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      電壓檢測(cè)裝置及方法

      文檔序號(hào):5834842閱讀:191來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:電壓檢測(cè)裝置及方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及電壓檢測(cè),特別涉及一種用于電壓檢測(cè)的裝置及方法。
      背景技術(shù)
      關(guān)于電壓檢測(cè),傳統(tǒng)的做法是使用如圖I所示的一種裝置,包括端子I、端子2、分壓電阻R101、分壓電阻R102、集成于MCU (微控制器)的檢測(cè)器件(例如選擇AD采樣模塊作為所述檢測(cè)器件),檢測(cè)器件具有檢測(cè)端子3。端子I以及端子2可以與待測(cè)電壓源VDD的兩端相連,待測(cè)電壓源VDD對(duì)檢測(cè)器件供電。從圖I可知,端子I并入電壓源VDD、端子2則接地。分壓電阻RlOl與分壓電阻R102則串接在端子I和端子2之間檢測(cè)器件的檢測(cè)端子3接入分壓電阻RlOl與分壓電阻R102的連接節(jié)點(diǎn)4,檢測(cè)連接節(jié)點(diǎn)4處的分壓值。傳統(tǒng)檢測(cè)方法條件根據(jù)檢測(cè)器件在連接節(jié)點(diǎn)4獲取的分壓值、分壓電阻RlOl與分壓電阻R102的阻值,經(jīng)近似計(jì)算得到電壓源VDD的電壓數(shù)據(jù);具體可用以下計(jì)算式實(shí)現(xiàn)

      權(quán)利要求
      1.一種電壓檢測(cè)裝置,包括分別與待測(cè)電壓源兩端相連第一端子、第二端子、串聯(lián)在第一端子與第二端子之間的第一分壓電阻和第二分壓電阻以及獲取第一分壓電阻和第二分壓電阻的連接節(jié)點(diǎn)上分壓值的檢測(cè)器件,其特征在于,還包括 基準(zhǔn)電壓源,在待測(cè)電壓源暫停工作時(shí),通過(guò)所述第一端子對(duì)檢測(cè)器件供電;第一運(yùn)算單元,用于當(dāng)基準(zhǔn)電壓源工作時(shí),根據(jù)檢測(cè)器件獲取的第一分壓值、第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值,得到檢測(cè)器件的內(nèi)阻值; 第二運(yùn)算單元,用于當(dāng)待測(cè)電壓源工作時(shí),根據(jù)檢測(cè)器件獲取的第二分壓值、所述內(nèi)阻值及第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值,得到待測(cè)電壓源的電壓值。
      2.如權(quán)利要求I所述的電壓檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一分壓電阻及第二分壓電阻的阻值之和大于檢測(cè)器件的內(nèi)阻值。
      3.如權(quán)利要求I所述的電壓檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一運(yùn)算單元用于實(shí)現(xiàn)如下計(jì)算式
      4.如權(quán)利要求I所述的電壓檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第二運(yùn)算單元用于實(shí)現(xiàn)如下計(jì)算式 其中,VDD為待測(cè)電壓源的電壓值
      5.如權(quán)利要求Γ4任一項(xiàng)所述的電壓檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值預(yù)先寫入所述的第一運(yùn)算單元及第二運(yùn)算單元。
      6.如權(quán)利要求f4任一項(xiàng)所述的電壓檢測(cè)裝置,其特征在于,第一運(yùn)算單元及第二運(yùn)算單元由MCU芯片實(shí)現(xiàn)。
      7.如權(quán)利要求6所述的電壓檢測(cè)裝置,其特征在于,所述的檢測(cè)器件也集成于所述MCU芯片上。
      8.一種電壓檢測(cè)方法,用于得到待測(cè)電壓源的電壓值,待測(cè)電壓源的兩端之間設(shè)有第一分壓電阻、第二分壓電阻以及獲取第一分壓電阻和第二分壓電阻的連接節(jié)點(diǎn)上分壓值的檢測(cè)器件,其特征在于,包括 使待測(cè)電壓源暫停工作; 提供一基準(zhǔn)電壓并根據(jù)第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值以及此時(shí)檢測(cè)器件獲取的第一分壓值,得到檢測(cè)器件的內(nèi)阻值; 使待測(cè)電壓源恢復(fù)工作并根據(jù)所述內(nèi)阻值、第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值以及此時(shí)檢測(cè)器件獲取的第二分壓值,得到待測(cè)電壓源的電壓值。
      9.如權(quán)利要求8所述的電壓檢測(cè)方法,其特征在于,所述第一分壓電阻及第二分壓電阻的阻值之和大于檢測(cè)器件的內(nèi)阻值。
      10.如權(quán)利要求8所述的電壓檢測(cè)方法,其特征在于,所述提供一基準(zhǔn)電壓并根據(jù)第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值以及此時(shí)檢測(cè)器件獲取的第一分壓值得到檢測(cè)器件的內(nèi)阻值用如下計(jì)算式實(shí)現(xiàn)
      11.如權(quán)利要求8所述的電壓檢測(cè)方法,其特征在于,所述使待測(cè)電壓源恢復(fù)工作并根據(jù)所述內(nèi)阻值、第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值以及此時(shí)檢測(cè)器件獲取的第二分壓值得到待測(cè)電壓源的電壓值用如下計(jì)算式實(shí)現(xiàn)
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種電壓檢測(cè)裝置及方法,裝置包括分別與待測(cè)電壓源兩端相連第一端子、第二端子、串聯(lián)在第一端子與第二端子之間的第一分壓電阻和第二分壓電阻、檢測(cè)器件、基準(zhǔn)電壓源、第一運(yùn)算單元及第二運(yùn)算單元;方法包括使待測(cè)電壓源暫停工作;提供一基準(zhǔn)電壓并根據(jù)第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值以及此時(shí)檢測(cè)器件獲取的第一分壓值,得到檢測(cè)器件的內(nèi)阻值;使待測(cè)電壓源恢復(fù)工作并根據(jù)所述內(nèi)阻值、第一分壓電阻和第二分壓電阻的阻值以及此時(shí)檢測(cè)器件獲取的第二分壓值,得到待測(cè)電壓源的電壓值。本發(fā)明提高了電壓檢測(cè)的精確性。
      文檔編號(hào)G01R15/04GK102944717SQ20121045739
      公開日2013年2月27日 申請(qǐng)日期2012年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月14日
      發(fā)明者龍濤, 劉正東, 龍江, 喬磊, 嚴(yán)松 申請(qǐng)人:江蘇惠通集團(tuán)有限責(zé)任公司
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