国产精品1024永久观看,大尺度欧美暖暖视频在线观看,亚洲宅男精品一区在线观看,欧美日韩一区二区三区视频,2021中文字幕在线观看

  • <option id="fbvk0"></option>
    1. <rt id="fbvk0"><tr id="fbvk0"></tr></rt>
      <center id="fbvk0"><optgroup id="fbvk0"></optgroup></center>
      <center id="fbvk0"></center>

      <li id="fbvk0"><abbr id="fbvk0"><dl id="fbvk0"></dl></abbr></li>

      對置式電子組件作業(yè)設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):6163422閱讀:239來源:國知局
      對置式電子組件作業(yè)設(shè)備的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明是一種對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,該測試分類設(shè)備主要在機(jī)臺(tái)上配置有供料裝置、收料裝置、作業(yè)裝置、輸送裝置以及用來控制整合各裝置作動(dòng)以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)的中央控制單元,該供料裝置供容納至少一待執(zhí)行作業(yè)的電子組件,該收料裝置供容納至少一完成作業(yè)的電子組件,該輸送裝置設(shè)有至少一移載取放器,用來于供、收料裝置及作業(yè)裝置間載送電子組件;其中,該作業(yè)裝置在機(jī)臺(tái)的至少二側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)呈對向設(shè)置的作業(yè)區(qū),并于各作業(yè)區(qū)設(shè)有至少一承置座,以供承置電子組件并執(zhí)行作業(yè);如此,利用對向設(shè)置作業(yè)區(qū)的方式,不僅輸送裝置可有效縮短移載行程,且使機(jī)臺(tái)在有效減低占用機(jī)臺(tái)臺(tái)面空間的前提下,達(dá)到易于擴(kuò)充作業(yè)區(qū)的實(shí)用效益。
      【專利說明】對置式電子組件作業(yè)設(shè)備
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種可使輸送裝置有效縮短移載行程,以及在有效減低占用機(jī)臺(tái)臺(tái)面空間的前提下,達(dá)到易于擴(kuò)充作業(yè)區(qū)的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備。
      【背景技術(shù)】
      [0002]請參閱圖1、圖2,其是中國臺(tái)灣專利申請第91105851號(hào)IC測試處理機(jī)專利案,該測試處理機(jī)在機(jī)臺(tái)10前端分別裝設(shè)有供料匣/升降器11、空匣/升降器12及輸出匣13,供料匣/升降器11裝填有待測1C,空匣/升降器12則接收由供料匣/升降器11使用完的空的供料匣,并可依需要取出至輸出匣的承座,以利放置完測的1C,輸出匣可細(xì)分不同等級(jí)的輸出匣13a、13b、13c,以儲(chǔ)放完測的不同等級(jí)IC,數(shù)個(gè)測試埠14a、14b、14c、14d設(shè)于機(jī)臺(tái)10的后端,各測試埤14a、14b、14c、14d內(nèi)平行排列設(shè)置具有測試座15a、15b、15c、15d的測試板16a、16b、16c、16d,以及于測試板16a、16b、16c、16d前端各設(shè)有一對待測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái)17a、17b、17c、17d及完測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái)18a、18b、18c、18d,另一 IC輸送機(jī)構(gòu)19周旋于供料匣/升降器11、各測試埤14a、14b、14c、14d及輸出匣13a、13b、13c間,以負(fù)責(zé)各機(jī)構(gòu)間的IC輸送工作,以及可增設(shè)有預(yù)熱匣20,以對待測的IC于測試前進(jìn)行預(yù)熱的作業(yè);進(jìn)行IC測試作業(yè)時(shí),若測試板16a、16b、16c、16d的測試座15a、15b、15c、15d的IC放置方向與供料匣/升降器11內(nèi)IC放置方向相同時(shí),則直接先以IC輸送機(jī)構(gòu)19將供料匣/升降器11上的待測IC取出,并分別輸送放置于各測試座15a、15b、15c、15d內(nèi),于完成測試后,再由IC輸送機(jī)構(gòu)19分別將測試座15a、15b、15c、15d內(nèi)完測的IC取出,并依據(jù)測試結(jié)果將完測的IC輸送至各輸出匣13a、13b、13c放置;若測試板16a、16b、16c、16d的測試座15a、15b、15c、15d的IC放置方向與供料匣/升降器11內(nèi)IC放置方向不同時(shí),貝U先以IC輸送機(jī)構(gòu)19將供料匣/升降器11上的待測IC取出,并分別輸送放置于待測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái)17a、17b、17c、17d上,轉(zhuǎn)動(dòng)待測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái)17a、17b、17c、17d的方向,使IC角位相同于各測試座15a、15b、15c、15d后,再以IC輸送機(jī)構(gòu)19將IC放入各測試座15a、15b、15c、15d內(nèi),于完成測試后,再由IC輸送機(jī)構(gòu)19分別將測試座15a、15b、15c、15d內(nèi)完測的IC取出,并放置于完測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái)18a、18b、18c、18d上,使IC角位相同于輸出匣13a、13b、13c,接著再由IC輸送機(jī)構(gòu)19依據(jù)測試結(jié)果將完測的IC輸送至各輸出匣13a、13b、13c放置;該測試處理機(jī)的設(shè)計(jì)架構(gòu)具有如下的缺弊:
      [0003]1.該測試處理機(jī)的各測試埠14a、14b、14c、14d于機(jī)臺(tái)10的后端平行排列設(shè)置測試板16a、16b、16c、16d,因此當(dāng)因需求而增設(shè)測試埠時(shí),將使得機(jī)體必須不斷地向兩側(cè)延伸擴(kuò)充,而造成機(jī)體過大,即伴隨產(chǎn)生廠房空間不敷使用的情形。
      [0004]2.當(dāng)該測試處理機(jī)機(jī)體不斷地向兩側(cè)延伸擴(kuò)充增設(shè)測試埠后,IC輸送機(jī)構(gòu)19必須作較遠(yuǎn)的運(yùn)動(dòng)行程周旋于各測試座15a、15b、15c、15d及供料匣/升降器11及輸出匣13a、13b、13c間,其將導(dǎo)致IC輸送機(jī)構(gòu)19工作負(fù)荷過多,而無法依據(jù)時(shí)序安排順暢的進(jìn)行IC的輸送作業(yè),此即可能導(dǎo)致部份測試埠待機(jī)的情形,而降低測試作業(yè)的生產(chǎn)效率。
      [0005]有鑒于此,本發(fā)明人遂以其多年從事相關(guān)行業(yè)的研發(fā)與制作經(jīng)驗(yàn),針對目前所面臨的問題深入研究,經(jīng)過長期努力的研究與試作,終究研創(chuàng)出一種可有效節(jié)省空間及提升作業(yè)速度的作業(yè)設(shè)備,以有效改善習(xí)式的缺弊,此即為本發(fā)明的設(shè)計(jì)宗旨。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于:提供一種對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,解決現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足。
      [0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
      [0008]一種對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于,包含:
      [0009]供料裝置:供承載至少一待執(zhí)行作業(yè)的電子組件;
      [0010]收料裝置:供承載至少一完成作業(yè)的電子組件;
      [0011]作業(yè)裝置:至少在機(jī)臺(tái)的第一側(cè)及第二側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)呈對向設(shè)置的作業(yè)區(qū),各作業(yè)區(qū)并分別設(shè)有至少一承置座,以供承置電子組件并執(zhí)行作業(yè);
      [0012]輸送裝置:設(shè)有第一移載取放器、第二移載取放器、第三移載取放器及至少一轉(zhuǎn)載臺(tái),第一移載取放器將供料裝置待執(zhí)行作業(yè)的電子組件移載至轉(zhuǎn)載臺(tái),以及將轉(zhuǎn)載臺(tái)內(nèi)完成作業(yè)的電子組件移載至收料裝置分類放置,第二移載取放器則自轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至轉(zhuǎn)載臺(tái),第三移載取放器則自轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至轉(zhuǎn)載臺(tái);
      [0013]中央控制單元:用來控制及整合各裝置作動(dòng),以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)。
      [0014]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:還設(shè)有空盤裝置,該空盤裝置承載復(fù)數(shù)個(gè)空的料盤,并以一移盤器將供料裝置的空料盤移載至空盤裝置,或?qū)⒖毡P裝置上的空料盤移載至收料裝置。
      [0015]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該收料裝置設(shè)有復(fù)合式收料裝置,該復(fù)合式收料裝置包含有為直立多層式匣體的收納匣,該收納匣用來承置復(fù)數(shù)個(gè)能夠盛裝不同等級(jí)完成作業(yè)的電子組件的收料盤,一用來承置收納匣移出的各收料盤的承盤器,以及一用來將收納匣中的各收料盤移載至承盤器上的移盤器。
      [0016]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該承盤器以第一動(dòng)力組驅(qū)動(dòng)升降,于承盤器上則裝設(shè)移盤器,移盤器并以第二動(dòng)力組驅(qū)動(dòng)橫向位移,以將收納匣的各收料盤移出至承盤器,并供輸送裝置依據(jù)作業(yè)結(jié)果將完成作業(yè)的電子組件分類放置。
      [0017]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該作業(yè)裝置第一側(cè)及第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座是測試座,以供承置電子組件并執(zhí)行測試作業(yè)。
      [0018]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該作業(yè)裝置第一側(cè)及第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各測試座的上方設(shè)有下壓頭,以壓抵待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件或壓抵開啟測試座。
      [0019]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該輸送裝置設(shè)有第一轉(zhuǎn)載臺(tái)及第二轉(zhuǎn)載臺(tái),第一移載取放器將供料裝置內(nèi)的待執(zhí)行作業(yè)的電子組件移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)及第二轉(zhuǎn)載臺(tái),以及將第一轉(zhuǎn)載臺(tái)及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)完成作業(yè)的電子組件移載至收料裝置分類放置,第二移載取放器則自第一轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái),第三移載取放器則自第二轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至第二轉(zhuǎn)載臺(tái)。
      [0020]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該第一轉(zhuǎn)載臺(tái)具有第一供料臺(tái)座及第一收料臺(tái)座,第一供料臺(tái)座供放置由第一移載取放器移載的待執(zhí)行作業(yè)的電子組件,第一收料臺(tái)座則供放置由第二移載取放器移載的完成作業(yè)的電子組件,第二轉(zhuǎn)載臺(tái)具有第二供料臺(tái)座及第二收料臺(tái)座,第二供料臺(tái)座供放置由第一移載取放器移載的待執(zhí)行作業(yè)的電子組件,第二收料臺(tái)座則供放置由第三移載取放器移載完成作業(yè)的測電子組件。
      [0021]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:該第一轉(zhuǎn)載臺(tái)的第一供料臺(tái)座、第一收料臺(tái)座及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)的第二供料臺(tái)座、第二收料臺(tái)座分別由第一驅(qū)動(dòng)源帶動(dòng)作直線滑移,以及由第二驅(qū)動(dòng)源帶動(dòng)旋轉(zhuǎn),以于承置座的電子組件放置方向與供料裝置內(nèi)待執(zhí)行作業(yè)的電子組件放置方向不同時(shí),作為角位的轉(zhuǎn)換使用。
      [0022]所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其中:還包含在該輸送裝置的第二移載取放器及第三移載取放器上設(shè)有檢視器,供檢視各承置座內(nèi)完成作業(yè)的電子組件是否已移除,或檢視各承置座內(nèi)待執(zhí)行作業(yè)的電子組件是否放置正確。
      [0023]與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明具有的有益效果是:
      [0024]本發(fā)明提供一種對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,該作業(yè)設(shè)備主要于機(jī)臺(tái)上配置有供料裝置、收料裝置、作業(yè)裝置及輸送裝置;其中,該作業(yè)裝置于機(jī)臺(tái)的至少二側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)呈對向設(shè)置的作業(yè)區(qū),并于各作業(yè)區(qū)設(shè)有至少一承置座,以供承置電子組件并執(zhí)行作業(yè),進(jìn)而可利用機(jī)臺(tái)二側(cè)對向設(shè)置作業(yè)區(qū)的方式,使機(jī)臺(tái)在有效減低占用機(jī)臺(tái)臺(tái)面空間的前提下,達(dá)到易于擴(kuò)充作業(yè)區(qū)的實(shí)用效益。
      [0025]本發(fā)明提供一種對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,該作業(yè)設(shè)備主要于機(jī)臺(tái)上配置有供料裝置、收料裝置、作業(yè)裝置及輸送裝置;其中,該作業(yè)裝置于機(jī)臺(tái)的至少二側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)呈對向設(shè)置的作業(yè)區(qū),并于各作業(yè)區(qū)設(shè)有至少一承置座,以供承置電子組件并執(zhí)行作業(yè),進(jìn)而可利用機(jī)臺(tái)二側(cè)對向設(shè)置作業(yè)區(qū)的方式,使輸送裝置可有效縮短移載行程,以有效確保作業(yè)的生產(chǎn)效率。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0026]圖1是中國臺(tái)灣專利申請第91105851號(hào)IC測試處理機(jī)專利案的配置示意圖;
      [0027]圖2是中國臺(tái)灣專利申請第91105851號(hào)IC測試處理機(jī)專利案的部分外觀示意圖;
      [0028]圖3是本發(fā)明對置式測試區(qū)的架構(gòu)示意圖;
      [0029]圖4是本發(fā)明第一、二轉(zhuǎn)載臺(tái)的示意圖;
      [0030]圖5是本發(fā)明二側(cè)測試區(qū)及移載取放器的示意圖;
      [0031]圖6是本發(fā)明的動(dòng)作示意圖(一);
      [0032]圖7是本發(fā)明的動(dòng)作示意圖(二);
      [0033]圖8是本發(fā)明的動(dòng)作示意圖(三);
      [0034]圖9是本發(fā)明的動(dòng)作示意圖(四);
      [0035]圖10是本發(fā)明的動(dòng)作示意圖(五);
      [0036]圖11是本發(fā)明復(fù)合式收料裝置的示意圖(一);[0037]圖12是本發(fā)明復(fù)合式收料裝置的示意圖(二)。
      [0038]附圖標(biāo)記說明:10_機(jī)臺(tái);11-供料匣/升降器;12-空匣/升降器;13、13a、13b、13c_ 輸出匣;14a、14b、14c、14d_ 測試;t阜;15a、15b、15c、15d_ 測試座;16a、16b、16c、16d_ 測試板;17a、17b、17c、17d-待測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái);18a、18b、18c、18d_完測IC旋轉(zhuǎn)緩沖臺(tái);19-1C輸送機(jī)構(gòu);20_預(yù)熱匣;30_機(jī)臺(tái);31_供料裝置;311_料盤;32_空盤裝置;321_料盤;322_移盤器;33_收料裝置;331_第一等級(jí)收料裝置;332_第二等級(jí)收料裝置;333_復(fù)合式收料裝置;3331_收納匣;3332_承盤器;3333_移盤器;3334_收料盤;3335_第一動(dòng)力組;3336-第二動(dòng)力組;34-作業(yè)裝置;34a、34b、34c、34d、34e、34f-作業(yè)區(qū);34g、34h、341、34j、34k、341-作業(yè)區(qū);341-測試座;342_測試電路板;343_下壓頭;35_輸送裝置;351_第一移載取放器;3511_第一吸嘴;3512_第二吸嘴;352_第二移載取放器;3521_第三吸嘴;3522-第四吸嘴;3523_第一檢視器;353_第三移載取放器;3531_第五吸嘴;3532_第六吸嘴;3533_第二檢視器;354_第一轉(zhuǎn)載臺(tái);3541_第一供料臺(tái)座;3542_第一收料臺(tái)座;3543-第一驅(qū)動(dòng)源;3544_第二驅(qū)動(dòng)源;355_第二轉(zhuǎn)載臺(tái);3551_第二供料臺(tái)座;3552_第二收料臺(tái)座;3553_第一驅(qū)動(dòng)源;3554_第二驅(qū)動(dòng)源;36_第一加熱盤;37_第二加熱盤。
      【具體實(shí)施方式】
      [0039]為使貴審查委員對本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解,茲舉一較佳實(shí)施例并配合圖式,詳述如后:
      [0040]請參閱圖3,本發(fā)明對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其于機(jī)臺(tái)30配置有供料裝置31、空盤裝置32、收料裝置33、作業(yè)裝置34、輸送裝置35及用來控制及整合各裝置作動(dòng)以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)的中央控制單元(圖式未示);該供料裝置31可升降承載復(fù)數(shù)個(gè)料盤311,每個(gè)料盤311并可容納至少一待執(zhí)行作業(yè)的電子組件,該空盤裝置32可升降承載復(fù)數(shù)個(gè)空的料盤321,并以一移盤器322將供料裝置31的空料盤移載至空盤裝置32,或?qū)⒖毡P裝置32上的空料盤移載至收料裝置33,收料裝置33供容納至少一完成作業(yè)的電子組件,于本實(shí)施例中,收料裝置33分別設(shè)有第一等級(jí)收料裝置331、第二等級(jí)收料裝置332以及第三?十六等級(jí)的復(fù)合式收料裝置333 (容后再述),作業(yè)裝置34于機(jī)臺(tái)30的二側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)呈對向設(shè)置的作業(yè)區(qū),于本實(shí)施例中,于機(jī)臺(tái)30的第一側(cè)及第二側(cè)分別設(shè)有6個(gè)作業(yè)區(qū)34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341,各作業(yè)區(qū) 34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341分別設(shè)有承置座,以供承置電子組件,于本實(shí)施例中,各作業(yè)區(qū)34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341執(zhí)行電子組件的測試作業(yè),而于各作業(yè)區(qū) 34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341 分別設(shè)有具至少一測試座 341 的測試電路板342,以供置入電子組件并執(zhí)行測試作業(yè),本發(fā)明由于在機(jī)臺(tái)第一側(cè)及第二側(cè)對向設(shè)置作業(yè)區(qū),因此可有效減低占用機(jī)臺(tái)臺(tái)面空間,并易于擴(kuò)充作業(yè)區(qū),以增加測試產(chǎn)能;另各作業(yè)區(qū) 34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341 內(nèi)的測試座 341 可為常開型測試座或常閉型測試座,于本實(shí)施例中,各測試座341是常開型測試座,為了確保待測電子組件與各測試座341保持良好的電性接觸,各測試座341的上方設(shè)有可升降壓抵待測電子組件的下壓頭343 ;然,若各測試座341為常閉型測試座時(shí),則該下壓頭343升降壓抵開啟常閉型測試座,以供置入待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件;輸送裝置35于供料裝置31、收料裝置33及作業(yè)裝置34間載送待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件或完成測試作業(yè)的電子組件,本發(fā)明由于在機(jī)臺(tái)第一側(cè)及第二側(cè)對向設(shè)置作業(yè)區(qū),因此輸送裝置35可以較短移載行程,于供料裝置31、收料裝置33及作業(yè)裝置34間載送待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件或完成測試作業(yè)的電子組件;在本實(shí)施例中,該輸送裝置35設(shè)有第一移載取放器351、第二移載取放器352、第三移載取放器353、第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355,第一移載取放器351設(shè)于機(jī)臺(tái)30的前端,并可作三軸向的移動(dòng),其具有第一、二吸嘴3511、3512,以將供料裝置31的料盤311內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354或第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355,以及將第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354或第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355內(nèi)的完成測試作業(yè)的電子組件移載至收料裝置33分類放置;請參閱第3、4圖,本發(fā)明的第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355分別對應(yīng)設(shè)于機(jī)臺(tái)30 二側(cè)作業(yè)區(qū) 34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341 的前側(cè)方,第一轉(zhuǎn)載臺(tái) 354具有第一供料臺(tái)座3541及第一收料臺(tái)座3542,第一供料臺(tái)座3541供放置由第一移載取放器351移載的待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件,第一收料臺(tái)座3542則供放置由第二移載取放器352移載的完成測試作業(yè)的電子組件;第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355相同于第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354,而具有第二供料臺(tái)座3551及第二收料臺(tái)座3552,第二供料臺(tái)座3551供放置由第一移載取放器351移載的待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件,第二收料臺(tái)座3552則供放置由第三移載取放器353移載的完成測試作業(yè)的電子組件;于本實(shí)施例中,本發(fā)明的第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354或第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355,其第一供料臺(tái)座3541及第一收料臺(tái)座3542 (第二供料臺(tái)座3551及第二收料臺(tái)座3552)可由第一驅(qū)動(dòng)源3543(3553)帶動(dòng)作直線滑移,且可同時(shí)由第二驅(qū)動(dòng)源3544(3554)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn),以于測試座341的電子組件放置方向與供料裝置31內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件放置方向不同時(shí),作為角位的轉(zhuǎn)換使用,惟當(dāng)測試座341的電子組件放置方向與供料裝置31內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件放置方向相同時(shí),則無需使第一供料臺(tái)座3541及第一收料臺(tái)座3542 (第二供料臺(tái)座3551及第二收料臺(tái)座3552)旋轉(zhuǎn)。請參閱圖3、圖5,第二移載取放器352及第三移載取放器353分別對應(yīng)設(shè)于機(jī)臺(tái)30第一側(cè)及第二側(cè)的作業(yè)區(qū)34a、34b、34c、34d、34e、34f、34g、34h、341、34j、34k、341的側(cè)方,并可作三軸向的移動(dòng);第二移載取放器352移動(dòng)于第一側(cè)作業(yè)區(qū)34a、34b、34c、34d、34e、34f及第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354間,其并具有第三、四吸嘴3521、3522及一可為CXD的第一檢視器3523,第一檢視器3523供檢視各測試座341內(nèi)完成測試作業(yè)的電子組件是否已移除,或檢視各測試座341內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件是否放置正確,第三、四吸嘴3521、3522則分別自第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354移載待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件至各測試座341內(nèi),以及將完成測試作業(yè)的電子組件自各測試座341內(nèi)移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354 ;第三移載取放器353則移動(dòng)于第二側(cè)作業(yè)區(qū)34g、34h、341、34j、34k、341及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355間,其并具有第五、六吸嘴3531、3532及一可為CXD的第二檢視器3533,第二檢視器3533供檢視各測試座341內(nèi)完成測試作業(yè)的電子組件是否已移除,或檢視各測試座341內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件是否放置正確,第五、六吸嘴3531、3532則分別自第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355移載待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件至各測試座341內(nèi),以及將完成測試作業(yè)的電子組件自各測試座341內(nèi)移載至第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355 ;此外,于機(jī)臺(tái)30適當(dāng)位置處分別設(shè)有第一、二加熱盤36、37,以提供待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件預(yù)熱使用。
      [0041]請參閱圖6,本發(fā)明利用第一移載取放器351將供料裝置31的料盤311內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a分別移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一供料臺(tái)座3541或第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355的第二供料臺(tái)座3551。請參閱圖7,接著第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355將會(huì)直線滑移一小段距離(如測試座341的電子組件放置方向與供料裝置31內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件放置方向相同時(shí),則無需使第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一供料臺(tái)座3541及第一收料臺(tái)座3542及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355的第二供料臺(tái)座3551及第二收料臺(tái)座3552旋轉(zhuǎn)),第二移載取放器352移動(dòng)至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一供料臺(tái)座3541位置取出待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a,并再移動(dòng)至第一側(cè)的作業(yè)區(qū)34a ;而第三移載取放器353則移動(dòng)至第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355的第二供料臺(tái)座3551位置取出另一待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a,并再移動(dòng)至第二側(cè)的作業(yè)區(qū)34g。請參閱圖8,如第一側(cè)的作業(yè)區(qū)34a內(nèi)已有完成測試作業(yè)的電子組件,接著第二移載取放器352會(huì)先以第四吸嘴3522吸取測試座341內(nèi)完成測試作業(yè)的電子組件41a,并以第一檢視器3523檢視測試座341內(nèi)完成測試作業(yè)的電子組件是否已移除,再由第三吸嘴3521將待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a置入作業(yè)區(qū)34a的測試座341內(nèi),經(jīng)第一檢視器3523檢視測試座341內(nèi)的待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a是否放置正確后,下壓頭343即下降壓抵測試座341內(nèi)待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a,使其與測試座341保持良好的電性接觸,以執(zhí)行測試作業(yè),至于第三移載取放器353則于第二側(cè)的作業(yè)區(qū)34g進(jìn)行相同的動(dòng)作。請參閱圖9,第二移載取放器352移動(dòng)到第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的位置時(shí),由于第一移載取放器351已將另一待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一供料臺(tái)座3541上,因此第二移載取放器352的第四吸嘴3522會(huì)將完成測試作業(yè)的電子組件41a置入于第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一收料臺(tái)座3542上,同時(shí)以第三吸嘴3521取出第一供料臺(tái)座3541上另一待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a,并再移動(dòng)至第一側(cè)的作業(yè)區(qū)34b,至于第三移載取放器353則于第二轉(zhuǎn)載臺(tái)355進(jìn)行相同的動(dòng)作。請參閱圖10,接著,第一移載取放器351再次將另一待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件40a移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一供料臺(tái)座3541上,并同時(shí)取出第一轉(zhuǎn)載臺(tái)354的第一收料臺(tái)座3542上完成測試作業(yè)的電子組件41a,并將該完成測試作業(yè)的電子組件41a依據(jù)測試結(jié)果分類放置于第一等級(jí)收料裝置331或第二等級(jí)收料裝置332或第三?十六等級(jí)的復(fù)合式收料裝置333。
      [0042]請參閱圖11,由于電子組件的測試等級(jí)細(xì)分增加至十多種等級(jí),若欲因應(yīng)收置第一至十多種不同等級(jí)的電子組件,而于機(jī)臺(tái)上水平增設(shè)十多個(gè)收料裝置,勢必使機(jī)體不斷向兩側(cè)擴(kuò)充,以致機(jī)體相當(dāng)龐大,造成占用空間且不利廠房空間配置的缺失,但若不增設(shè)十多個(gè)收料裝置,則無法因應(yīng)擴(kuò)增的測試等級(jí),造成測試等級(jí)受限而無法提升測試質(zhì)量的缺失;因此本發(fā)明將部份較少出現(xiàn)的測試等級(jí)歸屬于復(fù)合式收料裝置333收納,該復(fù)合式收料裝置333其包含有為直立多層式匣體的收納匣3331,用來承置復(fù)數(shù)個(gè)可盛裝不同等級(jí)完成測試作業(yè)電子組件的收料盤3334,一用來承置收納匣3331輸出的各收料盤3334的承盤器3332,以及一用來將收納匣3331中的各收料盤3334移載至承盤器3332上的移盤器3333,該收納匣3331由于為直立多層式匣體,為了可移出收納匣3331的各收料盤3334,以供分類放置各完成測試作業(yè)的電子組件,可采用收納匣3331升降的方式或承盤器3332升降的方式,將對應(yīng)的收料盤3334移出收納匣3331,于本實(shí)施例中,是承盤器3332升降的方式對應(yīng)移出收料盤3334 ;該承盤器3332以第一動(dòng)力組3335驅(qū)動(dòng)升降,于承盤器3332上則裝設(shè)移盤器3333,移盤器3333并以第二動(dòng)力組3336驅(qū)動(dòng)橫向位移,而可將收納匣3331的各收料盤3334移出至承盤器3332上,再由承盤器3332上帶動(dòng)上升至適當(dāng)位置處,以供第一移載取放器351依據(jù)測試結(jié)果,將完成測試作業(yè)的電子組件41a分類放置于該復(fù)合式收料裝置333。
      [0043]本發(fā)明在機(jī)臺(tái)上利用二側(cè)對向設(shè)置作業(yè)區(qū)的方式,不僅可使輸送裝置有效縮短移載行程,且機(jī)臺(tái)在可有效減低占用機(jī)臺(tái)臺(tái)面空間的前提下,而可達(dá)到易于擴(kuò)充作業(yè)區(qū),以增加測試作業(yè)產(chǎn)能。
      [0044]以上說明對本發(fā)明而言只是說明性的,而非限制性的,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員理解,在不脫離權(quán)利要求所限定的精神和范圍的情況下,可作出許多修改、變化或等效,但都將落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于,包含: 供料裝置:供承載至少一待執(zhí)行作業(yè)的電子組件; 收料裝置:供承載至少一完成作業(yè)的電子組件; 作業(yè)裝置:至少在機(jī)臺(tái)的第一側(cè)及第二側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)呈對向設(shè)置的作業(yè)區(qū),各作業(yè)區(qū)并分別設(shè)有至少一承置座,以供承置電子組件并執(zhí)行作業(yè); 輸送裝置:設(shè)有第一移載取放器、第二移載取放器、第三移載取放器及至少一轉(zhuǎn)載臺(tái),第一移載取放器將供料裝置待執(zhí)行作業(yè)的電子組件移載至轉(zhuǎn)載臺(tái),以及將轉(zhuǎn)載臺(tái)內(nèi)完成作業(yè)的電子組件移載至收料裝置分類放置,第二移載取放器則自轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至轉(zhuǎn)載臺(tái),第三移載取放器則自轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至轉(zhuǎn)載臺(tái); 中央控制單元:用來控制及整合各裝置作動(dòng),以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:還設(shè)有空盤裝置,該空盤裝置承載復(fù)數(shù)個(gè)空的料盤,并以一移盤器將供料裝置的空料盤移載至空盤裝置,或?qū)⒖毡P裝置上的空料盤移載至收料裝置。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該收料裝置設(shè)有復(fù)合式收料裝置,該復(fù)合式收料裝置包含有為直立多層式匣體的收納匣,該收納匣用來承置復(fù)數(shù)個(gè)能夠盛裝不同等級(jí)完成作業(yè)的電子組件的收料盤,一用來承置收納匣移出的各收料盤的承盤器,以及一用來將收納匣中的各收料盤移載至承盤器上的移盤器。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的 對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該承盤器以第一動(dòng)力組驅(qū)動(dòng)升降,于承盤器上則裝設(shè)移盤器,移盤器并以第二動(dòng)力組驅(qū)動(dòng)橫向位移,以將收納匣的各收料盤移出至承盤器,并供輸送裝置依據(jù)作業(yè)結(jié)果將完成作業(yè)的電子組件分類放置。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該作業(yè)裝置第一側(cè)及第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座是測試座,以供承置電子組件并執(zhí)行測試作業(yè)。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該作業(yè)裝置第一側(cè)及第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各測試座的上方設(shè)有下壓頭,以壓抵待執(zhí)行測試作業(yè)的電子組件或壓抵開啟測試座。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該輸送裝置設(shè)有第一轉(zhuǎn)載臺(tái)及第二轉(zhuǎn)載臺(tái),第一移載取放器將供料裝置內(nèi)的待執(zhí)行作業(yè)的電子組件移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái)及第二轉(zhuǎn)載臺(tái),以及將第一轉(zhuǎn)載臺(tái)及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)完成作業(yè)的電子組件移載至收料裝置分類放置,第二移載取放器則自第一轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第一側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至第一轉(zhuǎn)載臺(tái),第三移載取放器則自第二轉(zhuǎn)載臺(tái)移載待執(zhí)行作業(yè)的電子組件至第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi),以及將完成作業(yè)的電子組件自第二側(cè)作業(yè)區(qū)的各承置座內(nèi)移載至第二轉(zhuǎn)載臺(tái)。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該第一轉(zhuǎn)載臺(tái)具有第一供料臺(tái)座及第一收料臺(tái)座,第一供料臺(tái)座供放置由第一移載取放器移載的待執(zhí)行作業(yè)的電子組件,第一收料臺(tái)座則供放置由第二移載取放器移載的完成作業(yè)的電子組件,第二轉(zhuǎn)載臺(tái)具有第二供料臺(tái)座及第二收料臺(tái)座,第二供料臺(tái)座供放置由第一移載取放器移載的待執(zhí)行作業(yè)的電子組件,第二收料臺(tái)座則供放置由第三移載取放器移載完成作業(yè)的測電子組件。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:該第一轉(zhuǎn)載臺(tái)的第一供料臺(tái)座、第一收料臺(tái)座及第二轉(zhuǎn)載臺(tái)的第二供料臺(tái)座、第二收料臺(tái)座分別由第一驅(qū)動(dòng)源帶動(dòng)作直線滑移,以及由第二驅(qū)動(dòng)源帶動(dòng)旋轉(zhuǎn),以于承置座的電子組件放置方向與供料裝置內(nèi)待執(zhí)行作業(yè)的電子組件放置方向不同時(shí),作為角位的轉(zhuǎn)換使用。
      10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對置式電子組件作業(yè)設(shè)備,其特征在于:還包含在該輸送裝置的第二移載取放器及第三移載取放器上設(shè)有檢視器,供檢視各承置座內(nèi)完成作業(yè)的電子組件是否已移除,或檢視各承·置座內(nèi)待執(zhí)行作業(yè)的電子組件是否放置正確。
      【文檔編號(hào)】G01R31/28GK103852710SQ201210500726
      【公開日】2014年6月11日 申請日期:2012年11月29日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月29日
      【發(fā)明者】李子瑋 申請人:鴻勁科技股份有限公司
      網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
      • 還沒有人留言評論。精彩留言會(huì)獲得點(diǎn)贊!
      1