立窗ロ法校準(zhǔn)方式,就是4個(gè)點(diǎn)的容差在0dB-+6dB范圍內(nèi),這4個(gè)點(diǎn)形成的區(qū)域稱為窗ロ,16個(gè)點(diǎn)形成9個(gè)窗ロ,對(duì)產(chǎn)品能覆蓋的窗ロ都要校準(zhǔn),該裝置也能滿足這個(gè)校準(zhǔn)要求。進(jìn)ー步的,所述的連接桿長(zhǎng)度為100mm。長(zhǎng)度為IOOmm方便連接,為了保證所校準(zhǔn)的均勻域與測(cè)試產(chǎn)品的測(cè)試面一致,所以用相同的長(zhǎng)度最好,同時(shí)在保證能正常完成校準(zhǔn)的情況下讓測(cè)試架體積最小,所以采用了 100mm。進(jìn)ー步的,所述的橫向連接結(jié)構(gòu)和豎向連接結(jié)構(gòu)的端ロ均設(shè)有內(nèi)螺紋,所述的橫桿、連接桿、支撐桿、豎桿的端部均設(shè)有外螺紋,連接結(jié)構(gòu)與桿通過螺紋固定連接。螺紋連接的方式簡(jiǎn)單方便,測(cè)試架可拆分成幾個(gè)部分,便于攜帶,組裝后形成ー個(gè)整體。安裝好測(cè)試架,將場(chǎng)強(qiáng)探頭放在測(cè)試架上各個(gè)點(diǎn)上逐一測(cè)試,直到16個(gè)點(diǎn)測(cè)試完成,安裝好后的測(cè)試架一次性將要測(cè)試的16個(gè)點(diǎn)都固定,這樣就可以很精確的達(dá)到測(cè)試的要求,不會(huì)因?yàn)橐苿?dòng)測(cè)試架和測(cè)量誤差導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)誤差偏大。與現(xiàn)有技術(shù)相比,有益效果是本發(fā)明橫桿與橫桿通過橫向連接結(jié)構(gòu)連接,連接桿一端連接橫向連接結(jié)構(gòu),另一端連接豎向連接結(jié)構(gòu),連接桿與橫桿位于同一直線上;所述的連接桿垂直于豎桿,所述的多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)上均設(shè)有用于測(cè)量的場(chǎng)強(qiáng)探頭。其形成ー個(gè)整體,形成是ー個(gè)面,測(cè)試過程中測(cè)試架不用再移動(dòng),能精確的完成測(cè)試要求,同時(shí)節(jié)省測(cè)試時(shí)間。


      圖I是ICE61000 - 4 - 3定義的場(chǎng)均勻區(qū)域示意 圖2是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意 圖3是本發(fā)明的豎向連接結(jié)構(gòu)示意 圖4是本發(fā)明的橫向連接結(jié)構(gòu)示意圖;圖5是本發(fā)明的整體測(cè)試區(qū)域示意圖。
      具體實(shí)施例方式如圖2 — 4所示,具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其中,包括多個(gè)橫桿I、多個(gè)連接桿2、多個(gè)支撐桿3、多個(gè)豎桿4、多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)5和多個(gè)豎向連接結(jié)構(gòu)6,豎直方向上支撐桿3與豎桿4通過豎向連接結(jié)構(gòu)6連接,豎桿4與豎桿4通過豎向連接結(jié)構(gòu)6連接,豎桿4與支撐桿3位于同一直線上;橫桿I與橫桿I通過橫向連接結(jié)構(gòu)5連接,連接桿2 —端連接橫向連接結(jié)構(gòu)5,另一端連接豎向連接結(jié)構(gòu)6,連接桿2與橫桿I位于同一直線上;所述的連接桿2垂直于豎桿4,所述的多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)5上均設(shè)有用于測(cè)量的場(chǎng)強(qiáng)探頭。進(jìn)ー步的,所述的橫向連接結(jié)構(gòu)5包括橫向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ 51、橫向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ 52和橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ 53,所述的橫向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ 51與橫桿I或連接桿2連接,橫向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ 52與橫桿I或連接桿2連接;橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ53上設(shè)置場(chǎng)強(qiáng)探頭。所述的豎向連接結(jié)構(gòu)6包括豎向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ 61、豎向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ 62和豎向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ 63,豎向連接結(jié)構(gòu)第一端ロ 61連接支撐桿3或豎桿4,豎向連接結(jié)構(gòu)第二端ロ 62連接連接桿2,豎向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ 63連接豎桿4或空置。豎向連接結(jié)構(gòu)6與橫向連接結(jié)構(gòu)5配合,使得測(cè)試架形成一類似網(wǎng)狀的結(jié)構(gòu),測(cè)試過程中測(cè)試架不用再移動(dòng),能精確的完成測(cè)試要求,同時(shí)節(jié)省測(cè)試時(shí)間。進(jìn)ー步的,所述的場(chǎng)強(qiáng)探頭底部設(shè)有底座,底座插入橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ 53中,場(chǎng)強(qiáng)探頭固定于橫向連接結(jié)構(gòu)5上。所述的底座為圓柱形,底座直徑< 30mm。橫向連接 結(jié)構(gòu)第三端ロ 53位置空心,場(chǎng)強(qiáng)探頭放進(jìn)去剛好能保持場(chǎng)強(qiáng)探頭處于水平狀態(tài),場(chǎng)強(qiáng)探頭的底座有大有小,但是直徑30_能放置大部分型號(hào)的場(chǎng)強(qiáng)探頭,所以橫向連接結(jié)構(gòu)第三端ロ位置空心的直徑30_可以放置不同的場(chǎng)強(qiáng)探頭。進(jìn)ー步的,所述的支撐桿3的個(gè)數(shù)為2個(gè),且豎直對(duì)稱設(shè)置于測(cè)試架兩端,其長(zhǎng)度為800mm。支撐桿3可使得測(cè)試架整體穩(wěn)固的固定于地面上,其長(zhǎng)度尺寸適中,安裝拆卸方便。進(jìn)ー步的,所述的豎桿4的個(gè)數(shù)為6個(gè),豎直對(duì)稱設(shè)置于測(cè)試架兩端,每端3個(gè),其長(zhǎng)度為500mm ;所述的豎向連接結(jié)構(gòu)6個(gè)數(shù)為8個(gè)。所述的橫向連接結(jié)構(gòu)5每排上設(shè)有4個(gè),測(cè)試架設(shè)有并列平行的4排,共16個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)5 ;所述的橫桿I長(zhǎng)度為500mm。所述的連接桿長(zhǎng)度為100mm。長(zhǎng)度為IOOmm方便連接,為了保證所校準(zhǔn)的均勻域與測(cè)試產(chǎn)品的測(cè)試面一致,所以用相同的長(zhǎng)度最好,同時(shí)在保證能正常完成校準(zhǔn)的情況下讓測(cè)試架體積最小,所以采用了 100mm。所述的橫向連接結(jié)構(gòu)5和豎向連接結(jié)構(gòu)6的端ロ均設(shè)有內(nèi)螺紋,所述的橫桿I、連接桿2、支撐桿3、豎桿4的端部均設(shè)有外螺紋,連接結(jié)構(gòu)與桿通過螺紋固定連接。螺紋連接的方式簡(jiǎn)單方便,測(cè)試架可拆分成幾個(gè)部分,便于攜帶,組裝后形成ー個(gè)整體。如圖5所示,a表示場(chǎng)發(fā)射天線,b表示吸波材料,用于半電波暗室中減少地面反射,c表示光纖或經(jīng)濾波的信號(hào)連接線,d表示本具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,測(cè)試架與光纖或經(jīng)濾波的信號(hào)連接線連接,測(cè)試架與場(chǎng)發(fā)射天線的距離為3m,測(cè)試架形成的均勻域底面距離地面0. 8m。安裝好測(cè)試架,將場(chǎng)強(qiáng)探頭放在測(cè)試架上各個(gè)點(diǎn)上逐一測(cè)試,直到16個(gè)點(diǎn)測(cè)試完成,安裝好后的測(cè)試架一次性將要測(cè)試的16個(gè)點(diǎn)都固定,這樣就可以很精確的達(dá)到測(cè)試的要求,不會(huì)因?yàn)橐苿?dòng)測(cè)試架和測(cè)量誤差導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)誤差偏大。保證了 16個(gè)點(diǎn)之間的距離符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,對(duì)發(fā)明 的技術(shù)方案可以做若干適合實(shí)際情況的改迸。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍不限于此,本領(lǐng)域中的技術(shù)人員任何基于本發(fā)明技術(shù)方案上非實(shí)質(zhì)性變更均包括在本發(fā)明保護(hù)范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于,包括多個(gè)橫桿(I)、多個(gè)連接桿(2)、多個(gè)支撐桿(3)、多個(gè)豎桿(4)、多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)(5)和多個(gè)豎向連接結(jié)構(gòu)(6),豎直方向上支撐桿(3)與豎桿(4)通過豎向連接結(jié)構(gòu)(6)連接,豎桿(4)與豎桿(4)通過豎向連接結(jié)構(gòu)(6)連接,豎桿(4)與支撐桿(3)位于同一直線上;橫桿(I)與橫桿(I)通過橫向連接結(jié)構(gòu)(5 )連接,連接桿(2 ) 一端連接橫向連接結(jié)構(gòu)(5 ),另一端連接豎向連接結(jié)構(gòu)(6 ),連接桿(2 )與橫桿(I)位于同一直線上;所述的連接桿(2)垂直于豎桿(4),所述的多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)(5)上均設(shè)有用于測(cè)量的場(chǎng)強(qiáng)探頭。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的橫向連接結(jié)構(gòu)(5)包括橫向連接結(jié)構(gòu)第一端口(51 )、橫向連接結(jié)構(gòu)第二端口(52)和橫向連接結(jié)構(gòu)第三端口( 53 ),所述的橫向連接結(jié)構(gòu)第一端口( 51)與橫桿(I)或連接桿(2 )連接,橫向連接結(jié)構(gòu)第二端口( 52)與橫桿(I)或連接桿(2)連接;橫向連接結(jié)構(gòu)第三端口( 53)上設(shè)置場(chǎng)強(qiáng)探頭。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的場(chǎng)強(qiáng)探頭底部設(shè)有底座,底座插入橫向連接結(jié)構(gòu)第三端口( 53)中,場(chǎng)強(qiáng)探頭固定于橫向連接結(jié)構(gòu)(5)上。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的底座為圓柱形,底座直徑≤ 30mm。
      5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的豎向連接結(jié)構(gòu)(6)包括豎向連接結(jié)構(gòu)第一端口(61)、豎向連接結(jié)構(gòu)第二端口(62)和豎向連接結(jié)構(gòu)第三端口( 63 ),豎向連接結(jié)構(gòu)第一端口( 61)連接支撐桿(3 )或豎桿(4),豎向連接結(jié)構(gòu)第二端口( 62 )連接連接桿(2 ),豎向連接結(jié)構(gòu)第三端口( 63 )連接豎桿(4)或空置。
      6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的支撐桿(3)的個(gè)數(shù)為2個(gè),且豎直對(duì)稱設(shè)置于測(cè)試架兩端,其長(zhǎng)度為800mm。
      7.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的豎桿(4)的個(gè)數(shù)為6個(gè),豎直對(duì)稱設(shè)置于測(cè)試架兩端,每端3個(gè),其長(zhǎng)度為500_ ;所述的豎向連接結(jié)構(gòu)(6)個(gè)數(shù)為8個(gè)。
      8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的橫向連接結(jié)構(gòu)(5)每排上設(shè)有4個(gè),測(cè)試架設(shè)有并列平行的4排,共16個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)(5);所述的橫桿(I)長(zhǎng)度為500mm。
      9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的連接桿(2)長(zhǎng)度為100mm。
      10.根據(jù)權(quán)利要求I一 9任一所述的具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其特征在于所述的橫向連接結(jié)構(gòu)(5)和豎向連接結(jié)構(gòu)(6)的端口均設(shè)有內(nèi)螺紋,所述的橫桿(I)、連接桿(2)、支撐桿(3)、豎桿(4)的端部均設(shè)有外螺紋,連接結(jié)構(gòu)與桿通過螺紋固定連接。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及電磁兼容試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架。具有場(chǎng)均勻性功能的測(cè)試架,其中,多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)和多個(gè)豎向連接結(jié)構(gòu),豎直方向上支撐桿與豎桿通過豎向連接結(jié)構(gòu)連接,豎桿與豎桿通過豎向連接結(jié)構(gòu)連接,豎桿與支撐桿位于同一直線上;橫桿與橫桿通過橫向連接結(jié)構(gòu)連接,連接桿一端連接橫向連接結(jié)構(gòu),另一端連接豎向連接結(jié)構(gòu),連接桿與橫桿位于同一直線上;所述的連接桿垂直于豎桿,所述的多個(gè)橫向連接結(jié)構(gòu)上均設(shè)有用于測(cè)量的場(chǎng)強(qiáng)探頭。其測(cè)試架拆分成幾個(gè)部分,便于攜帶,組裝后形成一個(gè)整體,形成是一個(gè)面,測(cè)試過程中測(cè)試架不用再移動(dòng),能精確的完成測(cè)試要求,同時(shí)節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
      文檔編號(hào)G01R1/04GK102955049SQ20121045601
      公開日2013年3月6日 申請(qǐng)日期2012年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月14日
      發(fā)明者練添生, 代勇, 吳煜民 申請(qǐng)人:廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司
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